JPH01251330A - マルチビーム光ピックアップ - Google Patents
マルチビーム光ピックアップInfo
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- JPH01251330A JPH01251330A JP63127913A JP12791388A JPH01251330A JP H01251330 A JPH01251330 A JP H01251330A JP 63127913 A JP63127913 A JP 63127913A JP 12791388 A JP12791388 A JP 12791388A JP H01251330 A JPH01251330 A JP H01251330A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、マルチビーム光ピックアップに関する。
[従来の技術]
回転円盤状の記録担体上に2つの光束を互いに近接した
2つのスポットとして集光させ、記録・確認再生や、多
重記録・再生を行なうようにしたマルチビーム光ピック
アップの実用化が意図されている。かかるマルチビーム
光ピックアップで−方の光束で記録を行ない、他方の光
束で確認再生を行なえば、従来のシングルビーム方式の
光ピツクアップにおいて別々に行なっていた記録と確認
再生を、同時に行なうことが出来るので記録時間を短縮
出来るし、また2つの光束で同時に記録や再生を行なう
、多重記録・多重再生を行なうことも可能となる。
2つのスポットとして集光させ、記録・確認再生や、多
重記録・再生を行なうようにしたマルチビーム光ピック
アップの実用化が意図されている。かかるマルチビーム
光ピックアップで−方の光束で記録を行ない、他方の光
束で確認再生を行なえば、従来のシングルビーム方式の
光ピツクアップにおいて別々に行なっていた記録と確認
再生を、同時に行なうことが出来るので記録時間を短縮
出来るし、また2つの光束で同時に記録や再生を行なう
、多重記録・多重再生を行なうことも可能となる。
[発明が解決しようとする課題]
このようなマルチビーム光ピックアップでは、2つの光
束を記録担体上の所望のトラック上に適正に位置させる
ことが必要であり、このためには各光束ごとにトラック
サーボ信号を検出することが望ましい。しかしながら従
来提案されたマルチビーム光ピックアップでは各光束ご
とにトラックサーボ信号を検出できるものは知ら、れて
いない。
束を記録担体上の所望のトラック上に適正に位置させる
ことが必要であり、このためには各光束ごとにトラック
サーボ信号を検出することが望ましい。しかしながら従
来提案されたマルチビーム光ピックアップでは各光束ご
とにトラックサーボ信号を検出できるものは知ら、れて
いない。
本発明は上述した事情に鑑みてなされたものであって、
その目的とするところは2つの光束を使用するマルチビ
ーム光ピックアップを改良し、各光束に付いて、トラッ
クサーボ信号を検出しろるようにすることである。
その目的とするところは2つの光束を使用するマルチビ
ーム光ピックアップを改良し、各光束に付いて、トラッ
クサーボ信号を検出しろるようにすることである。
[課題を解決するための手段]
以下、本発明を説明する。
本明細書に於いては2種のマルチビーム光ピックアップ
が提案される。
が提案される。
請求項1のマルチビーム光ピツクアップは、半導体レー
ザーアレイからの2つの光束を回転円盤状の記録担体上
に互いに近接したスポットとして集光させ、一つの光束
で書込を行ない、別の光束で確認再生を行なうマルチビ
ーム光ピックアップであって、記録担体からの反射光を
2分する光路分離手段と、この光路分離手段により分離
された一方の光束で光磁気信号とフォーカスサーボ信号
とを検出する第1の検出手段と、他方の光束で上記2つ
のスポットに対するトラックサーボ信号を検出する第2
の検出手段とを有する点に特徴がある。また、このマル
チビーム光ピックアップは、半導体レーザーアレイを光
源に用いるマルチビーム光ピックアップでは従来検出出
来なかった光磁気信号を検出可能にした点も特徴の一つ
である。
ザーアレイからの2つの光束を回転円盤状の記録担体上
に互いに近接したスポットとして集光させ、一つの光束
で書込を行ない、別の光束で確認再生を行なうマルチビ
ーム光ピックアップであって、記録担体からの反射光を
2分する光路分離手段と、この光路分離手段により分離
された一方の光束で光磁気信号とフォーカスサーボ信号
とを検出する第1の検出手段と、他方の光束で上記2つ
のスポットに対するトラックサーボ信号を検出する第2
の検出手段とを有する点に特徴がある。また、このマル
チビーム光ピックアップは、半導体レーザーアレイを光
源に用いるマルチビーム光ピックアップでは従来検出出
来なかった光磁気信号を検出可能にした点も特徴の一つ
である。
請求項2のマルチビーム光ピックアップは、2つの光束
を回転円盤状の記録担体上に互いに近接した2つのスポ
ットとして集光させ、記録・確認再生や、多重記録再生
を行なうようにしたマルチビーム光ピックアップであっ
て、記録担体からの反射光を2分する光路分離手段と、
上記反射光に非点収差を与える非点収差発生手段と、上
記光路分離手段により分離した光路における第1の焦線
位置において、一方の光路では第1ビーム、他方の光路
では第2ビームを遮光する遮光手段と、遮光されなかっ
た各ビームを受光する4分割受光素子とを有し、各ビー
ムがら独立にRF倍信号トラックサーボ信号、フォーカ
スサーボ信号を検出するようにした点を特徴とする。
を回転円盤状の記録担体上に互いに近接した2つのスポ
ットとして集光させ、記録・確認再生や、多重記録再生
を行なうようにしたマルチビーム光ピックアップであっ
て、記録担体からの反射光を2分する光路分離手段と、
上記反射光に非点収差を与える非点収差発生手段と、上
記光路分離手段により分離した光路における第1の焦線
位置において、一方の光路では第1ビーム、他方の光路
では第2ビームを遮光する遮光手段と、遮光されなかっ
た各ビームを受光する4分割受光素子とを有し、各ビー
ムがら独立にRF倍信号トラックサーボ信号、フォーカ
スサーボ信号を検出するようにした点を特徴とする。
[作 用コ
このように、請求項1のマルチビーム光ピックアップで
は、その光源として半導体レーザーアレイを用い、記録
担体がらの反射光を光路分離手段により2光束に分離す
る。そして一方の光束から光磁気信号とフォーカスサー
ボ信号を検出し、他方の光束から2スポツトの個々に対
するトラックサーボ信号を特徴する 請求項2のマルチビーム光ピックアップは、光源として
は半導体レーザーアレイの他にも用いることが出来、ま
た、光磁気信号を検出するように構成することもできる
。記録媒体からの反射光は非点収差を与えられ、且つ2
光路に分離される。
は、その光源として半導体レーザーアレイを用い、記録
担体がらの反射光を光路分離手段により2光束に分離す
る。そして一方の光束から光磁気信号とフォーカスサー
ボ信号を検出し、他方の光束から2スポツトの個々に対
するトラックサーボ信号を特徴する 請求項2のマルチビーム光ピックアップは、光源として
は半導体レーザーアレイの他にも用いることが出来、ま
た、光磁気信号を検出するように構成することもできる
。記録媒体からの反射光は非点収差を与えられ、且つ2
光路に分離される。
従って、分離した2光路で各ビーム(よ非点収差により
焦線を結像するがその第1の焦線位置にて、一方の光路
では第1ビームが、他方の光路では第2ビームが遮光さ
れる。そして遮光されないビームはそれぞれ4分割受光
素子に受光されて、それぞれRF倍信号トラックサーボ
信号、フォーカスサーボ信号を発生させる。
焦線を結像するがその第1の焦線位置にて、一方の光路
では第1ビームが、他方の光路では第2ビームが遮光さ
れる。そして遮光されないビームはそれぞれ4分割受光
素子に受光されて、それぞれRF倍信号トラックサーボ
信号、フォーカスサーボ信号を発生させる。
[実施例コ
以下、具体的な実施例に即して説明する。
第1図は、請求項1の発明の1実施例を示している。第
1図(A)に於いて、発光点を2つ有する半導体レーザ
ーアレイ即ちLDアレイ10から放射された2つの光束
は、共通の照明用光路を構成する光学系即ちカップリン
グレンズ12、ビーム整形プリズム13、ビームスプリ
ッタ−14、偏向ミラー15、対物レンズ16を介して
記録担体としての光デイスク50上に2つのスポットと
して集光する。
1図(A)に於いて、発光点を2つ有する半導体レーザ
ーアレイ即ちLDアレイ10から放射された2つの光束
は、共通の照明用光路を構成する光学系即ちカップリン
グレンズ12、ビーム整形プリズム13、ビームスプリ
ッタ−14、偏向ミラー15、対物レンズ16を介して
記録担体としての光デイスク50上に2つのスポットと
して集光する。
第1図(B)に示すようにLDアレイ10から放射され
る光束をA、Bとすると、これらは光デイスク50上に
は同一のトラックTr上にそれぞれスポットSA、 S
Bとして集光する。光ディスク50は矢印方向へ回転す
るのでトラックTrの移動に関してスポットSAがSH
に対して先行している。先行する光束SAは書き込みを
行ない、後行する光束SBは確認再生を行なう。
る光束をA、Bとすると、これらは光デイスク50上に
は同一のトラックTr上にそれぞれスポットSA、 S
Bとして集光する。光ディスク50は矢印方向へ回転す
るのでトラックTrの移動に関してスポットSAがSH
に対して先行している。先行する光束SAは書き込みを
行ない、後行する光束SBは確認再生を行なう。
さて、光ディスク50により反射された光束A。
Bは、第1図(A)に示すように対物レンズ16、偏向
ミラー15を介してビームスプリッタ−14に入射し、
同スプリッター14により反射されることにより上記照
明用光路から分離し、集光レンズ18によ′ り集光
光束となる。
ミラー15を介してビームスプリッタ−14に入射し、
同スプリッター14により反射されることにより上記照
明用光路から分離し、集光レンズ18によ′ り集光
光束となる。
この集光光束は、その一部が光路分離手段としてのナイ
フェツジプリズム20により反射され、残りは、172
波長板22に入射する。同波長板22を透過した光束即
ち光路分離手段としてのナイフェツジプリズム20によ
り分離した一方の光束は、さらにウォラストンプリズム
24を透過し、受光素子26に入射する。
フェツジプリズム20により反射され、残りは、172
波長板22に入射する。同波長板22を透過した光束即
ち光路分離手段としてのナイフェツジプリズム20によ
り分離した一方の光束は、さらにウォラストンプリズム
24を透過し、受光素子26に入射する。
ナイフェツジプリズム20により反射されることにより
分離された他方の光束は、シリンダーレンズ28を介し
て受光素子36に入射する・。
分離された他方の光束は、シリンダーレンズ28を介し
て受光素子36に入射する・。
集光レンズ18.172波長板22、ウォラストンプリ
ズム24、受光素子26は、この実施例に於いて第1の
検出手段を構成し、シリンダーレンズ28と受光素子3
0とは上記集光レンズ18とともにこの実施例に於いて
第2の検出手段を構成している。
ズム24、受光素子26は、この実施例に於いて第1の
検出手段を構成し、シリンダーレンズ28と受光素子3
0とは上記集光レンズ18とともにこの実施例に於いて
第2の検出手段を構成している。
即ち、集光レンズ18は、第1、第2の検出手段に共通
化されている。
化されている。
172波長板22を透過することで各光束は偏光方向が
略45度回転する。この172波長板22はビームスプ
リッタ−14とウォラストンプリズム24の間のどの位
置にあっても良い。
略45度回転する。この172波長板22はビームスプ
リッタ−14とウォラストンプリズム24の間のどの位
置にあっても良い。
ウォラストンプリズム24を透過した光はS成分とP成
分とがZ方向に分離する。また、第1図(B)に示すよ
うに、受光素子26に入射する光束は、光束A即ち先行
する光束の反射光が実線で示すように、また、光束Bの
反射光が破線で示すように、互いにY方向に分離してい
るので、結局、受光素子26に入射する光束は4ビーム
に分離している。
分とがZ方向に分離する。また、第1図(B)に示すよ
うに、受光素子26に入射する光束は、光束A即ち先行
する光束の反射光が実線で示すように、また、光束Bの
反射光が破線で示すように、互いにY方向に分離してい
るので、結局、受光素子26に入射する光束は4ビーム
に分離している。
受光素子26は、その受光面が第1図(C)に示すよう
に受講部C−H憾分離しており°、これら各受光部は、
受光量に応じた光電変換信号c−hを出力する。第1図
(C)に於いて、受光部C,E、 Gに入射するのはP
偏光成分、受光部り、 F、 Hに入射するのはS偏光
成分であり、また、受光部C,Dに入射するのは後行す
る光束Bの反射光であり、受光部E、 F、 G。
に受講部C−H憾分離しており°、これら各受光部は、
受光量に応じた光電変換信号c−hを出力する。第1図
(C)に於いて、受光部C,E、 Gに入射するのはP
偏光成分、受光部り、 F、 Hに入射するのはS偏光
成分であり、また、受光部C,Dに入射するのは後行す
る光束Bの反射光であり、受光部E、 F、 G。
Hに入射するのは先行する光束への反射光である。
第1図(C)中央の図に示すように、光束Aのスポット
SAが合焦状態のとき、この光束・Aが受光部EとG、
FとHの分割線上に集光するようにすれば、デフォーカ
スが生じたときは、第1図(C)の左右の図のように受
光部EとG、FとHの受光量に差がでるので(e十f)
−(g+h)をフォーカスサーボ信号として焦点制御を
行なうことにより、光束Aを常に光ディスク50の記録
面上に合焦させることができる。
SAが合焦状態のとき、この光束・Aが受光部EとG、
FとHの分割線上に集光するようにすれば、デフォーカ
スが生じたときは、第1図(C)の左右の図のように受
光部EとG、FとHの受光量に差がでるので(e十f)
−(g+h)をフォーカスサーボ信号として焦点制御を
行なうことにより、光束Aを常に光ディスク50の記録
面上に合焦させることができる。
また、光束Bはその集光位置が光束Aの集光位置と近接
しているので、光束Aをフォーカシングすることにより
光束Bの合焦も実現される。
しているので、光束Aをフォーカシングすることにより
光束Bの合焦も実現される。
このフォーカスサーボ制御は周知のナイフェツジ方式で
あり、ナイフェツジミラー20がナイフェツジの作用を
果たしている。
あり、ナイフェツジミラー20がナイフェツジの作用を
果たしている。
なお、第2図(A)に示すように8分割の受光素子25
を受光素子26の替わりに用いてナイフェツジ方式の焦
点制御を行なえば、両光束A、Bに付いて合焦制御を行
なうことが出来るし、第2図(B)に示すような5分割
の受光素子27を受光素子26の替わりに用いれば、S
偏光の光束Aに付いてナイフェツジ方式の焦点制御を0
行なうことができる。
を受光素子26の替わりに用いてナイフェツジ方式の焦
点制御を行なえば、両光束A、Bに付いて合焦制御を行
なうことが出来るし、第2図(B)に示すような5分割
の受光素子27を受光素子26の替わりに用いれば、S
偏光の光束Aに付いてナイフェツジ方式の焦点制御を0
行なうことができる。
また、受光素子26から得られる信号(c−d)を作る
とこの信号は後行する光束Bに関するP偏光成分とS偏
光成分の差に当たるものであるから、この信号をもって
光磁気信号とすることができる。
とこの信号は後行する光束Bに関するP偏光成分とS偏
光成分の差に当たるものであるから、この信号をもって
光磁気信号とすることができる。
従って、先行する光束Aが書き込んだ光磁気信号を上記
信号を用いて確認再生できる。また、信号(e+g)−
(f+h)を用いると光束Aに関する光磁気信号を検出
できる。このようにして、第1の検出手段によりフォー
カスサーボ信号と光磁気信号とを検出できる。
信号を用いて確認再生できる。また、信号(e+g)−
(f+h)を用いると光束Aに関する光磁気信号を検出
できる。このようにして、第1の検出手段によりフォー
カスサーボ信号と光磁気信号とを検出できる。
つぎに、第2の検出手段によるトラックサーボ信号の検
出を説明する。
出を説明する。
ナイフェツジミラー20により反射されて分離された他
方の光束は、第1図(B)に示すようにパワーの無い方
向をZ方向に向けて配備されたシリンダーレンズ28を
透過することにより非点収差を与えられる。そして、こ
の光束は、第1図(D)に示すように、受光面をP、
Q、 R,Sに4分割された受光素子30に入射する。
方の光束は、第1図(B)に示すようにパワーの無い方
向をZ方向に向けて配備されたシリンダーレンズ28を
透過することにより非点収差を与えられる。そして、こ
の光束は、第1図(D)に示すように、受光面をP、
Q、 R,Sに4分割された受光素子30に入射する。
受光部Q、 Sに入射するのは光束Aであり、受光部P
、 Rに入射するのは光束Bである。シリンダーレンズ
28による非点収差を利用し、スポットSA、 SBと
も同一トラックTr上に在るとき第1図(D)の中央の
図のように、各光束A、Hの光束断面形状が2方向に長
い長円状となり受光部P、 Q、 R,Sから得られる
信号p、q、r、Sがp”rt q”sとなるようにす
れば、トラックずれが生ずると第1図(D)の上下の図
のように、受光部PとR,QとSの受光量のバランスが
崩れるので信号(p−r)により光束Bの、また、信号
(q−s)により光束Aのトラックサーボ信号を検出で
き、これらトラックサーボ信号に基づく、公知のプッシ
ュプル法によりトラック制御を行ない、スポットSA、
SBを正しくトラックTr上に集光させることができ
る。
、 Rに入射するのは光束Bである。シリンダーレンズ
28による非点収差を利用し、スポットSA、 SBと
も同一トラックTr上に在るとき第1図(D)の中央の
図のように、各光束A、Hの光束断面形状が2方向に長
い長円状となり受光部P、 Q、 R,Sから得られる
信号p、q、r、Sがp”rt q”sとなるようにす
れば、トラックずれが生ずると第1図(D)の上下の図
のように、受光部PとR,QとSの受光量のバランスが
崩れるので信号(p−r)により光束Bの、また、信号
(q−s)により光束Aのトラックサーボ信号を検出で
き、これらトラックサーボ信号に基づく、公知のプッシ
ュプル法によりトラック制御を行ない、スポットSA、
SBを正しくトラックTr上に集光させることができ
る。
かくして、記録情報は光束Aにより正しく書き込まれ、
後行する光束Bは同一トラックTr上を辿りつつ直前に
書き込まれた情報により変調されるので受光素子26の
出力により確認再生を行なうことが出来る。
後行する光束Bは同一トラックTr上を辿りつつ直前に
書き込まれた情報により変調されるので受光素子26の
出力により確認再生を行なうことが出来る。
また、ライトワンス方式等、反射考量を検知する場合に
は、たとえば信号(p+r)、 (p+s)等を採れば
良い。
は、たとえば信号(p+r)、 (p+s)等を採れば
良い。
第3図は請求項1の発明の別実施例の特徴部分のみを示
している。この特徴部分は、第1の検出手段の一部であ
り、第1図の実施例におけるウォラストンプリズム24
と受光素子26との部分に対応するものであり、この部
分を第3図に示すように偏光ビームスプリッタ−23と
、2つの3分割受光素子25A、 25Bで置き換えて
も良い。
している。この特徴部分は、第1の検出手段の一部であ
り、第1図の実施例におけるウォラストンプリズム24
と受光素子26との部分に対応するものであり、この部
分を第3図に示すように偏光ビームスプリッタ−23と
、2つの3分割受光素子25A、 25Bで置き換えて
も良い。
例えば、受光部に、 L、 M、 Nかの得られる信号
に、I、m、nを組合せて(k+m)−(1+n)を用
いて光束Aの焦点制御を行なうことが出来るし、(k+
1)−(m+n)を用いて光束Aの光磁気信号を検出で
きる。
に、I、m、nを組合せて(k+m)−(1+n)を用
いて光束Aの焦点制御を行なうことが出来るし、(k+
1)−(m+n)を用いて光束Aの光磁気信号を検出で
きる。
上の説明では、先行する光束Aで書込を行ない、光束B
で確認再生を行なったが、光束Bで書き込みを行ない、
これを光ディスク50の1回転後に光束Aで確認再生し
ても良い。従って、各光束の機能として、一方が書き込
み、消去、及び再生を行なうようにし、他方が確認再生
を行なうなど多くの組合せが可能である。
で確認再生を行なったが、光束Bで書き込みを行ない、
これを光ディスク50の1回転後に光束Aで確認再生し
ても良い。従って、各光束の機能として、一方が書き込
み、消去、及び再生を行なうようにし、他方が確認再生
を行なうなど多くの組合せが可能である。
以下には、請求項2の発明の実施例を示す。
第4図は、請求項2の発明の1実施例を示す。
この実施例は、光磁気信号の記録再生を行なう方式のマ
ルチビーム光ピックアップである。なお、煩雑を避ける
ため、混同の畏れが無いと思われるものについては、第
1図におけると同一の符号を用いた。光源たるLDアレ
イ10からの光束A、 Bが共通の照明用光路を通って
光ディスクのトラックTr上に導かれること、光ディス
クからの反射光がビームスプリッタ−14ニより反射さ
れて照明用光路から分離することは、第1図の実施例の
場合と同様である。
ルチビーム光ピックアップである。なお、煩雑を避ける
ため、混同の畏れが無いと思われるものについては、第
1図におけると同一の符号を用いた。光源たるLDアレ
イ10からの光束A、 Bが共通の照明用光路を通って
光ディスクのトラックTr上に導かれること、光ディス
クからの反射光がビームスプリッタ−14ニより反射さ
れて照明用光路から分離することは、第1図の実施例の
場合と同様である。
さて、第4図(I)に於いて照明用光路から分離した反
射光は、光路分離手段を構成する張合わせ172波長板
70と偏光ビームスプリッタ−50とにより2光路に分
離される。張合わせ172波長板70は第4r!!J(
II)に示すごとき物である。
射光は、光路分離手段を構成する張合わせ172波長板
70と偏光ビームスプリッタ−50とにより2光路に分
離される。張合わせ172波長板70は第4r!!J(
II)に示すごとき物である。
光路分離手段により分離された光路の一方には、集光レ
ンズ52とシリンダーレンズ54による非点収差発生手
段が、また、他方の光路には集光レンズ60とシリンダ
ーレンズ62とからなる非点収差発生手段が配備される
。そして各光路にはさらに、遮光手段たる遮光部材56
.64と4分割受光素子58.66が配備される。今、
偏光ビームスプリッタ−50を透過した反射光による光
路に付いて見ると、この光路を進む反射光成分は、集光
レンズ52により集光光束となってシリンダーレンズ5
4に入射し、非点収差を与えられる。この反射光成分は
集光しつつ集光レンズ54の作用により、第7図に示す
ように、光束への成分即ち第1ビームと光束Bの成分即
ち第2ビームに分離する。第7図(I)〜(X)は非点
収差の影響で、第1ビーム、第2ビームが次第に分離し
つつ、その光束断面形状を変化する状態を示している。
ンズ52とシリンダーレンズ54による非点収差発生手
段が、また、他方の光路には集光レンズ60とシリンダ
ーレンズ62とからなる非点収差発生手段が配備される
。そして各光路にはさらに、遮光手段たる遮光部材56
.64と4分割受光素子58.66が配備される。今、
偏光ビームスプリッタ−50を透過した反射光による光
路に付いて見ると、この光路を進む反射光成分は、集光
レンズ52により集光光束となってシリンダーレンズ5
4に入射し、非点収差を与えられる。この反射光成分は
集光しつつ集光レンズ54の作用により、第7図に示す
ように、光束への成分即ち第1ビームと光束Bの成分即
ち第2ビームに分離する。第7図(I)〜(X)は非点
収差の影響で、第1ビーム、第2ビームが次第に分離し
つつ、その光束断面形状を変化する状態を示している。
集光レンズ52による結像機能とシリンダーレンズ54
の作用により、両ビームは第1焦線位置XI(第7図(
VI))に於いてまず線状に結像し、その後Y1で示す
位置に於いて円形の断面形状となり(VIII’)、第
2の焦線位置Zl (X)に於いて、再び線状に結像す
る。遮光部材56は、第7図に示すようにナイフェツジ
を有する遮光性の板であり、同図に示す゛ように第1ビ
ーム即ち光束Aの反射光成分を遮光する。従って、受光
素子58には光束Bの反射光成分が入射する。受光素子
58は前述の如く4分割受光素子であり、第7図の符号
Y1で示す位置に設けられる。そして、この受光素子5
8の4つの受光部の出力の組み合わせにより、4分割受
光素子を用いる公知の方法で、光束Bに対するRF倍信
号トラックサーボ信号、フォーカスサーボ信号が得られ
る。
の作用により、両ビームは第1焦線位置XI(第7図(
VI))に於いてまず線状に結像し、その後Y1で示す
位置に於いて円形の断面形状となり(VIII’)、第
2の焦線位置Zl (X)に於いて、再び線状に結像す
る。遮光部材56は、第7図に示すようにナイフェツジ
を有する遮光性の板であり、同図に示す゛ように第1ビ
ーム即ち光束Aの反射光成分を遮光する。従って、受光
素子58には光束Bの反射光成分が入射する。受光素子
58は前述の如く4分割受光素子であり、第7図の符号
Y1で示す位置に設けられる。そして、この受光素子5
8の4つの受光部の出力の組み合わせにより、4分割受
光素子を用いる公知の方法で、光束Bに対するRF倍信
号トラックサーボ信号、フォーカスサーボ信号が得られ
る。
一方、偏光ビームスプリッタ−50により反射されて分
離された光路でも同様のことが行なわれるが、こちらの
光路では、遮光部材64が第2ビーム即ち光束Bの反射
光成分を遮光し、遮光されない第1ビームは4分割受光
素子66(第1ビームの光束断面が真円となる位置に設
けられる)に入射する。従って、この受光素子66の出
力により光束Aに関するRF倍信号トラックサーボ信号
、フォーカスサーボ信号が得られる。かくして、この実
施例では、光束A、Bの双方に付き独立してRF倍信号
トラックサーボ信号、フォーカスサーボ信号が得られる
。
離された光路でも同様のことが行なわれるが、こちらの
光路では、遮光部材64が第2ビーム即ち光束Bの反射
光成分を遮光し、遮光されない第1ビームは4分割受光
素子66(第1ビームの光束断面が真円となる位置に設
けられる)に入射する。従って、この受光素子66の出
力により光束Aに関するRF倍信号トラックサーボ信号
、フォーカスサーボ信号が得られる。かくして、この実
施例では、光束A、Bの双方に付き独立してRF倍信号
トラックサーボ信号、フォーカスサーボ信号が得られる
。
第5へ図は、請求項2の発明の別実施例を示している。
この装置はライトワンス方式等に用いられるマルチビー
ム光ピックアップであり、光磁気信号ではなく、光ディ
スクからの反射光の強度を検出するので、分離手段とし
てはよ第4図の分離手段に替えて、ビームスプリッタ−
51が用いられており、非点収差発生手段、遮光部材、
4分割受光素子等の配設は、第4図の実施例とまったく
同一であり、光束A、Hのそれぞれに付いてRF倍信号
トラックサ・−ポ信号、フォーカスサーボ信号を得る方
法も、第4図の実施例の場合と全く同じである。
ム光ピックアップであり、光磁気信号ではなく、光ディ
スクからの反射光の強度を検出するので、分離手段とし
てはよ第4図の分離手段に替えて、ビームスプリッタ−
51が用いられており、非点収差発生手段、遮光部材、
4分割受光素子等の配設は、第4図の実施例とまったく
同一であり、光束A、Hのそれぞれに付いてRF倍信号
トラックサ・−ポ信号、フォーカスサーボ信号を得る方
法も、第4図の実施例の場合と全く同じである。
第6図は、請求項2の発明における第4図の実施例の変
形例を示している。
形例を示している。
この変形例においては、非点収差発生手段が、2面のシ
リンダー面を互いに直交的に組合せた単一のレンズ72
であり、このレンズ72は光路分離手段(張合わせ17
2波長板70と偏光ビームスプリッタ−50で構成され
る)の前段に配備され・ている。
リンダー面を互いに直交的に組合せた単一のレンズ72
であり、このレンズ72は光路分離手段(張合わせ17
2波長板70と偏光ビームスプリッタ−50で構成され
る)の前段に配備され・ている。
この例では、第4図の例に比べ、非点収差発生手段が1
個で足り、且つピックアップ全体をコンパクトに纏める
ことができる。
個で足り、且つピックアップ全体をコンパクトに纏める
ことができる。
[発明の効果コ
以上、本発明によれば新規なマルチビーム光ピックアッ
プを提供できる。
プを提供できる。
請求項1,2の発明とも2光束のそれぞれに対してトラ
ックサーボ信号を得ることができる。また、請求項1の
発明ではLDアレイを光源として用いながら光磁気信号
を再生でき、゛従って光磁気記録方式にもライトワンス
方式にも使用できる。
ックサーボ信号を得ることができる。また、請求項1の
発明ではLDアレイを光源として用いながら光磁気信号
を再生でき、゛従って光磁気記録方式にもライトワンス
方式にも使用できる。
また、請求項2の発明も、光磁気記録方式にも、通常の
ライトワンス方式等にも適用でき、4つの光束のそれぞ
れに付いて、RF倍信号フォーカシング信号を得ること
ができる。
ライトワンス方式等にも適用でき、4つの光束のそれぞ
れに付いて、RF倍信号フォーカシング信号を得ること
ができる。
何れの発明も構成が簡素であるので耐環境性、耐久性に
優れ、信頼性が高い。
優れ、信頼性が高い。
第1図は、請求項1の発明の1実施例を説明するための
図、第2図は、上記実施例の変形例を説明するための図
、第3図は、請求項1の発明の別実施例を説明するため
の図、第4図は、請求項2の発明の1実施例を説明する
ための図、第5図は、請求項2の発明の別実施例を示す
図、第6図は、請求項2の発明の他の実施例を示す図、
第7図は、請求項2の発明の特徴部分を説明するための
図である。 10、、、半導体レーザーアレイ、20. 、 、光路
分離手段としてのプリズムミラーA、 B、 、 、光
束、SA、 SB、 。 、スポット、26,30.、、受光素子、51.、、光
路分離手段としてのビームスプリッタ−154,62,
、、シリンダーレンズ、58.68. 、 、4分割受
光素子、56.64. 、 。 慶2図 (A) 憑)図 (C) ′ 図 (B) <D) 馬4 図 岸 6 図 (II) <’z (y> 、ユク (v) (20(■) Yl−・:)o へ■) glも (K) z/+m’・、\ (X)
図、第2図は、上記実施例の変形例を説明するための図
、第3図は、請求項1の発明の別実施例を説明するため
の図、第4図は、請求項2の発明の1実施例を説明する
ための図、第5図は、請求項2の発明の別実施例を示す
図、第6図は、請求項2の発明の他の実施例を示す図、
第7図は、請求項2の発明の特徴部分を説明するための
図である。 10、、、半導体レーザーアレイ、20. 、 、光路
分離手段としてのプリズムミラーA、 B、 、 、光
束、SA、 SB、 。 、スポット、26,30.、、受光素子、51.、、光
路分離手段としてのビームスプリッタ−154,62,
、、シリンダーレンズ、58.68. 、 、4分割受
光素子、56.64. 、 。 慶2図 (A) 憑)図 (C) ′ 図 (B) <D) 馬4 図 岸 6 図 (II) <’z (y> 、ユク (v) (20(■) Yl−・:)o へ■) glも (K) z/+m’・、\ (X)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、半導体レーザーアレイからの2つの光束を回転円盤
状の記録担体上に互いに近接したスポットとして集光さ
せ、一つの光束で書込を行ない、別の光束で確認再生を
行なうマルチビーム光ピックアップであつて、 記録担体からの反射光を2分する光路分離手段と、この
光路分離手段により分離された一方の光束で光磁気信号
とフォーカスサーボ信号とを検出する第1の検出手段と
、他方の光束で上記2つのスポットに対するトラックサ
ーボ信号を検出する第2の検出手段と、を有することを
特徴とするマルチビーム光ピックアップ。 2、2つの光束を回転円盤状の記録担体上に互いに近接
した2つのスポットとして集光させ、記録・確認再生や
、多重記録再生を行なうようにしたマルチビーム光ピッ
クアップであつて、 記録担体からの反射光を2分する光路分離手段と、上記
反射光に非点収差を与える非点収差発生手段と、上記光
路分離手段により分離した各光路における第1の焦線位
置において、一方の光路では第1ビーム、他方の光路で
は第2ビームを遮光する遮光手段と、遮光されなかった
各ビームを受光する4分割受光素子とを有し、各ビーム
から独立にRF信号、トラックサーボ信号、フォーカス
サーボ信号を検出するようにしたマルチビーム光ピック
アップ。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63127913A JPH01251330A (ja) | 1987-12-28 | 1988-05-25 | マルチビーム光ピックアップ |
US07/291,126 US5105410A (en) | 1987-12-28 | 1988-12-28 | Multi-beam optical pick-up |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62-332123 | 1987-12-28 | ||
JP33212387 | 1987-12-28 | ||
JP63127913A JPH01251330A (ja) | 1987-12-28 | 1988-05-25 | マルチビーム光ピックアップ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01251330A true JPH01251330A (ja) | 1989-10-06 |
Family
ID=26463741
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63127913A Pending JPH01251330A (ja) | 1987-12-28 | 1988-05-25 | マルチビーム光ピックアップ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01251330A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0543505A1 (en) * | 1991-10-22 | 1993-05-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Plural-beam optical head |
JPH0652023U (ja) * | 1992-11-30 | 1994-07-15 | 財団法人工業技術研究院 | 回転型光学系 |
-
1988
- 1988-05-25 JP JP63127913A patent/JPH01251330A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0543505A1 (en) * | 1991-10-22 | 1993-05-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Plural-beam optical head |
US5353274A (en) * | 1991-10-22 | 1994-10-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Beam diameter expansion of a multi-beam optical information system |
JPH0652023U (ja) * | 1992-11-30 | 1994-07-15 | 財団法人工業技術研究院 | 回転型光学系 |
JP2542858Y2 (ja) * | 1992-11-30 | 1997-07-30 | 財団法人工業技術研究院 | 光磁気ヘッド |
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