JPS63168842A - 焦点誤差検出装置及びこれに用いられる光検出器の受光領域幅の選定方法 - Google Patents
焦点誤差検出装置及びこれに用いられる光検出器の受光領域幅の選定方法Info
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- JPS63168842A JPS63168842A JP62002160A JP216087A JPS63168842A JP S63168842 A JPS63168842 A JP S63168842A JP 62002160 A JP62002160 A JP 62002160A JP 216087 A JP216087 A JP 216087A JP S63168842 A JPS63168842 A JP S63168842A
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/13—Optical detectors therefor
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- G—PHYSICS
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- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
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- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、焦点誤差検出装置に関し、特にいわゆる3分
割光検出器を用いた焦点誤差検出装置に関するものであ
る。
割光検出器を用いた焦点誤差検出装置に関するものであ
る。
背景技術
ビデオディスクやディジタルオーディオディスク等の情
報記録ディスク(以下、単にディスクと称する)の記録
情報を再生する装置には、ディスクの記録面(被検出面
)上に常に正確に情報検出用の光ビームを収束せしめる
いわゆるフォーカスサーボ装置が不可欠である。このフ
ォーカスサーボ装置では、光ビームをディスクの記録面
上に照射せしめる集光レンズの該記録面での焦点誤差が
検出され、この焦点誤差に基づいて集光レンズの光軸方
向における位置制御が行なわれる。
報記録ディスク(以下、単にディスクと称する)の記録
情報を再生する装置には、ディスクの記録面(被検出面
)上に常に正確に情報検出用の光ビームを収束せしめる
いわゆるフォーカスサーボ装置が不可欠である。このフ
ォーカスサーボ装置では、光ビームをディスクの記録面
上に照射せしめる集光レンズの該記録面での焦点誤差が
検出され、この焦点誤差に基づいて集光レンズの光軸方
向における位置制御が行なわれる。
集光レンズの焦点誤差を検出する方法としては、非点収
差法、ビーム径測定法、ナイフェツジ法、臨界角法等の
検出方法が知られている。このうち、非点収差法及びビ
ーム径測定法においては、受光面が1方向において3分
割された帯状の光検出器を用い、この光検出器の3つの
出力に基づいて焦点誤差の検出が行なわれる。
差法、ビーム径測定法、ナイフェツジ法、臨界角法等の
検出方法が知られている。このうち、非点収差法及びビ
ーム径測定法においては、受光面が1方向において3分
割された帯状の光検出器を用い、この光検出器の3つの
出力に基づいて焦点誤差の検出が行なわれる。
第6図に、例えば非点収差法を用いた場合の光学系が示
されており、レーザダイオード等の光源1から発せられ
た光ビームは、ビームスプリッタ2を経た後集光レンズ
3によってディスク4の記録面上に収束される。ディス
ク4の記録面上で反射された光ビームは集光レンズ3を
経た後ビームスプリッタ2によってシリンドリカルレン
ズ5に導かれ、当該レンズ5によって非点収差が与えら
れる。シリンドリカルレンズ5で非点収差が与えられた
光ビームが合焦状態で生じる2つの焦線L1、L2の間
に光束断面が円形となる位置があり、そこに受光面が位
置するように第7図に示すような形状の3分割光検出器
6を配置する。そして、3つの受光面A、B、Cの各受
光出力PA、PB。
されており、レーザダイオード等の光源1から発せられ
た光ビームは、ビームスプリッタ2を経た後集光レンズ
3によってディスク4の記録面上に収束される。ディス
ク4の記録面上で反射された光ビームは集光レンズ3を
経た後ビームスプリッタ2によってシリンドリカルレン
ズ5に導かれ、当該レンズ5によって非点収差が与えら
れる。シリンドリカルレンズ5で非点収差が与えられた
光ビームが合焦状態で生じる2つの焦線L1、L2の間
に光束断面が円形となる位置があり、そこに受光面が位
置するように第7図に示すような形状の3分割光検出器
6を配置する。そして、3つの受光面A、B、Cの各受
光出力PA、PB。
pcから、加算器7及び差動アンプ8を用いてPA
(Pa+Pc)なる演、算式によって焦点誤差FEを
得るのである。
(Pa+Pc)なる演、算式によって焦点誤差FEを
得るのである。
ここで、非点収差法の場合には、集光レンズの位置が合
焦位置からずれると、そのずれ方向に対応して光ビーム
スポットの形状が、第8図(A)及び(C)に示すよう
に長円形状となり、(A)の状態では(Ps +Pc
)が増大し、(C)の状態ではPAが増大する。また、
光ビームのスポット径を測定する方法にあっては、非点
収差法の場合と光学系が多少異なっており、光ビームス
ポット形状が第9図(A)〜(C)に示すように変化す
る。いずれの方法の場合も、PA −(Pa +PC)
なる演算式によって焦点誤差信号FEを得ることができ
るのである。なお、第8図(B)及び第9図(B)は合
焦状態のときのスポット形状を示し、この状態ではPA
−(Ps +Pc)=0となる。
焦位置からずれると、そのずれ方向に対応して光ビーム
スポットの形状が、第8図(A)及び(C)に示すよう
に長円形状となり、(A)の状態では(Ps +Pc
)が増大し、(C)の状態ではPAが増大する。また、
光ビームのスポット径を測定する方法にあっては、非点
収差法の場合と光学系が多少異なっており、光ビームス
ポット形状が第9図(A)〜(C)に示すように変化す
る。いずれの方法の場合も、PA −(Pa +PC)
なる演算式によって焦点誤差信号FEを得ることができ
るのである。なお、第8図(B)及び第9図(B)は合
焦状態のときのスポット形状を示し、この状態ではPA
−(Ps +Pc)=0となる。
上述した従来の焦点誤差検出装置においては、光検出器
6の両側の受光面B、 Cの分割方向(受光面内におけ
る分割線に垂直な方向)の幅す、 cを中央の受光面
Aの幅aと等しくするか、又はそれよりも大きく設定し
ていたので、合焦状態において光ビームスポットの中心
が受光面中心から該分割方向に離間した場合に、PA
(P8+Pc )−0とはならず、合焦状態にある
にも拘らずその離間量に応じた焦点誤差信号FEが発生
してしまうことになる。
6の両側の受光面B、 Cの分割方向(受光面内におけ
る分割線に垂直な方向)の幅す、 cを中央の受光面
Aの幅aと等しくするか、又はそれよりも大きく設定し
ていたので、合焦状態において光ビームスポットの中心
が受光面中心から該分割方向に離間した場合に、PA
(P8+Pc )−0とはならず、合焦状態にある
にも拘らずその離間量に応じた焦点誤差信号FEが発生
してしまうことになる。
すなわち、光ビームスポットが円形で光強度分布が一様
であるものと仮定すると、第10図に示す如く光ビーム
スポットの中心が受光面中心から離間すると、その離間
量と検出出力レベルとの関係は第11図に示すようにな
る。ここに、横軸はビームスポットの半径を1とした場
合のスポット中心の受光面中心からの離間量を示し、横
軸は第7図の各部の出力レベルを示し、全光量を受光し
たときレベルが1となるように設定されている。
であるものと仮定すると、第10図に示す如く光ビーム
スポットの中心が受光面中心から離間すると、その離間
量と検出出力レベルとの関係は第11図に示すようにな
る。ここに、横軸はビームスポットの半径を1とした場
合のスポット中心の受光面中心からの離間量を示し、横
軸は第7図の各部の出力レベルを示し、全光量を受光し
たときレベルが1となるように設定されている。
光検出器6の両側の受光面の幅す、 cは中央の受光
面の幅aと等しく、0.808に設定されている。この
値は、第8図及び第9図の各(B)に示す合焦状態にお
いて、受光面Aの受光量と受光面B、 Cの受光量の
和が等し、くなる幅である。また、第12図に示すよう
に、光検出器6の両側の受光面の幅す、cを2に設定し
た場合において、光ビームスポットの中心が受光面中心
から離間すると、その離間量と検出出力レベルとの関係
は第13図に示すようになる。
面の幅aと等しく、0.808に設定されている。この
値は、第8図及び第9図の各(B)に示す合焦状態にお
いて、受光面Aの受光量と受光面B、 Cの受光量の
和が等し、くなる幅である。また、第12図に示すよう
に、光検出器6の両側の受光面の幅す、cを2に設定し
た場合において、光ビームスポットの中心が受光面中心
から離間すると、その離間量と検出出力レベルとの関係
は第13図に示すようになる。
このように、従来装置にあっては、第11図及び第13
図から明らかな如く、合焦状態において光ビームスポッ
トの中心が受光面中心から受光面の分割方向に離間した
場合には、合焦状態にあるにも拘らずその離間量に応じ
た焦点誤差信号FEが発生してしまうので、安定した焦
点誤差信号FEが得られないという欠点がある。
図から明らかな如く、合焦状態において光ビームスポッ
トの中心が受光面中心から受光面の分割方向に離間した
場合には、合焦状態にあるにも拘らずその離間量に応じ
た焦点誤差信号FEが発生してしまうので、安定した焦
点誤差信号FEが得られないという欠点がある。
発明の概要
本発明は、上記のような従来のものの欠点を除去すべく
なされたもので、合焦状態におけるスポット中心の受光
面中心からの位置ずれをある程度許容し、安定した焦点
誤差信号を得ることが可能な焦点誤差検出装置を提供す
ることを目的とする。
なされたもので、合焦状態におけるスポット中心の受光
面中心からの位置ずれをある程度許容し、安定した焦点
誤差信号を得ることが可能な焦点誤差検出装置を提供す
ることを目的とする。
本発明による焦点誤差検出装置は、受光面が少なくとも
3分割された光検出器の各受光面A、 B。
3分割された光検出器の各受光面A、 B。
Cの分割方向における受光領域幅をそれぞれa。
b、cとした場合、合焦状態において受光面上の光ビー
ムスポットの中心が受光面中心から受光面の分割方向に
偏位したときの焦点誤差信号FEの値がスポット偏位許
容最大値FE、を越えない最大スポット偏位範囲をdc
とし、スポット半径をrとすると、2r+dc >a+
b+cとなるように各受光領域幅a、b、cをそれぞれ
選定した構成となっている。
ムスポットの中心が受光面中心から受光面の分割方向に
偏位したときの焦点誤差信号FEの値がスポット偏位許
容最大値FE、を越えない最大スポット偏位範囲をdc
とし、スポット半径をrとすると、2r+dc >a+
b+cとなるように各受光領域幅a、b、cをそれぞれ
選定した構成となっている。
実施例
以下、本発明の実施例を図に基づいて説明する。
一般に、光検出器に光ビームが入射し、その入射面積が
Slこの各点σにおける光密度がρ(σ)であるとき、
この光検出器の出力P、は、po −f ρ(σ)d
a となる。光検出器の受光面が第1図に示すようにA、
B、 Cに3分割され、各受光面の幅がa、 b。
Slこの各点σにおける光密度がρ(σ)であるとき、
この光検出器の出力P、は、po −f ρ(σ)d
a となる。光検出器の受光面が第1図に示すようにA、
B、 Cに3分割され、各受光面の幅がa、 b。
c1分割線方向の長さは十分にあるものとするとき、各
受光面A、 B、 Cの出力PA、ps、Pcは、
光検出器の受光面中ノO)に対するスポット中心の離間
量をhlそれぞれの入射面積を5A(h)、Se (h
)、 S c (h)とすると、PA−,1’ ρ
(σ)da 5A(h) Ps −f ρ(σ)da 8B(h) Pc =f ρ(σ)da Sc員) となる。ここで、受光面Aの出力に対する信号増幅率を
1、受光面B、Cの各出力に対する信号増幅率をそれぞ
れβ、γとすると、第1図の回路によって導出される焦
点誤差信号FEは、FE−PA−(βPB+7PC) −I ρ(σ)da−(f ρ(σ)dσS^(h
l 5s(hl
+f ρ(σ)da) +5c(hl となる。
受光面A、 B、 Cの出力PA、ps、Pcは、
光検出器の受光面中ノO)に対するスポット中心の離間
量をhlそれぞれの入射面積を5A(h)、Se (h
)、 S c (h)とすると、PA−,1’ ρ
(σ)da 5A(h) Ps −f ρ(σ)da 8B(h) Pc =f ρ(σ)da Sc員) となる。ここで、受光面Aの出力に対する信号増幅率を
1、受光面B、Cの各出力に対する信号増幅率をそれぞ
れβ、γとすると、第1図の回路によって導出される焦
点誤差信号FEは、FE−PA−(βPB+7PC) −I ρ(σ)da−(f ρ(σ)dσS^(h
l 5s(hl
+f ρ(σ)da) +5c(hl となる。
本発明においては、例えば信号増幅率β、γが予め設定
されているものとし、合焦状態において受光面上の光ビ
ームスポットの中心が受光面中心から受光面の分割方向
に偏位したときの焦点誤差信号FEの値がスポット偏位
許容最大値FE、を越えない最大スポット偏位範囲をd
aとし、スポット半径を「とすると、2r+dc >a
+b+cとなるように各受光面A、B、Cの幅a、b、
cをそれぞれ選定するものである。信号増幅率α。
されているものとし、合焦状態において受光面上の光ビ
ームスポットの中心が受光面中心から受光面の分割方向
に偏位したときの焦点誤差信号FEの値がスポット偏位
許容最大値FE、を越えない最大スポット偏位範囲をd
aとし、スポット半径を「とすると、2r+dc >a
+b+cとなるように各受光面A、B、Cの幅a、b、
cをそれぞれ選定するものである。信号増幅率α。
β、γが変われば、当然のことながら、各幅a。
b、cの値もそれに応じて変わってくる。また、α、−
1のとき、スポット半径rが決まれば、受光面Aの幅a
が決まり、この幅aに対して受光面B。
1のとき、スポット半径rが決まれば、受光面Aの幅a
が決まり、この幅aに対して受光面B。
Cの幅す、 c及び信号増幅率β、γがそれぞれ決定
されることになる。
されることになる。
ここで、上記スポット偏位許容最大値FEoは、合焦状
態において受光面上の光ビームスポットの中心が受光面
中心から受光面の分割方向に偏位したときの焦点誤差信
号FEの変化量がほぼ零である偏位範囲が最大となるよ
うに零に近い値に設定される。これにより、焦点誤差信
号FEの変化量がほぼ零であるスポット偏位範囲が最大
となるように、受光面Aの幅aに対して受光面B、
Cの幅す、c及び信号増幅率β、γがそれぞれ選定され
ることになる。
態において受光面上の光ビームスポットの中心が受光面
中心から受光面の分割方向に偏位したときの焦点誤差信
号FEの変化量がほぼ零である偏位範囲が最大となるよ
うに零に近い値に設定される。これにより、焦点誤差信
号FEの変化量がほぼ零であるスポット偏位範囲が最大
となるように、受光面Aの幅aに対して受光面B、
Cの幅す、c及び信号増幅率β、γがそれぞれ選定され
ることになる。
すなわち、上記最大スポット偏位範囲deの下限値をU
、上限値をVと駿、上述したことを積分形で表現すると
、 J’、71 FE (a、 b、 c) I d
h弁0となり、V−Uが最大となるようにす、 c、
β。
、上限値をVと駿、上述したことを積分形で表現すると
、 J’、71 FE (a、 b、 c) I d
h弁0となり、V−Uが最大となるようにす、 c、
β。
γをaに対して設定することにより、安定性に優れた焦
点誤差検出装置を得ることができるのである。
点誤差検出装置を得ることができるのである。
次に、簡単な具体例に基づいて説明する。
以下、説明の簡単化のために合焦状態における光検出器
6の受光面上の光ビームスポットの外形は完全な円であ
り、その円内の光強度分布は一様であると仮定する。光
ビームスポットの半径をr1光検出器6の受光面中心に
対するスポット中心の分割方向における距離をC1光検
出器6の分割方向幅をWとし、光検出器6に対して光ビ
ームスポットが第2図(A)〜(D)に示す位置関係に
あるときのそれぞれの光検出器6の入射光量POを求め
ると、 (A)の状態は、2cmw>2r又は’;lc+wく2
「の条件下におけるものであり、 o−wO (B)の状態は、2「≧2cmw≧−2r又は2c+w
>2rの条件下におけるものであり、po−2Xj;″
″w/、rw/、r−−x’)の状態は、2cmw<−
2r又は2c+w>2rの条件下におけるものであり、
Po鱒πr2 (D)の状態は、2r≧20+W≧−2r又は2 c
−w< 2 rの条件下におけるものであり、PO5w
2xf:”” r’ −x’ dマとなる。ここに、X
は積分定数を表わし、光検出器6の受光面の分割方向(
分割線に垂直な方向)にとった座標である。
6の受光面上の光ビームスポットの外形は完全な円であ
り、その円内の光強度分布は一様であると仮定する。光
ビームスポットの半径をr1光検出器6の受光面中心に
対するスポット中心の分割方向における距離をC1光検
出器6の分割方向幅をWとし、光検出器6に対して光ビ
ームスポットが第2図(A)〜(D)に示す位置関係に
あるときのそれぞれの光検出器6の入射光量POを求め
ると、 (A)の状態は、2cmw>2r又は’;lc+wく2
「の条件下におけるものであり、 o−wO (B)の状態は、2「≧2cmw≧−2r又は2c+w
>2rの条件下におけるものであり、po−2Xj;″
″w/、rw/、r−−x’)の状態は、2cmw<−
2r又は2c+w>2rの条件下におけるものであり、
Po鱒πr2 (D)の状態は、2r≧20+W≧−2r又は2 c
−w< 2 rの条件下におけるものであり、PO5w
2xf:”” r’ −x’ dマとなる。ここに、X
は積分定数を表わし、光検出器6の受光面の分割方向(
分割線に垂直な方向)にとった座標である。
しかるに、上記の式に基づいて光検出器6の中央の受光
面Aが光ビームスポットの中心にあるときの幅aを全受
光量の半分が受光面Aに入射するように選定した場合、
光ビームスポットの分割方向の移動量に対する焦点誤差
信号の変化、すなわち中央の受光面Aの入射光量と両側
の受光面B。
面Aが光ビームスポットの中心にあるときの幅aを全受
光量の半分が受光面Aに入射するように選定した場合、
光ビームスポットの分割方向の移動量に対する焦点誤差
信号の変化、すなわち中央の受光面Aの入射光量と両側
の受光面B。
Cの入射光量和との差分の変化を、両側の受光面B、C
の幅す、cに対して、求めると第3図に示すようになる
。ここに、横軸は光ビームスポットの半径を1としたと
きの分割方向のスポット中心位置、縦軸は全受光量を1
としたときの焦点誤差信号PA −(Pa +Pc )
を表わす。
の幅す、cに対して、求めると第3図に示すようになる
。ここに、横軸は光ビームスポットの半径を1としたと
きの分割方向のスポット中心位置、縦軸は全受光量を1
としたときの焦点誤差信号PA −(Pa +Pc )
を表わす。
また、第3図における■〜■は第4図に示すような形状
■〜■の光検出器を用いたときの結果であり、■はスポ
ット直径と同一幅(a−0,808、b−c■0.59
6)の光検出器を用いた場合、■は両側の受光面B、
Cの幅す、 cが中央の受光面Aの幅aと同一(a−
bmc−0,808)の光検出器を用いた場合、■は両
側の受光面B。
■〜■の光検出器を用いたときの結果であり、■はスポ
ット直径と同一幅(a−0,808、b−c■0.59
6)の光検出器を用いた場合、■は両側の受光面B、
Cの幅す、 cが中央の受光面Aの幅aと同一(a−
bmc−0,808)の光検出器を用いた場合、■は両
側の受光面B。
Cの幅す、cの一方と中央の受光面Aの幅aとを合わせ
た大きさがスポット直径と同一の幅(a −0,808
,b−c=1.192)となる光検出器を用いた場合を
それぞれ表わしている。■、■。
た大きさがスポット直径と同一の幅(a −0,808
,b−c=1.192)となる光検出器を用いた場合を
それぞれ表わしている。■、■。
■のいずれの場合も、焦点移動が許容されるスポット中
心位置の受光面中心からの移動量(最大スポット偏位範
囲)は僅かにスポット半径の10%以下であり、このよ
うな構成によっては著しく分割方向のスポット移動に対
して焦点制御が不安定となる。
心位置の受光面中心からの移動量(最大スポット偏位範
囲)は僅かにスポット半径の10%以下であり、このよ
うな構成によっては著しく分割方向のスポット移動に対
して焦点制御が不安定となる。
ところが、本発明においては、スポット偏位範囲が最大
となるように中央の受光面Aの幅aに対する両側の受光
面B、Cの幅す、cを設定するものであり、数値計算に
より、b−c−0,7(第4図の■の場合)が両側の受
光面B、 Cの最適幅となる。かかる構成の光検出器を
用いた場合、最大スポット偏位範囲幅はスポット半径の
86%にも広がり、著しく焦点制御の安定性が向上する
ことになる。このように構成することによって、(Pa
+PC)の変化が中心部において最もPAの変化に近
くなるように、幅aに対する幅す、 cを選定するこ
とができる。幅aはスポット直径よりも小なる範囲で任
意である。
となるように中央の受光面Aの幅aに対する両側の受光
面B、Cの幅す、cを設定するものであり、数値計算に
より、b−c−0,7(第4図の■の場合)が両側の受
光面B、 Cの最適幅となる。かかる構成の光検出器を
用いた場合、最大スポット偏位範囲幅はスポット半径の
86%にも広がり、著しく焦点制御の安定性が向上する
ことになる。このように構成することによって、(Pa
+PC)の変化が中心部において最もPAの変化に近
くなるように、幅aに対する幅す、 cを選定するこ
とができる。幅aはスポット直径よりも小なる範囲で任
意である。
中央の受光面Aの幅aに対する両側の受光面B。
Cの幅す、cの値は、ディスクのビット形状、光学系の
性能、レーザ光の性質、スポット内の光強度分布などの
光学的条件を考慮に入れた上で、コンピュータを用いて
数値計算によって求めることができる。また、光ビーム
スポットの半径rが決まると、中央の受光面Aの幅aが
決まるので、この受光面Aに対して両側の受光面B、
Cの幅を十分に大きなものとしかつ信号増幅率β、γを
予め設定しておき、焦点誤差信号FEを監視しつつスポ
ットを受光面の分割方向に偏位させ、焦点誤差信号FE
が前記スポット偏位許容最大値に達する直前の偏位位置
におけるスポット外径位置を一方の受光領域限界位置と
することによって受光面B。
性能、レーザ光の性質、スポット内の光強度分布などの
光学的条件を考慮に入れた上で、コンピュータを用いて
数値計算によって求めることができる。また、光ビーム
スポットの半径rが決まると、中央の受光面Aの幅aが
決まるので、この受光面Aに対して両側の受光面B、
Cの幅を十分に大きなものとしかつ信号増幅率β、γを
予め設定しておき、焦点誤差信号FEを監視しつつスポ
ットを受光面の分割方向に偏位させ、焦点誤差信号FE
が前記スポット偏位許容最大値に達する直前の偏位位置
におけるスポット外径位置を一方の受光領域限界位置と
することによって受光面B。
Cの幅す、 cを決定することができる。このとき、
信号増幅率β、γが変われば、受光面B、Cの幅す、c
の値も変わることは先述した如くである。
信号増幅率β、γが変われば、受光面B、Cの幅す、c
の値も変わることは先述した如くである。
なお、上記実施例においては、中央の受光面Aの幅aは
中心で全光量の半分を受光するように選定したが、第1
図に示すように、受光面B、Cの各出力に対して増幅器
9.10を設け、増幅率β。
中心で全光量の半分を受光するように選定したが、第1
図に示すように、受光面B、Cの各出力に対して増幅器
9.10を設け、増幅率β。
γで増幅した後加算し、受光面Aの出力との差分をとる
ように構成することによって、中央の受光面Aが全光量
の半分を受光しなくても合焦状態で焦点誤差信号を0に
することが可能である。
ように構成することによって、中央の受光面Aが全光量
の半分を受光しなくても合焦状態で焦点誤差信号を0に
することが可能である。
このようにして、スポット半径を1としたときの幅aに
対する幅す及びCを求めると、第5図に示すような関係
となる。すなわち、スポット中心と受光面中心とが一致
した状態において焦点誤差信号FEが0になるように信
号増幅率β、γを決定し、これに対し焦点誤差信号FE
がほぼ零であるスポット偏位範囲が最大となるように幅
aに対して幅す、cを決定したものである。
対する幅す及びCを求めると、第5図に示すような関係
となる。すなわち、スポット中心と受光面中心とが一致
した状態において焦点誤差信号FEが0になるように信
号増幅率β、γを決定し、これに対し焦点誤差信号FE
がほぼ零であるスポット偏位範囲が最大となるように幅
aに対して幅す、cを決定したものである。
上記実施例においては、非点収差の最小錯乱円、すなわ
ち光束外形が円に近い状態で合焦点状態となるように構
成したが、これは光束外形が楕円又は受光部の分割線に
垂直な焦線であっても同様に構成することが可能である
。さらには、非点収差の発生しない光学系によってビー
ム径を測定する方法でも同様に構成が可能である。
ち光束外形が円に近い状態で合焦点状態となるように構
成したが、これは光束外形が楕円又は受光部の分割線に
垂直な焦線であっても同様に構成することが可能である
。さらには、非点収差の発生しない光学系によってビー
ム径を測定する方法でも同様に構成が可能である。
なお、上記実施例では、説明の簡単化のためにスポット
形状を円形とし、光強度分布が一様であるものとしたが
、光ビームにコマ収差等があり、スポット形状が円形で
ない場合、又は光強度分布が一様でない場合にも、同様
の計算によって最適な光検出器の形状を定める。ことが
できる。また、b−c、β−γとしたが、b4c、βキ
γであっても同様の効果を発揮するように構成すること
ができる。さらには、受光面Aの出力に対する信号増幅
率αを1とし、増幅を行なわないように構成した場合に
ついて説明したが、増幅を行なっても良いことは勿論で
ある。
形状を円形とし、光強度分布が一様であるものとしたが
、光ビームにコマ収差等があり、スポット形状が円形で
ない場合、又は光強度分布が一様でない場合にも、同様
の計算によって最適な光検出器の形状を定める。ことが
できる。また、b−c、β−γとしたが、b4c、βキ
γであっても同様の効果を発揮するように構成すること
ができる。さらには、受光面Aの出力に対する信号増幅
率αを1とし、増幅を行なわないように構成した場合に
ついて説明したが、増幅を行なっても良いことは勿論で
ある。
また、上記実施例では、光検出器の受光面を3分割した
場合について説明したが、これに限定されるものではな
く、さらに分割数を増やしても、それらをまとめて上記
のように扱えることは勿論である。さらには、光検出器
の分割線上に感度がない場合や、光の漏れ込みが発生す
る場合には、その量に応じて受光面積が実際上変化する
ので、これに対応して光検出器の形状を同様に決定する
ことができる。
場合について説明したが、これに限定されるものではな
く、さらに分割数を増やしても、それらをまとめて上記
のように扱えることは勿論である。さらには、光検出器
の分割線上に感度がない場合や、光の漏れ込みが発生す
る場合には、その量に応じて受光面積が実際上変化する
ので、これに対応して光検出器の形状を同様に決定する
ことができる。
またさらに、上記実施例では、光検出器の各受光面の全
面を光の受光領域とし、各受光面の幅を決定するように
したが、光路中に光ビームの一部を遮蔽する制限手段を
設けて光検出器の受光領域を制限しても良く、この場合
には各受光領域の幅を決定することによって同様の効果
が得られる。
面を光の受光領域とし、各受光面の幅を決定するように
したが、光路中に光ビームの一部を遮蔽する制限手段を
設けて光検出器の受光領域を制限しても良く、この場合
には各受光領域の幅を決定することによって同様の効果
が得られる。
発明の詳細
な説明したように、本発明によれば、受光面が少なくと
も3分割された光検出器を用いる焦点誤差検出装置にお
いて、合焦状態において受光面上のスポット中心が受光
面中心から受光面の分割方向に偏位したときの焦点誤差
信号FEの変化量がほぼ零であるスポット偏位範囲が最
大となるように、各受光領域幅及び信号増幅率を決定し
たので、スポットの該分割方向の偏位に対して安定した
焦点誤差信号を得ることができる。
も3分割された光検出器を用いる焦点誤差検出装置にお
いて、合焦状態において受光面上のスポット中心が受光
面中心から受光面の分割方向に偏位したときの焦点誤差
信号FEの変化量がほぼ零であるスポット偏位範囲が最
大となるように、各受光領域幅及び信号増幅率を決定し
たので、スポットの該分割方向の偏位に対して安定した
焦点誤差信号を得ることができる。
第1図は本発明の構成を示すブロック図、第2図は光検
出器の受光面に対して変化する光ビームスポットの4つ
の位置(A)〜(D)を示す図、第3図は光ビームスポ
ットの移動量に対する焦点誤差信号を両側の受光面の幅
に対して求めた特性図、第4図は中央の受光面の幅に対
して両側の受光面の幅を4通り■〜■に変化させた場合
を示す図、第5図はスポット半径を1としたときの幅a
に対する幅す、 cの関係を示す図、第6図は非点収
差法を用いた光学系の一例を示す構成図、第7図は3分
割光検出器の信号処理系を示すブロック図、第8図(A
)〜(C)は非点収差法による光ビームスポットの受光
面上の形状変化を示す図、第9図(A)〜(C)はビー
ム径測定法による光ビームスポットの受光面上の形状変
化を示す図、第10図は受光面A−Cの幅が等しい光検
出器と光ビームスポットとの位置関係を示す図、第11
図は第10図の光検出器を用いた場合における光ビーム
スポットの離間量に対する第7図の各部の出力レベルの
変化を示す図、第12図は受光面Aの幅に対して受光面
B、 Cの幅が大なる光検出器と光ビームスポットと
の位置関係を示す図、第13図は第12図の光検出器を
用いた場合における光ビームスポットの離間量に対する
第7図の各部の出力レベルの変化を示す図である。 主要部分の符号の説明 1・・・・・・光源 2・・・・・・ビームス
プリッタ3・・・・・・集光レンズ
出器の受光面に対して変化する光ビームスポットの4つ
の位置(A)〜(D)を示す図、第3図は光ビームスポ
ットの移動量に対する焦点誤差信号を両側の受光面の幅
に対して求めた特性図、第4図は中央の受光面の幅に対
して両側の受光面の幅を4通り■〜■に変化させた場合
を示す図、第5図はスポット半径を1としたときの幅a
に対する幅す、 cの関係を示す図、第6図は非点収
差法を用いた光学系の一例を示す構成図、第7図は3分
割光検出器の信号処理系を示すブロック図、第8図(A
)〜(C)は非点収差法による光ビームスポットの受光
面上の形状変化を示す図、第9図(A)〜(C)はビー
ム径測定法による光ビームスポットの受光面上の形状変
化を示す図、第10図は受光面A−Cの幅が等しい光検
出器と光ビームスポットとの位置関係を示す図、第11
図は第10図の光検出器を用いた場合における光ビーム
スポットの離間量に対する第7図の各部の出力レベルの
変化を示す図、第12図は受光面Aの幅に対して受光面
B、 Cの幅が大なる光検出器と光ビームスポットと
の位置関係を示す図、第13図は第12図の光検出器を
用いた場合における光ビームスポットの離間量に対する
第7図の各部の出力レベルの変化を示す図である。 主要部分の符号の説明 1・・・・・・光源 2・・・・・・ビームス
プリッタ3・・・・・・集光レンズ
Claims (1)
- 1方向において少なくとも3分割された受光面を有し、
被検出面上に集光レンズを介して照射されかつ前記被検
出面を経た光ビームを受光する光検出器を備え、中央の
受光面Aの受光出力をP_A、その両側の受光面B、C
の各受光出力をP_B、P_Cとし、各受光出力P_A
、P_B、P_Cに対する信号増幅率をそれぞれα、β
、γとしたとき、αP_A−(βP_B+γP_C)な
る演算式に基づいて前記集光レンズの被検出面での焦点
誤差を検出してこれに応じた焦点誤差信号FEを出力す
る焦点誤差検出装置であって、前記受光面A、B、Cの
分割方向における受光領域幅をそれぞれa、b、cとし
た場合、合焦状態において前記光検出器の受光面上の光
ビームスポットの中心が受光面中心から前記分割方向に
偏位したときの前記焦点誤差信号FEの値がスポット偏
位許容最大値FE_0を越えない最大スポット偏位範囲
をdcとし、スポット半径をrとすると、2r+dc>
a+b+cとなるように各受光領域幅a、b、cをそれ
ぞれ選定したことを特徴とする焦点誤差検出装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62002160A JP2596545B2 (ja) | 1987-01-07 | 1987-01-07 | 焦点誤差検出装置及びこれに用いられる光検出器の受光領域幅の選定方法 |
FR8800113A FR2609348B1 (fr) | 1987-01-07 | 1988-01-07 | Appareil de detection d'erreur de mise au point |
DE3800255A DE3800255A1 (de) | 1987-01-07 | 1988-01-07 | Fokusfehlerdetektor fuer ein plattenabspielgeraet |
US07/141,394 US4920527A (en) | 1987-01-07 | 1988-01-07 | Focusing error detection apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62002160A JP2596545B2 (ja) | 1987-01-07 | 1987-01-07 | 焦点誤差検出装置及びこれに用いられる光検出器の受光領域幅の選定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63168842A true JPS63168842A (ja) | 1988-07-12 |
JP2596545B2 JP2596545B2 (ja) | 1997-04-02 |
Family
ID=11521603
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62002160A Expired - Lifetime JP2596545B2 (ja) | 1987-01-07 | 1987-01-07 | 焦点誤差検出装置及びこれに用いられる光検出器の受光領域幅の選定方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4920527A (ja) |
JP (1) | JP2596545B2 (ja) |
DE (1) | DE3800255A1 (ja) |
FR (1) | FR2609348B1 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5126988A (en) * | 1989-05-22 | 1992-06-30 | Nhk Spring Co., Ltd. | Optical head structure |
CA2012401C (en) * | 1989-05-26 | 1994-05-10 | Anthony G. Dewey | Focus-error detection using prism-enhanced spot size monitoring |
JP2795528B2 (ja) * | 1990-07-25 | 1998-09-10 | パイオニア株式会社 | 信号検出装置 |
US20050068864A1 (en) * | 1999-07-08 | 2005-03-31 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and apparatus for tracking error detection in optical disk driver |
KR100750093B1 (ko) * | 2000-10-12 | 2007-08-21 | 삼성전자주식회사 | 광픽업용 디포커스 에러신호 검출장치 및 방법 및 이를채용한 시크 방향 검출장치 및 방법 |
KR100354771B1 (ko) * | 2000-12-28 | 2002-10-05 | 삼성전자 주식회사 | 기록매체 두께 변화 검출 및/또는 그 두께 변화에 의해발생된 구면수차 보정 가능한 광픽업장치 |
KR100408284B1 (ko) * | 2001-05-19 | 2003-12-03 | 삼성전자주식회사 | 광디스크 재생방법 및 장치 |
CN100524477C (zh) * | 2002-10-02 | 2009-08-05 | 松下电器产业株式会社 | 光盘装置和方法 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54124705A (en) * | 1978-03-20 | 1979-09-27 | Teac Corp | Optical reproducer |
JPS5752006A (en) * | 1980-08-19 | 1982-03-27 | Olympus Optical Co Ltd | Method and device for detecting focus |
JPS59147306A (ja) * | 1983-02-10 | 1984-08-23 | Sony Corp | フオ−カス誤差検出装置 |
JPS59221835A (ja) * | 1983-05-31 | 1984-12-13 | Sony Corp | フオ−カス誤差検出装置 |
JPS601632A (ja) * | 1983-06-18 | 1985-01-07 | Mitsubishi Electric Corp | 光学式情報記録再生装置 |
JPS6055521A (ja) * | 1983-09-05 | 1985-03-30 | Mitsubishi Electric Corp | 光デイスクヘツドの自動焦点調節装置 |
JPS6070924U (ja) * | 1983-10-19 | 1985-05-20 | パイオニア株式会社 | 焦点誤差検出装置 |
JPS60131648A (ja) * | 1983-12-19 | 1985-07-13 | Toshiba Corp | 光学ヘツド |
JPS60185230A (ja) * | 1984-03-02 | 1985-09-20 | Pioneer Electronic Corp | 焦点誤差検出装置 |
JPS60217534A (ja) * | 1984-04-11 | 1985-10-31 | Mitsubishi Electric Corp | 焦点検出装置 |
US4724533A (en) * | 1984-06-15 | 1988-02-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical head |
US4742218A (en) * | 1985-03-11 | 1988-05-03 | Hitachi, Ltd. | Focus error detection apparatus utilizing focusing an front and rear sides of focal planes |
EP0261545A1 (de) * | 1986-09-17 | 1988-03-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Detektoranordnung zum Ermitteln des Fokussierfehlers bei einem optischen Datenspeicher |
JPH0626972Y2 (ja) * | 1986-10-03 | 1994-07-20 | パイオニア株式会社 | 光学式ピツクアツプ装置 |
-
1987
- 1987-01-07 JP JP62002160A patent/JP2596545B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1988
- 1988-01-07 DE DE3800255A patent/DE3800255A1/de active Granted
- 1988-01-07 FR FR8800113A patent/FR2609348B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 1988-01-07 US US07/141,394 patent/US4920527A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3800255A1 (de) | 1988-08-04 |
FR2609348B1 (fr) | 1994-02-11 |
US4920527A (en) | 1990-04-24 |
FR2609348A1 (fr) | 1988-07-08 |
JP2596545B2 (ja) | 1997-04-02 |
DE3800255C2 (ja) | 1990-06-28 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |