JPH0123434B2 - - Google Patents
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Description
本発明はセラミツク半導体の個々の粒子の表面
がセラミツク内に拡散する非導電性材料の層で絶
縁されている粒界障壁層セラミツクコンデンサに
関するものである。 粒界障壁層セラミツクコンデンサ(また内部ま
たは粒子間障壁層セラミツクと称せられる)は業
界ではよく知られている。かかるコンデンサ用の
材料系は、代表的にはチタン酸バリウム
(BaTiO3)またはチタン酸ストロンチウム
(SrTiO3)をもとにする。これ等のベース材料
は、粒子の生長を促進しベースセラミツク材料の
半導電性を向上させるために種々遷移金属および
稀土類元素の添加によりドープされる。更に、こ
れ等のドープ剤は、これ等の材料系を利用するコ
ンデンサの種々の電気特性を改善する。次いで焼
結した半導電性セラミツク体は、セラミツク体に
絶縁材料を拡散させて半導電性セラミツク粒子の
まわりに連続する絶縁境界を設ける処理がなされ
る。 チタン酸バリウムに基づく粒界障壁層セラミツ
クは米国特許第3473958号および第3569802号明細
書に記載されている。チタン酸バリウムはその誘
電率が高いので魅力あるベース材料であるが、コ
ンデンサの操作温度の代表的範囲内でキユリー・
ピークを有するという欠点を有し、この結果他の
電気特性、例えば抵抗率が劣り、制御するのが困
難である。 チタン酸ストロンチウムは、チタン酸バリウム
より誘電率が低いが、最近粒界障壁層セラミツク
コンデンサ用の優れたベース材料を提供すること
を見出した。チタン酸ストロンチウムは関心のあ
る温度範囲外でキユリー・ピークを示し、その系
を使用して散逸率、抵抗率および破壊電圧の如き
性質がチタン酸バリウムコンデンサより改善され
たコンデンサを供給することができる。チタン酸
ストロンチウム粒界障壁層コンデンサ用の材料系
の例は米国特許第3933668号および特開昭51−
143900号(特願昭50−68699号)明細書に披瀝さ
れている。 種々の変性によりつくられたチタン酸ストロン
チウム系の米国特許第3933688号に記載されてい
るコンデンサはキヤパシタンスが−30℃〜+85℃
の範囲に亘り室温値から15%程度の低い変化を示
す。然し、工業上キヤパシタンスの変化を測定す
る代表的実際の最大温度範囲は−55℃〜+125℃
である。この範囲に亘り、上記特許において披瀝
されているコンデンサのキヤパシタンスの変化は
約24%(−55℃における−12%から125℃におけ
る+12%まで)。この変化値は多くの用途では受
入れられない。前記特開昭51−143900号明細書に
は−30℃〜80℃の温度範囲において+9%〜−8
%(全変化17%)の最適キヤパシタンス変化を有
する変性されたチタン酸ストロンチウム粒界障壁
層コンデンサが記載されている。然し、−55℃〜
+125℃の関心ある最大範囲に亘り、変化は披瀝
されているものより著しく大であるようである。
従つて良好な温度安定性は他の材料系のいずれに
よつても与えられない。 セラミツク材料にランタニド系列稀土類をドー
プすることにより粒界障壁層コンデンサをつくる
際使用するチタン酸ストロンチウムを変性するこ
とも知られている。ランタンはドナー・ドープ剤
として作用してチタン酸ストロンチウムを半導電
性による。前記特開昭51−143900号明細書には、
0.02〜0.36モル%の範囲の極めて少量を添加する
ことが記載されている。このランタン添加の上限
は絶対的であると認められ、0.36モル%以上の分
量ではコンデンサの種々の特性に悪影響を及ぼす
と報告されている。然し組成物中のドナー・ドー
プ剤の濃度が低いと制御するのが困難であり、通
常高純度の原料を使用する必要がある。高純度で
ない場合には、原料または前駆物質中の低濃度の
不純物がドープ剤を汚染し、意図する効果を著し
く減ずるかまたはなくす。 前述の如く、ドープした焼結セラミツクの粒界
を、焼結より低温度で次に拡散処理することによ
り絶縁することが望ましい。かかる拡散処理は前
記米国特許第3933668号明細書に披瀝されている。
然し、この絶縁拡散処理が達成される温度は1000
〜1300℃の範囲であり、従つて拡散処理後まで銀
または他の低融点電極材料の塗布を回避する。こ
のことにより他の処理工程を必要とすることは勿
論である。 本発明においては、チタン酸ストロンチウム
(SrTiO3)に基づく半導電性セラミツクを、アル
ミン酸ランタン(LaAlO3)、アルミン酸の他の
ランタニド系列の稀土類塩および/またはチタン
酸の稀土塩類(Ln0.66TiO3)から成る成分の一次
結合2〜6モル%で変性する。LaCrO3またはラ
ンタニド酸化物および遷移金属酸化物に基づく他
の複金属酸化物の置換を、上記2〜6モル%の一
次結合の50%までに対して行うことができる。こ
れ等の物質を還元性雰囲気で焼結して濃密な半導
電性セラミツクを得る。比較的高い濃度のドープ
剤が余り高価でない市販品位の予め反応したチタ
ン酸ストロンチウムの使用を可能にする。 焼結したセラミツクを加熱処理してこの中に好
ましくは酸化ビスマス(Bi2O3)から成る粒界絶
縁材料を拡散させる。この拡散処理は850℃のよ
うな低い温度で実施して拡散剤が銀の如き、低融
点電極材料中にフリツトとして適用されるように
することができる。 前記方法および材料から、有効な高誘電率、低
散逸率、高絶縁抵抗率および誘電緩和時間および
−55℃〜+125℃の範囲に亘る温度におけるキヤ
パシタンスの±2%のように低い最大変化を含む
優れた誘導特性を有するコンデンサが得られる。 粒界障壁層セラミツクコンデンサを、次式 (1−x)SrTiO3+x(1−y)〔(1−
z)LnAlO3+zLn0.66TiO3〕+xyLnMO3 で表わされるSrTiO3基組成物から製造した。上
式においてLnはイツトリウム(Y)、ランタン
(La)、セリウム(Ce)、プラセオジム(Pr)、ネ
オジム(Nd)、サマリウム(Sm)、ガドリニウム
(Gd)、ジスプロシウム(Dy)またはホルミウム
(Ho)を示し、Mはバナジウム(V)、クロム
(Cr)、マンガン(Mn)、鉄(Fe)、コバルト
(Co)、ニツケル(Ni)および銅(Cu)から成る
群から選ばれた遷移金属を示す。パラメータx、
yおよびzは、x=0.02〜0.06、y=0.065〜
0.50、z=0.016〜1.00で、次に示す如く、
SrTiO3に対する添加モル分率、即ちxは
LnAlO3、Ln0.66TiO3およびLnMO3により示され
る変性剤またはドープ剤の1種または2種以上に
より置換されるSrTiO3の全モル分率で、yおよ
びzは全モル分率、xが3種の変性剤に分割され
る数値を特定する。 本発明を次の実施例につき説明する。 実施例 1 試薬品位の前駆物質SrCO3およびTiO2を用い
てSrTiO396モル%を製造した。4モル%の
LaAlO3および/またはLa0.66TiO3を、基本酸化
物の形態、La2O3、Al2O3およびTiO2で添加して
3種の異なる組成物を形成した。混和した物質を
圧して円板を形成し、これ等の円板を10-7.6〜
10-8.2の範囲の酸素分圧を有する還元性雰囲気中
で種々の温度で焼結した。次いで焼結した円板
を、84重量%のBi2O3と14重量%のCdOを含むフ
リツトを含有する銀電極ペイントで被覆し、900
℃の空気中で4〜16時間加熱してフリツトを円板
内に拡散させてセラミツク粒子を絶縁した。第1
表に試料の前記式による組成パラメータ、焼結温
度および測定した誘電特性を示す。
がセラミツク内に拡散する非導電性材料の層で絶
縁されている粒界障壁層セラミツクコンデンサに
関するものである。 粒界障壁層セラミツクコンデンサ(また内部ま
たは粒子間障壁層セラミツクと称せられる)は業
界ではよく知られている。かかるコンデンサ用の
材料系は、代表的にはチタン酸バリウム
(BaTiO3)またはチタン酸ストロンチウム
(SrTiO3)をもとにする。これ等のベース材料
は、粒子の生長を促進しベースセラミツク材料の
半導電性を向上させるために種々遷移金属および
稀土類元素の添加によりドープされる。更に、こ
れ等のドープ剤は、これ等の材料系を利用するコ
ンデンサの種々の電気特性を改善する。次いで焼
結した半導電性セラミツク体は、セラミツク体に
絶縁材料を拡散させて半導電性セラミツク粒子の
まわりに連続する絶縁境界を設ける処理がなされ
る。 チタン酸バリウムに基づく粒界障壁層セラミツ
クは米国特許第3473958号および第3569802号明細
書に記載されている。チタン酸バリウムはその誘
電率が高いので魅力あるベース材料であるが、コ
ンデンサの操作温度の代表的範囲内でキユリー・
ピークを有するという欠点を有し、この結果他の
電気特性、例えば抵抗率が劣り、制御するのが困
難である。 チタン酸ストロンチウムは、チタン酸バリウム
より誘電率が低いが、最近粒界障壁層セラミツク
コンデンサ用の優れたベース材料を提供すること
を見出した。チタン酸ストロンチウムは関心のあ
る温度範囲外でキユリー・ピークを示し、その系
を使用して散逸率、抵抗率および破壊電圧の如き
性質がチタン酸バリウムコンデンサより改善され
たコンデンサを供給することができる。チタン酸
ストロンチウム粒界障壁層コンデンサ用の材料系
の例は米国特許第3933668号および特開昭51−
143900号(特願昭50−68699号)明細書に披瀝さ
れている。 種々の変性によりつくられたチタン酸ストロン
チウム系の米国特許第3933688号に記載されてい
るコンデンサはキヤパシタンスが−30℃〜+85℃
の範囲に亘り室温値から15%程度の低い変化を示
す。然し、工業上キヤパシタンスの変化を測定す
る代表的実際の最大温度範囲は−55℃〜+125℃
である。この範囲に亘り、上記特許において披瀝
されているコンデンサのキヤパシタンスの変化は
約24%(−55℃における−12%から125℃におけ
る+12%まで)。この変化値は多くの用途では受
入れられない。前記特開昭51−143900号明細書に
は−30℃〜80℃の温度範囲において+9%〜−8
%(全変化17%)の最適キヤパシタンス変化を有
する変性されたチタン酸ストロンチウム粒界障壁
層コンデンサが記載されている。然し、−55℃〜
+125℃の関心ある最大範囲に亘り、変化は披瀝
されているものより著しく大であるようである。
従つて良好な温度安定性は他の材料系のいずれに
よつても与えられない。 セラミツク材料にランタニド系列稀土類をドー
プすることにより粒界障壁層コンデンサをつくる
際使用するチタン酸ストロンチウムを変性するこ
とも知られている。ランタンはドナー・ドープ剤
として作用してチタン酸ストロンチウムを半導電
性による。前記特開昭51−143900号明細書には、
0.02〜0.36モル%の範囲の極めて少量を添加する
ことが記載されている。このランタン添加の上限
は絶対的であると認められ、0.36モル%以上の分
量ではコンデンサの種々の特性に悪影響を及ぼす
と報告されている。然し組成物中のドナー・ドー
プ剤の濃度が低いと制御するのが困難であり、通
常高純度の原料を使用する必要がある。高純度で
ない場合には、原料または前駆物質中の低濃度の
不純物がドープ剤を汚染し、意図する効果を著し
く減ずるかまたはなくす。 前述の如く、ドープした焼結セラミツクの粒界
を、焼結より低温度で次に拡散処理することによ
り絶縁することが望ましい。かかる拡散処理は前
記米国特許第3933668号明細書に披瀝されている。
然し、この絶縁拡散処理が達成される温度は1000
〜1300℃の範囲であり、従つて拡散処理後まで銀
または他の低融点電極材料の塗布を回避する。こ
のことにより他の処理工程を必要とすることは勿
論である。 本発明においては、チタン酸ストロンチウム
(SrTiO3)に基づく半導電性セラミツクを、アル
ミン酸ランタン(LaAlO3)、アルミン酸の他の
ランタニド系列の稀土類塩および/またはチタン
酸の稀土塩類(Ln0.66TiO3)から成る成分の一次
結合2〜6モル%で変性する。LaCrO3またはラ
ンタニド酸化物および遷移金属酸化物に基づく他
の複金属酸化物の置換を、上記2〜6モル%の一
次結合の50%までに対して行うことができる。こ
れ等の物質を還元性雰囲気で焼結して濃密な半導
電性セラミツクを得る。比較的高い濃度のドープ
剤が余り高価でない市販品位の予め反応したチタ
ン酸ストロンチウムの使用を可能にする。 焼結したセラミツクを加熱処理してこの中に好
ましくは酸化ビスマス(Bi2O3)から成る粒界絶
縁材料を拡散させる。この拡散処理は850℃のよ
うな低い温度で実施して拡散剤が銀の如き、低融
点電極材料中にフリツトとして適用されるように
することができる。 前記方法および材料から、有効な高誘電率、低
散逸率、高絶縁抵抗率および誘電緩和時間および
−55℃〜+125℃の範囲に亘る温度におけるキヤ
パシタンスの±2%のように低い最大変化を含む
優れた誘導特性を有するコンデンサが得られる。 粒界障壁層セラミツクコンデンサを、次式 (1−x)SrTiO3+x(1−y)〔(1−
z)LnAlO3+zLn0.66TiO3〕+xyLnMO3 で表わされるSrTiO3基組成物から製造した。上
式においてLnはイツトリウム(Y)、ランタン
(La)、セリウム(Ce)、プラセオジム(Pr)、ネ
オジム(Nd)、サマリウム(Sm)、ガドリニウム
(Gd)、ジスプロシウム(Dy)またはホルミウム
(Ho)を示し、Mはバナジウム(V)、クロム
(Cr)、マンガン(Mn)、鉄(Fe)、コバルト
(Co)、ニツケル(Ni)および銅(Cu)から成る
群から選ばれた遷移金属を示す。パラメータx、
yおよびzは、x=0.02〜0.06、y=0.065〜
0.50、z=0.016〜1.00で、次に示す如く、
SrTiO3に対する添加モル分率、即ちxは
LnAlO3、Ln0.66TiO3およびLnMO3により示され
る変性剤またはドープ剤の1種または2種以上に
より置換されるSrTiO3の全モル分率で、yおよ
びzは全モル分率、xが3種の変性剤に分割され
る数値を特定する。 本発明を次の実施例につき説明する。 実施例 1 試薬品位の前駆物質SrCO3およびTiO2を用い
てSrTiO396モル%を製造した。4モル%の
LaAlO3および/またはLa0.66TiO3を、基本酸化
物の形態、La2O3、Al2O3およびTiO2で添加して
3種の異なる組成物を形成した。混和した物質を
圧して円板を形成し、これ等の円板を10-7.6〜
10-8.2の範囲の酸素分圧を有する還元性雰囲気中
で種々の温度で焼結した。次いで焼結した円板
を、84重量%のBi2O3と14重量%のCdOを含むフ
リツトを含有する銀電極ペイントで被覆し、900
℃の空気中で4〜16時間加熱してフリツトを円板
内に拡散させてセラミツク粒子を絶縁した。第1
表に試料の前記式による組成パラメータ、焼結温
度および測定した誘電特性を示す。
【表】
第1表から優れた誘電特性が全く均一に達成さ
れるが、若干高い焼結温度が必要であることがわ
かる。更に、一層高価な試薬品位の前駆物質を使
用してSrTiO3を製造することができた。 コスト的に一層有効な方法は市場で入手し得る
予め反応したSrTiO3を使用することである。完
全に反応したSrTiO3を使用して第1表に示す組
成物と同様に組成物を製造した。然し、同様の加
熱条件下では、第1表の試料No.4と同様の組成物
だけが匹敵する誘導特性を示した。 実施例 2 実施例1に示した如く、96モル%の完全に反応
したSrTiO3にLaAlO3とLa0.66TiO3を添加した
が、更に前駆物質の化合物La2O3とCr2O3を使用
してLaCrO3を添加した。基本式中のパラメータ
により第2表において同定される3種の別個の組
成物を混和し、円板を形成し、10-8.5の酸素分圧
雰囲気中で1380℃で2時間加熱した。焼結した円
板を実施例1の試料と同様の方法で拡散処理し
た。第2表にこのように形成したコンデンサの測
定した誘電特性を示す。
れるが、若干高い焼結温度が必要であることがわ
かる。更に、一層高価な試薬品位の前駆物質を使
用してSrTiO3を製造することができた。 コスト的に一層有効な方法は市場で入手し得る
予め反応したSrTiO3を使用することである。完
全に反応したSrTiO3を使用して第1表に示す組
成物と同様に組成物を製造した。然し、同様の加
熱条件下では、第1表の試料No.4と同様の組成物
だけが匹敵する誘導特性を示した。 実施例 2 実施例1に示した如く、96モル%の完全に反応
したSrTiO3にLaAlO3とLa0.66TiO3を添加した
が、更に前駆物質の化合物La2O3とCr2O3を使用
してLaCrO3を添加した。基本式中のパラメータ
により第2表において同定される3種の別個の組
成物を混和し、円板を形成し、10-8.5の酸素分圧
雰囲気中で1380℃で2時間加熱した。焼結した円
板を実施例1の試料と同様の方法で拡散処理し
た。第2表にこのように形成したコンデンサの測
定した誘電特性を示す。
【表】
クロム酸塩変性(LaCrO3の形態)は、焼結温
度を実施例1の試料に対して必要とされた温度か
ら50℃程度著しく低下させる点で特に重要であ
る。更に、誘電率(K)が低下したが、これ等の値は
尚極めて良好な値で、他の測定された特性は同様
に良好かまたは僅かに改善された。全誘電特性は
0.8モル%までのLaCrO3(xy=0.04(0.20)(100%)
=0.8%)の添加により改善された。 他の組成物を製造し、基本式中の組成パラメー
タx、yおよびzをかえた影響並びにランタン
(La)を他の稀土類元素でまたクロム(Cr)を他
の遷移金属で置換した影響を測定した。 次の実施例3〜9は同様の方法で製造した組成
物に関するもので、同様の寸法の円板(厚さ
0.045cm×直径1.2cm)を形成し、10-9.5×10-8.5の
酸素分圧を有する還元性雰囲気中1400〜1430℃の
温度で焼結し、銀電極材料中に酸化ビスマス基フ
リツトを使用し900℃〜935℃の範囲の温度で拡散
処理した。 実施例 3 基本式における2モル%(x=0.02)の全変性
剤濃度の下限を調べるために、クロム酸塩を添加
せず(y=0)、チタン酸塩をz=0〜1.0の全範
囲に亘り変化させて添加することにより試料を調
製した。試料を焼結し、拡散処理して前に特定し
た如く粒界絶縁を与えた。同様の試料の各群につ
き変えた特定の焼結条件および測定した誘電特性
を第3表に示す。
度を実施例1の試料に対して必要とされた温度か
ら50℃程度著しく低下させる点で特に重要であ
る。更に、誘電率(K)が低下したが、これ等の値は
尚極めて良好な値で、他の測定された特性は同様
に良好かまたは僅かに改善された。全誘電特性は
0.8モル%までのLaCrO3(xy=0.04(0.20)(100%)
=0.8%)の添加により改善された。 他の組成物を製造し、基本式中の組成パラメー
タx、yおよびzをかえた影響並びにランタン
(La)を他の稀土類元素でまたクロム(Cr)を他
の遷移金属で置換した影響を測定した。 次の実施例3〜9は同様の方法で製造した組成
物に関するもので、同様の寸法の円板(厚さ
0.045cm×直径1.2cm)を形成し、10-9.5×10-8.5の
酸素分圧を有する還元性雰囲気中1400〜1430℃の
温度で焼結し、銀電極材料中に酸化ビスマス基フ
リツトを使用し900℃〜935℃の範囲の温度で拡散
処理した。 実施例 3 基本式における2モル%(x=0.02)の全変性
剤濃度の下限を調べるために、クロム酸塩を添加
せず(y=0)、チタン酸塩をz=0〜1.0の全範
囲に亘り変化させて添加することにより試料を調
製した。試料を焼結し、拡散処理して前に特定し
た如く粒界絶縁を与えた。同様の試料の各群につ
き変えた特定の焼結条件および測定した誘電特性
を第3表に示す。
【表】
【表】
.
A 1430
10−8 5
.
B 1400
10−8 5
.
C 1400
10−9 5
** N.T.−測定せず
第3表のデータからチタン酸ストロンチウムに
LaAlO3だけを2モル%添加した場合、良好な誘
電特性が得られることが明らかである。試料No.8
〜10において誘電率(K)および散逸率(D)は極めて良
好であるが、誘電緩和時間(T)および温度に伴
うキヤパシタンスの変化は若干不十分である。全
誘電特性はLaAlO3を50%(z=0.50)までLa0.66
TiO3で置換する際、尚良好である。試料No.17〜
22においてチタン酸塩の添加濃度を増すことは、
主として焼結が不十分で誘電緩和時間が短いこと
により明らかな如く、重大な悪影響を及ぼす。チ
タン酸塩の添加は焼結および粒の生長を向上させ
るが、アルミン酸塩の濃度を低下させると、特に
全変性剤の添加が2モル%では、粒の生長が過大
視され、二倍のミクロ構造が生成し高抵抗率が得
られない。従つて小誘電緩和時間がこれ等の組成
物においては注目される。 実施例 4 基本式においてxが上限値を示す全変性剤6モ
ル%の試料を製造した。クロム酸塩(LaCrO3)
の添加をパラメータyの全範囲に亘り変え、z=
0.05におけるチタン酸塩およびアルミン酸塩の添
加を対応して1.5〜3モル%の範囲で変えた。試
料を焼結し、同様の方法で拡散処理して粒界絶縁
を形成した。第4表に測定した誘電特性を示す。
.
A 1430
10−8 5
.
B 1400
10−8 5
.
C 1400
10−9 5
** N.T.−測定せず
第3表のデータからチタン酸ストロンチウムに
LaAlO3だけを2モル%添加した場合、良好な誘
電特性が得られることが明らかである。試料No.8
〜10において誘電率(K)および散逸率(D)は極めて良
好であるが、誘電緩和時間(T)および温度に伴
うキヤパシタンスの変化は若干不十分である。全
誘電特性はLaAlO3を50%(z=0.50)までLa0.66
TiO3で置換する際、尚良好である。試料No.17〜
22においてチタン酸塩の添加濃度を増すことは、
主として焼結が不十分で誘電緩和時間が短いこと
により明らかな如く、重大な悪影響を及ぼす。チ
タン酸塩の添加は焼結および粒の生長を向上させ
るが、アルミン酸塩の濃度を低下させると、特に
全変性剤の添加が2モル%では、粒の生長が過大
視され、二倍のミクロ構造が生成し高抵抗率が得
られない。従つて小誘電緩和時間がこれ等の組成
物においては注目される。 実施例 4 基本式においてxが上限値を示す全変性剤6モ
ル%の試料を製造した。クロム酸塩(LaCrO3)
の添加をパラメータyの全範囲に亘り変え、z=
0.05におけるチタン酸塩およびアルミン酸塩の添
加を対応して1.5〜3モル%の範囲で変えた。試
料を焼結し、同様の方法で拡散処理して粒界絶縁
を形成した。第4表に測定した誘電特性を示す。
【表】
【表】
* 第3表と同様
第4表に示す誘電特性の測定値は、クロム酸塩
変性剤の低濃度の場合、誘電率が比較的低く、散
逸率が高い。温度に伴うキヤパンタンスの変化の
測定はこれ等のKの小である試料については行わ
なかつた。試料を調べた結果Kの小さい試料では
粒子の生長が制限されていることが分つた。クロ
ム酸塩を多く添加することは、例えば試料No.35〜
43における誘電率が高いことにより証明されるよ
うにチタン酸ストロンチウムにおける粒子の生長
を促進する原因となる。また温度に伴うキヤパシ
タンスの最大変化はこれ等の試料、特に試料No.38
〜40において優れている。 実施例 5 添加全モル分率の中間範囲(即ちx=0.04の場
合)においてクロム酸塩変性剤が無いことによる
影響を更に十分調べるために、第5表に示す試料
を製造し、実施例3および4の方法と同様の方法
で試験した。クロム酸塩の添加は行わず、全変性
剤は一定の4モル%で、全部LaAlO3(z=0)
から全部La0.66TiO3(z=1.00)まで変えた。
第4表に示す誘電特性の測定値は、クロム酸塩
変性剤の低濃度の場合、誘電率が比較的低く、散
逸率が高い。温度に伴うキヤパンタンスの変化の
測定はこれ等のKの小である試料については行わ
なかつた。試料を調べた結果Kの小さい試料では
粒子の生長が制限されていることが分つた。クロ
ム酸塩を多く添加することは、例えば試料No.35〜
43における誘電率が高いことにより証明されるよ
うにチタン酸ストロンチウムにおける粒子の生長
を促進する原因となる。また温度に伴うキヤパシ
タンスの最大変化はこれ等の試料、特に試料No.38
〜40において優れている。 実施例 5 添加全モル分率の中間範囲(即ちx=0.04の場
合)においてクロム酸塩変性剤が無いことによる
影響を更に十分調べるために、第5表に示す試料
を製造し、実施例3および4の方法と同様の方法
で試験した。クロム酸塩の添加は行わず、全変性
剤は一定の4モル%で、全部LaAlO3(z=0)
から全部La0.66TiO3(z=1.00)まで変えた。
【表】
第5表から明らかに分るように、高アルミン酸
塩試料(試料No.44〜49)ではクロム酸塩変性剤を
含まないことが、透電率に対し著しい悪影響を及
ぼす。事実試料No.45、46および48における粒子の
生長が、透電率を向上させるのには不十分であ
り、従つて誘導率の測定は行わなかつた。然しチ
タン酸塩変性剤、La0.66TiO3の濃度をz=0.75ま
でおよびz=0.75を包含する値まで増加すると、
透電率の有意な増加がみられる。このことはクロ
ム酸塩変性剤が存在しない場合、チタン酸塩変性
剤は良好な粒子の生長を促進することを示唆す
る。更に、試料No.50〜55は全特性が極めて良好で
あり、特に温度によるキヤパシタンスの変化が小
さい。然しまたアルミン酸塩、クロム酸塩変性剤
が全く存在しない場合(z=1.00の場合)には、
すべての誘電特性は試料No.56〜58に示されるよう
に、実施例3の場合の如く、過大視された粒子の
生長、二倍のミクロ構造の存在により若干劣り、
これ等試料は広範囲の異なる粒径を有することを
特徴とする。著しく改善された誘電特性は、高ア
ルミン酸塩組成物において焼結温度における滞留
時間を二倍にすることにより得られた。この場
合、試料44〜49に匹敵する試料の全特性はz=
0.50(試料50〜52)で見られる特性に等しいかま
たはそれより良好である。但し温度によるキヤパ
シタンスの最大変化は関心ある温度範囲に亘り+
11〜−5%より悪かつた。 実施例 6 全変性剤含有量4モル%におけるクロム酸塩変
性剤の添加の影響を調べるために実施例5の試料
と同様の試料を調製したが、この場合LaAlO3の
一部分の代りにLaCrO3を一定量の0.8モル%含有
させた(即ちy=0.20)。実施例5における如く、
チタン酸塩変性剤をzの全範囲に亘り変えた。得
た結果を次の第6表に示す。
塩試料(試料No.44〜49)ではクロム酸塩変性剤を
含まないことが、透電率に対し著しい悪影響を及
ぼす。事実試料No.45、46および48における粒子の
生長が、透電率を向上させるのには不十分であ
り、従つて誘導率の測定は行わなかつた。然しチ
タン酸塩変性剤、La0.66TiO3の濃度をz=0.75ま
でおよびz=0.75を包含する値まで増加すると、
透電率の有意な増加がみられる。このことはクロ
ム酸塩変性剤が存在しない場合、チタン酸塩変性
剤は良好な粒子の生長を促進することを示唆す
る。更に、試料No.50〜55は全特性が極めて良好で
あり、特に温度によるキヤパシタンスの変化が小
さい。然しまたアルミン酸塩、クロム酸塩変性剤
が全く存在しない場合(z=1.00の場合)には、
すべての誘電特性は試料No.56〜58に示されるよう
に、実施例3の場合の如く、過大視された粒子の
生長、二倍のミクロ構造の存在により若干劣り、
これ等試料は広範囲の異なる粒径を有することを
特徴とする。著しく改善された誘電特性は、高ア
ルミン酸塩組成物において焼結温度における滞留
時間を二倍にすることにより得られた。この場
合、試料44〜49に匹敵する試料の全特性はz=
0.50(試料50〜52)で見られる特性に等しいかま
たはそれより良好である。但し温度によるキヤパ
シタンスの最大変化は関心ある温度範囲に亘り+
11〜−5%より悪かつた。 実施例 6 全変性剤含有量4モル%におけるクロム酸塩変
性剤の添加の影響を調べるために実施例5の試料
と同様の試料を調製したが、この場合LaAlO3の
一部分の代りにLaCrO3を一定量の0.8モル%含有
させた(即ちy=0.20)。実施例5における如く、
チタン酸塩変性剤をzの全範囲に亘り変えた。得
た結果を次の第6表に示す。
【表】
* 第3表と同様
試料No.65〜67はすべての誘電特性が最も良好で
ある。これ等の試料では3つの異なる焼結条件の
夫々の条件において均一に良好な結果が得られ
た。第6表の結果を前の実施例の結果と比較する
と、基本式に対する最適組成は、x=0.04、y=
0.20およびz=0.50で達成されるようである。ク
ロム酸塩添加の重要な利点は試料No.65〜67の性質
と第5表の試料No.50〜52と同様の但しクロム酸塩
変性剤を含有しない試料の性質を比較することに
より知ることができる。試料No.65〜67における誘
電率の僅かな低下は、測定した他のすべての特性
が著しく改善されているので取るに足らぬことで
ある。試料No.59〜61に関して、高アルミン酸塩含
有量(z=0)では試料を焼結するのを困難にす
るが、但し試料No.59では1430℃高焼結温度で良好
な性質が得られた。 実施例 7 4モル%の全変性剤を用い、y=0〜0.50の全
範囲に亘りクロム酸塩の添加を変えて試料を調製
した。アルミン酸塩をチタン酸塩と置換したモル
分率を示すパラメータzを前記したような最適値
0.50に維持した。次の第7表に示す結果は、比較
の目的で第5表の試料50〜52および第6表の試料
No.65〜67のデータを含む。
試料No.65〜67はすべての誘電特性が最も良好で
ある。これ等の試料では3つの異なる焼結条件の
夫々の条件において均一に良好な結果が得られ
た。第6表の結果を前の実施例の結果と比較する
と、基本式に対する最適組成は、x=0.04、y=
0.20およびz=0.50で達成されるようである。ク
ロム酸塩添加の重要な利点は試料No.65〜67の性質
と第5表の試料No.50〜52と同様の但しクロム酸塩
変性剤を含有しない試料の性質を比較することに
より知ることができる。試料No.65〜67における誘
電率の僅かな低下は、測定した他のすべての特性
が著しく改善されているので取るに足らぬことで
ある。試料No.59〜61に関して、高アルミン酸塩含
有量(z=0)では試料を焼結するのを困難にす
るが、但し試料No.59では1430℃高焼結温度で良好
な性質が得られた。 実施例 7 4モル%の全変性剤を用い、y=0〜0.50の全
範囲に亘りクロム酸塩の添加を変えて試料を調製
した。アルミン酸塩をチタン酸塩と置換したモル
分率を示すパラメータzを前記したような最適値
0.50に維持した。次の第7表に示す結果は、比較
の目的で第5表の試料50〜52および第6表の試料
No.65〜67のデータを含む。
【表】
* 第3表と同じ
最も良い性質は試料No.65〜67の性質であること
は明らかであり、実施例6で達成されたy=0.20
がクロム酸塩添加に対する最適値であることを確
めた。誘電緩和時間(T)が小であるが、他の特
性は良好である第7表の若干の試料、例えば試料
No.74、76、77および84を更に調べた。粒界絶縁材
料の拡散は測定した結果焼結後加熱処理中十分行
われなかつた。僅かに更に強力または付加的拡散
処理によりこれ等の特性が改善され、適当なコン
デンサが得られると考えられる。 実施例 8 ランタンの代りに他のランタニド系列の稀土類
元素を用いた場合の効力を調べるために、実施例
3〜7に示した試料と同様の方法で、試料を調製
し、焼結し、拡散処理した。これ等の試料におい
ては、前駆物質の形態La2O3でランタンを添加し
た代りに等原子量の次の示す稀土類酸化物:
CeO2、Pr6O11、Nd2O3、Sm2O3、Gd2O3、Dy2O3
およびHo2O3を使用した。更にイツトリウムが同
様の性質を有することが知られているので、イツ
トリウムをY2O3として使用した。組成物はすべ
て基本式における既に決定された最適パラメータ
に従つて調製した。比較するため前記ランタン基
組成物である試料No.65〜67と7種の稀土類元素置
換体およびイツトリウム置換体に対する測定結果
を第8表に示す。
最も良い性質は試料No.65〜67の性質であること
は明らかであり、実施例6で達成されたy=0.20
がクロム酸塩添加に対する最適値であることを確
めた。誘電緩和時間(T)が小であるが、他の特
性は良好である第7表の若干の試料、例えば試料
No.74、76、77および84を更に調べた。粒界絶縁材
料の拡散は測定した結果焼結後加熱処理中十分行
われなかつた。僅かに更に強力または付加的拡散
処理によりこれ等の特性が改善され、適当なコン
デンサが得られると考えられる。 実施例 8 ランタンの代りに他のランタニド系列の稀土類
元素を用いた場合の効力を調べるために、実施例
3〜7に示した試料と同様の方法で、試料を調製
し、焼結し、拡散処理した。これ等の試料におい
ては、前駆物質の形態La2O3でランタンを添加し
た代りに等原子量の次の示す稀土類酸化物:
CeO2、Pr6O11、Nd2O3、Sm2O3、Gd2O3、Dy2O3
およびHo2O3を使用した。更にイツトリウムが同
様の性質を有することが知られているので、イツ
トリウムをY2O3として使用した。組成物はすべ
て基本式における既に決定された最適パラメータ
に従つて調製した。比較するため前記ランタン基
組成物である試料No.65〜67と7種の稀土類元素置
換体およびイツトリウム置換体に対する測定結果
を第8表に示す。
【表】
試験した若干の試料はランタン基組成物の試料
No.65〜67より誘電率が僅かに改善されているが、
後者は尚すべての性質が最も優れている。Ce、
PrおよびNd置換体の試料No.89〜97は最も顕著に
優れた性質を有する。残りの組成物は1つまたは
それ以上の誘電特性がむしろ著しく低下するが、
すべてコンデンサ材料として若干の利用性を有す
る。ランタニド系列における原子番号の増加に伴
う誘電率の低下は、元素のイオン半径の減少に対
応する。各組の焼結条件に対し誘電率および温度
によるキヤパシタンスの最大変化は一般に均一な
低下を示した。 実施例 9 x=0.04、y=0.20およびz=0.50の好適組成
物において種々の遷移金属置換をクロムに対して
行つた。遷移金属は酸化物の形態、即ちMnO、
Fe2O3、Co2O3、NiOおよびCuOで添加した。こ
れ等の試料を同定し、行つた試験結果を第9表に
示す。また最初第6表に試料No.65〜67として示し
た対応するクロム化合物に対するデータを比較の
為示した。
No.65〜67より誘電率が僅かに改善されているが、
後者は尚すべての性質が最も優れている。Ce、
PrおよびNd置換体の試料No.89〜97は最も顕著に
優れた性質を有する。残りの組成物は1つまたは
それ以上の誘電特性がむしろ著しく低下するが、
すべてコンデンサ材料として若干の利用性を有す
る。ランタニド系列における原子番号の増加に伴
う誘電率の低下は、元素のイオン半径の減少に対
応する。各組の焼結条件に対し誘電率および温度
によるキヤパシタンスの最大変化は一般に均一な
低下を示した。 実施例 9 x=0.04、y=0.20およびz=0.50の好適組成
物において種々の遷移金属置換をクロムに対して
行つた。遷移金属は酸化物の形態、即ちMnO、
Fe2O3、Co2O3、NiOおよびCuOで添加した。こ
れ等の試料を同定し、行つた試験結果を第9表に
示す。また最初第6表に試料No.65〜67として示し
た対応するクロム化合物に対するデータを比較の
為示した。
【表】
試験した遷移金属置換体の内Cr、Fe、Co、Ni
およびCu置換体は少くとも1組の焼結条件では
良好な誘電特性を示す。然しマンガンもまた適当
な置換遷移金属である。AlとTiの部分置換とし
てマンガン、バナジウム、ニオブ、モリブデン、
タンタルおよびタングステンを含む組成物では、
誘電率は向上したが、全体の誘電特性は劣る。例
えば第9表に示すように、Mnは誘電率が受け入
れられる水準に向上しているが、他の特性は劣
る。記載した組成物が受け入れられる誘電特性を
示す焼結条件(A、BおよびC)は、これ等の物
質に対して最適にされていないので、結果は第9
表に含まれていない。然し加熱条件を変えるとこ
れ等の物質の誘電性は著しく改善されることが期
待される。特に良好な結果はC条件下で焼結した
試料No.118、121、124および127において均一に見
出され、一層低い温度および還元性の一層大なる
雰囲気が満足されることを示す。逆に、焼結条件
Bの酸化性が一層大なる雰囲気では一般に結果が
劣るが、条件Aの高温度の場合誘電特性は改善さ
れた。また他の遷移金属、スカンジウムおよび亜
鉛を調べたが、それぞれ高価格および性能が劣る
ので除外した。 セラミツク誘電体を形成する際既知の受入れら
れる操作に従い、SrTiO3におけるストロンチウ
ムとチタンに対し等価置換を行つた。これ等の置
換はストロンチウムではバリウム(Ba)、カルシ
ウム(Ca)、またチタンではジルコニウム(Zr)
および錫で、次式 (Sr1-aAa)(Ti1-bBa)O3 (式中のAおよびBは夫々SrおよびTiに対する
等価置換を示し、aとbは夫々0〜0.05)に従つ
て5.0モル%までである。これ等の試料を、x=
0.04、y=0、z=0.50のパラメータを有する組
成物で形成し、0.15重量%のシリカ(SiO2)を焼
結助剤として含有させた。誘電率の向上は観察さ
れたが、全体の誘電特性の改善は殆んどなされな
かつた。かかる置換の価値は材料費の可能な低減
にある。 6モル%(x=0.06)以上16モル%までのすべ
ての変性剤添加を行い試験した。誘電特性の一般
の改善は観察されず、焼結温度を一層高くし還元
性雰囲気の還元性を一層大にすることが必要であ
ることが明らかになつた。 要約すると、本発明で製造した粒界障壁層誘電
体はコンデンサに用いた際優れた温度安定性を有
することを特徴とする。この安定性は温度による
キヤパシタンスの変化が著しく小であることによ
り証明され、若干の試料では−55℃〜+125℃の
全範囲に対し室温値の±1%程度に低く、多くの
ものは確実に±5%以内である。規定範囲内で
種々の変性剤またはドープ剤は次に示すように誘
電特性に影響を与える:(1)ランタンまたは他の稀
土類置換は誘電体を半導電性にする上で効果であ
り;(2)アルミン酸塩は粒子の生長抑制剤として安
全性を与え、抵抗値(誘電緩和時間定数を計算す
る際に使用する)を増すようであり;(3)チタン酸
塩は所望の粒子生長を促進し;(4)クロム酸塩また
は他の遷移金属置換は粒子の生長を促進し焼結温
度を低下させるのに役立つ。 前述の如く、セラミツク粒子の境界を絶縁する
ため拡散処理はフリツトが約84重量%のBi2O3と
14重量%のCdO(および少量の不純物)を含むフ
リツト電極材料を用いて行つた。然しCdOの分量
を40重量%まで増加しまたPbOをCdOの代りに上
記分量で用いることを含むフリツトの組成の変化
により適当な拡散および境界絶縁が得られる。前
記の試験したすべての試料において、絶縁性障壁
層材料をセラミツク材料の約3〜6重量%の範囲
の好ましい分量で適用した。然し15重量%までの
分量が、悪影響なしで用いられた。フリツトを含
む銀電極材料を塗布した結果、約15〜30%の範囲
のセラミツク試料の重量増加(電極インキビヒク
ルの焼却後)がもたらされた。850〜950℃の範囲
の拡散加熱温度により均一に良好な結果が得られ
たが、中間範囲の温度が最も良いようである。
およびCu置換体は少くとも1組の焼結条件では
良好な誘電特性を示す。然しマンガンもまた適当
な置換遷移金属である。AlとTiの部分置換とし
てマンガン、バナジウム、ニオブ、モリブデン、
タンタルおよびタングステンを含む組成物では、
誘電率は向上したが、全体の誘電特性は劣る。例
えば第9表に示すように、Mnは誘電率が受け入
れられる水準に向上しているが、他の特性は劣
る。記載した組成物が受け入れられる誘電特性を
示す焼結条件(A、BおよびC)は、これ等の物
質に対して最適にされていないので、結果は第9
表に含まれていない。然し加熱条件を変えるとこ
れ等の物質の誘電性は著しく改善されることが期
待される。特に良好な結果はC条件下で焼結した
試料No.118、121、124および127において均一に見
出され、一層低い温度および還元性の一層大なる
雰囲気が満足されることを示す。逆に、焼結条件
Bの酸化性が一層大なる雰囲気では一般に結果が
劣るが、条件Aの高温度の場合誘電特性は改善さ
れた。また他の遷移金属、スカンジウムおよび亜
鉛を調べたが、それぞれ高価格および性能が劣る
ので除外した。 セラミツク誘電体を形成する際既知の受入れら
れる操作に従い、SrTiO3におけるストロンチウ
ムとチタンに対し等価置換を行つた。これ等の置
換はストロンチウムではバリウム(Ba)、カルシ
ウム(Ca)、またチタンではジルコニウム(Zr)
および錫で、次式 (Sr1-aAa)(Ti1-bBa)O3 (式中のAおよびBは夫々SrおよびTiに対する
等価置換を示し、aとbは夫々0〜0.05)に従つ
て5.0モル%までである。これ等の試料を、x=
0.04、y=0、z=0.50のパラメータを有する組
成物で形成し、0.15重量%のシリカ(SiO2)を焼
結助剤として含有させた。誘電率の向上は観察さ
れたが、全体の誘電特性の改善は殆んどなされな
かつた。かかる置換の価値は材料費の可能な低減
にある。 6モル%(x=0.06)以上16モル%までのすべ
ての変性剤添加を行い試験した。誘電特性の一般
の改善は観察されず、焼結温度を一層高くし還元
性雰囲気の還元性を一層大にすることが必要であ
ることが明らかになつた。 要約すると、本発明で製造した粒界障壁層誘電
体はコンデンサに用いた際優れた温度安定性を有
することを特徴とする。この安定性は温度による
キヤパシタンスの変化が著しく小であることによ
り証明され、若干の試料では−55℃〜+125℃の
全範囲に対し室温値の±1%程度に低く、多くの
ものは確実に±5%以内である。規定範囲内で
種々の変性剤またはドープ剤は次に示すように誘
電特性に影響を与える:(1)ランタンまたは他の稀
土類置換は誘電体を半導電性にする上で効果であ
り;(2)アルミン酸塩は粒子の生長抑制剤として安
全性を与え、抵抗値(誘電緩和時間定数を計算す
る際に使用する)を増すようであり;(3)チタン酸
塩は所望の粒子生長を促進し;(4)クロム酸塩また
は他の遷移金属置換は粒子の生長を促進し焼結温
度を低下させるのに役立つ。 前述の如く、セラミツク粒子の境界を絶縁する
ため拡散処理はフリツトが約84重量%のBi2O3と
14重量%のCdO(および少量の不純物)を含むフ
リツト電極材料を用いて行つた。然しCdOの分量
を40重量%まで増加しまたPbOをCdOの代りに上
記分量で用いることを含むフリツトの組成の変化
により適当な拡散および境界絶縁が得られる。前
記の試験したすべての試料において、絶縁性障壁
層材料をセラミツク材料の約3〜6重量%の範囲
の好ましい分量で適用した。然し15重量%までの
分量が、悪影響なしで用いられた。フリツトを含
む銀電極材料を塗布した結果、約15〜30%の範囲
のセラミツク試料の重量増加(電極インキビヒク
ルの焼却後)がもたらされた。850〜950℃の範囲
の拡散加熱温度により均一に良好な結果が得られ
たが、中間範囲の温度が最も良いようである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 多量の焼結チタン酸ストロンチウムを含み、
次式 (1−x)SrTiO3+x(1−y)〔(1−z
)LnAlO3+zLn0.66TiO3〕+xyLnMO3 (式中のLnはY.La、Ce、Pr、Nd、Sm、Gd、
DyまたはHo、MはV、Cr、Mn、Fe、Co、Ni
またはCuを示し、x=0.02〜0.06、y=0.065〜
0.50、z=0.016〜1.00)で示される焼成変性チタ
ン酸ストロンチウムと、Bi2O3または多量の
Bi2O3とCdO若しくはPbOとの混合物から成る障
壁層材料を含むことを特徴とする粒界障壁層セラ
ミツク組成物。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/120,113 US4309295A (en) | 1980-02-08 | 1980-02-08 | Grain boundary barrier layer ceramic dielectrics and the method of manufacturing capacitors therefrom |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS56129663A JPS56129663A (en) | 1981-10-09 |
JPH0123434B2 true JPH0123434B2 (ja) | 1989-05-02 |
Family
ID=22388342
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1511881A Granted JPS56129663A (en) | 1980-02-08 | 1981-02-05 | Intergranular insulation type ceramic composition and manufacture of capacitor |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4309295A (ja) |
JP (1) | JPS56129663A (ja) |
DE (1) | DE3103629A1 (ja) |
FR (1) | FR2475530B1 (ja) |
GB (1) | GB2068931B (ja) |
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---|---|---|---|---|
US4636908A (en) * | 1983-01-31 | 1987-01-13 | Nippon Soda Co., Ltd. | Thin-film dielectric and process for its production |
JPS59188103A (ja) * | 1983-04-08 | 1984-10-25 | 株式会社村田製作所 | 電圧非直線抵抗体用磁器組成物 |
US4761711A (en) * | 1987-06-05 | 1988-08-02 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Barrier layer ceramic dielectric capacitor containing barium plumbate |
US4870539A (en) * | 1989-01-17 | 1989-09-26 | International Business Machines Corporation | Doped titanate glass-ceramic for grain boundary barrier layer capacitors |
US5628883A (en) * | 1991-06-18 | 1997-05-13 | Japan Vilene Co. Ltd. | Method for generating and activating plasma process of treatment using same, and apparatus therefor |
JPH0563168A (ja) * | 1991-08-30 | 1993-03-12 | Sharp Corp | アクテイブマトリクス基板 |
EP0618597B1 (en) | 1993-03-31 | 1997-07-16 | Texas Instruments Incorporated | Lightly donor doped electrodes for high-dielectric-constant materials |
KR970003341B1 (ko) * | 1993-11-16 | 1997-03-17 | 국방과학연구소 | 티탄산 스트론튬계 입계절연형 커패시터의 제조방법 |
US5668076A (en) * | 1994-04-26 | 1997-09-16 | Mitsui Mining Smelting Co., Ltd. Et Al. | Photocatalyst and method for preparing the same |
US5827792A (en) * | 1994-08-30 | 1998-10-27 | Ube Industries, Ltd. | Dielectric ceramic composition |
GB9504443D0 (en) * | 1995-03-06 | 1995-04-26 | Cookson Group Plc | Temperature stable dielectric |
WO1998043924A1 (fr) * | 1997-04-02 | 1998-10-08 | Kyocera Corporation | Composition ceramique dielectrique et resonateur dielectrique conçu a partir de cette composition |
EP0986095A3 (de) * | 1998-09-08 | 2005-08-17 | Infineon Technologies AG | Schichtanordnung mit einer Materialschicht und einer im Bereich der Korngrenzen der Materialschicht angeordneten Diffusionsbarrierenschicht, und Verfahren zur Herstellung derselben |
US6281543B1 (en) | 1999-08-31 | 2001-08-28 | Micron Technology, Inc. | Double layer electrode and barrier system on hemispherical grain silicon for use with high dielectric constant materials and methods for fabricating the same |
US6645895B2 (en) | 2000-03-30 | 2003-11-11 | Tdk Corporation | Method of producing ceramic composition and method of producing electronic device |
US6906375B2 (en) * | 2002-11-19 | 2005-06-14 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Divalent europium-containing compositions |
KR100590592B1 (ko) * | 2004-08-20 | 2006-06-19 | 삼성전자주식회사 | 누설 전류를 감소시킨 유전체층을 포함하는 캐패시터 및그 제조 방법 |
JP7261540B2 (ja) | 2017-01-19 | 2023-04-20 | 三星電子株式会社 | 誘電複合体と、これを含む積層型キャパシタ及び電子素子 |
KR102363288B1 (ko) | 2017-03-10 | 2022-02-14 | 삼성전자주식회사 | 유전체, 그 제조 방법, 이를 포함하는 유전체 소자 및 전자 소자 |
KR102392041B1 (ko) | 2017-03-10 | 2022-04-27 | 삼성전자주식회사 | 유전체, 그 제조 방법, 이를 포함하는 유전체 소자 및 전자 소자 |
KR102325821B1 (ko) | 2017-03-31 | 2021-11-11 | 삼성전자주식회사 | 2차원 페로브스카이트 소재, 이를 포함하는 유전체 및 적층형 커패시터 |
CN111825445B (zh) * | 2019-04-22 | 2023-02-17 | 中南大学深圳研究院 | 一种高介电常数微波介质陶瓷材料、制备及其应用 |
CN110423116B (zh) * | 2019-07-24 | 2021-07-02 | 桂林理工大学 | 一种x7r型陶瓷电容器介质材料及其制备方法 |
CN112811901B (zh) * | 2020-12-31 | 2023-03-03 | 北京元六鸿远电子科技股份有限公司 | 一种高介晶界层陶瓷材料及晶界层陶瓷基板的制备方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JPS5733844B2 (ja) * | 1975-02-13 | 1982-07-20 | ||
JPS6053451B2 (ja) * | 1975-07-07 | 1985-11-26 | ニチコン株式会社 | 誘電体磁器の製造方法 |
CA1095704A (en) * | 1976-01-20 | 1981-02-17 | Gen Itakura | Semiconductive ceramics |
DE2659672B2 (de) * | 1976-12-30 | 1980-12-04 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Kondensatordielektrikum mit inneren Sperrschichten und Verfahren zu seiner Herstellung |
NL7802690A (nl) * | 1978-03-13 | 1979-09-17 | Philips Nv | Sinterlichaam uit halfgeleidend keramisch ma- teriaal op basis van met nioob of tantaal ge- doteerd strontium-titanaat, met elektrisch isolerende lagen op de korrelgrenzen. |
-
1980
- 1980-02-08 US US06/120,113 patent/US4309295A/en not_active Expired - Lifetime
-
1981
- 1981-02-04 DE DE19813103629 patent/DE3103629A1/de not_active Ceased
- 1981-02-05 JP JP1511881A patent/JPS56129663A/ja active Granted
- 1981-02-06 FR FR8102344A patent/FR2475530B1/fr not_active Expired
- 1981-02-09 GB GB8103905A patent/GB2068931B/en not_active Expired
Also Published As
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JPS56129663A (en) | 1981-10-09 |
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FR2475530A1 (fr) | 1981-08-14 |
DE3103629A1 (de) | 1981-11-26 |
GB2068931B (en) | 1983-06-22 |
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