JPH01227220A - 磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents
磁気記録媒体の製造方法Info
- Publication number
- JPH01227220A JPH01227220A JP5153588A JP5153588A JPH01227220A JP H01227220 A JPH01227220 A JP H01227220A JP 5153588 A JP5153588 A JP 5153588A JP 5153588 A JP5153588 A JP 5153588A JP H01227220 A JPH01227220 A JP H01227220A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic
- targets
- film
- sputtering
- target
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 title claims abstract description 75
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 15
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims abstract description 40
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 30
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 30
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 claims abstract description 27
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 18
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 16
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims abstract description 16
- 238000007664 blowing Methods 0.000 claims abstract description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 78
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 18
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 238000007736 thin film deposition technique Methods 0.000 claims description 6
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 abstract description 7
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 5
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 abstract description 5
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 abstract description 4
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 abstract description 4
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 abstract description 4
- 238000000151 deposition Methods 0.000 abstract description 3
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 abstract description 3
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 abstract 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 22
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 14
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 description 13
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 11
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 9
- 229910000428 cobalt oxide Inorganic materials 0.000 description 7
- IVMYJDGYRUAWML-UHFFFAOYSA-N cobalt(ii) oxide Chemical compound [Co]=O IVMYJDGYRUAWML-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 229910000684 Cobalt-chrome Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010952 cobalt-chrome Substances 0.000 description 3
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 2
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 2
- 239000013077 target material Substances 0.000 description 2
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 2
- 229910020630 Co Ni Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910020639 Co-Al Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002440 Co–Ni Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910020675 Co—Al Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910020514 Co—Y Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017060 Fe Cr Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002544 Fe-Cr Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017112 Fe—C Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001030 Iron–nickel alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- BAWFJGJZGIEFAR-NNYOXOHSSA-N NAD zwitterion Chemical compound NC(=O)C1=CC=C[N+]([C@H]2[C@@H]([C@H](O)[C@@H](COP([O-])(=O)OP(O)(=O)OC[C@@H]3[C@H]([C@@H](O)[C@@H](O3)N3C4=NC=NC(N)=C4N=C3)O)O2)O)=C1 BAWFJGJZGIEFAR-NNYOXOHSSA-N 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- UPHIPHFJVNKLMR-UHFFFAOYSA-N chromium iron Chemical compound [Cr].[Fe] UPHIPHFJVNKLMR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 235000014113 dietary fatty acids Nutrition 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 229930195729 fatty acid Natural products 0.000 description 1
- 239000000194 fatty acid Substances 0.000 description 1
- -1 fatty acid esters Chemical class 0.000 description 1
- 150000002191 fatty alcohols Chemical class 0.000 description 1
- 150000002193 fatty amides Chemical class 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000314 lubricant Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000399 optical microscopy Methods 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 229920006254 polymer film Polymers 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 239000000344 soap Substances 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
- 230000003685 thermal hair damage Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Magnetic Record Carriers (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は磁気記録媒体の製造方法、特に磁性層表面に金
属酸化膜または金属窒化膜の保護層を有する磁気記録媒
体の製造方法に関する。
属酸化膜または金属窒化膜の保護層を有する磁気記録媒
体の製造方法に関する。
[従来の技術〕
強磁性酸化物あるいは金属の粉末材料を有機バインダー
中に分散せしめ、塗布する従来の磁気記録媒体に比較し
てメツキ、真空蒸着、スパッタリング等の薄膜堆積法に
よって形成される強磁性金属薄膜は、高密度用磁気記録
媒体に要求される条件の一つである磁性層の薄膜化、高
抗磁力化が容易であり、実用性の高いものとして期待さ
れる。
中に分散せしめ、塗布する従来の磁気記録媒体に比較し
てメツキ、真空蒸着、スパッタリング等の薄膜堆積法に
よって形成される強磁性金属薄膜は、高密度用磁気記録
媒体に要求される条件の一つである磁性層の薄膜化、高
抗磁力化が容易であり、実用性の高いものとして期待さ
れる。
その−例としてスパッタによって作製されるCo −C
r磁気記録媒体が挙げられる。CoCr磁気記録媒体(
ま従来の塗布型磁気記録媒体に対して5分の1以下の膜
厚で且つ高抗磁力の膜が容易に作製できる垂直磁気記録
媒体である。
r磁気記録媒体が挙げられる。CoCr磁気記録媒体(
ま従来の塗布型磁気記録媒体に対して5分の1以下の膜
厚で且つ高抗磁力の膜が容易に作製できる垂直磁気記録
媒体である。
ところで、いかなる種の磁気記録媒体であっても、その
薄膜イヒに際して、注意すべきことは、磁気記録媒体の
耐摩耗性、耐衝撃性等の機械的強度が著しく低下するこ
とである。
薄膜イヒに際して、注意すべきことは、磁気記録媒体の
耐摩耗性、耐衝撃性等の機械的強度が著しく低下するこ
とである。
そこで、従来から塗布方法により磁性層表面上に脂肪酸
エステル、脂肪アルコール、脂肪アミド、金属セッケン
等の種々の有機系潤滑剤が、または磁性層表面上をプラ
ズマ酸化処理もしくはプラズマ窒化処理することで金属
酸化膜もしくは金属窒化膜が、耐摩耗性用保護膜として
設けられてきた(特開昭60−57533、同60−6
3723号公報)。
エステル、脂肪アルコール、脂肪アミド、金属セッケン
等の種々の有機系潤滑剤が、または磁性層表面上をプラ
ズマ酸化処理もしくはプラズマ窒化処理することで金属
酸化膜もしくは金属窒化膜が、耐摩耗性用保護膜として
設けられてきた(特開昭60−57533、同60−6
3723号公報)。
しかし、塗布方法により磁性層表面上に形成された保護
膜は、磁性層との付着力が弱いため、磁気記録媒体の商
品化に要求される耐摩耗性を有する保護膜としては十分
てない。また、プラズマ酸化またはプラズマ窒化処理に
より保護膜を形成する場合、その膜形成速度が遅く、生
産性が十分でない。このため、付着力か高く、堆積速度
が速い真空蒸着、スッパタリング等の真空薄膜堆積法に
より形成される金属酸化膜または金属窒化膜の保護層の
検討が成されている(特開昭60−50622号公報)
。
膜は、磁性層との付着力が弱いため、磁気記録媒体の商
品化に要求される耐摩耗性を有する保護膜としては十分
てない。また、プラズマ酸化またはプラズマ窒化処理に
より保護膜を形成する場合、その膜形成速度が遅く、生
産性が十分でない。このため、付着力か高く、堆積速度
が速い真空蒸着、スッパタリング等の真空薄膜堆積法に
より形成される金属酸化膜または金属窒化膜の保護層の
検討が成されている(特開昭60−50622号公報)
。
中でも、対向式ターゲット式スパッタ法はスパッタの際
、ターゲットから放出されるγ電子や高いエネルギー粒
子による基板衝撃が抑制されており、基板の温度上昇、
基板の損傷等の問題が起こらない状態で膜を形成するこ
とが可能な薄膜堆積法である。特に直流電源を用いた場
合、高周波電源を用いた場合に比へて、製造コストも安
価で、装置の大型化も比較的容易である。
、ターゲットから放出されるγ電子や高いエネルギー粒
子による基板衝撃が抑制されており、基板の温度上昇、
基板の損傷等の問題が起こらない状態で膜を形成するこ
とが可能な薄膜堆積法である。特に直流電源を用いた場
合、高周波電源を用いた場合に比へて、製造コストも安
価で、装置の大型化も比較的容易である。
[発明が解決しようとする課題]
しかし、直流対向ターゲット式スパッタ式により、酸化
ガスまたは窒素ガスを導入しながら、反応性スパッタを
行なうに際して、高速度でスパッタを行うときには特に
ターゲツト面上での化合物形成が起り、このため異常グ
ロー放電からアーク放電への移行か頻繁に起り、安定な
スパッタを継続できないという問題がある。
ガスまたは窒素ガスを導入しながら、反応性スパッタを
行なうに際して、高速度でスパッタを行うときには特に
ターゲツト面上での化合物形成が起り、このため異常グ
ロー放電からアーク放電への移行か頻繁に起り、安定な
スパッタを継続できないという問題がある。
上記の不安定な放電のため、製造された磁気記録媒体は
、保護層の膜厚再現性が乏しく、且つピンホールが発生
し、生産歩留り率が低いという問題を有してじる。
、保護層の膜厚再現性が乏しく、且つピンホールが発生
し、生産歩留り率が低いという問題を有してじる。
本発明は、上記従来例に鑑みなされたものであり、金属
酸化物または金属窒化膜から成る保護層が、安定したス
パッタにより形成可能となり、その結果膜厚再現性が高
く、ピンホールの少ない保護層を有す、生産歩留り率の
優れた磁気記録媒体を製造することのできる方法を提供
することにある。
酸化物または金属窒化膜から成る保護層が、安定したス
パッタにより形成可能となり、その結果膜厚再現性が高
く、ピンホールの少ない保護層を有す、生産歩留り率の
優れた磁気記録媒体を製造することのできる方法を提供
することにある。
[課題を解決するための手段]
本発明は、非磁性基体上に薄膜堆積法により形成した磁
性層の上に、金属酸化膜または金属窒化膜を形成する磁
気記録媒体の製造方法において、前記金属酸化膜または
金属窒化膜を、前記磁性層に酸素ガスまたは窒素ガスを
吹きつけつつ、対向ターゲット式スパッタ法で金属ター
ゲットをスパッタすることにより形成することを特徴と
する磁気記録媒体の製造方法である。
性層の上に、金属酸化膜または金属窒化膜を形成する磁
気記録媒体の製造方法において、前記金属酸化膜または
金属窒化膜を、前記磁性層に酸素ガスまたは窒素ガスを
吹きつけつつ、対向ターゲット式スパッタ法で金属ター
ゲットをスパッタすることにより形成することを特徴と
する磁気記録媒体の製造方法である。
以下、本発明を、図面に基づいて説明する。
第1図は、本発明の製造法の特徴を成す過程、即ち、金
属酸化膜または金属窒化膜の成膜過程に用いる装置の一
例を示す概略図である。
属酸化膜または金属窒化膜の成膜過程に用いる装置の一
例を示す概略図である。
第1図において、真空槽1は、その内部を排気する真空
ポンプ等から成る真空排気装置2aと、所定のArガス
を真空槽1内に導入してガス圧を01−10Pa程度に
設定するガス導入系3と、反応性ガスとして用いる酸素
または窒素を導入してガス流量05〜100 cc/m
in 程度に設定する酸素ガスまたは窒素ガス導入系
4a、4bとを具備する。ターゲット電極は、ターゲッ
トホルダー7により支持される一対のターゲット5.6
を互いに隔てて縦に平行に対向配置したものである。
ポンプ等から成る真空排気装置2aと、所定のArガス
を真空槽1内に導入してガス圧を01−10Pa程度に
設定するガス導入系3と、反応性ガスとして用いる酸素
または窒素を導入してガス流量05〜100 cc/m
in 程度に設定する酸素ガスまたは窒素ガス導入系
4a、4bとを具備する。ターゲット電極は、ターゲッ
トホルダー7により支持される一対のターゲット5.6
を互いに隔てて縦に平行に対向配置したものである。
両ターゲット5.6は直流安定化電流13が接続され、
真空槽1とシールド用絶縁体14により絶縁されている
。これらのターゲット5.6間には、磁界発生手段であ
る永久磁石8によるプラズマ収束磁界(例えば相対する
ターゲット中央で約1800eのプラズマ収束磁界)が
形成される。
真空槽1とシールド用絶縁体14により絶縁されている
。これらのターゲット5.6間には、磁界発生手段であ
る永久磁石8によるプラズマ収束磁界(例えば相対する
ターゲット中央で約1800eのプラズマ収束磁界)が
形成される。
一方、上記ターゲット間の上方では、表面に磁性層が形
成された非磁性基体9が、金属酸化膜または金属窒化膜
の被着部分を制限するマスク16の上に設置されている
。
成された非磁性基体9が、金属酸化膜または金属窒化膜
の被着部分を制限するマスク16の上に設置されている
。
なお、15は冷却水導入管および導出管であり、17は
プレスパツタ時のスパッタされた粒子が基体へ堆積させ
ないためのシャッター機構てある。
プレスパツタ時のスパッタされた粒子が基体へ堆積させ
ないためのシャッター機構てある。
上記のように構成された対向ターゲット式スパッタ装置
においては、Arガスイオンのターゲット表面に対する
衝撃で放出されたγ電子は、平行に対抗し合った両ター
ゲット5.6の各表面と垂直方向のプラズマ収束磁界に
より、ターゲット間の空間に閉じこめられ、対向するタ
ーゲット方向に移動する。
においては、Arガスイオンのターゲット表面に対する
衝撃で放出されたγ電子は、平行に対抗し合った両ター
ゲット5.6の各表面と垂直方向のプラズマ収束磁界に
より、ターゲット間の空間に閉じこめられ、対向するタ
ーゲット方向に移動する。
他方のターゲット表面に移動した、γ電子はその近傍の
陰極降下部で反射されγ電子はターゲット5.6間にお
いて、磁界に束縛されながら、往復運動を繰り返すこと
になる。この束縛過程の間にγ電子は中性のArガスと
衝突して、Arイオンと電子とを生成させ、これらの生
成物がターゲットからのγ電子の放出と中性Arガスの
イオン化を促進させる、従って、ターゲット5.6間に
は高密度のプラズマが生成され、これに伴なって、ター
ゲット金属が充分にスパッタされる。スパッタされた金
属は酸素ガスまたは窒素導入系4aから導入された酸素
ガスまたは窒素ガスと反応し、上方の磁気シート9の磁
性層上に金属酸化物膜または金属窒化膜として堆積して
ゆくことになる、本発明の方法では、基体に酸素または
窒素ガスを吹き付けることにより、ターゲツト面上の酸
化物あるいは窒化物の形成により誘発される異常放電お
よびそれに伴うアーク放電を防ぐことかできる。
陰極降下部で反射されγ電子はターゲット5.6間にお
いて、磁界に束縛されながら、往復運動を繰り返すこと
になる。この束縛過程の間にγ電子は中性のArガスと
衝突して、Arイオンと電子とを生成させ、これらの生
成物がターゲットからのγ電子の放出と中性Arガスの
イオン化を促進させる、従って、ターゲット5.6間に
は高密度のプラズマが生成され、これに伴なって、ター
ゲット金属が充分にスパッタされる。スパッタされた金
属は酸素ガスまたは窒素導入系4aから導入された酸素
ガスまたは窒素ガスと反応し、上方の磁気シート9の磁
性層上に金属酸化物膜または金属窒化膜として堆積して
ゆくことになる、本発明の方法では、基体に酸素または
窒素ガスを吹き付けることにより、ターゲツト面上の酸
化物あるいは窒化物の形成により誘発される異常放電お
よびそれに伴うアーク放電を防ぐことかできる。
このことによ゛す、連続して安定なスパッタを行うこと
が可能となり、且つアーク放電により発生すると思われ
る、酸化膜または窒化膜中のピンホールの除去が可能と
なる。
が可能となり、且つアーク放電により発生すると思われ
る、酸化膜または窒化膜中のピンホールの除去が可能と
なる。
基体と吹き付は口の距離は、スパッタ時のガス圧下での
分子平均自由行程を考慮した場合、少なくともその行程
以下にする必要がある。
分子平均自由行程を考慮した場合、少なくともその行程
以下にする必要がある。
なお、本発明は対向ターゲット式スパッタ装置を利用す
るものであるから、勿論、次の利点を備えている。即ち
、高速スパッタによる高堆積速度の成膜が可能であり、
また、他の高速スパッタ(マグネトロンスパッタ、3極
、4極スパツタ等)に比較して、基体がプラズマに直接
さらされることか少なく、低い基体温度での成膜が可能
である。しかも、飛翔粒子の基体への入射エネルギーが
通常のスパッタ装置のものより小さいので、基体上に形
成された磁性層への熱ダメージが少なく基体損傷の問題
がおこらない状態で膜形成が可能となる。このため、通
常のスパッタ方法に比較して極めて良好な結晶構造を有
する耐摩耗性の数れた酸化膜または窒化膜が形成される
。
るものであるから、勿論、次の利点を備えている。即ち
、高速スパッタによる高堆積速度の成膜が可能であり、
また、他の高速スパッタ(マグネトロンスパッタ、3極
、4極スパツタ等)に比較して、基体がプラズマに直接
さらされることか少なく、低い基体温度での成膜が可能
である。しかも、飛翔粒子の基体への入射エネルギーが
通常のスパッタ装置のものより小さいので、基体上に形
成された磁性層への熱ダメージが少なく基体損傷の問題
がおこらない状態で膜形成が可能となる。このため、通
常のスパッタ方法に比較して極めて良好な結晶構造を有
する耐摩耗性の数れた酸化膜または窒化膜が形成される
。
第2図は第1図に示した装置に対し、磁気ディスク、磁
気テープ等の磁気記録媒体の生産性を考慮し、金属酸化
膜または金属窒化膜の保護層を連続的に形成する対向タ
ーゲット式スパッタ装置の概略図である。即ち、この図
は、第1図に示した対向ターゲット式スパッタ装置にフ
ィルム搬送機構(巻き出しロール10、キャン11、巻
き出しロール12)、及び上室に新たに真空排気装置2
bを設備し、差動排気機構を設けた装置の図である。
気テープ等の磁気記録媒体の生産性を考慮し、金属酸化
膜または金属窒化膜の保護層を連続的に形成する対向タ
ーゲット式スパッタ装置の概略図である。即ち、この図
は、第1図に示した対向ターゲット式スパッタ装置にフ
ィルム搬送機構(巻き出しロール10、キャン11、巻
き出しロール12)、及び上室に新たに真空排気装置2
bを設備し、差動排気機構を設けた装置の図である。
保護層を連続的に形成する装置におけるアーク放電の発
生は、保護層のピンホールの増加はもとより、アーク放
電中の一時的な成膜停止により、その膜厚分布むらが生
じ、作製した磁気記録媒体の歩留が極めて低下すること
となる。第2図の装置では、このような欠点が除去でき
る。
生は、保護層のピンホールの増加はもとより、アーク放
電中の一時的な成膜停止により、その膜厚分布むらが生
じ、作製した磁気記録媒体の歩留が極めて低下すること
となる。第2図の装置では、このような欠点が除去でき
る。
本発明において、金属酸化膜または金属窒化膜として、
後述の実施例で挙げるCo酸化膜またはTi窒化膜ばか
りでなく、Ti酸化膜、All!酸化膜、AI窒化膜、
Co−Y酸化膜、Co−Al酸化膜、Co−I酸化膜、
Mo窒化膜等の他の種々の金属酸化膜や金属窒化膜が利
用でき、各々本発明の有効性に関して本質的に変わる点
はない。
後述の実施例で挙げるCo酸化膜またはTi窒化膜ばか
りでなく、Ti酸化膜、All!酸化膜、AI窒化膜、
Co−Y酸化膜、Co−Al酸化膜、Co−I酸化膜、
Mo窒化膜等の他の種々の金属酸化膜や金属窒化膜が利
用でき、各々本発明の有効性に関して本質的に変わる点
はない。
本発明の方法では、上述した金属酸化膜または金属窒化
膜の過程の前、非磁性基体上に、磁気記録層が形成され
るが、その非磁性基体には、ポリイミド、ボワアミド、
PET、PC等の高分子フィルム、またはAA、ガラス
等のハード基板等を用いることができ、磁気記録層には
Co Cr、Co−Ni 、 Co、 Fe−Cr
、 Co−〇、Fe、 Ni、 Fe−Ni、Fe−C
o−Ni、Fe−Rh 、 Fe−Co−Cr、Co−
Y等の強磁性金属から成る薄膜堆積型の磁性層が利用て
き[実施例] 実施例1 100×100mm、厚さ50μmのポリイミドフィル
ム上に、Co−Cr2O重量%の磁性層を04μ爪rf
マグネトロンスパツタ法により形成し、その上に第1図
に示した装置によってコバルト酸化膜を形成した。
膜の過程の前、非磁性基体上に、磁気記録層が形成され
るが、その非磁性基体には、ポリイミド、ボワアミド、
PET、PC等の高分子フィルム、またはAA、ガラス
等のハード基板等を用いることができ、磁気記録層には
Co Cr、Co−Ni 、 Co、 Fe−Cr
、 Co−〇、Fe、 Ni、 Fe−Ni、Fe−C
o−Ni、Fe−Rh 、 Fe−Co−Cr、Co−
Y等の強磁性金属から成る薄膜堆積型の磁性層が利用て
き[実施例] 実施例1 100×100mm、厚さ50μmのポリイミドフィル
ム上に、Co−Cr2O重量%の磁性層を04μ爪rf
マグネトロンスパツタ法により形成し、その上に第1図
に示した装置によってコバルト酸化膜を形成した。
コバルト酸化膜の作製条件は以下の通りである。
ターゲツト材・C。
対向ターゲット間隔:120mm
対向ターゲット間中心の磁場:1800eターゲツト形
状・150×100mm(厚さ6mm) 基体とターゲット中心との距離:120mm基体と酸素
ガス導入系先端との距離:20mm予備排気圧力・4X
10−’Pa 導入アルゴン圧:0.25Pa 導入酸素流量(4a)+ 2.0cc/分スパッタ投入
電カニ0.25kw 成膜速度: 100 J/min 膜厚・500八 マスク開口形状:直径60mmの円 5分間のスパッタ時間に異常グロー放電およびアーク放
電は発生しなかった。同一条件にて、前記と同じように
作製した磁性層上に、10回のスパッタを行ったが、ア
ーク放電は発生しなかった。このようにして作製した磁
気記録媒体から47mmφの磁気ディスク10枚を得た
。
状・150×100mm(厚さ6mm) 基体とターゲット中心との距離:120mm基体と酸素
ガス導入系先端との距離:20mm予備排気圧力・4X
10−’Pa 導入アルゴン圧:0.25Pa 導入酸素流量(4a)+ 2.0cc/分スパッタ投入
電カニ0.25kw 成膜速度: 100 J/min 膜厚・500八 マスク開口形状:直径60mmの円 5分間のスパッタ時間に異常グロー放電およびアーク放
電は発生しなかった。同一条件にて、前記と同じように
作製した磁性層上に、10回のスパッタを行ったが、ア
ーク放電は発生しなかった。このようにして作製した磁
気記録媒体から47mmφの磁気ディスク10枚を得た
。
比較例1
第1図に示す装置によって、酸素ガスの導入系を酸素ガ
ス導入系4aからではなく、酸素ガス導入系4bを用い
てArガス導入系3と同−口から導入し、実施例1と同
じように作製した磁性層上にコバルト酸化膜を形成した
。コバルト酸化膜の作製条件は実施例1と上記の点(酸
素ガス導入系の変更)を除いて同様にした。
ス導入系4aからではなく、酸素ガス導入系4bを用い
てArガス導入系3と同−口から導入し、実施例1と同
じように作製した磁性層上にコバルト酸化膜を形成した
。コバルト酸化膜の作製条件は実施例1と上記の点(酸
素ガス導入系の変更)を除いて同様にした。
5分間のスパッタ時間にアーク放電は3回発生した。
上記と同じように作製した磁性M上に条件を変えず、1
0回のスパッタを行なったところ、アーク放電は常時3
〜4回発生した。このようにして作製した磁気記録媒体
から47mmφの磁気ディス、り10枚を得た。
0回のスパッタを行なったところ、アーク放電は常時3
〜4回発生した。このようにして作製した磁気記録媒体
から47mmφの磁気ディス、り10枚を得た。
(評価)
実施例で得られた試料10枚および比較例で得られた1
0枚の試料について、垂直記録方式専用の記録再生装置
で11000rp 、サンプリング周波数(輝度信号)
7.16MHzで録画した画像のドロップアウト数を測
定した。実施例1および比較例1の各々10枚の平均ド
ロップアウト数の結果を表1に示す。
0枚の試料について、垂直記録方式専用の記録再生装置
で11000rp 、サンプリング周波数(輝度信号)
7.16MHzで録画した画像のドロップアウト数を測
定した。実施例1および比較例1の各々10枚の平均ド
ロップアウト数の結果を表1に示す。
表土
実施例1は、比較例1に比較し、ドロップアウトが減少
している。比較例1で得られた試料にっいて、電子顕微
鏡観察を行った結果、コバルト酸化膜のピンホール数が
5〜6倍増加していた。なお、実施例で測定されたドロ
ップアウト数はコバルト酸化膜自体のピンホールではな
く、フィルム上の付着物およびCoCr20重量%の磁
性層のピンホールに誘因されたものであることが光学顕
微鏡、SEM等の観察により明らかになった。コバルト
酸化膜のピンホールはスパッタ時のアーク放電によるも
のと考えられる。
している。比較例1で得られた試料にっいて、電子顕微
鏡観察を行った結果、コバルト酸化膜のピンホール数が
5〜6倍増加していた。なお、実施例で測定されたドロ
ップアウト数はコバルト酸化膜自体のピンホールではな
く、フィルム上の付着物およびCoCr20重量%の磁
性層のピンホールに誘因されたものであることが光学顕
微鏡、SEM等の観察により明らかになった。コバルト
酸化膜のピンホールはスパッタ時のアーク放電によるも
のと考えられる。
実施例2、比較例2
ターゲットをTi、 AIに変更し、導入する反応性ガ
スとして酸素ガス、窒素ガスを用いた以外は、実施例1
と同様にして4種類の磁気記録媒体(保護膜:Ti酸化
膜、Ti窒化膜、A1酸化膜、A1窒化膜)を作製した
(実施例2)。同様な変更を行なった以外は比較例1と
同様にして4種類の磁気記録媒体を作製した(比較例2
)。
スとして酸素ガス、窒素ガスを用いた以外は、実施例1
と同様にして4種類の磁気記録媒体(保護膜:Ti酸化
膜、Ti窒化膜、A1酸化膜、A1窒化膜)を作製した
(実施例2)。同様な変更を行なった以外は比較例1と
同様にして4種類の磁気記録媒体を作製した(比較例2
)。
(評価)
実施例2においては、異常グロー放電およびそれから誘
発されるアーク放電の発生は認められず、安定なスパッ
タを継続することが可能となり、ピンホールのない保護
層を有する磁気記録媒体か得られた。しかし、比較例2
てはアーク放電の発生が認められた。
発されるアーク放電の発生は認められず、安定なスパッ
タを継続することが可能となり、ピンホールのない保護
層を有する磁気記録媒体か得られた。しかし、比較例2
てはアーク放電の発生が認められた。
実施例3
第2図に示した装置を用い、ターゲツト材をTi、導入
ガスを窒素ガスとして、その流量を3 、 5 cc/
min、 、スパッタ投入電力0.8kw、フィルム搬
送速度を0 、6 am/ min、とじた以外は実施
例1と同様な条件で、磁性層表面にTi窒化膜か形成さ
れた磁気ディスク用磁気記録媒体を得た。
ガスを窒素ガスとして、その流量を3 、 5 cc/
min、 、スパッタ投入電力0.8kw、フィルム搬
送速度を0 、6 am/ min、とじた以外は実施
例1と同様な条件で、磁性層表面にTi窒化膜か形成さ
れた磁気ディスク用磁気記録媒体を得た。
実施例1同様にアーク放電の発生を押さえることが可能
であった。
であった。
[発明の効果]
以上説明したように、非磁性基体上に薄膜堆積法で磁性
層を形成後、その上に、金属酸化膜または金属窒化膜の
保護膜を形成する方法において、保護層を、磁性層に酸
素ガスまたは窒素ガスを吹きつけつつ、対向ターゲット
式スパッタ法で金属ターゲットをスパッタすることによ
り成膜することにより、保護層形成に際して、安定した
スバ・ンタを継続して行うことができ、結果的に生産歩
留りの高い、優れた磁気記録媒体を提供できるようにな
った・
層を形成後、その上に、金属酸化膜または金属窒化膜の
保護膜を形成する方法において、保護層を、磁性層に酸
素ガスまたは窒素ガスを吹きつけつつ、対向ターゲット
式スパッタ法で金属ターゲットをスパッタすることによ
り成膜することにより、保護層形成に際して、安定した
スバ・ンタを継続して行うことができ、結果的に生産歩
留りの高い、優れた磁気記録媒体を提供できるようにな
った・
第1図、第2図は、それぞれ本発明の特徴を成す過程を
実施する対向スパッタ装置の模式図である。 1・真空槽 2a、2b:排気系 3:Arガス導入系 4a、4b−酸素ガス、窒素ガス導入系5.6・ターゲ
ット 7:ターゲツトホルダー 8:永久磁石 9・非磁性基体上に磁性層を形成したフィルム 10・巻き出しロール 11、キャン 12・巻き取りロール 13:直流安定化電源 14、シールド用絶縁体 15 冷却水導入管および導出管 16 マスク
実施する対向スパッタ装置の模式図である。 1・真空槽 2a、2b:排気系 3:Arガス導入系 4a、4b−酸素ガス、窒素ガス導入系5.6・ターゲ
ット 7:ターゲツトホルダー 8:永久磁石 9・非磁性基体上に磁性層を形成したフィルム 10・巻き出しロール 11、キャン 12・巻き取りロール 13:直流安定化電源 14、シールド用絶縁体 15 冷却水導入管および導出管 16 マスク
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)非磁性基体上に薄膜堆積法により形成した磁性層の
上に、金属酸化膜または金属窒化膜を形成する磁気記録
媒体の製造方法において、前記金属酸化膜または金属窒
化膜を、前記磁性層に酸素ガスまたは窒素ガスを吹きつ
けつつ、対向ターゲット式スパッタ法で金属ターゲット
をスパッタすることにより形成することを特徴とする磁
気記録媒体の製造方法。 2)前記対向ターゲット式スパッタ法の電源に、直流電
源を用いる請求項1記載の磁気記録媒体の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5153588A JPH01227220A (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5153588A JPH01227220A (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01227220A true JPH01227220A (ja) | 1989-09-11 |
Family
ID=12889717
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5153588A Pending JPH01227220A (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01227220A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997006529A1 (en) * | 1995-08-07 | 1997-02-20 | Hmt Technology Corporation | Method for forming a thin carbon overcoat in a magnetic recording medium |
-
1988
- 1988-03-07 JP JP5153588A patent/JPH01227220A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997006529A1 (en) * | 1995-08-07 | 1997-02-20 | Hmt Technology Corporation | Method for forming a thin carbon overcoat in a magnetic recording medium |
US5714044A (en) * | 1995-08-07 | 1998-02-03 | Hmt Technology Corporation | Method for forming a thin carbon overcoat in a magnetic recording medium |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4395465A (en) | Magnetic recording medium and process for production thereof | |
US4673610A (en) | Magnetic recording medium having iron nitride recording layer | |
JPH01227220A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
JPS59147422A (ja) | 磁性層の形成方法 | |
JP2002133634A (ja) | 磁気記録媒体 | |
JPH08337873A (ja) | スパッタ方法 | |
JPS61276124A (ja) | 垂直磁気記録媒体の製造方法 | |
JPH0646456B2 (ja) | 磁気記録媒体製造装置 | |
JPH06306602A (ja) | 薄膜の製造方法 | |
JP3465354B2 (ja) | 薄膜形成装置 | |
JPH07192259A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
JPH0676281A (ja) | 磁気記録媒体及びその製造方法、製造装置 | |
JPH0820865A (ja) | 薄膜形成装置 | |
JP2883334B2 (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
JP2811456B2 (ja) | マグネタイト膜の製造方法および製造装置 | |
JP2004055114A (ja) | 磁気記録媒体及びその製造方法 | |
JP2000293847A (ja) | 磁気記録媒体の製造装置 | |
JPH0967669A (ja) | スパッタリング装置 | |
JPS6236285B2 (ja) | ||
JPH0320813B2 (ja) | ||
JPH08325718A (ja) | 成膜方法 | |
JPH06228748A (ja) | 薄膜製造装置 | |
JP2004273084A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
JPH01107319A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
JPH06251366A (ja) | 被膜形成方法及び形成装置 |