JPH0443329B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0443329B2 JPH0443329B2 JP60018035A JP1803585A JPH0443329B2 JP H0443329 B2 JPH0443329 B2 JP H0443329B2 JP 60018035 A JP60018035 A JP 60018035A JP 1803585 A JP1803585 A JP 1803585A JP H0443329 B2 JPH0443329 B2 JP H0443329B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photodetectors
- amplifiers
- amount
- light beam
- reflected
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
- G11B7/0917—Focus-error methods other than those covered by G11B7/0909 - G11B7/0916
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Optical Head (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は焦点誤差制御装置に係り、特に光デイ
スク装置の記録媒体表面における光点制御装置の
改良に関する。
スク装置の記録媒体表面における光点制御装置の
改良に関する。
従来光デイスク装置において用いられている光
点制御信号の検出方式としては、非点収差法、ナ
イフエツジ法、或いは臨界角法等が知られてい
る。
点制御信号の検出方式としては、非点収差法、ナ
イフエツジ法、或いは臨界角法等が知られてい
る。
第５図は特開昭53−131006号公報に示された従
来のシステム構成を示す要部ブロツク図であつ
て、１は反射光束、２は集光レンズ、３及び４は
第１及び第２の光検知器、５は上記２つの光検知
器の境界線、６及び７は第１及び第２の増幅器、
８は差動アンプ、９は反射光束１の光軸である。
来のシステム構成を示す要部ブロツク図であつ
て、１は反射光束、２は集光レンズ、３及び４は
第１及び第２の光検知器、５は上記２つの光検知
器の境界線、６及び７は第１及び第２の増幅器、
８は差動アンプ、９は反射光束１の光軸である。
この従来例は、まず円板状記録媒体（以下光デ
イスクと略記する。第５図には図示していない）
からの反射光束１を集光レンズ２を通過させた
後、第１及び第２の光検知器３，４に入射させ
る。２つの光検知器３，４は受光面を反射光束１
に向け互いに隣接して配置されている。この２つ
の光検知器３，４の配設位置は、その境界線５の
向きが、照射光束が光デイスク表面において半径
方向に移動したとき、上記受光面における反射光
束１の移動方向と略並行し、且つ反射光束１の光
軸９と境界線５とは所定距離離れた状態にずらせ
て配置する。
イスクと略記する。第５図には図示していない）
からの反射光束１を集光レンズ２を通過させた
後、第１及び第２の光検知器３，４に入射させ
る。２つの光検知器３，４は受光面を反射光束１
に向け互いに隣接して配置されている。この２つ
の光検知器３，４の配設位置は、その境界線５の
向きが、照射光束が光デイスク表面において半径
方向に移動したとき、上記受光面における反射光
束１の移動方向と略並行し、且つ反射光束１の光
軸９と境界線５とは所定距離離れた状態にずらせ
て配置する。
反射光束１と２つの光検知器３，４とをこのよ
うに配設することにより、第６図に見られる如
く、光デイスク表面において照射光束が合焦点状
態のときの、第１及び第２の光検知器３，４の受
光量を異ならしめておく。第６図は第１の光検知
器３の受光量を第２の光検知器４の受光量より小
さくした例である。
うに配設することにより、第６図に見られる如
く、光デイスク表面において照射光束が合焦点状
態のときの、第１及び第２の光検知器３，４の受
光量を異ならしめておく。第６図は第１の光検知
器３の受光量を第２の光検知器４の受光量より小
さくした例である。
更に上記合焦点状態においては、２つの光検知
器３，４の検知出力を増幅する第１及び第２の増
幅器６，７の出力が等しくなるよう、第１の増幅
器６のゲインG1を大きく、第２の増幅器７のゲ
インG2を小さく選択しておく。従つて合焦点状
態のとき差動アンプの出力は零となる。
器３，４の検知出力を増幅する第１及び第２の増
幅器６，７の出力が等しくなるよう、第１の増幅
器６のゲインG1を大きく、第２の増幅器７のゲ
インG2を小さく選択しておく。従つて合焦点状
態のとき差動アンプの出力は零となる。
この従来例では反射光束１に対する２つの光検
知器３，４の配設位置及び２つの増幅器６，７の
ゲインを上述のように選択することにより、光デ
イスク表面における照射光束の焦点誤差を容易に
検出することが出来る。
知器３，４の配設位置及び２つの増幅器６，７の
ゲインを上述のように選択することにより、光デ
イスク表面における照射光束の焦点誤差を容易に
検出することが出来る。
第６図は従来の光検知器上の受光状態を示す図
である。光デイスクの位置が合焦点状態より遠く
離れた場合には、第６図ａに見られるように２つ
の光検知器３，４の受光面上における反射光束１
にスポツトは小さくなり、逆に近づいた場合には
同図ｃに見られるように大きくなる。このため第
１の光検知器３の受光量に対する第２の光検知器
４の受光量の比は、合焦点状態（同図ｂ）と較べ
て同図ａの場合は増大し、同図ｃの場合は減少す
る。
である。光デイスクの位置が合焦点状態より遠く
離れた場合には、第６図ａに見られるように２つ
の光検知器３，４の受光面上における反射光束１
にスポツトは小さくなり、逆に近づいた場合には
同図ｃに見られるように大きくなる。このため第
１の光検知器３の受光量に対する第２の光検知器
４の受光量の比は、合焦点状態（同図ｂ）と較べ
て同図ａの場合は増大し、同図ｃの場合は減少す
る。
従つて差動アンプ８の出力は光デイスクが合焦
点状態により離れた場合〔第６図ａ〕には負に、
近づいた場合〔第６図ｃ〕には正になる。
点状態により離れた場合〔第６図ａ〕には負に、
近づいた場合〔第６図ｃ〕には正になる。
第７図は従来の焦点ずれと焦点誤差信号との関
係を示す図であつて、上記ゲインの比G1／G2を
パラメータとして、光デイスク上における焦点ず
れに対する差動アンプの出力即ち焦点誤差信号の
関係を示す。横軸は焦点ずれで、右方向が光デイ
スクが合焦点状態より近づいた場合、左方向が離
れた場合を示し、縦軸は焦点誤差信号を示す。
係を示す図であつて、上記ゲインの比G1／G2を
パラメータとして、光デイスク上における焦点ず
れに対する差動アンプの出力即ち焦点誤差信号の
関係を示す。横軸は焦点ずれで、右方向が光デイ
スクが合焦点状態より近づいた場合、左方向が離
れた場合を示し、縦軸は焦点誤差信号を示す。
同図にみられるようにゲインの比G1／G2（以下
これをゲイン比と称し、Ｒで示す）が大きいほど
焦点誤差信号は増大し、従つて感度が向上する。
これをゲイン比と称し、Ｒで示す）が大きいほど
焦点誤差信号は増大し、従つて感度が向上する。
以上のように、隣接配置された２つの光検知器
３及び４の反射光束１の受光量を異ならしめ、そ
の出力を異なるゲインを有する増幅器６，７で増
幅し、合焦点状態において焦点誤差信号が零とな
るようにしておくことにより、焦点ずれを感度よ
く検出できる。しかも構成が簡単である。
３及び４の反射光束１の受光量を異ならしめ、そ
の出力を異なるゲインを有する増幅器６，７で増
幅し、合焦点状態において焦点誤差信号が零とな
るようにしておくことにより、焦点ずれを感度よ
く検出できる。しかも構成が簡単である。
第８図は従来の光学系を示す要部ブロツク図で
ある。この図は前記第５図における第１及び第２
の光検知器３，４をそれぞれ２個の検知器１１，
１２及び１３，１４とにより構成した例である。
このようにすることにより、反射光束１から焦点
誤差信号のみならず、トラツク誤差信号及び情報
再生信号を得る事が出来る。
ある。この図は前記第５図における第１及び第２
の光検知器３，４をそれぞれ２個の検知器１１，
１２及び１３，１４とにより構成した例である。
このようにすることにより、反射光束１から焦点
誤差信号のみならず、トラツク誤差信号及び情報
再生信号を得る事が出来る。
第８図において、半導体レーザ１５から出射さ
れるレーザ光１６は、コリメートレンズ１７で並
行光途され、整形プリズム１８で断面楕円形のビ
ームが円形に整形される。ビームは偏光ビームス
プリツタ１９、1/4波長板２０を介して対物レン
ズ２１により光デイスク２２表面に集光される。
上記対物レンズ２２はアクチユエータ２３内の磁
気回路（VCM）によつて焦点調整及びトラツク
方向への駆動が行われる。光デイスク２２からの
反射光束は対物レンズ、1/4波長板２０を通過し、
偏光面が90度変換され、偏光ビームスプリツタ１
９により同図の右方向に分岐され、就航レンズ２
を通過して前述のそれぞれ２個の検知器からなる
第１及び第２の光検知器３，４に入射する。
れるレーザ光１６は、コリメートレンズ１７で並
行光途され、整形プリズム１８で断面楕円形のビ
ームが円形に整形される。ビームは偏光ビームス
プリツタ１９、1/4波長板２０を介して対物レン
ズ２１により光デイスク２２表面に集光される。
上記対物レンズ２２はアクチユエータ２３内の磁
気回路（VCM）によつて焦点調整及びトラツク
方向への駆動が行われる。光デイスク２２からの
反射光束は対物レンズ、1/4波長板２０を通過し、
偏光面が90度変換され、偏光ビームスプリツタ１
９により同図の右方向に分岐され、就航レンズ２
を通過して前述のそれぞれ２個の検知器からなる
第１及び第２の光検知器３，４に入射する。
第９図は従来の光検知器と反射光束との関係を
示す図である。図において、第１及び第２の光検
知器３，４を構成する２個の検知器１１と１２の
間、並びに１３と１４の間の分割線２４は前述の
境界線５と直交するように構成されている。
示す図である。図において、第１及び第２の光検
知器３，４を構成する２個の検知器１１と１２の
間、並びに１３と１４の間の分割線２４は前述の
境界線５と直交するように構成されている。
合焦点状態では反射光束１の光軸９を境界線５
から離れた場所に位置せしめ、第１及び第２の光
検知器３，４の受光量を異ならしめておく。例え
ば第１の光検知器３の受光量に対する第２の光検
知器４を受光量の比を１対ｎにしておく。一方、
上記光軸９と分割線２４とは一致させておく。
から離れた場所に位置せしめ、第１及び第２の光
検知器３，４の受光量を異ならしめておく。例え
ば第１の光検知器３の受光量に対する第２の光検
知器４を受光量の比を１対ｎにしておく。一方、
上記光軸９と分割線２４とは一致させておく。
第１０図は従来の光点制御信号の演算回路を示
すブロツク図である。上記４個の検知器１１〜１
４の出力ａ，ｂ，ｃ，ｄは、第１０図に示す演算
回路に入力される。同図において、３１，３２，
３３，３４は加算器、３５，３６は減算器、３
７，３８は位相補償回路、３９，４０はパワーア
ンプ、４１はフオーカスコイル、４２はトラツキ
ングコイルである。
すブロツク図である。上記４個の検知器１１〜１
４の出力ａ，ｂ，ｃ，ｄは、第１０図に示す演算
回路に入力される。同図において、３１，３２，
３３，３４は加算器、３５，３６は減算器、３
７，３８は位相補償回路、３９，４０はパワーア
ンプ、４１はフオーカスコイル、４２はトラツキ
ングコイルである。
検知出力ａ及びｂは加算器３１で加算され、第
１の光検知器３全体の出力が求められる。同様に
検知出力ｃ及びｄは加算器３２で加算され、第２
の光検知器４全体の出力が算出される。
１の光検知器３全体の出力が求められる。同様に
検知出力ｃ及びｄは加算器３２で加算され、第２
の光検知器４全体の出力が算出される。
上記加算器３１，３２の加算結果に対する増幅
部のゲインG1及びG2をそれぞれ前記第５図と同
様に、合焦点状態における第１及び第２の光検知
器３，４の受光量の逆比に選択しておく。即ち、
ゲイン比Ｒ＝G1／G2＝ｎと選定しておく。
部のゲインG1及びG2をそれぞれ前記第５図と同
様に、合焦点状態における第１及び第２の光検知
器３，４の受光量の逆比に選択しておく。即ち、
ゲイン比Ｒ＝G1／G2＝ｎと選定しておく。
このように設定しておくことにより、焦点ずれ
に対して上記検知出力はそれぞれ加算器３１，３
２で加算され、第１及び第２の光検知器３，４の
出力が算出された後、上述のゲイン比で増幅され
るので、焦点誤差信号をＦとすると、 Ｆ＝G1（ａ＋ｂ）−G1（ｃ＋ｄ） ……… となり、合焦点状態では加算器３１，３２の出力
は等しくなり、フオーカスコイル４１に対する制
御信号は零となり、まず焦点ずれが生じた場合に
は、ずれの方向により正または負の制御信号が出
力される。
に対して上記検知出力はそれぞれ加算器３１，３
２で加算され、第１及び第２の光検知器３，４の
出力が算出された後、上述のゲイン比で増幅され
るので、焦点誤差信号をＦとすると、 Ｆ＝G1（ａ＋ｂ）−G1（ｃ＋ｄ） ……… となり、合焦点状態では加算器３１，３２の出力
は等しくなり、フオーカスコイル４１に対する制
御信号は零となり、まず焦点ずれが生じた場合に
は、ずれの方向により正または負の制御信号が出
力される。
一方、検知出力ａ及びｃは加算器３４により、
ｂ及びｄは加算器３３により加算される。これに
より検知器１１，１３の受光量の和、並びに検知
器１２，１４の受光量の和が求まる。この両者を
比較することにより、光デイスク２２の表面にお
ける半径方向の照射光束の位置ずれが検出され
る。
ｂ及びｄは加算器３３により加算される。これに
より検知器１１，１３の受光量の和、並びに検知
器１２，１４の受光量の和が求まる。この両者を
比較することにより、光デイスク２２の表面にお
ける半径方向の照射光束の位置ずれが検出され
る。
即ちトラツクに対し照射光束がいずれかの方向
にずれた場合には、反射光束１は分割線２４を直
交する方向に強度分布の非対称性が生じる。これ
はトラツクの凹凸による回折に起因して生じるも
のである。そのため上記ａ＋ｃとｂ＋ｄとは等し
くなくなる。従つてこの両者を減算器３６、位相
補償器３８、パワーアンプ４０を介して、 Ｔ＝（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）……… なるトラツク誤差信号Ｔをトラツキングコイル４
２に送出することにより、トラツクに対する位置
ずれを補正することが出来る。
にずれた場合には、反射光束１は分割線２４を直
交する方向に強度分布の非対称性が生じる。これ
はトラツクの凹凸による回折に起因して生じるも
のである。そのため上記ａ＋ｃとｂ＋ｄとは等し
くなくなる。従つてこの両者を減算器３６、位相
補償器３８、パワーアンプ４０を介して、 Ｔ＝（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）……… なるトラツク誤差信号Ｔをトラツキングコイル４
２に送出することにより、トラツクに対する位置
ずれを補正することが出来る。
さらに情報再生信号をＳとすると、Ｓは
Ｓ＝ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ ………
として表される。即ち上記４個の検知出力の和を
求めることにより情報再生信号が得られる。
求めることにより情報再生信号が得られる。
上述のように従来の光デイスク装置において
は、単に一組の光検知器を用いて必要な信号を総
て取り出すことができる。しかも、一枚の集光レ
ンズを通すだけでよく、反射光束の光路にマスク
等を設けることなく構造が簡単である。また、増
幅手段のゲイン比も合焦点状態において第１及び
第２の光検知器３，４の受光量の逆比に選択する
だけでよい。更に光学系の調整は分割線２４と光
軸９とを一致させるだけでよく、３次元の複雑な
調整を必要とせず簡単化されている利点があつ
た。
は、単に一組の光検知器を用いて必要な信号を総
て取り出すことができる。しかも、一枚の集光レ
ンズを通すだけでよく、反射光束の光路にマスク
等を設けることなく構造が簡単である。また、増
幅手段のゲイン比も合焦点状態において第１及び
第２の光検知器３，４の受光量の逆比に選択する
だけでよい。更に光学系の調整は分割線２４と光
軸９とを一致させるだけでよく、３次元の複雑な
調整を必要とせず簡単化されている利点があつ
た。
上述の方法は、第７図のゲイン比と焦点誤差信
号の関係を示す図に見られるように従軸を中心と
して右側の特性曲線と左側の特性曲線が非対称形
即ち、非直線性であり、且つゲイン比Ｒ＝１の場
合には全くゲインが無いという問題がある。
号の関係を示す図に見られるように従軸を中心と
して右側の特性曲線と左側の特性曲線が非対称形
即ち、非直線性であり、且つゲイン比Ｒ＝１の場
合には全くゲインが無いという問題がある。
また、フオーカスサーボON、トラツキングサ
ーボOFFのときにトラツキング誤差信号が外乱
（目的外信号）として焦点誤差信号に混入する欠
点がある。
ーボOFFのときにトラツキング誤差信号が外乱
（目的外信号）として焦点誤差信号に混入する欠
点がある。
本発明の目的は簡単な光学系の構成で、焦点誤
差信号の感度を外乱信号の影響を抑制しながら、
且つ感度向上の可能な焦点制御装置を提供するこ
とにある。
差信号の感度を外乱信号の影響を抑制しながら、
且つ感度向上の可能な焦点制御装置を提供するこ
とにある。
本発明の目的は、円板状記録媒体表面に対物レ
ンズを介して光束を照射し、記録・再生・消去を
行う光デイスク装置であつて、前記円板状記録媒
体表面にて反射され、前記対物レンズを逆進通過
した反射光束を分光した後、集光レンズを通して
受光するように互いに隣接して配置された第１及
び第２の光検知器と、当該両光検知器の各受光量
に対応して出力する電気信号をそれぞれ増幅する
第１及び第２の増幅器を備え、前記照射光束が合
焦点状態の時に前記各光検知器の受光量が異なる
如く両光検知器を配置するとともに、その時の当
該両光検知器に連なる増幅器の出力が等価になる
よう両増幅器の各ゲインを設定し、当該両増幅器
の出力の差に基づいて前記記録媒体表面と対物レ
ンズ間の焦点距離を制御する焦点誤差制御方式に
おいて、前記反射光束の一部が前記集光レンズの
外周縁を外れるように集光レンズの光軸を反射光
束の光軸からずらして配置し、かつ該両光軸間の
ずれ量が前記両増幅器間のゲイン比を２〜４に設
定した範囲内で合焦点時における前記第１及び第
２の光検知器に入射する反射光量差にかかわらず
前記両増幅器から等価の出力を生ずるように定め
ることにより達成される。
ンズを介して光束を照射し、記録・再生・消去を
行う光デイスク装置であつて、前記円板状記録媒
体表面にて反射され、前記対物レンズを逆進通過
した反射光束を分光した後、集光レンズを通して
受光するように互いに隣接して配置された第１及
び第２の光検知器と、当該両光検知器の各受光量
に対応して出力する電気信号をそれぞれ増幅する
第１及び第２の増幅器を備え、前記照射光束が合
焦点状態の時に前記各光検知器の受光量が異なる
如く両光検知器を配置するとともに、その時の当
該両光検知器に連なる増幅器の出力が等価になる
よう両増幅器の各ゲインを設定し、当該両増幅器
の出力の差に基づいて前記記録媒体表面と対物レ
ンズ間の焦点距離を制御する焦点誤差制御方式に
おいて、前記反射光束の一部が前記集光レンズの
外周縁を外れるように集光レンズの光軸を反射光
束の光軸からずらして配置し、かつ該両光軸間の
ずれ量が前記両増幅器間のゲイン比を２〜４に設
定した範囲内で合焦点時における前記第１及び第
２の光検知器に入射する反射光量差にかかわらず
前記両増幅器から等価の出力を生ずるように定め
ることにより達成される。
反射光束を受光する光検知手段を互いに隣接し
て配置された両光検知器をもつて構成し、合焦点
状態において互いに受光量を異ならしめておき、
両光検知器に連なる増幅器のゲインを、合焦点状
態において両増幅器の出力差が零となるように選
択しておくことにより焦点ずれにより受光量の変
化が２つの光検知器で異なり、更にその変化がそ
れぞれの増幅器で拡大されることとなるため、感
度が向上し、しかも検出系は集光レンズと上記一
組の光検知器のみでよいから構成が極めて簡単と
なる効果に加えて、前記両光検知器に受光せしめ
るための反射光束除去手段を設け、かつ前記両増
幅器のゲイン比を焦点誤差信号に対して外乱とし
て混入するトラツキング誤差信号が最小となる値
（２〜４）に設定することにより光学系の調整が
容易で且つ外乱の影響を抑制可能な焦点誤差信号
が得られる。
て配置された両光検知器をもつて構成し、合焦点
状態において互いに受光量を異ならしめておき、
両光検知器に連なる増幅器のゲインを、合焦点状
態において両増幅器の出力差が零となるように選
択しておくことにより焦点ずれにより受光量の変
化が２つの光検知器で異なり、更にその変化がそ
れぞれの増幅器で拡大されることとなるため、感
度が向上し、しかも検出系は集光レンズと上記一
組の光検知器のみでよいから構成が極めて簡単と
なる効果に加えて、前記両光検知器に受光せしめ
るための反射光束除去手段を設け、かつ前記両増
幅器のゲイン比を焦点誤差信号に対して外乱とし
て混入するトラツキング誤差信号が最小となる値
（２〜４）に設定することにより光学系の調整が
容易で且つ外乱の影響を抑制可能な焦点誤差信号
が得られる。
以下本発明の実施例を図面を参照しながら説明
する。
する。
第１図は本発明の実施例の反射光束の受光方法
を示す説明図であつて、ａは要部断面図、ｂは要
部平面図を示す。
を示す説明図であつて、ａは要部断面図、ｂは要
部平面図を示す。
両図において、反射光束１の一部を除去する手
段として、反射光束１の光軸９と集光レンズ２の
光軸５１とをずらし、反射光束１の一部５２が集
光レンズ２の周縁からはずれるようにした例であ
る。従つてｂ図に見られる如く、反射光束１のう
ち斜線を引いて示した部分１′のみが第１及び第
２の光検知器３，４に入射することたなる。
段として、反射光束１の光軸９と集光レンズ２の
光軸５１とをずらし、反射光束１の一部５２が集
光レンズ２の周縁からはずれるようにした例であ
る。従つてｂ図に見られる如く、反射光束１のう
ち斜線を引いて示した部分１′のみが第１及び第
２の光検知器３，４に入射することたなる。
本実施例では上述の如く、反射光束１の所望部
分１′のみを光検知器３，４に入射せしめるよう
にした点が第５図と異なるのみで、その他の構成
は全く同じである。
分１′のみを光検知器３，４に入射せしめるよう
にした点が第５図と異なるのみで、その他の構成
は全く同じである。
また、反射光束１の一部を除去する手段とし
て、遮光板を利用する方法でも同じ効果が得られ
るが、構造が複雑になる欠点がある。
て、遮光板を利用する方法でも同じ効果が得られ
るが、構造が複雑になる欠点がある。
第２図は本発明の光検知器上の受光状態を示す
図であつて、ａは光デイスクの位置が合焦点状態
より強く離れた場合、ｂは合焦点位置、ｃは光デ
イスクが合焦点状態より近い場合をそれぞれ示
す。
図であつて、ａは光デイスクの位置が合焦点状態
より強く離れた場合、ｂは合焦点位置、ｃは光デ
イスクが合焦点状態より近い場合をそれぞれ示
す。
即ち、第２図ａ，ｂ，ｃに見られるように、合
焦点状態において光検知器３，４で受光される反
射光束１′の受光量を異ならしめ、前記第５図と
同様に上記光検知器３，４の出力を上記受光量の
逆比のゲイン比を持つようゲインを選択された増
幅器に入力させることにより、合焦点状態で焦点
誤差信号が零となるように設定しておく。
焦点状態において光検知器３，４で受光される反
射光束１′の受光量を異ならしめ、前記第５図と
同様に上記光検知器３，４の出力を上記受光量の
逆比のゲイン比を持つようゲインを選択された増
幅器に入力させることにより、合焦点状態で焦点
誤差信号が零となるように設定しておく。
従つて焦点ずれが生じた場合には、これまた前
記第６図と同様に、光デイスクが遠くなつた場合
（第２図ａ）には第２の光検知器４の受光量が相
対的に増大し、近づいた場合（第２図ｃ）には第
１の光検知器３の受光量が相対的に増大し、焦点
誤差信号の大きさ及び極性が変化する。
記第６図と同様に、光デイスクが遠くなつた場合
（第２図ａ）には第２の光検知器４の受光量が相
対的に増大し、近づいた場合（第２図ｃ）には第
１の光検知器３の受光量が相対的に増大し、焦点
誤差信号の大きさ及び極性が変化する。
第３図は本発明の実施例における焦点ずれと焦
点誤差信号との関係を示す図である。同図に見ら
れるように本実施例は前記第７図と比較して更に
大きな効果を有する。即ち、 (1) ゲイン比Ｒ＝１の場合には前記第７図の例で
は全く感度を有しなかつたのと異なり、本実施
例においては感度を有する。これに伴い全体の
感度が向上している。
点誤差信号との関係を示す図である。同図に見ら
れるように本実施例は前記第７図と比較して更に
大きな効果を有する。即ち、 (1) ゲイン比Ｒ＝１の場合には前記第７図の例で
は全く感度を有しなかつたのと異なり、本実施
例においては感度を有する。これに伴い全体の
感度が向上している。
(2) 前記第７図の例では縦軸の右側は左側より感
度が低く、特性が非対称であつたのに対し、本
実施例では焦点ずれが小さい領域では直線性及
び対称性が改善されている。
度が低く、特性が非対称であつたのに対し、本
実施例では焦点ずれが小さい領域では直線性及
び対称性が改善されている。
これらの効果は、反射光束が焦点ずれに対応し
てその径が増大したとき、第２図に示す反射光束
１′の左側から蹴られた部分が増大するため、第
２の光検知器４の受光量の相対的な減少の度合が
より強調されることによつて得られるものであ
る。
てその径が増大したとき、第２図に示す反射光束
１′の左側から蹴られた部分が増大するため、第
２の光検知器４の受光量の相対的な減少の度合が
より強調されることによつて得られるものであ
る。
その他の効果は前記第９図の従来例と変わると
ころはない。即ち、図示していないが、第１及び
第２の光検知器３，４を前記第９図で説明したよ
うに各々２分割することにより、同一反射光束か
ら焦点誤差信号のみならず、トラツキング誤差信
号及び情報再生信号の総てが得られる点も全く同
様である。
ころはない。即ち、図示していないが、第１及び
第２の光検知器３，４を前記第９図で説明したよ
うに各々２分割することにより、同一反射光束か
ら焦点誤差信号のみならず、トラツキング誤差信
号及び情報再生信号の総てが得られる点も全く同
様である。
第４図は本発明のゲイン比と外乱（目的外信
号）との関係を示す図である。焦点誤差信号とト
ラツキング誤差信号とを差信号として取り出す方
向は、前記第９図で説明したように直交してい
る。光デイスク表面で照射ビームがトラツクを横
切るときの反射光束の非対称性は主として分割線
２４に平行な方向に現れ、分割線２４の両側には
発生しない筈であると考えられていた。しかし実
際には反射光束はトラツクを横断するときの変化
を伴なつて入射される。従つて、従来のナイフエ
ツジ法、マスキング法等では分割線２４に直交す
る方向に反射光束の形状を変えてしまうため、光
検知器に入力する光束は分割線２４に関し対称性
が崩れてしまう。そのためフオーカスサーボ
ON、トラツキングサーボOFFのときの焦点誤差
信号に、トラツキング誤差信号が外乱として混入
する。
号）との関係を示す図である。焦点誤差信号とト
ラツキング誤差信号とを差信号として取り出す方
向は、前記第９図で説明したように直交してい
る。光デイスク表面で照射ビームがトラツクを横
切るときの反射光束の非対称性は主として分割線
２４に平行な方向に現れ、分割線２４の両側には
発生しない筈であると考えられていた。しかし実
際には反射光束はトラツクを横断するときの変化
を伴なつて入射される。従つて、従来のナイフエ
ツジ法、マスキング法等では分割線２４に直交す
る方向に反射光束の形状を変えてしまうため、光
検知器に入力する光束は分割線２４に関し対称性
が崩れてしまう。そのためフオーカスサーボ
ON、トラツキングサーボOFFのときの焦点誤差
信号に、トラツキング誤差信号が外乱として混入
する。
この外乱（目的外信号）はサーボ特性、記録再
生信号に様々な悪影響を与え、外乱が大きい場合
にはサーボ不能となることがある。
生信号に様々な悪影響を与え、外乱が大きい場合
にはサーボ不能となることがある。
本発明を用いて上記外乱とゲイン比Ｒ＝G1／
G2との関係を調べることにより、上記第４図に
見られるように、外乱はゲイン比Ｒに依存し、外
乱が最小となるゲイン比Ｒが存在することが見出
された。
G2との関係を調べることにより、上記第４図に
見られるように、外乱はゲイン比Ｒに依存し、外
乱が最小となるゲイン比Ｒが存在することが見出
された。
即ちゲイン比Ｒを凡そ２〜４の範囲で選択する
ことで、外乱を最小に抑えることが可能となる。
ことで、外乱を最小に抑えることが可能となる。
このようにゲイン比Ｒを所望の値に選択するこ
とは、本発明において第１及び第２の光検知器３
及び４の受光量を異ならしめ、上記第１及び第２
の光検知器３，４の出力信号を増幅する増幅器６
及び７のゲインを合焦点状態における上記受光量
の逆比になるように設定する構成により始めて可
能となるものである。
とは、本発明において第１及び第２の光検知器３
及び４の受光量を異ならしめ、上記第１及び第２
の光検知器３，４の出力信号を増幅する増幅器６
及び７のゲインを合焦点状態における上記受光量
の逆比になるように設定する構成により始めて可
能となるものである。
従来の方式は、外乱を最小にするゲイン比Ｒを
選択するということはなかつた。この効果は前述
の総ての実施例について同様に得られるものであ
る。
選択するということはなかつた。この効果は前述
の総ての実施例について同様に得られるものであ
る。
以上説明した如く本発明により、構成が簡単で
小型化、軽量化が可能で、調整が容易で感度が良
くしかも外乱の少ない焦点制御装置が得られた。
小型化、軽量化が可能で、調整が容易で感度が良
くしかも外乱の少ない焦点制御装置が得られた。
第１図は本発明の実施例の反射光束の受光方法
を示す説明図、第２図は本発明の光検知器上の受
光状態を示す図、第３図は本発明の実施例におけ
る焦点ずれと焦点誤差信号との関係を示す図、第
４図は本発明のゲイン比と外乱との関係を示す
図、第５図は従来のシステム構成を示す要部ブロ
ツク図、第６図は従来の光検知器上の受光状態を
示す図、第７図は従来の焦点ずれと焦点誤差信号
との関係を示す図、第８図は従来の光学系を示す
要部ブロツク図、第９図は従来の光検知器と反射
光束との関係を示す図、第１０図は従来の光点制
御信号の演算回路を示すブロツク図を示す。 図において、１は反射光束、１′は一部を除去
された反射光束、２は集光レンズ、３及び４は第
１及び第２の光検知器、５は境界線、６及び７は
第１及び第２の増幅器、８は差動アンプ、９は反
射光束の光軸、１１，１２，１３，１４は検知
器、３１，３２は所望のゲインの増幅器を有する
加算器、５１は集光レンズ２の光軸、５２は反射
光束の一部で除去された部分をそれぞれ示す。
を示す説明図、第２図は本発明の光検知器上の受
光状態を示す図、第３図は本発明の実施例におけ
る焦点ずれと焦点誤差信号との関係を示す図、第
４図は本発明のゲイン比と外乱との関係を示す
図、第５図は従来のシステム構成を示す要部ブロ
ツク図、第６図は従来の光検知器上の受光状態を
示す図、第７図は従来の焦点ずれと焦点誤差信号
との関係を示す図、第８図は従来の光学系を示す
要部ブロツク図、第９図は従来の光検知器と反射
光束との関係を示す図、第１０図は従来の光点制
御信号の演算回路を示すブロツク図を示す。 図において、１は反射光束、１′は一部を除去
された反射光束、２は集光レンズ、３及び４は第
１及び第２の光検知器、５は境界線、６及び７は
第１及び第２の増幅器、８は差動アンプ、９は反
射光束の光軸、１１，１２，１３，１４は検知
器、３１，３２は所望のゲインの増幅器を有する
加算器、５１は集光レンズ２の光軸、５２は反射
光束の一部で除去された部分をそれぞれ示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 円板状記録媒体表面に対物レンズを介して光
束を照射して記録・再生・消去を行う光デイスク
装置であつて、前記円板状記録媒体表面にて反射
され、前記対物レンズを逆進通過した反射光束を
分光した後、集光レンズを通して受光するように
互いに隣接して配置された第１及び第２の光検知
器と、当該両光検知器の各受光量に対応して出力
する電気信号をそれぞれ増幅する第１及び第２の
増幅器を備え、前記照射光束が合焦点状態の時に
前記各光検知器の受光量が異なる如く両光検知器
を配置するとともに、その時の当該両光検知器に
連なる増幅器の出力が等価になるよう両増幅器の
各ゲインを設定し、当該両増幅器の出力の差に基
づいて前記記録媒体表面と対物レンズ間の焦点距
離を制御する焦点誤差制御装置において、 前記反射光束の一部が前記集光レンズの外周縁
を外れるように集光レンズの光軸を反射光束の光
軸からずらして配置し、かつ該両光軸間のずれ量
が前記両増幅器間のゲイン比を２〜４に設定した
範囲内で合焦点時における前記第１及び第２の光
検知器に入射する反射光量差にかかわらず前記両
増幅器から等価の出力を生ずるように定められて
なることを特徴とする焦点誤差制御装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60018035A JPS61177645A (ja) | 1985-01-31 | 1985-01-31 | 焦点誤差制御装置 |
| KR8600395A KR900002998B1 (en) | 1985-01-31 | 1986-01-22 | Optical memory device |
| CA000500705A CA1248228A (en) | 1985-01-31 | 1986-01-30 | Servo system of storage apparatus for controllably projecting an optical beam to an optical disk |
| DE8686101280T DE3682512D1 (de) | 1985-01-31 | 1986-01-31 | Servosystem fuer ein speichergeraet zur fokussierung eines optischen strahles auf eine optische platte. |
| EP86101280A EP0189933B1 (en) | 1985-01-31 | 1986-01-31 | Servo system of storage apparatus for controllably projecting an optical beam to an optical disk |
| US07/225,610 US4888752A (en) | 1985-01-31 | 1988-07-28 | Focusing and tracking servo system for controlling the projection of an optical beam on an optical disk |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60018035A JPS61177645A (ja) | 1985-01-31 | 1985-01-31 | 焦点誤差制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61177645A JPS61177645A (ja) | 1986-08-09 |
| JPH0443329B2 true JPH0443329B2 (ja) | 1992-07-16 |
Family
ID=11960414
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60018035A Granted JPS61177645A (ja) | 1985-01-31 | 1985-01-31 | 焦点誤差制御装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4888752A (ja) |
| EP (1) | EP0189933B1 (ja) |
| JP (1) | JPS61177645A (ja) |
| KR (1) | KR900002998B1 (ja) |
| CA (1) | CA1248228A (ja) |
| DE (1) | DE3682512D1 (ja) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2904434B2 (ja) * | 1988-08-12 | 1999-06-14 | パイオニア株式会社 | 光学式情報記録媒体及びその再生装置 |
| US5049732A (en) * | 1988-10-21 | 1991-09-17 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical pickup device with diffraction device |
| CA2012401C (en) * | 1989-05-26 | 1994-05-10 | Anthony G. Dewey | Focus-error detection using prism-enhanced spot size monitoring |
| JPH0338984A (ja) * | 1989-07-05 | 1991-02-20 | Pioneer Electron Corp | 投射型表示装置 |
| US5119352A (en) * | 1990-08-17 | 1992-06-02 | Hewlett-Packard Company | Magneto optic data storage read out apparatus and method |
| US5241523A (en) * | 1991-12-05 | 1993-08-31 | Eastman Kodak Company | Polarization-based auto-focus apparatus |
| JPH06258587A (ja) * | 1993-03-09 | 1994-09-16 | Fuji Xerox Co Ltd | 集光位置検出装置 |
| KR950015241A (ko) * | 1993-11-16 | 1995-06-16 | 배순훈 | 광픽업의 포커스에러 검출방법 및 그 장치 |
| JPH1064104A (ja) * | 1996-08-21 | 1998-03-06 | Pioneer Electron Corp | 非点収差フォーカスエラー信号生成方法及び光ピックアップ装置 |
| US6407966B1 (en) | 1997-09-22 | 2002-06-18 | Seagate Technology Llp | Apparatus and method for differential wax-wane focusing and push-pull tracking for magneto-optical data storage |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53131006A (en) * | 1977-04-21 | 1978-11-15 | Toshiba Corp | Automatic focusing device |
| JPS5752005A (en) * | 1980-08-19 | 1982-03-27 | Olympus Optical Co Ltd | Focus detecting method |
| JPS5744236A (en) * | 1980-08-29 | 1982-03-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Optical information reproducer |
| JPS57189348A (en) * | 1981-05-14 | 1982-11-20 | Olympus Optical Co Ltd | Auto-focus system of optical disk |
| JPS583140A (ja) * | 1981-06-30 | 1983-01-08 | Mansei Kogyo Kk | 光学的情報記録・再生装置における焦点制御信号検出装置 |
| JPS5971135A (ja) * | 1982-10-15 | 1984-04-21 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 光情報検出装置 |
| JPS6079537A (ja) * | 1983-10-06 | 1985-05-07 | Sony Corp | 光学式デイスクプレ−ヤ−のフオ−カスエラ−信号発生装置 |
| JPS60138748A (ja) * | 1983-12-27 | 1985-07-23 | Toshiba Corp | 光学式情報再生装置 |
-
1985
- 1985-01-31 JP JP60018035A patent/JPS61177645A/ja active Granted
-
1986
- 1986-01-22 KR KR8600395A patent/KR900002998B1/ko not_active Expired
- 1986-01-30 CA CA000500705A patent/CA1248228A/en not_active Expired
- 1986-01-31 EP EP86101280A patent/EP0189933B1/en not_active Expired
- 1986-01-31 DE DE8686101280T patent/DE3682512D1/de not_active Expired - Lifetime
-
1988
- 1988-07-28 US US07/225,610 patent/US4888752A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4888752A (en) | 1989-12-19 |
| KR900002998B1 (en) | 1990-05-04 |
| EP0189933A2 (en) | 1986-08-06 |
| EP0189933A3 (en) | 1988-07-20 |
| CA1248228A (en) | 1989-01-03 |
| DE3682512D1 (de) | 1992-01-02 |
| JPS61177645A (ja) | 1986-08-09 |
| EP0189933B1 (en) | 1991-11-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0626972Y2 (ja) | 光学式ピツクアツプ装置 | |
| JP3410869B2 (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| JPH0443329B2 (ja) | ||
| US4862446A (en) | Optical focus error control pickup device for an optical recording/reproducing system | |
| JPH08249664A (ja) | 光ビームを用いたデータ再生方法及びその装置 | |
| US6992953B2 (en) | Tracking servo apparatus of optical information recording and reproducing apparatus | |
| JPH073700B2 (ja) | 光学式ヘッド装置 | |
| JPS63168842A (ja) | 焦点誤差検出装置及びこれに用いられる光検出器の受光領域幅の選定方法 | |
| JP2711010B2 (ja) | 光学ヘッド | |
| JPS59231736A (ja) | フォーカスおよびトラッキング誤差検出装置 | |
| JP3112735B2 (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| US6801491B1 (en) | Focus error detecting apparatus of optical pickup with a light separating and astigmatism generation optical element and detection method thereof | |
| JPH0384737A (ja) | フォーカス制御方法 | |
| JP3130776B2 (ja) | 光ピックアップ制御装置 | |
| JPS6215865Y2 (ja) | ||
| KR100657250B1 (ko) | 광픽업장치 | |
| JP2550653B2 (ja) | 光学式情報再生装置 | |
| JPS62119738A (ja) | 焦点制御信号検出方法 | |
| JP2762708B2 (ja) | 光学ヘッド | |
| JP2643287B2 (ja) | 光検出器 | |
| JPH08279166A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| JPH0580051B2 (ja) | ||
| JPS61227233A (ja) | 光学的読取装置 | |
| JP2000276745A (ja) | 光情報記録再生ヘッド装置 | |
| JPS62222439A (ja) | 光スポツト位置エラ−検出装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |