JPH01253830A

JPH01253830A - 光軸ずれ補償装置

Info

Publication number: JPH01253830A
Application number: JP8089888A
Authority: JP
Inventors: Masafumi Naito; 雅文内藤
Original assignee: Fujitsu General Ltd
Current assignee: Fujitsu General Ltd
Priority date: 1988-04-01
Filing date: 1988-04-01
Publication date: 1989-10-11
Anticipated expiration: 2011-07-24
Also published as: JP2518010B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】「産業上の利用分野」本発明は光デイスク装置の光軸ずれを補償するための光
軸ずれ補償装置に関するものである。

「従来の技術」一般に、光デイスク装置の光ピツクアップヘッドは、第
３図に示すように、半導体レーザダイオード（１）から
の出力光を定められたＮＡ（開口数）の集光用レンズ（
２）で平行ビームとし、偏光特性を有するビームスプリ
ッタ（３）に入力する。このビームスプリッタ（３）の
斜カット部（４）では直接偏波レーザ光（偏光のＰ成分
）が損失なしで透過して４分の１波長板（５）に入る。

この４分の１波長板（５）を透過すると直接偏光が位相
差子をもつ楕円偏光、つまり円偏光となる。この光が収
束用レンズ（６）で微小スポットサイズ（１６）に収束
され光ディスク（７）に照射され、光ディスク（７）で
反射して再び収束用レンズ（６）を通って４分の１波長
板（５）に戻ると、最初の円偏光の位相差とは反対の位
相差、つまり−４−の位相差の円偏光となるので、４分
の１波長板（５）にて最初の直線偏光とは方向が９０度
回転した直線偏光（Ｓ成分）に変換される。したがって
、ビームスプリッタ（３）では半導体レーザ（１）の方
向へは透過せずに２または４分割されたフォトダイオー
ド（８）（９）からなる光検出器（１０）の方へ屈折さ
れる。前記フォトダイオード（８）（９）の出力により
第１の差動回路（１１）で１へラッキング信号が検出さ
れる。このトラッキング信号ＴＥｇは真のトラッキング
エラー電圧ＴＥｒとトラッキングエラーオフセント電圧
ＴＥｏｆｆｓｅｔを含んでいる。この出力は第２の差動
回路（１２）、電流増幅器（１３）を経て収束用レンズ
摺動部（］４）のトラッキングコイルに電流を流して収
束用レンズ（６）を可動し、正しい位置の方向へ制御す
る。このとき、従来は、電流増幅器（１３）のトラッキ
ングコイルのドライブ電流はオフセット電圧変換回路（
１５）でオフセット電圧に変換されて前記第２０差動回
路（１２）に帰還し、前記トラッキングエラーオフセッ
ト電圧Ｔ　Ｅ　ｏｆｆｓｅｔが除去される。

以上のようにして、第２図（ｂ）または（ｃ）のように
スポット（１６）がトラック（１７）の中心から位置ず
れを生じているときには、反射光の強度分布がいずれか
に偏るため、収束用レンズ（６）をいずれかに移動して
第２図（ａ）のように正確に一致するように制御する。

「発明が解決しようとする課題」第４図（ａ）において、レーザパワーの大きな特性（Ａ
）であるか、小さな特性（Ｂ）であるかに拘らず、レン
ズ位置がトラック中心のときは、トラック中心点は（ａ
）図の・点（、）のようになりトラッキングエラー電圧
ＴＥ＝０となる。

ところが、レンズ位置が１−ラック中心から正側にずれ
たときにはトラック中心点は（ｂ）図の上側の・点（ｐ
ｘ　）　（ｑ□）のように特性（Ａ）とＣＢ）の中心点
が不一致となり、また負側にずれたときには（ｂ）図の
下側の・点（ｐ、）（ｑ、）のようにやはり特性（Ａ）
と（Ｂ）の中心点が不一致となりそれぞれオフセットを
生じる。このオフセット量はレーザパワーに比例する。

第３図のフィードバック系に示す従来回路では上述のレ
ーザパワーの変動によるオフセットを除去することがで
きないという問題があった。

本発明はレンズ位置がトラック中心からずれたときのオ
フセラ１へ電圧を除去するのみならず、レーザパワーの
変動によるオフセットを除去する回路を得ることを目的
とするものである。

［課題を解決するための手段」本発明は、平行なレーザビームをビームスプリッタ、４
分の１波長板、収束用レンズを通して微小スポットを光
ディスクに照射し、その反射光を再び曲記収゛束用レン
ズ、前記４分の１波長板を通して位相を変換させ、前記
ビームスプリッタで屈折して光検出器で２分割された出
力を検出して２出力の差信号を差動回路により検出し、
この差動回路の出力を前記収束用レンズ摺動部に加え、
この収束用レンズ摺動部のトラッキングコイルに流れる
電流に基づいてオフセット電圧変換回路によリオフセッ
ト電圧データを得て前記差動出力からオフセット電圧を
除去し、その出力で収束用レンズ位置を制御するように
したものにおいて、前記オフセット電圧変換回路と、前
記差動回路との間に、前記レーザビームパワーのモニタ
電流に基づいてオフセット電圧データを得るパワーモニ
タ回路と、このパワーモニタ回路のデータと前記オフセ
ット電圧変換回路のデータとを乗算する演算回路を介在
してなるものである。

「作用」収束用レンズ摺動部より得られたトラッキングエラー信
号をＴＥｇとすると。

Ｔ　Ｅ　ｇ：　Ｔ　Ｅ　ｒ　＋　Ｔ　Ｅ　ｏｆｆｓｅｔ
となる。ここでＴＥｒは真のトラックエラー信号、Ｔ　
Ｅ　ｏｆｆｓｅｔはトラックオフセット信号である。

、’、ＴＥｒ＝ＴＥｇ−ＴＥｏｆｆｓｅｔとなる。またＴＥｏｆｆｓｅｔ＝　ｋ、　Ｌ−に、　Ｐ　Ｑである。

ここで、Ｌは収束用レンズ摺動部のトラックキングコイ
ルに流れるドライブ電流、ＰＱはレーザパワーのモニタ
電流、ｋｌ、ｋ２は比例定数である。

したがって、オフセット電圧変換回路でに、Ｌが求めら
れ、パワーモニタ回路でに、ＰＱが求められ、乗算回路
でに、Ｌ−に、ＰＱが得られ、これがトラックエラー信
号ＴＥｇから差引かれて真のトラックエラー信号ＴＥｒ
が得られる。この信号によって収束用レンズは正しい位
置に制御される。

「実施例」以下、本発明の一実施例を図面に基づき説明する。

第１図において、（１）はレーザビームを出力する半導
体レーザダイオードで、このレーザダイオード（１）に
臨ませて、定められたＮ　Ａ　（ＮｕｍｅｒｉｃａｌＡ
ｐｅｒｔｕｒｅ：開口数）の集光用レンズ（２）を介し
て斜めカット部（４）を有するビームスプリッタ（３）
を設け、さらに４分の１波長板（５）、レンズ摺動部（
１４）を有する収束用レンズ（６）を介して光ディスク
（７）に臨ませられている。前記ビームスプリッタ（３
）による屈折位置には２分割または４分割されたフォト
ダイオード（８）　（９）からなる光検出器（１０）が
設けられ、この光検出器（１０）は第１の差動回路（１
１）。

第２の差動回路（１２）、電流増幅器（１３）を介して
レンズ摺動部（１４）のトラッキングコイルに結合され
ている。

また、前記電流増幅器（１３）と第２差動回路（１２）
との間には、オフセット電圧変換回路（１５）、定数に
工を乗算する第１の定数回路（１７）　、乗算のための
演算回路（１８）が挿入されている。前記レーザダイオ
ード（１）に臨ませてパワーモニタダイオード（１９）
が設けられ、このパワーモニタダイオード（１９）はモ
ニタ電圧変換回路（２０）、定数に２を乗算する第２の
定数回路（２１）を介して前記演算回路（１８）に結合
されている。

以上のような回路構成による作用を説明する。

半導体レーザダイオード（１）の出力光が集光用レンズ
（２）、ビームスプリッタ（３）、４分の１波長板（５
）、収束用レンズ（６）を通して光ディスク（７）に照
射し、その反射光は再び収束用レンズ（６）、４分の１
波長板（５）、ビームスプリッタ（３）の斜めカット部
（４）を経て光検出器（１０）で２出力を検出し。

この２出力の差信号を第１の差動回路（１１）により得
、さらに、第２の差動回路（１２）、電流増幅器（１３
）を介してレンズ摺動部（１４）のトラッキングコイル
に加えて位置ずれを補償する。以上の動作は従来と同様
である。

ここで、前記第１の差動回路（１１）のトラッキングエ
ラー信号ＴＥｇは、ＴＥｇ＝ＴＥｒ＋ＴＥｏｆｆｓａｔ　　・＝（１）とな
る。つまり、真のトラッキングエラー信号ＴＥｒにオフ
セットｉ”ｌｌ’Ｅｏｆｆを含んだ出力となる。

したがって、上記（１）式を書換えて、ＴＥｒ＝ＴＥｇ
−ＴＥｏｆｆｓｅｔ　　−（２）となる。また、オフセ
ット量Ｔ　Ｅ　ｏｆｆｓｅｔはＴＥｏｆｆｓｅｔ＝に、
Ｌ−に２ＰＱ　−＝（３）となる。ここでＬはトラッキ
ングコイルに流れるドライブ電流、ＰＱはパワーモニタ
ダイオード（１９）のモニタ電流で、ｋｌ、ｋ２は定数
である。

上記（２）　（３）式からＴ　Ｅｒ＝　Ｔ　Ｅｇ　　ｋＩＴ−ｋｚ　Ｐ　Ｑ　　・
・１４）となる。この（４）式を満足させるため、パワ
ーモニタダイオード（１９）で検出した電流をモニタ電
圧変換回路（２０）で電圧に変換し、第２の定数回路（
２１）でに２を乗算し、演算回路（１８）へ送る。また
、電流増幅器（１３）のドライブ電流をオフセット電圧
変換回路（１５）により電圧に変換し、第１の定数回路
（１７）でｋよを乗算し、演算回路（１８）へ送る。演
算回路（１８）ではに、Ｌ−に２ＰＱを演算し第２の差
動回路（１２）で上記（４）式を演算し、この出力でレ
ンズ摺動部（１４）のトラッキングコイルを暇動して位
置調整をする。

「発明の効果」本発明は上述のように構成したので、レーザパワーの変
動によるオフセットをも除去することができより正確な
光軸ずれの位置補正ができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による光軸ずれ補償装置の一実施例を示
す説明図、第２図は反射光の強度分布図、第３図は従来
の装置の説明図、第４図はレーザパワーのトラック中心
点の説明図である。（１）・・・半導体レーザダイオード、（２）・・・集
光用レンズ、（３）・・・ビームスプリッタ、（４）・
・・斜めカット部、（５）・・・４分の１波長板、（６
）・・・収束用レンズ、（７）・・・光ディスク、（８
）　（９）・・・フォトダイオード、　（１，０）・・
・光検出器、（１］）・・・第１の差動回路、（１２）
・・・第２の差動回路、（１３）・・・電流増幅器、（
１４）・・・レンズ摺動部、（１５）・・・オフセット
電圧変換回路、（１６）・・ビームスポット、（１７）
・・・第１の定数回路、（１８）・・・演算回路、（１
９）・・パワーモニタダイオード、　（２０）・・モニ
タ電圧変換回路、（２１）・・・第２の定数回路。出願人　株式会社富士通ゼネラル

Claims

【特許請求の範囲】

（１）平行なレーザビームをビームスプリッタ、４分の
１波長板、収束用レンズを通して微小スポットを光ディ
スクに照射し、その反射光を再び前記収束用レンズ、前
記４分の１波長板を通して位相を変換させ、前記ビーム
スプリッタで屈折して光検出器で２分割された出力を検
出して２出力の差信号を差動回路により検出し、この差
動回路の出力を前記収束用レンズ摺動部に加え、この収
束用レンズ摺動部のトラッキングコイルに流れる電流に
基づいてオフセット電圧変換回路によりオフセット電圧
データを得て前記差動出力からオフセット電圧を除去し
、その出力で収束用レンズ位置を制御するようにしたも
のにおいて、前記オフセット電圧変換回路と、前記差動
回路との間に、前記レーザビームパワーのモニタ電流に
基づいてオフセット電圧データを得るパワーモニタ回路
と、このパワーモニタ回路のデータと前記オフセット電
圧変換回路のデータとを乗算する演算回路を介在してな
ることを特徴とする光軸ずれ補償装置。