JPH0125317Y2 - - Google Patents

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JPH0125317Y2
JPH0125317Y2 JP4675182U JP4675182U JPH0125317Y2 JP H0125317 Y2 JPH0125317 Y2 JP H0125317Y2 JP 4675182 U JP4675182 U JP 4675182U JP 4675182 U JP4675182 U JP 4675182U JP H0125317 Y2 JPH0125317 Y2 JP H0125317Y2
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JP
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sample
electrons
capsule
electron
emitted
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JP4675182U
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【考案の詳細な説明】 本考案は真空中で作動する表面分析装置、電子
線マイクロマナライザ、走査型電子顕微鏡等の表
面観察装置等の電子的分析装置において試料を真
空以外の環境例えば大気の存在下で分析、観察す
る場合に用いられる試料カプセルに関する。
上に列記したような真空中で作動する電子的分
析装置で、任意のガス雰囲気下での試料の分析観
察を行う場合、試料を照射電子線が透過し得る薄
膜の窓を有するカプセル内に密封して分析装置内
にセツトする必要がある。このような目的で従来
用いられていたカプセルは試料から放出される情
報線である電子をカプセルの薄膜窓を通して取出
し検出するようにしていた。即ち試料照射用電子
線の入射窓を通して試料から放出される電子線を
検出していた。しかし試料から放出される電子は
薄膜窓によつて吸収反射及び散乱を受けるためエ
ネルギーの低い2次電子は殆んど全くカプセル外
に取出すことができず比較的エネルギーの高い反
射電子でも吸収反射散乱のため電子検出器での捕
捉効率は低かつた。
本考案は上述したような従来の試料カプセルの
欠点を除き、試料から放出される電子線の検出感
度が高くかつ低エネルギーの電子線でも検出可能
とするような試料カプセルを提供しようとするも
のである。
本考案は壁の少くとも一部に入射電子検出機能
或は入射電子を他種信号に変換する機能を持たせ
たカプセルを提供するものである。以下実施例に
よつて本考案を説明する。
第1図は本考案の一実施例を示す。1は試料カ
プセルの本体、2は同本体内に収納された試料で
ある。カプセル本体1の上面開口には照射電子入
射窓用の薄膜3が張設され、カプセル内は気密に
封口されている。4は試料照射電子線である。カ
プセル本体1の側壁は一部が透明体の板5となつ
ている。この透明板5とカプセル本体の壁の他の
部分との間は接着剤で気密に接続されている。透
明板5の内面には螢光体の層6が形成してある。
従つて照射電子線4の照射を受けた試料から発射
する反射電子8のうち上記螢光体層6に入射した
ものは螢光体を励起して発光させ、その光が透明
板5の外側に配置された光電子増倍管7によつて
検出される。即ちこの試料カプセルと光電子増倍
管との組合せによつて試料からの反射電子を光信
号に変換して検出する反射電子検出装置が構成さ
れている。
こゝで上記第1図に示した本考案と第2図に示
す従来例を比較してみる。第2図においても第1
図の各部と対応する部分には同じ符号がつけてあ
る。第2図の場合試料から発射される反射電子8
のうち薄膜3を透過して反射電子検出器7′に向
うものだけが検出される。従つて第2図で反射電
子検出器7′が試料2の電子照射点に対して張る
立体角と第1図で透明板5の部分が試料の電子照
射点に対して張る立体角とが等しいとすると、一
定時間内に第2図の反射電子検出器7に入射する
電子の個数は薄膜3における吸収、反射、散乱
(この一部は検出器に入射するが比率として少い)
による損失分だけ第1図の透明板5に入射する反
射電子数よりも少い。しかも第2図で反射電子検
出器7′は通常光電子増倍管の前面にシンチレー
タを配置して入射電子を光に変換して検出してい
るので、入射電子を電流信号に変換する効率は第
1図において螢光層6により入射電子を光に変え
て光電子増倍管7で検出するのと同じである。従
つて第1図に示した本考案カプセルを用いる方が
第2図に示す従来例より反射電子検出効率は遥か
に良くなる。実際問題として第1図、第2図にお
ける検出器7,7′等は電子対物レンズとの関係
で任意に試料に近づけることは困難であるから、
第1図における透明板5が試料に対して張る立体
角は第2図で反射電子検出器7′が試料に対して
張る立体角より大きくできる。この効果は反面第
1図の場合、螢光体層6から発せられる螢光は4
方に放射されるので、シンチレータと光電子増倍
管とが接している第2図の反射電子検出器7′に
比し螢光の光電子増倍率への入射効率が低いと云
う問題があつて、相殺される。しかし、本考案の
カプセルを用いる場合、第1図で透明板5と光電
子増倍管7との間をオプチカルフアイバー或は反
射鏡とレンズを組合せた光学系等でつなぐことに
より螢光の光電子増倍管への入射効率を高めるこ
とが可能であるから、反射電子の吸収、反射、散
乱による損失がない点と広い立体角内の反射電子
を検出できると云う2点で本考案は従来例に比し
高い反射電子検出効率を得ることができるのであ
る。
上の説明は試料から出る反射電子の検出に関し
てのみ行われているが、本考案においては試料か
ら放射される電子をカプセル外に取出さないで検
出信号に変換するものであるから、第1図におい
て透明板5の外側に電子吸引電極を配置しておく
ことにより、試料2から放射された2次電子は螢
光体層6に向つて加速され、螢光体層6を2次電
子によつても発光させることができるから、反射
電子と共に2次電子も検出可能となる。或は螢光
体層6の内面にメタルコーテイングして、このコ
ーテイング層をカプセル本体1とは絶縁して適当
な正電圧電源に接続しておくことにより2次電子
の吸引加速と、螢光体層の電子入射によるチヤー
ジアツプの防止と、カプセル内方に向つて発射さ
れた螢光を光電子増倍管に向けて反射する光反射
層の3役を兼ねさせるようにしてもよい。
上述実施例ではカプセル本体の一方の側壁だけ
を透明板にしているが、左右両面或は4方の壁面
を夫々透明板にし、各側面で第1図に示したのと
同じ構成を採用するこことも可能である。また試
料から放射される電子を検出する方式も電子を光
に変換し、光を光電流に変換すると云う方式に限
定されない。カプセルの周側内面に他の部分とは
絶縁された電子吸収帯を形成し、試料から放射さ
れ、同電子吸収体に入射した電子を直接電流信号
に変換して検出するようにしてもよい。
本考案試料カプセルは上述したようにカプセル
内の試料から放射された電子を薄膜を通してカプ
セル外に取出して検出すると云うようなことをせ
ず、カプセル内面で適当な電子検出信号に変換す
るので、従来のような薄膜による吸収、反射、散
乱等による電子の損失がなく、試料から放射され
る電子線を効率よく検出することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例装置の縦断側面図、
第2図は縦来例の縦断側面図である。 1……カプセル本体、2……試料、3……薄
膜、4……試料照射電子線、5……透明板、6…
…螢光体層、7……光電子増倍管、8……反射電
子。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 試料照射用電子線入射開口に薄膜を気密に張設
    可能で、壁面の少くとも一部が入射電子を他の信
    号に変換する素子で構成されてなる電子的分析装
    置用試料カプセル。
JP4675182U 1982-03-30 1982-03-30 電子的分析装置用試料カプセル Granted JPS58148654U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4675182U JPS58148654U (ja) 1982-03-30 1982-03-30 電子的分析装置用試料カプセル

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JP4675182U JPS58148654U (ja) 1982-03-30 1982-03-30 電子的分析装置用試料カプセル

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Publication Number Publication Date
JPS58148654U JPS58148654U (ja) 1983-10-05
JPH0125317Y2 true JPH0125317Y2 (ja) 1989-07-28

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JP4675182U Granted JPS58148654U (ja) 1982-03-30 1982-03-30 電子的分析装置用試料カプセル

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6040012B2 (ja) * 2012-11-26 2016-12-07 株式会社日立ハイテクノロジーズ 試料台及び荷電粒子線装置及び試料観察方法
JP6239246B2 (ja) 2013-03-13 2017-11-29 株式会社日立ハイテクノロジーズ 荷電粒子線装置、試料観察方法、試料台、観察システム、および発光部材
JP6169506B2 (ja) * 2014-02-19 2017-07-26 株式会社日立ハイテクノロジーズ 試料ホルダ、観察システム、および画像生成方法
JP6330074B2 (ja) * 2017-03-21 2018-05-23 株式会社日立ハイテクノロジーズ 荷電粒子線装置、試料観察方法、試料台、観察システム、および発光部材

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JPS58148654U (ja) 1983-10-05

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