JPS62222439A - 光スポツト位置エラ−検出装置 - Google Patents
光スポツト位置エラ−検出装置Info
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- JPS62222439A JPS62222439A JP6508686A JP6508686A JPS62222439A JP S62222439 A JPS62222439 A JP S62222439A JP 6508686 A JP6508686 A JP 6508686A JP 6508686 A JP6508686 A JP 6508686A JP S62222439 A JPS62222439 A JP S62222439A
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- light
- light beams
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- lens
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 29
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 21
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、光により記録や再生等を行なう光ピツクアッ
プ用の光スポット位置エラー検出装置に関する。
プ用の光スポット位置エラー検出装置に関する。
(従来の技#1)
第5図は従来の光ピツクアップ装置の基本的な光学系を
示している。レーザ光ffX1lからの出射光はコリメ
ートレンズ12、偏光ビームスプリッタ13、%波長板
14、集光し〉・ズ15を介して記録媒体16上に集光
される。媒体16からの反射光はに波長板14と偏光ビ
ームスプリッタ13とで構成される筒易アイソレータに
よってレーザ光源11から媒体16までの行きの光学系
から分離される。分!!!Iキれた後の光学系がスポッ
ト位置エラー検出用の光学系である。媒体16からの反
射光の一部はハーフミラ−17を透過してトラックエラ
ー検出用の2分割光検出器18に入射し、残りは収束レ
ンズ19とナイフェツジ20とを介してフォーカスエラ
ー検出用の2分割光検出器18に入射する。この光学系
ではトラックエラーはファーフィールドの片寄りを検出
するプッシュプル法で、フォーカスエラーはナイフェツ
ジ法でそれぞれ検出される。
示している。レーザ光ffX1lからの出射光はコリメ
ートレンズ12、偏光ビームスプリッタ13、%波長板
14、集光し〉・ズ15を介して記録媒体16上に集光
される。媒体16からの反射光はに波長板14と偏光ビ
ームスプリッタ13とで構成される筒易アイソレータに
よってレーザ光源11から媒体16までの行きの光学系
から分離される。分!!!Iキれた後の光学系がスポッ
ト位置エラー検出用の光学系である。媒体16からの反
射光の一部はハーフミラ−17を透過してトラックエラ
ー検出用の2分割光検出器18に入射し、残りは収束レ
ンズ19とナイフェツジ20とを介してフォーカスエラ
ー検出用の2分割光検出器18に入射する。この光学系
ではトラックエラーはファーフィールドの片寄りを検出
するプッシュプル法で、フォーカスエラーはナイフェツ
ジ法でそれぞれ検出される。
(発明が解決しようとする問題点)
スポット位置エラー検出の感度は上記の光学系で十分に
得られるが、この系では媒体からの反射光を分割してい
るから、光検出器が2個必要であり、光学系を小型化す
ることは難しい。
得られるが、この系では媒体からの反射光を分割してい
るから、光検出器が2個必要であり、光学系を小型化す
ることは難しい。
フンバクトディスクなどの再生専用の光ピツクアップで
は、1個の6分割光検出器を用いてエラーを検出する方
式を主に用いている。この方式ではコリメートレンズと
偏光ビームスプリッタとの間に回折格子を設置して記録
媒体上のスポットを3分割する。中心のスポットはトラ
ック上に、前後のスポットはトラックの両エツジ位置に
配置する。検出用光学系は第6図に示すように収束レン
ズ19とシリンドリカルレンズ21とを介して中心のビ
ームは光検出器1の中心の4分割受光部に収束され、非
点収差法によりフォーカスエラー検出を行なう。残りの
2つのビームは周辺の2つの受光部にそれぞれ入射して
トラックエラー検出を行なう。
は、1個の6分割光検出器を用いてエラーを検出する方
式を主に用いている。この方式ではコリメートレンズと
偏光ビームスプリッタとの間に回折格子を設置して記録
媒体上のスポットを3分割する。中心のスポットはトラ
ック上に、前後のスポットはトラックの両エツジ位置に
配置する。検出用光学系は第6図に示すように収束レン
ズ19とシリンドリカルレンズ21とを介して中心のビ
ームは光検出器1の中心の4分割受光部に収束され、非
点収差法によりフォーカスエラー検出を行なう。残りの
2つのビームは周辺の2つの受光部にそれぞれ入射して
トラックエラー検出を行なう。
しかし、ナイフェツジ法では集光点で検出するのに比べ
て、非点収差法ではファーフィールドでの検出を行なう
のでトラックエラーのフォーカスエラーへの回り込みが
大きいこと、また再生専用でなく記録も行なう装置にお
いては3ビーム法によるトラックエラー検出は不安定で
あるなどの問題点を第5図に示す検出系は有している。
て、非点収差法ではファーフィールドでの検出を行なう
のでトラックエラーのフォーカスエラーへの回り込みが
大きいこと、また再生専用でなく記録も行なう装置にお
いては3ビーム法によるトラックエラー検出は不安定で
あるなどの問題点を第5図に示す検出系は有している。
この他に4分割光検出器を用いて臨界角法でフォーカス
エラーを、プッシュプル法でトラックエラーをそれぞれ
検出する方法もあるが、やはりトラックエラー信号のフ
ォーカスエラー信号への回り込みが大きい。
エラーを、プッシュプル法でトラックエラーをそれぞれ
検出する方法もあるが、やはりトラックエラー信号のフ
ォーカスエラー信号への回り込みが大きい。
本発明は、上記のような問題点を生じることなく、1つ
の光検出器でフォーカスエラーおよびトラックエラーを
感度よく検出することが可能な光ブックアップ用の光ス
ポット位置エラー検出装置を提供することにある。
の光検出器でフォーカスエラーおよびトラックエラーを
感度よく検出することが可能な光ブックアップ用の光ス
ポット位置エラー検出装置を提供することにある。
(問題点を解決するための手段)
本発明の光スポット位置エラー検出装置は、入射光ビー
ムを分割して複数の光ビームを生成する光学系と、この
光学系で生成された前記光ビームを受光する複数の受光
部を有する光検出器とを備え:前記光学系は、直交する
2軸に軸対称となる形に略放射状に前記入射光ビームを
4つの領域に分割して4つの光ビームを生成し、これら
4つの光ビームを前記光検出器上の互いに異なる受光部
にそれぞれ導き、前記4つの領域の光ビームのうち前記
入射光ビームの中心に関して対称な位置にある2つの領
域の光ビームは少なくとも前記受光部に収束し;前記光
検出器は、少なくとも2つの2分割型受光部を有し、前
記2分割型受光部において前記収束された光ビームを受
光することを特徴とする。
ムを分割して複数の光ビームを生成する光学系と、この
光学系で生成された前記光ビームを受光する複数の受光
部を有する光検出器とを備え:前記光学系は、直交する
2軸に軸対称となる形に略放射状に前記入射光ビームを
4つの領域に分割して4つの光ビームを生成し、これら
4つの光ビームを前記光検出器上の互いに異なる受光部
にそれぞれ導き、前記4つの領域の光ビームのうち前記
入射光ビームの中心に関して対称な位置にある2つの領
域の光ビームは少なくとも前記受光部に収束し;前記光
検出器は、少なくとも2つの2分割型受光部を有し、前
記2分割型受光部において前記収束された光ビームを受
光することを特徴とする。
(作用)
本発明は基本的に記録媒体から反射してくる光ビームを
4分割し、そのうち2つをナイフェツジ法によるフォー
カスエラー検出に用い、残りの2つをフォーフィールド
法によるトラックエラー検出に用いる。
4分割し、そのうち2つをナイフェツジ法によるフォー
カスエラー検出に用い、残りの2つをフォーフィールド
法によるトラックエラー検出に用いる。
フォーフィールド法は第2図に示すような記録媒体上の
グループやビットによる反射光分布30の内の0次回折
光と1次回折光とが重なる31 、32の領域の光強度
の差によってト・ラックエラーを検出する。従来は2分
割光検出器で検出していたが、同一ビーム中からフォー
カスエラー検出用のビームを得るため、第一3図(b)
に示す放射状又は第3図(a)に示すような変形放射状
にビームを2軸対称に4分割する。0次、1次の重なり
部分を主に含むように第1および第2の領域3及び4を
形成しそれぞれ光検出器上の異なる受光部に導く。この
光でトラックエラー検出を行なう。第3および第4の領
域5及び6からの光は収束されて光検出器上の異なる2
分割受光部に収束され、ナイフェツジ法によるフォーカ
スエラー検出に用いられる。
グループやビットによる反射光分布30の内の0次回折
光と1次回折光とが重なる31 、32の領域の光強度
の差によってト・ラックエラーを検出する。従来は2分
割光検出器で検出していたが、同一ビーム中からフォー
カスエラー検出用のビームを得るため、第一3図(b)
に示す放射状又は第3図(a)に示すような変形放射状
にビームを2軸対称に4分割する。0次、1次の重なり
部分を主に含むように第1および第2の領域3及び4を
形成しそれぞれ光検出器上の異なる受光部に導く。この
光でトラックエラー検出を行なう。第3および第4の領
域5及び6からの光は収束されて光検出器上の異なる2
分割受光部に収束され、ナイフェツジ法によるフォーカ
スエラー検出に用いられる。
このように本発明ではナイフェツジ法を用いているので
トラックエラー信号のフォーカスエラー信号への回り込
みを十分に抑制することができ、かつ1つの光検出器で
フォーカスエラー信号およびトラックエラー信号の両者
を得ることができる。
トラックエラー信号のフォーカスエラー信号への回り込
みを十分に抑制することができ、かつ1つの光検出器で
フォーカスエラー信号およびトラックエラー信号の両者
を得ることができる。
ビームの分割形状としては第3図(c)に示すように直
線形状で分割することも考えられるが、第2図との比較
で明らかなように、放射形状に分割する場合と比べて領
域31と32との重なりは少なくなりトラックエラーの
検出の効率は十分に得られない。またトラックエラーの
検出効率を上げるため第1及び第2の領域3及び4を拡
大すると、第3および第4の領域5及び6が縮小されて
しまい十分なフォーカスエラー用光量が得られなくなる
。
線形状で分割することも考えられるが、第2図との比較
で明らかなように、放射形状に分割する場合と比べて領
域31と32との重なりは少なくなりトラックエラーの
検出の効率は十分に得られない。またトラックエラーの
検出効率を上げるため第1及び第2の領域3及び4を拡
大すると、第3および第4の領域5及び6が縮小されて
しまい十分なフォーカスエラー用光量が得られなくなる
。
(実施例)
第1図は本発明の一実施例を示す斜視図である。
光軸40上に光検出器1と分割型レンズ2とが配置され
ている。分割型レンズ2の第1及び第2の領域3及び4
の透過光はそのまま光検出器1の受光部7および8にそ
れぞれ入射する。このブームよりプッシュプル法による
トラックエラー信号を得る。第3および第4の領域5及
び6の透過光は収束されて光検出器1の2分割型受光部
9および10にそれぞれ照射され、ナイフェツジ法によ
るフォーカスエラー信号を得る。分割型レンズ2への入
射ビームはコリメート光でも収束光であってもよい。し
たがってコリメートレンズと検出系の収束レンズを兼用
するような光ピツクアップ構成であっても本光学系を用
いることができる。さらに第1及び第2の領域の光を検
出器上の異なる受光部に収束きせる構成でもよい。
ている。分割型レンズ2の第1及び第2の領域3及び4
の透過光はそのまま光検出器1の受光部7および8にそ
れぞれ入射する。このブームよりプッシュプル法による
トラックエラー信号を得る。第3および第4の領域5及
び6の透過光は収束されて光検出器1の2分割型受光部
9および10にそれぞれ照射され、ナイフェツジ法によ
るフォーカスエラー信号を得る。分割型レンズ2への入
射ビームはコリメート光でも収束光であってもよい。し
たがってコリメートレンズと検出系の収束レンズを兼用
するような光ピツクアップ構成であっても本光学系を用
いることができる。さらに第1及び第2の領域の光を検
出器上の異なる受光部に収束きせる構成でもよい。
分割型レンズ1としては、第4図(a)に示すように収
束レンズ中の斜線部分を切り出して用いてもよく、また
第4図(b)に示すように斜線の上半分と下半分のレン
ズ裏面に異なる方向に傾斜を持たせて収束位置を変えて
もよい。さらにはホログラムレンズを用いることも可能
である。
束レンズ中の斜線部分を切り出して用いてもよく、また
第4図(b)に示すように斜線の上半分と下半分のレン
ズ裏面に異なる方向に傾斜を持たせて収束位置を変えて
もよい。さらにはホログラムレンズを用いることも可能
である。
(発明の効果)
以上に詳しく説明したように、本発明により、光検出器
が1つで感度のよいエラー検出が行なえる光ピツクアッ
プ用の光スポット位置エラー検出装置を得ることができ
る。
が1つで感度のよいエラー検出が行なえる光ピツクアッ
プ用の光スポット位置エラー検出装置を得ることができ
る。
第1図は本発明の一実施例を示す斜視図、第2図は反射
光分布を示す図、第3図(a)〜(c)は光ビームの分
割形状を示す図、第4図(a)。 (b)は分割型レンズの形成例を示す図、第5図は従来
の光ピツクアップ装置の一例を示す構成図、第6図は従
来の光スポット位置エラー検出装置の一例を示す斜視図
である。 1・・・光検出器、2・・・分割型レンズ、3・・・第
1の領域、4・・・第2の領域、5・・・第3の領域、
6・・・第゛4の領域、7,8・・・受光部、9,10
・・・2分割型受光部、11・・・レーザ光源、12・
・・コリメートレンズ、13・・・偏光ビームスプリッ
タ、14・・・に波長板、15・・・集光レンズ、16
・・・記録媒体、17・・・ハーフミラ−518・・・
2分割光検出器、19・・・収束レンズ、20・・・ナ
イフェツジ、21・・・シリンドリカルレンズ、30・
・・反射光ビーム、31 、32・・・O次回折光と1
次回折光との重なり部分。
光分布を示す図、第3図(a)〜(c)は光ビームの分
割形状を示す図、第4図(a)。 (b)は分割型レンズの形成例を示す図、第5図は従来
の光ピツクアップ装置の一例を示す構成図、第6図は従
来の光スポット位置エラー検出装置の一例を示す斜視図
である。 1・・・光検出器、2・・・分割型レンズ、3・・・第
1の領域、4・・・第2の領域、5・・・第3の領域、
6・・・第゛4の領域、7,8・・・受光部、9,10
・・・2分割型受光部、11・・・レーザ光源、12・
・・コリメートレンズ、13・・・偏光ビームスプリッ
タ、14・・・に波長板、15・・・集光レンズ、16
・・・記録媒体、17・・・ハーフミラ−518・・・
2分割光検出器、19・・・収束レンズ、20・・・ナ
イフェツジ、21・・・シリンドリカルレンズ、30・
・・反射光ビーム、31 、32・・・O次回折光と1
次回折光との重なり部分。
Claims (1)
- 入射光ビームを分割して複数の光ビームを生成する光学
系と、この光学系で生成された前記光ビームを受光する
複数の受光部を有する光検出器とを備え:前記光学系は
、直交する2軸に軸対称となる形に略放射状に前記入射
光ビームを4つの領域に分割して4つの光ビームを生成
し、これら4つの光ビームを前記光検出器上の互いに異
なる受光部にそれぞれ導き、前記4つの領域の光ビーム
のうち前記入射光ビームの中心に関して対称な位置にあ
る2つの領域の光ビームは少なくとも前記受光部に収束
し;前記光検出器は、少なくとも2つの2分割型受光部
を有し、前記2分割型受光部において前記収束された光
ビームを受光することを特徴とする光スポット位置エラ
ー検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61065086A JP2788723B2 (ja) | 1986-03-24 | 1986-03-24 | 光スポツト位置エラー検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61065086A JP2788723B2 (ja) | 1986-03-24 | 1986-03-24 | 光スポツト位置エラー検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62222439A true JPS62222439A (ja) | 1987-09-30 |
JP2788723B2 JP2788723B2 (ja) | 1998-08-20 |
Family
ID=13276774
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61065086A Expired - Fee Related JP2788723B2 (ja) | 1986-03-24 | 1986-03-24 | 光スポツト位置エラー検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2788723B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01241028A (ja) * | 1988-03-22 | 1989-09-26 | Nec Corp | 光ピックアップ用スポット位置エラー検出系 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5746334A (en) * | 1980-09-01 | 1982-03-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Optical information reproducer |
-
1986
- 1986-03-24 JP JP61065086A patent/JP2788723B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5746334A (en) * | 1980-09-01 | 1982-03-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Optical information reproducer |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01241028A (ja) * | 1988-03-22 | 1989-09-26 | Nec Corp | 光ピックアップ用スポット位置エラー検出系 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2788723B2 (ja) | 1998-08-20 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |