JP2005241294A - 透視撮像方法および装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】X線CT撮像に代表される透視撮像に関して、放射線の出射強度が小さいなどの理由からそのばらつきが大きい場合でも、対象物構成材料の密度推定を十分に高い精度でなせるようにする。
【解決手段】放射線を対象物Pに対して同一の経路で複数回照射し、この複数照射における対象物からの放射線の出射強度をX線センサD1〜Dnで測定し、この出射強度から除算手段11と対数演算手段12にて対象物による放射線の減衰量を複数照射ごとに求めるとともにこの減衰量について平均値を求め、この平均減衰量に基づいて対象物の断面における密度分布を推定して透視像を作成する透視撮像方法について、繰返し照射における出射強度について平均値と偏差をばらつき測定手段13にて求め、この平均値と偏差を用いて平均減衰量を補正するようにしている。
【選択図】図1
【解決手段】放射線を対象物Pに対して同一の経路で複数回照射し、この複数照射における対象物からの放射線の出射強度をX線センサD1〜Dnで測定し、この出射強度から除算手段11と対数演算手段12にて対象物による放射線の減衰量を複数照射ごとに求めるとともにこの減衰量について平均値を求め、この平均減衰量に基づいて対象物の断面における密度分布を推定して透視像を作成する透視撮像方法について、繰返し照射における出射強度について平均値と偏差をばらつき測定手段13にて求め、この平均値と偏差を用いて平均減衰量を補正するようにしている。
【選択図】図1
Description
本発明は、放射線の照射で対象物を透視して撮像する透視撮像方法とそれに用いる装置に関する。
X線が各種の物質を透過する性質を利用した透視撮像の代表的な例として、X線CT装置によるCT撮像がある。X線CT装置では、X線源から放射されるX線を対象物にその一方の側から照射するとともに、その反対側に設置のX線センサで対象物透過後のX線の強度を測定する。そして、この透過X線について対象物による減衰量を求め、この減衰量からX線減衰率(=X線吸収係数:単位透過長さあたりの減衰量)を求める。
より具体的に説明すると、X線減衰量はLanbert-Beerの法則に基づいており、これを利用して減衰量から減衰率が求めることができる。すなわち、減衰率をα、入射強度をI0、出射強度をI、透過長さをLとすると、減衰量について次の(1)式の関係が成立し、この(1)式から減衰率αを求めることができる。
X線CT装置では対象物がターンテーブルに載せられており、ターンテーブルを回転させながらX線の照射と透過X線強度の測定が繰り返される。180度以上回転させることにより対象物の断面についてX線減衰率の分布を求めるのに充分な情報を集めることができ、対象物を構成する材料のX線減衰率がその材料の密度にほぼ比例することから、対象物の断面における密度分布が得られる。これらのX線CT装置における原理については、例えば「ASTM-E1441」に詳しく説明されている。
上記のようにX線CT装置では、対象物の断面内の該当する位置のX線減衰率をその位置の画素の値(以降、CT値と呼ぶ)とするCT画像を作成する。これは対象物の断面内の密度分布を表わす。このとき、対象物が厚肉で光子数の統計的ばらつきが問題になるまで出射強度が弱くなった場合、またはセンサの雑音等による出射強度自体のノイズが真の出射強度に対して相対的に大きくなった場合に、X線の出射強度のばらつきが増加し、同一照射経路に対する1回の測定では減衰率の誤差が増大するという可能性がある。そこで、従来のX線CT装置では、対象物に対して同一の経路で複数回測定し、その時の減衰量の平均をとることでばらつきの影響を少なくして減衰量を真値に近づけるようにしている。なおX線CT装置などの放射線撮像装置における放射線検出信号のばらつきの補正などに関しては、例えば特許文献1〜特許文献3などに開示の例が知られている。
出射強度のばらつきに関して従来のX線CTでは、上記のように、同一照射経路に対する測定を複数回行って減衰量の平均を求めることで対応している。しかしこの手法には以下のような問題がある。減衰量について平均を求める手法は、(1)式における対数演算をなした後に平均をとることになり、そのためCT画像のCT値、すなわち減衰率は対象物における減衰率の真値よりも小さな値になる。このことを図5に示す対数グラフに基づいて説明する。(1)式における対数の真数は、定義域が1より小さい範囲である。この対数の真数aの値が±δの範囲でばらついたとする。このとき、真数aに対する対数演算後の値Vaと真数a−δに対する対数演算後の値Va−δおよび真数a+δに対する対数演算後の値Va+δとの平均Vaveは、値Vaより小さくなる。これは対数演算の非線形性によるものであり、真数の値が1に近づくほど顕著になる。
以上のような問題から、減衰量の平均を求めることで出射強度のばらつきに対応する従来の手法では、減衰量に真値からのある程度の誤差が生じることを避けられず、出射強度のばらつきが大きくなるほどその誤差が大きくなる。
ところで、最近のX線CTではX線センサの感度がますます高くなってきており、1回の測定における光子数が10個程度でも検出することが可能となってきている。ただ、このように出射強度が非常に小さくなる場合には光子数に量子論的な効果が現れて出射強度のばらつきが大きくなる。その結果、上記のような従来の手法であると、減衰量の誤差が大きくなり過ぎ、対象物の構成材料の密度を十分な精度で推定することが困難になり、結果としX線センサの高感度化を有効に活かせなくなる。
本発明は、以上のような事情を背景になされたものであり、X線CT撮像に代表される透視撮像に関して、放射線の出射強度が小さいなどの理由からそのばらつきが大きい場合でも、対象物構成材料の密度推定を十分に高い精度でなせるようにすることを目的としている。
上記目的のために本発明では、放射線を対象物に対して同一の経路で複数回照射し、この複数照射における前記対象物からの放射線の出射強度を測定し、この出射強度から前記対象物による放射線の減衰量を前記複数照射ごとに求めるとともにこの減衰量について平均値を求めて透視像を作成する透視撮像方法において、前記複数照射における前記出射強度について平均値と偏差を求め、この出射強度についての平均値と偏差を用いて前記平均減衰量を補正するようにしたことを特徴としている。
また本発明では上記のような透視撮像方法で用いる透視撮像装置に前記出射強度の平均値と偏差を求める手段を備えさせるものとしている。
また本発明では上記目的のために、放射線を対象物に照射し、この照射で対象物を透過して出射する放射線の出射強度を測定し、この出射強度から前記対象物による放射線の減衰量を求めて透視像を作成する透視撮像方法において、前記対象物に対して同一の経路で前記放射線を透過させる測定を複数回なし、その複数測定における前記出射強度について平均値を求め、この平均出射強度を前記減衰量の算出に用いるようにしたことを特徴としている。
また本発明では上記のような透視撮像方法で用いる透視撮像装置に前記出射強度の平均値と偏差を求める手段を備えさせるものとしている。
本発明では、出射強度について平均値と偏差を求め、この出射強度についての平均値と偏差を用いて平均減衰量を補正するか、または出射強度について平均値を求めこの平均出射強度を減衰量の算出に用いるようにしている。このため本発明によれば、センサが検出する光子数が少ないとき、またはセンサの雑音が大きくなったときにでも対象物をX線が透過する際の減衰量を高い精度で推定することが可能となる。
以下では本発明を実施する上で好ましい形態について説明する。図1に第1の実施形態による透視撮像装置であるX線CT装置の構成を示す。このX線CT装置は、X線源1、ターンテーブル2、アレイ検出器3、データ処理系4および表示手段5を備えている。アレイ検出器3は、n+1個のX線センサD0〜Dnをアレイ状に配列した構成とされている。そしてX線センサD0は、上記式(1)における入射強度I0を測定するためのX線センサとして、透視撮像の対象となる被検体Pを透過することのないX線だけを検出できるように配置されている。一方、X線センサD1〜Dnは、被検体Pを透過したX線を検出できるように配置されている。
データ処理系4は、X線センサD0〜Dnからのデータ信号つまり被検体PへのX線の入射強度と被検体PからのX線の出射強度を入力とし、これらのデータから被検体PによるX線の減衰量を上記(1)式により求め、その減衰量に基づいて被検体Pの減衰率としてCT画像を作成し、それを表示手段5で表示する。そのためにデータ処理系4は、除算手段11、対数演算手段12、ばらつき測定手段13、補正手段14および画像作成手段15を備えている。なお、これらの各手段は、コンピュータプログラムとして構成されるのが通常である。
ばらつき測定手段13は、図2に示すように、X線センサD1〜Dnからのデータ信号つまり被検体PからのX線の出射強度信号をX線センサD1〜Dnごとでかつ後述する複数回測定における測定タイミングごとに蓄積できるように形成された記憶部21、記憶部21へのデータ信号の入力をX線センサD1〜Dnごとに制御するスイッチ部22、および記憶部21に蓄積されたデータから、後述する複数回測定におけるX線の同一透過経路についての出射強度の平均値と偏差をX線センサD1〜Dnごとに求める平均値/偏差算出部23を備えている。
以下ではこのようなX線CT装置でなされCT画像作成のための処理について説明する。X線源1から放射されたX線はターンテーブル2上の被検体Pに照射される。そして、被検体Pを透過することにより減衰を受けたX線の被検体Pからの出射強度がX線センサD1〜Dnにて光子数として測定される。この間に、X線源1から放射されるX線の強度つまり被検体Pに対するX線の入射強度はX線センサD0により同じく光子数として測定されている。
このようなX線の照射とX線の被検体Pへの入射強度および被検体Pからの出射強度の測定は、ターンテーブル2を所定の角度で180度になるまで順次回転させながらその回転角度ごとに照射と測定を同期して行うものである。これを一つのセットと考える。前述の出射強度におけるばらつき問題への対応はこのセットを複数回、例えば10回程度、被検体Pに対するX線の透過経路が同じになるようにして、繰り返すことで行われる。
このような測定の繰返しを通じて、一つの測定タイミングごとにX線センサD0〜Dnからのデータ信号がデータ処理系4に送られて画像作成のためのデータ処理を受ける。具体的には、除算手段11と対数演算手段12により、上記(1)式から一つの測定タイミングごとの減衰量をX線センサD1〜Dnごとに求めるとともに、複数セットの測定(m1〜mN)におけるX線の同一透過経路についての減衰量の平均値をX線センサD1〜Dnごとに求める。その一方でばらつき測定手段13は、複数セットの測定におけるX線の同一透過経路について、X線センサD1〜Dnごとのデータを記憶部21に測定が終了するまで保存する。そして、測定が終了した時点でその保存データから、平均値/偏差算出部23により、複数回測定におけるX線の同一透過経路についての出射強度の平均値をX線センサD1〜Dnごとに求めるとともに、任意の測定タイミングmjにおける偏差をX線センサD1〜Dnごとに求める。
ばらつき測定手段13で求めた出射強度の平均値と偏差は補正手段14に出力される。これを受けた補正手段14は、その平均値と偏差から補正項を求め、これを除算手段11と対数演算手段12にて求めた減衰量の平均値にX線センサD1〜Dnごとに加算する補正を行う。そしてこの補正がなされた減衰量に基づいて画像作成手段15がCT画像を作成し、それを表示手段5に表示する。
補正手段14による補正項の算出は下記の式(2)と(3)によりなされる。そして式(3)における第2項(式(4)に示す)として補正項が得られる。
以上のように本発明の一実施形態では、出射強度について平均値と偏差を求め、これから導かれる補正項を減衰量の平均値に加算することで補正するようにしている。このため、画像データのもととなる減衰量をより真値に近づけることができ、したがって出射強度のばらつきが大きい場合でも被検体の構成材料の密度を十分に高い精度で推定することが可能となる。
以上の実施形態は、既存のX線CT装置を前提に、それにおけるデータ処理プログラムに簡単な修正を施すだけで適用できるようにしたものである。本発明はこのような実施形態の他にも次に説明する実施形態とすることも可能である。
図3に第2の実施形態による透視撮像装置であるX線CT装置の構成を示す。このX線CT装置は、そのデータ処理系30を除いて第1の実施形態におけるX線CT装置と同様である。したがって共通する部分には同一の符号を付し、それらについては上での説明を援用する。
データ処理系30は、除算手段31、対数演算手段32、出射強度平均値算出手段33、および画像作成手段34を備えている。その出射強度平均値算出手段33は、図4に示すように、X線センサD1〜Dnからのデータ信号をX線センサD1〜Dnごとでかつ第2段階の繰返し測定における測定タイミングごとに蓄積できるように形成された記憶部41、記憶部41へのデータ信号の入力をX線センサD1〜Dnごとに制御するスイッチ部42、および記憶部41に蓄積されたデータから、第2段階の繰返し測定におけるX線の同一透過経路についての出射強度の平均値をX線センサD1〜Dnごとに求める平均値算出部43を備えている。この出射強度平均値算出手段33で求めた出射強度の平均値は上記の(1)式における出射強度Iとして用いられ、除算手段31と対数演算手段32により(1)式から減衰量が求められ、その減衰量に基づいて画像再構成手段15がCT画像を再構成し、それを表示手段5に表示する。
このように出射強度の平均を求め、これを直接用いて減衰量を求める形態にあっても第1の実施形態の場合と同様に、画像データのもととなる減衰量をより真値に近づけることができ、出射強度のばらつきが大きい場合でも被検体の構成材料の密度を十分に高い精度で推定することが可能となる。
本発明は、放射線を用いる透視撮像に関して、対象物からの放射線の出射強度に大きなばらつきがある場合でもの対象物の構成材料の密度を十分に高い精度で推定することを可能とする。したがって本発明は、X線CT装置などの透視撮像分野のさらなる高度化に大きく寄与できる。
1 X線源
2 ターンテーブル
13 ばらつき測定手段
23 平均値/偏差算出部
33 出射強度平均値算出手段
43 平均値算出部
D0〜Dn X線センサ
P 被検体
2 ターンテーブル
13 ばらつき測定手段
23 平均値/偏差算出部
33 出射強度平均値算出手段
43 平均値算出部
D0〜Dn X線センサ
P 被検体
Claims (4)
- 放射線を対象物に対して同一の経路で複数回照射し、この複数照射における前記対象物からの放射線の出射強度を測定し、この出射強度から前記対象物による放射線の減衰量を前記複数照射ごとに求めるとともにこの減衰量について平均値を求めて透視像を作成する透視撮像方法において、前記複数照射における前記出射強度について平均値と偏差を求め、この出射強度についての平均値と偏差を用いて前記平均減衰量を補正するようにしたことを特徴とする透視撮像方法。
- 請求項1に記載の透視撮像方法で用いる透視撮像装置であって、前記出射強度の平均値と偏差を求める手段を備えてなる透視撮像装置。
- 放射線を対象物に照射し、この照射で対象物を透過して出射する放射線の出射強度を測定し、この出射強度から前記対象物による放射線の減衰量を求めて透視像を作成する透視撮像方法において、前記対象物に対して同一の経路で前記放射線を透過させる測定を複数回なし、その複数測定における前記出射強度について平均値を求め、この平均出射強度を前記減衰量の算出に用いるようにしたことを特徴とする透視撮像方法。
- 請求項3に記載の透視撮像方法で用いる透視撮像装置であって、前記出射強度の平均値を求める手段を備えてなる透視撮像装置。
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- 2004-02-24 JP JP2004048325A patent/JP2005241294A/ja active Pending
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