JPH01258246A - 光学式情報記録媒体の製造方法及び光学式情報記録媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光学式情報記録媒体の製造方法及び光学式情報
記録媒体に関する。

〔従来の技術〕

光学式情報記録媒体は１マイクロメートル程度に集束さ
れた光を用いて情報を高密度に記録再生することによっ
て、大きな容量を得ることの出来る情報記録媒体である
。

〔発明が解決しようとする課題〕

光学式情報記録媒体の製造は、原盤の作製に始まり、張
り合わせ、表面処理に終る多数の工程を経なければなら
ない。これらの工程を経る際、光学式情報記録媒体の記
録面上に傷、はこり、コンタミネーション等によって微
小欠陥が発生する。

記録面上に形成される記録ビットの大きさは１マイクロ
メートル程度なので、これらの微小欠陥はデータ中に誤
りを発生させる原因となる。誤りの発生する頻度はＩ　
Ｘ　１０−’からｌＸ１０−’ｅｖｅｎ　ｔ　ｅ　／　
ｂ　ｉ　ｔ　、と磁気ディスクと比較すると数桁大きな
値を持つ。誤りの長さは１ビツトから数百ピットに分布
しており、誤り長に対する誤り発生回数をヒストグラム
で表すと第２図のようになる。また、ある長さ以上の誤
りの全誤り中に占める割合を誤り長に対して示すと、第
３図の様になる。

データ中に誤りが混じっていては、データを利用できな
いので、誤り訂正符号によって誤ったデータを正しいデ
ータに復元する必要がある。誤り訂正符号とは、データ
の記録時にセクタ毎に一定の冗長度を持たせて記録して
おき、再生時にその冗長度をもとに誤り位置、誤りパタ
ーンを算出して、誤りを訂正する手法である。セクタ単
位で訂正が行われるので１セクタ内の誤りが多すぎると
、訂正能力を越えて訂正できなくなる。

第２図、第６図は安定性に欠ける工程で製造されたディ
スクを測定した結果なので誤り回数が多いだけでなく、
長い誤りの割合が大きい。そのため訂正′後の誤り率（
訂正不能に陥る確率）を予測すると、６Ｘ１０−１２ｅ
ｖ、ｅｎｔｓ／ｂｉｔと算出され、メモリとして必要と
される信頼性１×１０−１２　ｅｖａｎｔｓ／ｂｉｔを
越えてしまう。

〔課題を解決するための手段〕

本発明の光学式情報記録媒体の製造方法は、出荷時に光
学式情報記録媒体の全数全面検査を行い、２００μｍ以
上の長さの欠陥を有する光学式情報記録媒体を不良品と
して取り除く工程を有することを特徴とする。

本発明９光学式情報記録媒体は、上記の製造方法により
製造され２００μｍ以上の長さの欠陥が無いことを保証
することを特徴とする。

〔実施例〕

以下に本発明について実施例を挙げて詳細に説明する。

まずここで例にとる光学式情報記録媒体のセクタフォー
マットについて説明する。１セクタにユーザが記録でき
るデータの量は５１２バイトとする。これに、コントロ
ールバイト、ＥＯ○バイトを加え６１０バイトとなる。

インターリーブ段数は５段で、１セクタ当り最大４０バ
イトの誤りが訂正可能であるとする。データ１ビツトに
相当する長さは１．２５μｍであるとする。

データを再生したときビット誤り率２　Ｘ　１０””ｅ
　ｖ　ａ　ｎ　ｔ　ｓ　／　ｂ　ｉ　ｔ　、誤り長分布
は第２図、第３図に示す分布で誤りが発生したとする。

ここのビット誤り率、誤り長分布は製造工程が不安定な
とき得られる値の一例である。この時、訂正後の誤り率
（訂正不能に陥る確率）を計算した。その結果は６Ｘ１
０−１２ｅｖｅｎｔｓ／ｂｉｔとなり、メモリとして必
要とされる信頼性Ｉ　Ｘ　１０−１”ｅ　ｖθｎ　ｔ　
ｓ　／　ｂ　ｉ　ｔを越えてしまう。ビット誤り率は、
２　Ｘ　１０弓ｅ　ｖ　ｅ　ｎ　ｔ　ｓ　／　ｂ　ｉ　
ｔと比較的小さく抑えられているにもかかわらず充分な
信頼性が得られていないのは、全誤りに占める長い誤り
の割合が大きいためである。

Ｉ　Ｘ　１０””　ｅ　Ｖ　ｅ　ｎ　七８　／　ｂ　ｉ
　’Ｃ前後のビット誤り率では、１セクタ内に現れる誤
りはせいぜい１回なので、１セクタ内に複数の誤りが発
生し、訂正不能に陥る確率は極めて小さい。むしろ、１
回の長大な誤りが発生して、訂正不能となる。ここで、
算出された６Ｘ１０−１２ｅＶｅ、ｎｔ８／ｋ）１ｔと
いう値もこの長大な誤りが発生する確率が支配している
。

そこで、本発明の製造方法を採用Ｌ’Ｃ１出荷時に光学
式情報記録媒体の全数全面検査を行い、２００μｍ以上
の長さの欠陥を有する光学式情報記録媒体を不良品とし
て取り除く工程を加えれば訂正後の誤り率を大幅に小さ
くすることが出来る。

つまり、２００μｍ以上の長さの欠陥を有する光学式情
報記録媒体を不良品として取り除くことによって、実際
′に出荷される光学式情報記録媒体においては、２００
μｍ以上の長さの誤りが発生する確率が零になるので、
長大な誤りが発生する確率が支配している訂正後の誤り
率を減少させることが出来るわけである。

このことを示したのが第１図である。横軸には全数全面
検査の際許容される最大の誤り長を、縦軸には訂正後の
誤り率を示した。たとえば、３００μｍ以上の欠陥を有
する光学式情報記録媒体を不良品として取り除くと、２
　Ｘ　１０−１４ｅｖｅｎｔθ／ｂ　１を程度の訂正後
の誤り率を得ることが出来る。経時変化による劣化分を
見込んでＩＸｌｏ−１３ｅｖｅｎｔθ／、ｂｉｔ以下の
訂正後の誤り率を得るために、２００μｍ以上の欠陥を
有する光学式情報記録媒体を不良品として取り除くこと
が媒体の信頼性を保証する上で重要である。

また、第２図、第３図に示す誤り長分布で、ビット誤り
率を変えたときの訂正後の誤り率を第４図に示す。Ｉ　
Ｘｌ　０−１２ｅｖｅｎｔｓ／ｂｉｔの訂正後の誤り率
を得るためには、２　Ｘ　１０−’　θｖｅｎ　ｔ　ｓ
　／　ｂ　ｉ　を以下にビット誤り率を抑える必要があ
ることが分かる。ビット誤り率を２　Ｘ　１０−’ｅ　
ｖ　ｅ　ｎ　ｔ　ｓ　／　ｂ　ｉ　を以下に維持するの
は製造工程を厳しく管理する必要がある上、歩留りを低
下させる。たとえ４７．ビット誤り率を２Ｘ１０−’ｅ
ｖｅｎｔθ／　ｂ　１　を以下に維持することができた
としても、本発明の製造方法が保証する°１ｘ１ｏ−ｉ
’ｅＶｅｎｔθ／　ｂ　ｉ　を以下の訂正後の誤り率に
は遠く及ばないことが分かる。

以上、請求項１項記載の製造方法について説明したが、
同様のことが、上記の製造方法により製造された請求項
２項記載の光学式情報記録媒体についても言える。第１
図によれば２００μｍ以上の長さの欠陥が無いことを保
証した本発明の光学゛穴情報記録媒体はＩＸｌ　０−”
ｅｖｅｎｔｓ／ｂｉｔ以下の訂正後の誤り率を保証する
ことができ、計算機用の情報記録媒体としても充分な信
頼性を有することになる。本発明の光学式情報記録媒体
は、全面全数検査をして、２００μｍ以上の長さの欠陥
がないことを保証するという内容のものであるから、本
発明の光学式情報記録媒体と本発明外の光学式情報記録
媒体とでは、外見上なんら差異はない。しかし、情報記
録媒体として最も重要である信頼性に関しては、本発明
の光学式情報記録媒体ではＩ　Ｘ　１０−”ｅ、Ｖ　ｅ
　ｎ　ｔ　Ｂｉｂ　ｉ　を以下の訂正後の誤り率を保証
することができるのに対し木兄明邊の光学式情報記録媒
体では多くの場合１ｘ１０−１３ｅｖｅｎｔｓ／ｂｉｔ
以上の訂ボ後の誤り率しか得られない。という点で全く
性質を異にするものである。この様に、信頼性という付
加価値を大幅に高め付与したものが本発明の光学式情報
記録媒体であることを強調したい。

また、第２図、第３図によれば、製造工程を厳しく管理
してビット誤り率を２Ｘ１０−’ｅｖｅｎｔθ／ｂ　１
を以下に維持することができたとしても、本発明の光学
式情報記録媒体が保証する１×１０−１６ｅＶθｎｔ８
／１）ｉｔ以下の訂正後の誤り率には遠く及ばないこと
が分かる。

〔発明の効果〕

以上述べたように本発明によれば出荷時に光学式情報記
録媒体の全数全面検査を行い、２００μｍ以上の長さの
欠陥を有する光学式情報記録媒体を不良品として取り除
く工程を有する製造方法、及び上記の製造方法により製
造され２００μｍ以上の長さの欠陥が無いことを保証す
る光学式情報記録媒体により、たとえ製造工程が不安定
で、ビット誤り率が比較的大きく、長い欠陥の生じる確
率の大きい場合にも、高信頼性を保証する光学式情報記
録媒体を供給することが可能である。つまり低コストで
高信頼性の光学式情報記録媒体を供給すること′が可能
である。

尚、本発明では２００μｍ以上の欠陥を有する光学式情
報記録媒体を不良品として取り除く工程が必要であると
述べたが、２００μｍという値を、より小さく設定して
検査基準を厳しくすることも、もちろん媒体の信頼性を
向上させる上で有用である。製造工程で歩留シを大幅に
低下させない程度で検査基準を厳しくすることが、おお
いに有用であることは明かである。

【図面の簡単な説明】

第１図は、全数全面検査の際許容される最大の欠陥長さ
と、訂正後の誤り率との関係を示すグラフで、本発明の
効果を示している図。 第２図は、誤り長さと、発生回数との関係とを示すヒス
トグラムの図。 第３図は、誤り長さと、その長さ以上の誤りの全誤り中
に占める割合との関係を示す図。 第４図は、第２図、第３図で示される誤り長さ分布のと
きのビット誤り率と、訂正後の誤り率との関係を示す図
。 評ｇ法５歪かημ 第　Ｉ　Ｅ 餠ソＡさ　（ト１ｔｓ） 茗　２　田 劃いへ長古　　（シｉ４：ｚ） 一γト　言グ　ｌノシＦ−（ｅｖｅｎｔｓｌｈｉｔン笛
　！−コ

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）出荷時に光学式情報記録媒体の全数全面検査を行
   い、２００μｍ以上の長さの欠陥を有する光学式情報記
   録媒体を不良品として取り除く工程を有することを特徴
   とする光学式情報記録媒体の製造方法。
2. （２）請求項１記載の製造方法により製造され、２００
   μｍ以上の長さの欠陥が無いことを保証することを特徴
   とする光学式情報記録媒体。