JPS62286447A - X線ct装置 - Google Patents

X線ct装置

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JPS62286447A
JPS62286447A JP61129159A JP12915986A JPS62286447A JP S62286447 A JPS62286447 A JP S62286447A JP 61129159 A JP61129159 A JP 61129159A JP 12915986 A JP12915986 A JP 12915986A JP S62286447 A JPS62286447 A JP S62286447A
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JP
Japan
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ray
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Pending
Application number
JP61129159A
Other languages
English (en)
Inventor
森山 雄二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS62286447A publication Critical patent/JPS62286447A/ja
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 3、発明の詳細な説明 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、X線曝射により生体などの3次元物体のめる
断面を画像化するX !fS CT装置に関し、特にそ
のオフセット補正の改良に関する。
(従来の技術) 従来よりX線CT装置においては、データ収集部で複数
チャンネルのX線検出器からの出力をサンプルホールド
し、これをA/D変換してパラレルディジタルデータに
変換して出力し、このデータに基づきCPUで再構成を
行ってCT両画像形成している。
ここで、前記データ収集部では各チャンネル毎でDCバ
イアス分の差が生ずるため、オフセット補正を行う必要
がある。
そこで、従来は生体などの断面のデータを収集する場合
と同じシーケンスでX線を発生させないでデータ収集を
行い、ホストコンピュータにて平均化したオフセットデ
ータを用いて、ホストコンピュータ又は専用の装置でオ
フセット補正を行っていた。
(発明が解決しようとする問題点) ところで、上述した従来のオフセット補正では特別なオ
フセット収集のシーケンスが必要なことと、ホストコン
ピュータ側にオフセットデータ用のメモリを必要とし、
メモリ管理等の煩雑な制御が必要でめった。このように
、ホストコンピュータ側にてのアクセス回数が増えるこ
とにより、画像再構成等の処理時間が遅くなるという問
題があった。
そこで、本発明はホストコンピュータ側のアクセス回数
を減らし、かつ、オフセット補正シーケンスが簡易なX
線CT装置の提供を目的とする。
[発明の構成] く問題点を解決するための手段) 本発明は、X¥@管よりX線が曝射されていない間に、
データ収集部より出力されるデータに基づき、各チャン
ネルについてのオフセットデータを収集するオフセット
データ収集部と、このオフセットデータを各チャンネル
毎に記憶する記憶部と、前記データ収集部からの被検体
に関するX線データより、前記記憶部内のオフセットデ
ータを各チャンネル毎に減算するオフセット補正部とを
設けてX線CT装置を構成している。
(作 用) 本発明では、X線が発生していない間のデータ収集部か
らの出力をオフセットデータとして収集し、これを各チ
ャンネル毎に記憶しておき、被検体についてのX線デー
タがデータ収集部より出力された際には、このX線デー
タより前記オフゼットデータを各チャンネル毎に減算し
てオフセット補正を行っている。
従って、オフセットデータの収集及びその補正を、ホス
トコンピュータと無関係に実行することができ、ホスト
コンピュータのアクセス回数を減らして効率のよいシス
テム運営が可能となる。
(実施例) 以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。
第1図は本実施例に係るX線CT装置のブロック図、第
2図はオフセットデータ収集部の一例を示すブロック図
である。
第1図において、1はX線管でおり、X線管制御装置3
の制御に基づき被検体Pに向けてX線を曝射する。2は
複数チャンネルから成るX線検出器であり、前記被検体
Pを挟んで前記X線管1と対向して配置され、かつ、回
転中心Oの回りに前記X線管1と一体的に回転するよう
になっている。
4はデータ収集部(DAS>であり、前記X線検出器2
からのデータをサンプルホールドした後にA/D変、損
じて出力するものである。尚、このデータ収集部4から
の出力としては、被検体Pをスキャンした際には被検体
についてのX線データが出力される。一方、被検体Pを
スキャンしていない際には、各チャンネルについてのD
Cバイアスのみに基づくデータが出力されることになる
セレクタ5は、前記データ収集部4からの被検体に関す
るX線データと、DCバイアス成分に基づくデータとを
異なる経路に切り換えて出力する。
尚、このセレクタ5は後述するタイミング発生回路6か
らの切り換え信号に基づき出力経路を切り換えるように
なっている。
前記タイミング発生回路6は、前記X線管制御装置3か
らの信号に基づき、本実施例装置のタイミングを制御す
るもので、X線の曝射(スキャン)の有無によって前記
切り換え信号を発生し、かつ、X線が曝射されない間に
は所定のクロック信号を出力するようになっている。
オフセットデータ収集部7は、前記DCバイアス成分に
基づくデータを複数回に分けて収集し、これを平均化し
て出力するものである。
このオフセットデータ収集部7の詳細を第2図に示す。
同図において、シフトレジスタ20は前記タイミング発
生回路6からのクロックに基づき前記セレクタ5を介し
て入力されるデータを前記クロック毎に入力し、かつシ
フトするものである。
加算器21は前記シフトレジスタ20からのデ−夕と、
後述するメモリ24からのデータとを加算して出力する
。セレクタ22は加算器の出力をシフター25又はメモ
リ24に出力するためのもので、クロック数が21に達
するまではメモリ24側に切り換え、クロック数が20
に達した際にはシフター25側に切り換える。尚、クロ
ック数が2°に達したか否かは、前記クロックをカウン
トするカウンタ23で検知され、この際にセレクタ22
に切り換え信号が出力されるようになっている。従って
、加算器21.セレクタ22及びメモリ24で、データ
が2n回に亘って累積されることになる。シフター25
はデータ平均化回路の一例であり、セクレタ22より出
力されるデータの下位nビットを脱落させることにより
データをシフトし、これによって1/2nに平均化して
これをオフセットデータとして出力する。
記憶部8は、上記オフセットデータ収集部7より出力さ
れるオフセットデータを各チャンネル毎記憶するもので
ある。
オフセット補正部9は、セレクタ5を介して入力される
前記被検体Pに関するX線データより、前記記憶部8か
らのオフセットデータを各チャンネル毎に減算してオフ
セット補正を行うものである。
そして、前記オフセット補正部9からの出力はインター
フェース(I/F)10を介してCPU11に入力され
、ここでCT両画像再構成するようになっている。
次に、上記構成のX線CT装置の作用について説明する
先ず、オフセットデータの収集について説明する。
、オフセットデータの収集は、X線管1よりX線が曝射
されていない間、例えば患者をスキャンする前に行う。
X線が爆射されていないことは、X線管制御装置3から
の信号によって検知でき、このときタイミング発生回路
6は前記セレクタ5の出力をオフセットデータ収集部7
側に切り換える信号を出力する。
X線検出器2には各チャンネルにDCバイアス電圧が印
加されているので、X線が曝射されていない状態でも、
このDCバイアス分の信号が出力される。そして、この
信号はデータ収集部4.セレクタ5を介してオフセット
データ収集部7に入力されることになる。
オフセットデータ収集部7では、前記タイミング発生回
路6からのクロック信号毎にシフトレジスタ20にデー
タを取り込み、かつ、クロック毎にシフトしてゆく。そ
して、最初にシフトレジスタ20に入力されたデータが
その後出力されると、このデータは加算器21.セレク
タ22を介してメモリ24に記憶される。次のデータが
前記シフトレジスタ20より出力されると、このデータ
とメモリ24内の最初のデータとが加算器21で加算さ
れ、セレクタ22を介して再度メモリ24に記憶される
。そして、このような加算を2n回繰り返す。2n回の
加算が終了すると、カウンタ23の切り換え信号によっ
てセレクタ22の出力経路が切り換えられ、この加味結
果がシフター25に入力される。シフター25では、前
記加算値のうち下位nビットを脱落させることで、この
加算値を1/2nに平均化して出力する。
上記のようにして収集されたオフセットデータは、各チ
ャンネル毎に記憶部8内に格納され、オフセットデータ
の収集が完了する。
次に、被検体PについてX線よりスキャンを行い、この
被検体Pに関する透過X線データかX線検出器2で検出
され、データ収集部4でサンプルホールド、A/D変換
して出力される。この際、セレクタ5は切り換え信号に
よって切り換えられているため、このX線データはセレ
クタ5を介してオフセット補正部9に入力される。一方
、この時前記記憶部8内のオフセットデータも前記オフ
セット補正部9に入力され、ここでX線データよりオフ
セットデータが各チャンネル毎に減算され、補正が実行
される。
このようにしてオフセット補正が実行されたデータは、
I/F10を介してCPU11に入力され、ここでCT
両画像再構成演算が実行されることになる。この結果前
られるCT像は、DCバイアス成分のチャンネル間の差
が補償され、アーチファクトのない画像として得られる
ことになる。
このように、本実施例によればホストコンピュータとは
無関係にオフセット補正を実行でき、ホストコンピュー
タのアクセス回数を低減できるので効率のよいシステム
の運営が可能となる。
尚、本実施例ではオフセットデータ収集部7で複数回に
分けて収集したデータを平均化しているが、これは各回
毎の入力データには各回毎に異なるノイズが重畳される
ため、平均することによってノイズ誤差の低減を図って
いる。尚、ノイズが無視できるならば1回でオフセット
データを収集してもよい。また、加算、平均化する場合
には、その手段としては本実施例のものに限定されず、
種々の手段を採用し得る。
また、このようなりCバイアス成分は経時的に変化する
ため、各患者へのスキャン開始前に行う他、同一患者に
ついて複数回のスキャンを行う場合にはこのスキャンの
空時間を利用してオフセットデータを収集し、各スキャ
ン毎にオフセットデータを更新して補正を行うようにし
てもよい。ざらに、このようなオフセットデータの収集
は、上記実施例のようにスキャンされていない状態を検
知して自動的に行うものに限らず、オペレータの操作入
力に基づいて行うようにしもよい。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によればDCバイアス成分
の差に基因するオフセットを補正するに際し、ホストコ
ンピュータと無関係に補正を行うことができ、゛ホスト
コンピュータ側のアクセス回数を低減し、かつ、オフセ
ット補正シーケンスを簡易にすることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例装置のブロック図、第2図は
オフセットデータ収集部のブロック図である。 1・・・X線管、2・・・X線検出器、4・・・データ
収集部、 ・7・・・オフセットデータ収集部、 8・・・記憶部、9・・・オフセット補正部。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)X線管より曝射されたX線に基づく被検体透過デ
    ータを検出する複数チャンネルのX線検出器と、このX
    線検出器からの出力をサンプルホールド、A/D変換し
    て出力するデータ収集部と、このデータ収集部からの出
    力に基づきCT画像を再構成する再構成部とを有するX
    線CT装置において、前記X線管よりX線が曝射されて
    いない間に、前記データ収集部より出力されるデータに
    基づき、各チャンネルについてのオフセットデータを収
    集するオフセットデータ収集部と、このオフセットデー
    タを各チャンネル毎に記憶する記憶部と、前記データ収
    集部からの被検体に関するX線データより、前記記憶部
    内のオフセットデータを各チャンネル毎に減算するオフ
    セット補正部とを設けたことを特徴とするX線CT装置
  2. (2)オフセットデータ収集部は、複数回に分けて収集
    したオフセットデータを平均化して出力する特許請求の
    範囲第1項記載のX線CT装置。
JP61129159A 1986-06-05 1986-06-05 X線ct装置 Pending JPS62286447A (ja)

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JP61129159A JPS62286447A (ja) 1986-06-05 1986-06-05 X線ct装置

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JP61129159A JPS62286447A (ja) 1986-06-05 1986-06-05 X線ct装置

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JPS62286447A true JPS62286447A (ja) 1987-12-12

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01223937A (ja) * 1988-03-03 1989-09-07 Toshiba Corp X線ctスキャナ装置
JP2005241294A (ja) * 2004-02-24 2005-09-08 Hitachi Ltd 透視撮像方法および装置

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JPS53123186A (en) * 1977-04-04 1978-10-27 Hitachi Medical Corp Xxray detector
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