JPH01223937A - Ｘ線ｃｔスキャナ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔスキャナ装置Info
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- JPH01223937A JPH01223937A JP63048572A JP4857288A JPH01223937A JP H01223937 A JPH01223937 A JP H01223937A JP 63048572 A JP63048572 A JP 63048572A JP 4857288 A JP4857288 A JP 4857288A JP H01223937 A JPH01223937 A JP H01223937A
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- 238000013480 data collection Methods 0.000 claims description 18
- 238000005070 sampling Methods 0.000 abstract description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 18
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000004753 textile Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/419—Imaging computed tomograph
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（織業上の利用分野）
本発明は、Ｘ線ＣＴスキャナ装置装置に関し、特に、オ
フセット補正方式を改良したＸ線ＣＴスキャナ装置に関
する。
フセット補正方式を改良したＸ線ＣＴスキャナ装置に関
する。
（従来の技術）
Ｘ線ＣＴスキャナ装置の一例としていわゆる第３世代の
ものを説明する。すなわち、第３世代と称しているもの
は、Ｘ線源と多チャンネル型円弧状検出器とが被検体を
挟んで対向配置され、Ｘ線源と検出器との組を対向関係
を保って回転することにより被検体に対する多方向から
の透過Ｘ線に基づく投影データを、検出器及びデータ収
集部により収集して再構成画像を得るようにしたもので
ある。
ものを説明する。すなわち、第３世代と称しているもの
は、Ｘ線源と多チャンネル型円弧状検出器とが被検体を
挟んで対向配置され、Ｘ線源と検出器との組を対向関係
を保って回転することにより被検体に対する多方向から
の透過Ｘ線に基づく投影データを、検出器及びデータ収
集部により収集して再構成画像を得るようにしたもので
ある。
この種のＸ線ＣＴスキャナ装置では良質な画像を得るた
めにオフセットデータの補正が重要な要素となっている
。以下、オフセットデータ及びその補正方式について説
明する。すなわち、ここで冨うオフセットデータは、検
出器で発生する暗電流及びデータ収集部の回路系の演算
増幅器のオフセット電流、電圧によりＸ線が曝射されて
いない状態でも出力されるデータを称している。このオ
フセットデータは、被検者をスキャンしている時にＸ線
曝射データに加ってしまうために、再構成する前に前処
理としてＸ線曝射データから予め求めておいたオフセッ
トデータを引算する必要がある。
めにオフセットデータの補正が重要な要素となっている
。以下、オフセットデータ及びその補正方式について説
明する。すなわち、ここで冨うオフセットデータは、検
出器で発生する暗電流及びデータ収集部の回路系の演算
増幅器のオフセット電流、電圧によりＸ線が曝射されて
いない状態でも出力されるデータを称している。このオ
フセットデータは、被検者をスキャンしている時にＸ線
曝射データに加ってしまうために、再構成する前に前処
理としてＸ線曝射データから予め求めておいたオフセッ
トデータを引算する必要がある。
また、オフセットデータそのものは温度変化及び経時変
化に応じて変動するものであるので、スキャン開始前に
最新に収集したオフセットデータを使用する必要がある
。
化に応じて変動するものであるので、スキャン開始前に
最新に収集したオフセットデータを使用する必要がある
。
さらに、オフセットデータ自身ノイズ成分を持っている
ため、精度保持のために複数のデータより平均値を求め
る必要がある。
ため、精度保持のために複数のデータより平均値を求め
る必要がある。
以上の必要性のもとで、従来は、各スキャン毎にスキャ
ン直前にオフセットデータを収集する方式や被検者毎に
オフセットデータを収集する方式等が提案され且つ実施
されている。
ン直前にオフセットデータを収集する方式や被検者毎に
オフセットデータを収集する方式等が提案され且つ実施
されている。
上述したスキャン毎にスキャン直前にオフセットデータ
を収集する方式には次のような問題点がある。すなわち
、ダイナミックスキャンのようなスキャン間隔の短いシ
ーケンスではオフセットデータを収集する時間がとれな
いため、それ以前に求めたオフセットデータを用いなけ
ればならない。
を収集する方式には次のような問題点がある。すなわち
、ダイナミックスキャンのようなスキャン間隔の短いシ
ーケンスではオフセットデータを収集する時間がとれな
いため、それ以前に求めたオフセットデータを用いなけ
ればならない。
この場合、オフセットデータの安定性が必要となって（
る。
る。
また、被検者毎にオフセットデータを収集する方式では
次のような問題点がある。すなわち、各スキャン毎にオ
フセットデータを収集する場合でも、スキャン対象の被
検者のスキャンが完了するまでの間はオフセットデータ
が安定である必要がある。
次のような問題点がある。すなわち、各スキャン毎にオ
フセットデータを収集する場合でも、スキャン対象の被
検者のスキャンが完了するまでの間はオフセットデータ
が安定である必要がある。
上述したオフセットデータに安定性を求めることは、温
度制御を行なったり、使用する部品を選別したりする必
要があり、コスト上昇を招くことになる。
度制御を行なったり、使用する部品を選別したりする必
要があり、コスト上昇を招くことになる。
一方、オフセットデータを収集してその平均値を求める
必要があることは、スキャン時間及びオフセットデータ
収集時間の他に平均値計算時間を必要とすることであり
、診断効率（患者スループット）を悪化させものであり
、問題であつた。これを第２図を参照して説明する。オ
フセットデータ収集は平均値の精度を得るためにＮ回の
データを必要とすると、通常、数秒必要とする。また、
得られたＮ回のデータから平均値を求めるためにも検出
器の０Ｍ数をＭとすると、ＮＸＭの計算回数を必要とし
、時間がかかり、スキャンセットからスタートまで最低
でも数秒間被検者を待たせることになった。
必要があることは、スキャン時間及びオフセットデータ
収集時間の他に平均値計算時間を必要とすることであり
、診断効率（患者スループット）を悪化させものであり
、問題であつた。これを第２図を参照して説明する。オ
フセットデータ収集は平均値の精度を得るためにＮ回の
データを必要とすると、通常、数秒必要とする。また、
得られたＮ回のデータから平均値を求めるためにも検出
器の０Ｍ数をＭとすると、ＮＸＭの計算回数を必要とし
、時間がかかり、スキャンセットからスタートまで最低
でも数秒間被検者を待たせることになった。
（発明が解決しようとする課題）
このように従来の技術においては、各スキャン毎にスキ
ャン直前にオフセットデータを収集する方式や被検者毎
にオフセットデータを収集する方式によりオフセットデ
ータを求めるようにしているが、これらはいずれも温度
制御を行うための手段を必要としたり、診断効率を低下
させる等の問題があり、実用的でなかった。
ャン直前にオフセットデータを収集する方式や被検者毎
にオフセットデータを収集する方式によりオフセットデ
ータを求めるようにしているが、これらはいずれも温度
制御を行うための手段を必要としたり、診断効率を低下
させる等の問題があり、実用的でなかった。
そ、こで本発明の目的は、構成を複雑にすることなく且
つ診断効率を損わないで適切なオフセットデータを収集
することを可能にして、良質の画像を生成することがで
きるようにしたＸ線ＣＴスキャナ装置を提供することを
目的とする。
つ診断効率を損わないで適切なオフセットデータを収集
することを可能にして、良質の画像を生成することがで
きるようにしたＸ線ＣＴスキャナ装置を提供することを
目的とする。
［発明の構成〕
（課題を解決するための手段）
本発明は上記課題を解決し且つ目的を達成するために次
のような手段を講じたことを特徴としている。すなわち
、本発明は、Ｘ線源と多チャンネル型の円弧状又は環状
検出器とが被検体を挟んで対向配置され、前記Ｘ線源か
らＸ線ファンビームを曝射することにより、前記被検体
に対する多方向からの透過Ｘ線に基づく投影データを、
前記検出器及びデータ収集部により収集して再構成画像
を得るようにしたＸ線ＣＴスキャナ装置において、スキ
ャン体１ヒ期間中に前記検出器及びデータ収集部のオフ
セットデータを収集してこれを記憶する記憶手段と、一
回のオフセットデータ収集毎に以前のオフセットデータ
を前記記憶手段から読出してオフセットデータの平均値
を更新する演算手段とを具備した構成にしている。
のような手段を講じたことを特徴としている。すなわち
、本発明は、Ｘ線源と多チャンネル型の円弧状又は環状
検出器とが被検体を挟んで対向配置され、前記Ｘ線源か
らＸ線ファンビームを曝射することにより、前記被検体
に対する多方向からの透過Ｘ線に基づく投影データを、
前記検出器及びデータ収集部により収集して再構成画像
を得るようにしたＸ線ＣＴスキャナ装置において、スキ
ャン体１ヒ期間中に前記検出器及びデータ収集部のオフ
セットデータを収集してこれを記憶する記憶手段と、一
回のオフセットデータ収集毎に以前のオフセットデータ
を前記記憶手段から読出してオフセットデータの平均値
を更新する演算手段とを具備した構成にしている。
（作用）
このような構成によれば、オフセットデータの平均値は
オフセットデータ収集毎に更新されたものであるため、
常に最新のオフセットデータを維持することができるよ
うになる。この場合、記憶手段と演算手段とを必要とす
るが、これらを専用に持つまでもなく他の要素の機能の
一部を使用することにより実施することができるので、
構成は簡単である。また、オフセットデータの平均値の
更新を、オフセットデータ収集毎に行うようにしていの
で、計算のための特別の時間は必要なく、従って、無駄
な時間かなく診断効率は高いものとなる。
オフセットデータ収集毎に更新されたものであるため、
常に最新のオフセットデータを維持することができるよ
うになる。この場合、記憶手段と演算手段とを必要とす
るが、これらを専用に持つまでもなく他の要素の機能の
一部を使用することにより実施することができるので、
構成は簡単である。また、オフセットデータの平均値の
更新を、オフセットデータ収集毎に行うようにしていの
で、計算のための特別の時間は必要なく、従って、無駄
な時間かなく診断効率は高いものとなる。
（実施例）
以下本発明にかかるＸ線ＣＴスキャナ装置の一実施例を
その要部を示す第１図を参照して説明する。
その要部を示す第１図を参照して説明する。
第１図に示すように、Ｘ線源１と多チャンネル型円弧状
検出器２とが被検体Ｐを挾んで対向配置され、この対向
関係を保って回転しつつＸ曝射を行うことにより、検出
器２に連なるデータ収集部３によりデータ収集を行うこ
とができるようになっている。この収集データつまり被
検体Ｐに対する多方向からの透過Ｘ線に基づく投影デー
タにより、再構成画像をｉ与ることができるように構成
されている。
検出器２とが被検体Ｐを挾んで対向配置され、この対向
関係を保って回転しつつＸ曝射を行うことにより、検出
器２に連なるデータ収集部３によりデータ収集を行うこ
とができるようになっている。この収集データつまり被
検体Ｐに対する多方向からの透過Ｘ線に基づく投影デー
タにより、再構成画像をｉ与ることができるように構成
されている。
また、Ｘ線曝射がなされず且つ被検体Ｐが無い状態のス
キャン休止期間中に、検出器２及びデータ収集部４で発
生するオフセットデータをプロセッサ５の制御の下で収
集してこれを記憶するメモリ４と、一回のオフセットデ
ータ収集毎に以前のオフセットデータをメモリ４から読
出してオフセットデータの平均値を更新するプロセッサ
５とを備えている。ここで、プロセッサ５にはオフセッ
トデータの平均値がデータ収集毎に逐次更新されていく
。
キャン休止期間中に、検出器２及びデータ収集部４で発
生するオフセットデータをプロセッサ５の制御の下で収
集してこれを記憶するメモリ４と、一回のオフセットデ
ータ収集毎に以前のオフセットデータをメモリ４から読
出してオフセットデータの平均値を更新するプロセッサ
５とを備えている。ここで、プロセッサ５にはオフセッ
トデータの平均値がデータ収集毎に逐次更新されていく
。
以上の構成の下で本実施例装置のオフセットデータ収集
方式は次のようにして行う。すなわち、第２図に示すよ
うにシステムを起動してスキャンを行なえる状態にあっ
て、ステップｓ１にてスキャンスタートでない場合は、
ステップｓ２にてオフセットデータを収集する。そして
、ステップＳ３にて平均値の算出、平均値の更新を行な
い、ステップＳ１に戻り、スキャンスタートまでこの一
連の動作を繰返す。ここで、スキャンスタートとなると
ステップＳ４に進んでスキャンデータを収集し、このと
き前述のオフセットデータの平均値を用いてオフッセッ
ト補正を行ない、スキャンデータを得て、終わり、とな
り、画像再構成処理に移行する。
方式は次のようにして行う。すなわち、第２図に示すよ
うにシステムを起動してスキャンを行なえる状態にあっ
て、ステップｓ１にてスキャンスタートでない場合は、
ステップｓ２にてオフセットデータを収集する。そして
、ステップＳ３にて平均値の算出、平均値の更新を行な
い、ステップＳ１に戻り、スキャンスタートまでこの一
連の動作を繰返す。ここで、スキャンスタートとなると
ステップＳ４に進んでスキャンデータを収集し、このと
き前述のオフセットデータの平均値を用いてオフッセッ
ト補正を行ない、スキャンデータを得て、終わり、とな
り、画像再構成処理に移行する。
また、オフセットデータの収集の様子をタイミング図で
示すと第３図のようになる。すなわち、第３図に示すよ
うに、スキャン休止期間中にオフセットデータの収集を
繰返すが、オフセットデータ収集において、Ｎ回のデー
タをメモリ４にストアしておく。今、Ｎ回目の収集にお
いて平均値ｍＮは次のようになる。
示すと第３図のようになる。すなわち、第３図に示すよ
うに、スキャン休止期間中にオフセットデータの収集を
繰返すが、オフセットデータ収集において、Ｎ回のデー
タをメモリ４にストアしておく。今、Ｎ回目の収集にお
いて平均値ｍＮは次のようになる。
ｍＮ−（ｄ、＋−−−−ｔ−ｄＮ）／Ｎ次にＮ＋１回目
の収集において平均値ｍＮ１は次のように更新される。
の収集において平均値ｍＮ１は次のように更新される。
ｍＮ＋ｌ−ｍＮ＋ （ｄＮ＋１ ｄｌ ） ／Ｎ以下
１回の収集自身はデータのサンプリング周期（例えば５
ｍ５ｅｃ）で完了することができ、上述の動作を繰返
すことにより常に最新のオフセットデータをプロセッサ
５内に保持することができる。
１回の収集自身はデータのサンプリング周期（例えば５
ｍ５ｅｃ）で完了することができ、上述の動作を繰返
すことにより常に最新のオフセットデータをプロセッサ
５内に保持することができる。
以上のように本実施例によれば、１回のオフセットデー
タ収集で常に最新のオフセットデータの平均値を更新し
て行くので、計算もＭＸ１回で済み且つ休止期間に常時
行うため、被検者を待たせることがなくしてスキャンを
行うことができる。
タ収集で常に最新のオフセットデータの平均値を更新し
て行くので、計算もＭＸ１回で済み且つ休止期間に常時
行うため、被検者を待たせることがなくしてスキャンを
行うことができる。
従って、診断効率を高めることができるようになる。
上記においては、記憶手段としてメモリ４と演算手段と
してプロセッサ５とを必要とするが、これらを専用に持
つまでもなくＸ線ＣＴスキャナ装置に備わっている要素
の機能の一部を使用することにより実施することができ
るので、新規の構成を付加するまでもなく簡単に構成す
ることができる。
してプロセッサ５とを必要とするが、これらを専用に持
つまでもなくＸ線ＣＴスキャナ装置に備わっている要素
の機能の一部を使用することにより実施することができ
るので、新規の構成を付加するまでもなく簡単に構成す
ることができる。
さらに、ダイナミックスキャンのように休止期間が短く
Ｎ回のデータを収集できない場合でも本実施例の方式で
は１回毎に更新できるのでオフセットデータ収集を行な
い更新することができる。
Ｎ回のデータを収集できない場合でも本実施例の方式で
は１回毎に更新できるのでオフセットデータ収集を行な
い更新することができる。
本発明は上記実施例に特定されるものではなく、その要
旨はオフセットデータ収集方式に特徴を有するのである
ので、他のハードウェア等は種々の構成を採用できるこ
とはいうまでもない。 ゛［発明の効果］ 以上のように本発明では、スキャン休止期間中に前記検
出器及びデータ収集部のオフセットデータを収集してこ
れを記憶する記憶手段と、一回のオフセットデータ収集
毎に以前のオフセットデータを前記記憶手段から読出し
てオフセットデータの平均値を更新する演算手段とを具
備したことにより、オフセットデータの平均値はオフセ
ットデータ収集毎に更新されたものとなり、常に最新の
オフセットデータを維持することかできるようになる。
旨はオフセットデータ収集方式に特徴を有するのである
ので、他のハードウェア等は種々の構成を採用できるこ
とはいうまでもない。 ゛［発明の効果］ 以上のように本発明では、スキャン休止期間中に前記検
出器及びデータ収集部のオフセットデータを収集してこ
れを記憶する記憶手段と、一回のオフセットデータ収集
毎に以前のオフセットデータを前記記憶手段から読出し
てオフセットデータの平均値を更新する演算手段とを具
備したことにより、オフセットデータの平均値はオフセ
ットデータ収集毎に更新されたものとなり、常に最新の
オフセットデータを維持することかできるようになる。
この場合、記憶手段と演算手段とを必要とするが、これ
らを専用に持つまでもなく他の要素の機能の一部を使用
することにより実施することができるので、構成は簡単
である。また、オフセットデータの平均値の更新を、オ
フセットデータ収集毎に行うようにしていので、計算の
ための特別の時間は必要な（、従って、無駄な時間がな
く診断効率は高いものとなる。
らを専用に持つまでもなく他の要素の機能の一部を使用
することにより実施することができるので、構成は簡単
である。また、オフセットデータの平均値の更新を、オ
フセットデータ収集毎に行うようにしていので、計算の
ための特別の時間は必要な（、従って、無駄な時間がな
く診断効率は高いものとなる。
従って、本発明によれば、構成を複雑にすることなく且
つ診断効率を損わないで適切なオフセットデータを収集
することを可能にして、良質の画像を生成することがで
きるようにしたＸ線ＣＴスキャナ装置を提供することが
できる。
つ診断効率を損わないで適切なオフセットデータを収集
することを可能にして、良質の画像を生成することがで
きるようにしたＸ線ＣＴスキャナ装置を提供することが
できる。
第１図は本発明にかかるＸ線ＣＴスキャナ装置の一実施
例の要部を示す図、第２図は本実施例によるオフセット
データ収集方式を示す流れ図、第３図は同タイミング図
、第４図は従来例によるオフセットデータ収集方式を示
す図である。 １・・・Ｘ線源、２・・・検出器、３・・・データ収集
部、４・・・メモリ、５・・・プロセッサ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第１図 第２図
例の要部を示す図、第２図は本実施例によるオフセット
データ収集方式を示す流れ図、第３図は同タイミング図
、第４図は従来例によるオフセットデータ収集方式を示
す図である。 １・・・Ｘ線源、２・・・検出器、３・・・データ収集
部、４・・・メモリ、５・・・プロセッサ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第１図 第２図
Claims (1)
- Ｘ線源と多チャンネル型の円弧状又は環状検出器とが被
検体を挟んで対向配置され、前記Ｘ線源からＸ線ファン
ビームを曝射することにより、前記被検体に対する多方
向からの透過Ｘ線に基づく投影データを、前記検出器及
びデータ収集部により収集して再構成画像を得るように
したＸ線ＣＴスキャナ装置において、スキャン休止期間
中に前記検出器及びデータ収集部のオフセットデータを
収集してこれを記憶する記憶手段と、一回のオフセット
データ収集毎に以前のオフセットデータを前記記憶手段
から読出してオフセットデータの平均値を更新する演算
手段とを具備したことを特徴とするＸ線ＣＴスキャナ装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63048572A JPH0669454B2 (ja) | 1988-03-03 | 1988-03-03 | Ｘ線ｃｔスキャナ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63048572A JPH0669454B2 (ja) | 1988-03-03 | 1988-03-03 | Ｘ線ｃｔスキャナ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01223937A true JPH01223937A (ja) | 1989-09-07 |
| JPH0669454B2 JPH0669454B2 (ja) | 1994-09-07 |
Family
ID=12807109
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63048572A Expired - Lifetime JPH0669454B2 (ja) | 1988-03-03 | 1988-03-03 | Ｘ線ｃｔスキャナ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0669454B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001066368A (ja) * | 1999-08-26 | 2001-03-16 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5914605U (ja) * | 1982-07-21 | 1984-01-28 | 株式会社日立メデイコ | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JPS62286447A (ja) * | 1986-06-05 | 1987-12-12 | 株式会社東芝 | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JPS63288139A (ja) * | 1987-05-20 | 1988-11-25 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
-
1988
- 1988-03-03 JP JP63048572A patent/JPH0669454B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5914605U (ja) * | 1982-07-21 | 1984-01-28 | 株式会社日立メデイコ | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JPS62286447A (ja) * | 1986-06-05 | 1987-12-12 | 株式会社東芝 | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JPS63288139A (ja) * | 1987-05-20 | 1988-11-25 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001066368A (ja) * | 1999-08-26 | 2001-03-16 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置 |
| JP4691748B2 (ja) * | 1999-08-26 | 2011-06-01 | 株式会社島津製作所 | 放射線撮像装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0669454B2 (ja) | 1994-09-07 |
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