JP2643287B2 - 光検出器 - Google Patents
光検出器Info
- Publication number
- JP2643287B2 JP2643287B2 JP11251388A JP11251388A JP2643287B2 JP 2643287 B2 JP2643287 B2 JP 2643287B2 JP 11251388 A JP11251388 A JP 11251388A JP 11251388 A JP11251388 A JP 11251388A JP 2643287 B2 JP2643287 B2 JP 2643287B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photodetector
- straight line
- individual
- photodetectors
- optical head
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Optical Head (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、いわゆる光ディスク，コンパクトディス
ク，ビデオディスク，光磁気ディスク等の記録，再生に
用いられる光ヘッド装置において、特に焦点誤差検出に
フーコー法を、トラック誤差検出にプッシュプル法を用
いた焦点誤差，トラック誤差検出用の光検出器に関す
る。
ク，ビデオディスク，光磁気ディスク等の記録，再生に
用いられる光ヘッド装置において、特に焦点誤差検出に
フーコー法を、トラック誤差検出にプッシュプル法を用
いた焦点誤差，トラック誤差検出用の光検出器に関す
る。
コンパクトディスク，ビデオディスク，光磁気ディス
ク（以下、光ディスクと総称する）等への情報の記録，
再生に用いられる光ヘッドは、光源である半導体レーザ
から出射した光を光ディスク面上に正しく集光させるた
めに、焦点誤差検出機能を、また、希望のトラックを逸
脱することなくトレースするために、トラック誤差検出
機能を有している。焦点誤差検出方法にはいくつかの方
式があるが、一般に用いられているものには非点収差法
とフーコー法がある。また同様に、トラック誤差検出方
式にもいくつかの種類があるが、一般的に用いられてい
るものはプッシュプル法と３ビーム法である。
ク（以下、光ディスクと総称する）等への情報の記録，
再生に用いられる光ヘッドは、光源である半導体レーザ
から出射した光を光ディスク面上に正しく集光させるた
めに、焦点誤差検出機能を、また、希望のトラックを逸
脱することなくトレースするために、トラック誤差検出
機能を有している。焦点誤差検出方法にはいくつかの方
式があるが、一般に用いられているものには非点収差法
とフーコー法がある。また同様に、トラック誤差検出方
式にもいくつかの種類があるが、一般的に用いられてい
るものはプッシュプル法と３ビーム法である。
実際の光ヘッド装置ではこれらが組み合わされ構成さ
れているが、非点収差法と３ビーム法の組合せ、フーコ
ー法とプッシュプル法の組合せが多用されている。
れているが、非点収差法と３ビーム法の組合せ、フーコ
ー法とプッシュプル法の組合せが多用されている。
前者の組合せはコンパクトディスクやレーザディスク
のような読み出し専用の光ヘッド装置に主に用いられ
る。第６図はこの組合せに多用されている６分割光検出
器の受光面を示す図である。焦点誤差検出用の４分割光
検出器１と、その両側に配置された２個のトラック誤差
検出用光検出器3,4がモノリシックに集積されている。
４分割光検出器１は互いに直交する２つの直線A2,B2に
よって４分割されている。４分割光検出器１の外形は正
方形，長方形の場合が多く、稀に円形の場合もある。ト
ラック誤差検出用の光検出器3,4はほぼ長方形である。
のような読み出し専用の光ヘッド装置に主に用いられ
る。第６図はこの組合せに多用されている６分割光検出
器の受光面を示す図である。焦点誤差検出用の４分割光
検出器１と、その両側に配置された２個のトラック誤差
検出用光検出器3,4がモノリシックに集積されている。
４分割光検出器１は互いに直交する２つの直線A2,B2に
よって４分割されている。４分割光検出器１の外形は正
方形，長方形の場合が多く、稀に円形の場合もある。ト
ラック誤差検出用の光検出器3,4はほぼ長方形である。
後者の組合せは一度だけ情報の書込みができるライト
ワンス型の光ヘッド装置や、複数回の情報書込みができ
る光磁気型の光ヘッド装置に主に用いられている。この
組合せでは焦点誤差検出用に４分割型光検出器を、トラ
ック誤差検出用に２分割型光検出器を用い、計２個の光
検出器を用いている。このため、光ヘッドの小型化，軽
量化が困難であったが、最近では、複合光学部品を用い
ることにより、この組合せでも先に述べた６分割光検出
器を用いることができるようになってきている。
ワンス型の光ヘッド装置や、複数回の情報書込みができ
る光磁気型の光ヘッド装置に主に用いられている。この
組合せでは焦点誤差検出用に４分割型光検出器を、トラ
ック誤差検出用に２分割型光検出器を用い、計２個の光
検出器を用いている。このため、光ヘッドの小型化，軽
量化が困難であったが、最近では、複合光学部品を用い
ることにより、この組合せでも先に述べた６分割光検出
器を用いることができるようになってきている。
複合光学部品の例としては、例えば、ホログラム光学
素子や、４分割プリズムを挙げることができる。ホログ
ラム光学素子は、例えば、昭和62年３月発行の電子情報
通信学会創立70周年記念総合全国大会講演予稿集第４分
冊第４−177頁に掲載の木村靖夫，須釜成人，小野雄三
著の「ホログラム素子を用いたCD用小型光ヘッド」と題
する論文に、また、４分割プリズムは、昭和61年７月発
行のファースト オプトエレクトロニクス カンファレ
ンス（OEC′86）テクニカル ダイジェスト（FIRST OPT
OELECTORNICS CONFERENCE（OEC′86）TECHNICAL DIGES
T）第226ページから第227ページに掲載の「ニュー オ
プチカル ヘッド フォーカシング アンド トラッキ
ングエラー ディテクション メソッド ウィズ クア
ドランドプリズム」（NEW OPTICAL HEAD FOCUSING AND
TRACKING ERROR DETECTION METHOD WITH QUADRANT PURI
SM）と題する論文にその動作原理の詳細に記述されてい
る。
素子や、４分割プリズムを挙げることができる。ホログ
ラム光学素子は、例えば、昭和62年３月発行の電子情報
通信学会創立70周年記念総合全国大会講演予稿集第４分
冊第４−177頁に掲載の木村靖夫，須釜成人，小野雄三
著の「ホログラム素子を用いたCD用小型光ヘッド」と題
する論文に、また、４分割プリズムは、昭和61年７月発
行のファースト オプトエレクトロニクス カンファレ
ンス（OEC′86）テクニカル ダイジェスト（FIRST OPT
OELECTORNICS CONFERENCE（OEC′86）TECHNICAL DIGES
T）第226ページから第227ページに掲載の「ニュー オ
プチカル ヘッド フォーカシング アンド トラッキ
ングエラー ディテクション メソッド ウィズ クア
ドランドプリズム」（NEW OPTICAL HEAD FOCUSING AND
TRACKING ERROR DETECTION METHOD WITH QUADRANT PURI
SM）と題する論文にその動作原理の詳細に記述されてい
る。
第７図は、複合光学素子と６分割光検出器を用いたフ
ーコー法とプッシュプル法の組合せによる光ヘッド装置
の焦点ずれによる光検出器受光面上でのスポット形状の
模式図である。６分割光検出器は、２つの直交する分割
線A6,B7によって分けられた第１から第４の４つの個別
光検出器8,9,10,11からなる４分割光検出器と、その両
側に配置された２つの光検出器12,13から構成されてい
る。合焦状態では光ディスクからの戻り光は、第７図
（ｂ）に示すように中央の４分割光検出器の分割線B7上
に集光する。光ディスクが収束レンズに近づく方向にデ
フォーカスすると、４分割光検出器上での光スポットは
第７図（ａ）に示すように、４分割光検出器上の第２個
別光検出器９と第３個別光検出器10にのみ存在する。逆
に光ディスクが収束レンズから遠ざかる方向にデフォー
カスすると、４分割光検出器上での光スポットは第７図
（ｃ）に示すように、４分割光検出器上の第１個別光検
出器８と第４個別光検出器11にのみ存在する。従って焦
点誤差信号は中央の４分割受光面の対角和の差信号から
得られる。
ーコー法とプッシュプル法の組合せによる光ヘッド装置
の焦点ずれによる光検出器受光面上でのスポット形状の
模式図である。６分割光検出器は、２つの直交する分割
線A6,B7によって分けられた第１から第４の４つの個別
光検出器8,9,10,11からなる４分割光検出器と、その両
側に配置された２つの光検出器12,13から構成されてい
る。合焦状態では光ディスクからの戻り光は、第７図
（ｂ）に示すように中央の４分割光検出器の分割線B7上
に集光する。光ディスクが収束レンズに近づく方向にデ
フォーカスすると、４分割光検出器上での光スポットは
第７図（ａ）に示すように、４分割光検出器上の第２個
別光検出器９と第３個別光検出器10にのみ存在する。逆
に光ディスクが収束レンズから遠ざかる方向にデフォー
カスすると、４分割光検出器上での光スポットは第７図
（ｃ）に示すように、４分割光検出器上の第１個別光検
出器８と第４個別光検出器11にのみ存在する。従って焦
点誤差信号は中央の４分割受光面の対角和の差信号から
得られる。
４分割光検出器の両側に配置された２つの光検出器1
2,13は、トラック誤差を検出するためのもので、２つの
光検出器の出力の差からトラック誤差信号が得られる。
2,13は、トラック誤差を検出するためのもので、２つの
光検出器の出力の差からトラック誤差信号が得られる。
光ヘッド装置において、光検出器の位置調整方法は光
ヘッド装置の性能を決める大きな要因である。特に、焦
点誤差検出特性や、光ヘッドの温度安定性に及ぼす影響
は大きい。前述の複合光学素子と６分割光検出器を用い
たフーコー法とプッシュプル法の組合せによる光ヘッド
装置では、中央の４分割光検出器の位置調整が特に重要
である。中央の４分割光検出器は、いわゆる焦点誤差Ｓ
字特性が最大になるよう第６図に示すＹ方向、およびθ
方向が調整され、その後、Ｘ方向の位置を決めるために
６分割光検出器全体を＋Ｘおよび−Ｘ方向に移動させて
Ｓ字特性が崩れ出す位置を求め、その中点を最適位置と
して決定していた。
ヘッド装置の性能を決める大きな要因である。特に、焦
点誤差検出特性や、光ヘッドの温度安定性に及ぼす影響
は大きい。前述の複合光学素子と６分割光検出器を用い
たフーコー法とプッシュプル法の組合せによる光ヘッド
装置では、中央の４分割光検出器の位置調整が特に重要
である。中央の４分割光検出器は、いわゆる焦点誤差Ｓ
字特性が最大になるよう第６図に示すＹ方向、およびθ
方向が調整され、その後、Ｘ方向の位置を決めるために
６分割光検出器全体を＋Ｘおよび−Ｘ方向に移動させて
Ｓ字特性が崩れ出す位置を求め、その中点を最適位置と
して決定していた。
Ｘ方向の位置を最適に調整することは、光ヘッド装置
の温度安定性を確保する上で重要であり、特に、ホログ
ラム光学素子を用いた光ヘッド装置では合焦時のスポッ
ト位置が温よりＸ方向に変化するため、所望の位置に調
整することは必要不可欠である。しかい上述の方法は光
検出器のＸ方向の最も外側の位置を検出することにより
最適位置を間接的に求ているにすぎず、大きな調整誤差
が含まれてしまう。また、調整後に、光ビームが最適位
置に調整されているか否かを検査することも不可能であ
り、結果的に完全に調整することはできないという欠点
を有していた。
の温度安定性を確保する上で重要であり、特に、ホログ
ラム光学素子を用いた光ヘッド装置では合焦時のスポッ
ト位置が温よりＸ方向に変化するため、所望の位置に調
整することは必要不可欠である。しかい上述の方法は光
検出器のＸ方向の最も外側の位置を検出することにより
最適位置を間接的に求ているにすぎず、大きな調整誤差
が含まれてしまう。また、調整後に、光ビームが最適位
置に調整されているか否かを検査することも不可能であ
り、結果的に完全に調整することはできないという欠点
を有していた。
本発明の目的は、上記問題点を解決し、Ｘ方向の位置
調整が容易に行え、また、その結果を検査し得る光検出
器を提供することにある。
調整が容易に行え、また、その結果を検査し得る光検出
器を提供することにある。
本発明は、略直交する第１及び第２の直線によって４
分割された受光面を有する４分割光検出器と、前記４分
割光検出器の両側に前記第１の直線に対して略線対称な
位置に設置された第１及び第２の個別光検出器とからな
る６分割型の光検出器において、 前記第１の個別光検出器の受光面は前記第１の直線に略
平行な直線と前記第２の直線に略平行な直線により縁部
が形成される少なくとも１箇所の凹部を有し、前記第２
の個別光検出器は前記第１の個別光検出器の前記第１の
直線に対する線対称な形状を有するうことを特徴として
いる。
分割された受光面を有する４分割光検出器と、前記４分
割光検出器の両側に前記第１の直線に対して略線対称な
位置に設置された第１及び第２の個別光検出器とからな
る６分割型の光検出器において、 前記第１の個別光検出器の受光面は前記第１の直線に略
平行な直線と前記第２の直線に略平行な直線により縁部
が形成される少なくとも１箇所の凹部を有し、前記第２
の個別光検出器は前記第１の個別光検出器の前記第１の
直線に対する線対称な形状を有するうことを特徴として
いる。
第１図は本発明の第１の実施例を説明するための図で
ある。本実施例は、複合光学素子を用いたフーコー法と
プッシュプル法の組合せによる光ヘッド装置に用いる６
分割光検出器に対応している。すなわち、焦点誤差検出
用の４分割光検出器14と、この４分割光検出器の両側に
配置された２つのトラック誤差検出用の光検出器17,18
とから成る。そして、本実施例では、Ｘ方向の光スポッ
ト位置と、６分割光検出器の相対的な位置関係を検出す
るために、トラック誤差検出用の光検出器17,18を利用
する。本実施例によれば、４分割光検出器14は直交する
Ｘ軸とＹ軸によって４分割されている。トラック誤差検
出用の光検出器17,18は長方形状の一部が切除されて形
状を有しており、その長方形の長辺はＸ軸に平行で、短
辺はＹ軸に平行である。この長方形の光検出器の一部は
Ｘ軸に平行な直線とＹ軸に平行な直線によって切除され
ており、除去された部分が凹部15,16となっている。そ
して、トラック誤差検出用光検出器17,18はＹ軸に対し
て線対称な位置および形状を有している。
ある。本実施例は、複合光学素子を用いたフーコー法と
プッシュプル法の組合せによる光ヘッド装置に用いる６
分割光検出器に対応している。すなわち、焦点誤差検出
用の４分割光検出器14と、この４分割光検出器の両側に
配置された２つのトラック誤差検出用の光検出器17,18
とから成る。そして、本実施例では、Ｘ方向の光スポッ
ト位置と、６分割光検出器の相対的な位置関係を検出す
るために、トラック誤差検出用の光検出器17,18を利用
する。本実施例によれば、４分割光検出器14は直交する
Ｘ軸とＹ軸によって４分割されている。トラック誤差検
出用の光検出器17,18は長方形状の一部が切除されて形
状を有しており、その長方形の長辺はＸ軸に平行で、短
辺はＹ軸に平行である。この長方形の光検出器の一部は
Ｘ軸に平行な直線とＹ軸に平行な直線によって切除され
ており、除去された部分が凹部15,16となっている。そ
して、トラック誤差検出用光検出器17,18はＹ軸に対し
て線対称な位置および形状を有している。
次に、本実施例の動作を第２図〜第４図をも参照して
説明する。
説明する。
第２図（ａ）に示すように、光検出器17に光ビーム19
を照射すると、光検出器17の出力は光ビームのＸ軸方向
への移動にともない第２図（ｂ）に示すように変化す
る。同様に第３図（ａ）に示すように、光検出器18に光
ビーム19を照射すると、光検出器18の出力は光ビームの
Ｘ軸方向への移動に伴い第３図（ｂ）に示すように変化
する。
を照射すると、光検出器17の出力は光ビームのＸ軸方向
への移動にともない第２図（ｂ）に示すように変化す
る。同様に第３図（ａ）に示すように、光検出器18に光
ビーム19を照射すると、光検出器18の出力は光ビームの
Ｘ軸方向への移動に伴い第３図（ｂ）に示すように変化
する。
このように光ビーム19が光検出器17あるいは光検出器
18を照射する場合、逆の出力特性が得られることがわか
る。従って、これら２つの光検出器17,18の出力の差を
とれば、第４図に示すように、Ｘのある値で出力はゼロ
になる。つまり、このＸの位置が４分割光検出器14上で
の２つの光スポットの最適位置になるようにトラック誤
差検出用光検出器の形状を定めておけば、この２つの光
検出器の差信号を観測することにより、６分割光検出器
の最適位置を決定することができる。さらに、光スポッ
トが所定の位置にあるか否かの確認もこの信号の絶対値
が許容される最大位置ずれの場合に得られる本信号の絶
対値以下であることを確認することにより知ることがで
きる。
18を照射する場合、逆の出力特性が得られることがわか
る。従って、これら２つの光検出器17,18の出力の差を
とれば、第４図に示すように、Ｘのある値で出力はゼロ
になる。つまり、このＸの位置が４分割光検出器14上で
の２つの光スポットの最適位置になるようにトラック誤
差検出用光検出器の形状を定めておけば、この２つの光
検出器の差信号を観測することにより、６分割光検出器
の最適位置を決定することができる。さらに、光スポッ
トが所定の位置にあるか否かの確認もこの信号の絶対値
が許容される最大位置ずれの場合に得られる本信号の絶
対値以下であることを確認することにより知ることがで
きる。
以上の実施例では、トラック誤差検出用光検出器17,1
8の受光面の凹部15,16のＸ軸方向に平行な切除線はＸ軸
上にあるが、この切除線がＹ軸の＋方向にわずかにＸ軸
から離れるようにしてもよい。これは、合焦時にトラッ
ク誤差検出用の光スポットが誤差検出用光検出器17,18
の受光面上にすべて存在するようにするためである。こ
のために、実際の調整は、光ディスクを合焦状態からず
らせて、光検出器上で、光スポートを太らせた状態で行
う。このような状態で調整しても、光ビームの中心位置
は変化しないので、位置調整にはなんの影響も及ぼさな
い。
8の受光面の凹部15,16のＸ軸方向に平行な切除線はＸ軸
上にあるが、この切除線がＹ軸の＋方向にわずかにＸ軸
から離れるようにしてもよい。これは、合焦時にトラッ
ク誤差検出用の光スポットが誤差検出用光検出器17,18
の受光面上にすべて存在するようにするためである。こ
のために、実際の調整は、光ディスクを合焦状態からず
らせて、光検出器上で、光スポートを太らせた状態で行
う。このような状態で調整しても、光ビームの中心位置
は変化しないので、位置調整にはなんの影響も及ぼさな
い。
第５図は本発明の第２の実施例を説明するためのもの
である。本実施例ではトラック誤差検出用の光検出器、
すなわち、位置調整用の凹部を持つ光検出器20,21は、
Ｙ軸方向の延長線上に配置されている。トラック誤差検
出用の光ビームはＹ軸方向に導かれる構成の誤差検出用
光学素子を用いた光ヘッド装置に対応するものである。
である。本実施例ではトラック誤差検出用の光検出器、
すなわち、位置調整用の凹部を持つ光検出器20,21は、
Ｙ軸方向の延長線上に配置されている。トラック誤差検
出用の光ビームはＹ軸方向に導かれる構成の誤差検出用
光学素子を用いた光ヘッド装置に対応するものである。
以上本発明の実施例について説明したが、本発明の光
検出器を製作するには、通常の製作工程のフォトマスク
のパターンに変更するだけでよく、製作上の問題点は全
くない。
検出器を製作するには、通常の製作工程のフォトマスク
のパターンに変更するだけでよく、製作上の問題点は全
くない。
本発明によれば、位置調整が容易にかつ精密に行える
光検出器が得られる。この光検出器を用いれば、調整後
の検査も調整と同様な手法で実施できるため、信頼性の
高い光ヘッド装置が容易に得られる。
光検出器が得られる。この光検出器を用いれば、調整後
の検査も調整と同様な手法で実施できるため、信頼性の
高い光ヘッド装置が容易に得られる。
第１図は本発明の第１の実施例を説明するための図、 第２図〜第４図は第１の実施例の作用を説明するための
図、 第５図は本発明の第２の実施例を説明するための図、 第６図および第７図は従来の技術を説明するための図で
ある。 1,14……４分割光検出器 3,4……トラック誤差検出用光検出器 ６……分割線Ａ ７……分割線Ｂ ８……第１個別光検出器 ９……第２個別光検出器 10……第３個別光検出器 11……第４個別光検出器 12,13……光検出器 15,16……凹部 17,18,20,21……トラック誤差検出用光検出器 19……光ビーム
図、 第５図は本発明の第２の実施例を説明するための図、 第６図および第７図は従来の技術を説明するための図で
ある。 1,14……４分割光検出器 3,4……トラック誤差検出用光検出器 ６……分割線Ａ ７……分割線Ｂ ８……第１個別光検出器 ９……第２個別光検出器 10……第３個別光検出器 11……第４個別光検出器 12,13……光検出器 15,16……凹部 17,18,20,21……トラック誤差検出用光検出器 19……光ビーム
Claims (1)
- 【請求項１】略直交する第１及び第２の直線によって４
分割された受光面を有する４分割光検出器と、前記４分
割光検出器の両側に前記第１の直線に対して略線対称な
位置に設置された第１及び第２の個別光検出器とからな
る６分割型の光検出器において、 前記第１の個別光検出器の受光面は前記第１の直線に略
平行な直線と前記第２の直線に略平行な直線により縁部
が形成される少なくとも１箇所の凹部を有し、前記第２
の個別光検出器は前記第１の個別光検出器の前記第１の
直線に対する線対称な形状を有することを特徴とする光
検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11251388A JP2643287B2 (ja) | 1988-05-11 | 1988-05-11 | 光検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11251388A JP2643287B2 (ja) | 1988-05-11 | 1988-05-11 | 光検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01285028A JPH01285028A (ja) | 1989-11-16 |
| JP2643287B2 true JP2643287B2 (ja) | 1997-08-20 |
Family
ID=14588531
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11251388A Expired - Lifetime JP2643287B2 (ja) | 1988-05-11 | 1988-05-11 | 光検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2643287B2 (ja) |
-
1988
- 1988-05-11 JP JP11251388A patent/JP2643287B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01285028A (ja) | 1989-11-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100382332B1 (ko) | 수차 검출 장치 및 광 픽업 장치 | |
| EP0565052B1 (en) | Optical pick-up head apparatus wherein holographic optical element and photodetector are formed on semiconductor substrate | |
| EP0536718B1 (en) | Optical pickup apparatus | |
| US4888752A (en) | Focusing and tracking servo system for controlling the projection of an optical beam on an optical disk | |
| JPS649658B2 (ja) | ||
| US6167017A (en) | Optical head assembly having means for detecting tracking errors based on astigmatisms generated by returning beams | |
| JP2643287B2 (ja) | 光検出器 | |
| JP2711010B2 (ja) | 光学ヘッド | |
| JPH04372728A (ja) | 光学式ピックアップ | |
| JPH0542736B2 (ja) | ||
| JPH0529969B2 (ja) | ||
| JPH0366033A (ja) | 光学ヘッド | |
| JPH11259874A (ja) | 光ディスク装置 | |
| KR900008405B1 (ko) | 광학식 헤드 장치 | |
| JPH083908B2 (ja) | フォトディテクタの位置合わせ方法および光ピックアップヘッド装置 | |
| JP3549256B2 (ja) | 光学式記録再生装置 | |
| JPH07262583A (ja) | 光ディスクのウオブル情報読取装置 | |
| US6421307B2 (en) | Optical device | |
| JP2734685B2 (ja) | 光検出器の調整方法および焦点誤差検出装置 | |
| JP2641258B2 (ja) | 光学式ヘッド装置 | |
| JPH02195532A (ja) | 光学ヘッド装置 | |
| JP3879896B2 (ja) | 光ピックアップ装置及び焦点誤差検出方法 | |
| JPS61120352A (ja) | 焦点誤差検出装置 | |
| JP3198161B2 (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| JPS60234238A (ja) | 焦点検出装置 |