JP3491951B2 - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
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Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、アーチファクトの低減
と再構成画像の高画質化を図ったＸ線ＣＴ装置に関する
ものである。
と再構成画像の高画質化を図ったＸ線ＣＴ装置に関する
ものである。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線ＣＴ装置では多色Ｘ線を用いている
ために、ビームハードニングアーチファクトが原理的に
発生する。
ために、ビームハードニングアーチファクトが原理的に
発生する。
【０００３】このビームハードニングに関しては、従来
から様々な補正処理が行われている。基本的方法として
は、銅等のPre-Filterにより軟Ｘ線成分を減らしてハー
ドニングを抑制する方法がある。
から様々な補正処理が行われている。基本的方法として
は、銅等のPre-Filterにより軟Ｘ線成分を減らしてハー
ドニングを抑制する方法がある。
【０００４】また、ビームハードニングは減弱に対する
非線形性を呈するものであるため、予め校正用のファン
トム（サイズの異なる数種類のファントム）で求めてお
いた校正曲線で補正する方法もある。しかし、全体的な
ビームハードニング誤差は低減できるものの、内部が均
一な物質で構成されているファントムでは、人体のよう
な内部が不均一な物質（組織）で構成されている被検体
については精密に補正できない。特に、骨は軟部組織に
比べ吸収係数がかなり高く、骨によるビームハードニン
グ誤差と軟部組織によるビームハードニング誤差とは大
きく異なってくる。
非線形性を呈するものであるため、予め校正用のファン
トム（サイズの異なる数種類のファントム）で求めてお
いた校正曲線で補正する方法もある。しかし、全体的な
ビームハードニング誤差は低減できるものの、内部が均
一な物質で構成されているファントムでは、人体のよう
な内部が不均一な物質（組織）で構成されている被検体
については精密に補正できない。特に、骨は軟部組織に
比べ吸収係数がかなり高く、骨によるビームハードニン
グ誤差と軟部組織によるビームハードニング誤差とは大
きく異なってくる。
【０００５】このような骨によるビームハードニング誤
差を補正する方法としては、特開平５−１９２３２５号
（特願平４−３２７３４号）等がある。これらは、一
旦、再構成した画像から骨や軟部組織の透過長情報を抽
出し、透過長の関数として定義された校正曲線で補正す
るものである。これにより、Ｘ線ビーム線路上の骨の透
過長に応じた補正がなされ、良好な画像を得ることがで
きる。しかし、計測時のスライス厚が厚いと、パーシャ
ルボリューム効果により補正が有効に働かないという不
具合があった。
差を補正する方法としては、特開平５−１９２３２５号
（特願平４−３２７３４号）等がある。これらは、一
旦、再構成した画像から骨や軟部組織の透過長情報を抽
出し、透過長の関数として定義された校正曲線で補正す
るものである。これにより、Ｘ線ビーム線路上の骨の透
過長に応じた補正がなされ、良好な画像を得ることがで
きる。しかし、計測時のスライス厚が厚いと、パーシャ
ルボリューム効果により補正が有効に働かないという不
具合があった。
【０００６】ここで、パーシャルボリューム効果とは、
図６に示すように、例えばスライス厚７１方向におい
て、Ｘ線ビーム７２線路上に部分的に被検体７０の骨７
３がかかり、その骨７３が同上被検体７０の軟部組織７
４との平均的な組織として計測されることをいう。これ
によると、再構成画像の骨７３のＣＴ値が低くなり透過
長情報が正しく得られなくなったり、アーチファクトを
発生させたりする。なお図６において、７５はＸ線源、
７６はＸ線検出器である。
図６に示すように、例えばスライス厚７１方向におい
て、Ｘ線ビーム７２線路上に部分的に被検体７０の骨７
３がかかり、その骨７３が同上被検体７０の軟部組織７
４との平均的な組織として計測されることをいう。これ
によると、再構成画像の骨７３のＣＴ値が低くなり透過
長情報が正しく得られなくなったり、アーチファクトを
発生させたりする。なお図６において、７５はＸ線源、
７６はＸ線検出器である。
【０００７】このようなパーシャルボリューム効果を抑
制するために、薄いスライス厚で計測する場合がある
が、これではＸ線の利用効率が低下し、画像ノイズが著
しく増加するためコントラスト差のない病変を観察する
には適さない。
制するために、薄いスライス厚で計測する場合がある
が、これではＸ線の利用効率が低下し、画像ノイズが著
しく増加するためコントラスト差のない病変を観察する
には適さない。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】上記のように従来技術
では、骨の入り組んだ頭蓋底レベル等、骨によるビーム
ハードニングの影響が大きい領域（厚いスライス厚での
撮影に問題があった領域）において、アーチファクトや
画像ノイズの少ない画像を得ることができないという問
題点があった。
では、骨の入り組んだ頭蓋底レベル等、骨によるビーム
ハードニングの影響が大きい領域（厚いスライス厚での
撮影に問題があった領域）において、アーチファクトや
画像ノイズの少ない画像を得ることができないという問
題点があった。
【０００９】本発明の目的は、骨の入り組んだ頭蓋底レ
ベル等、骨によるビームハードニングの影響が大きい領
域でも、アーチファクトや画像ノイズの少ない良好な画
像を得ることのできるＸ線ＣＴ装置を提供することにあ
る。
ベル等、骨によるビームハードニングの影響が大きい領
域でも、アーチファクトや画像ノイズの少ない良好な画
像を得ることのできるＸ線ＣＴ装置を提供することにあ
る。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明は、Ｘ線を照射す
るＸ線源と、被検体を透過した上記Ｘ線を任意の計測ス
ライス厚を有する複数の第１の投影データとして検出す
る検出装置と、上記投影データを処理して画像データに
変換する画像処理装置を備えたＸ線ＣＴ装置において、
上記画像処理装置は、上記計測スライス厚とこの計測ス
ライス厚以上のビームハードニング補正スライス厚とこ
のビームハードニング補正スライス厚以上の再構成画像
スライス厚とを設定する設定手段と、上記複数の第１の
投影データに対して上記計測スライス厚に応じた重み付
け加算をして、上記ビームハードニング補正スライス厚
を有する加算投影データを作成し、さらにこれを再構成
して第１の再構成画像を作成し、上記ビームハードニン
グ補正スライス厚毎に、この第１の再構成画像から上記
被検体内の透過長を求め、この透過長に応じてビームハ
ードニング補正した上記ビームハードニング補正スライ
ス厚を有する第２の投影データを求める手段と、上記第
２の投影データを再構成して、上記構成スライス厚を有
する第２の再構成画像を得る手段と、を有することを特
徴とするＸ線ＣＴ装置を開示する。
るＸ線源と、被検体を透過した上記Ｘ線を任意の計測ス
ライス厚を有する複数の第１の投影データとして検出す
る検出装置と、上記投影データを処理して画像データに
変換する画像処理装置を備えたＸ線ＣＴ装置において、
上記画像処理装置は、上記計測スライス厚とこの計測ス
ライス厚以上のビームハードニング補正スライス厚とこ
のビームハードニング補正スライス厚以上の再構成画像
スライス厚とを設定する設定手段と、上記複数の第１の
投影データに対して上記計測スライス厚に応じた重み付
け加算をして、上記ビームハードニング補正スライス厚
を有する加算投影データを作成し、さらにこれを再構成
して第１の再構成画像を作成し、上記ビームハードニン
グ補正スライス厚毎に、この第１の再構成画像から上記
被検体内の透過長を求め、この透過長に応じてビームハ
ードニング補正した上記ビームハードニング補正スライ
ス厚を有する第２の投影データを求める手段と、上記第
２の投影データを再構成して、上記構成スライス厚を有
する第２の再構成画像を得る手段と、を有することを特
徴とするＸ線ＣＴ装置を開示する。
【００１１】 更に本発明は、Ｘ線を照射するＸ線源
と、被検体を透過した上記Ｘ線を任意の計測スライス厚
を有する複数の第１の投影データとして検出する検出装
置と、上記投影データを処理して画像データに変換する
画像処理装置を備えたＸ線ＣＴ装置において、上記画像
処理装置は、上記計測スライス厚とこの計測スライス厚
以上のビームハードニング補正スライス厚とこのビーム
ハードニング補正スライス厚以上の再構成画像スライス
厚とを設定する設定手段と、 上記複数の第１の投影デ
ータに対して上記計測スライス厚に応じた重み付け加算
をして、上記ビームハードニング補正スライス厚を有す
る加算投影データを作成し、さらにこれを再構成して第
１の再構成画像を作成し、上記ビームハードニング補正
スライス厚毎に、この第１の再構成画像から上記被検体
内の透過長を求め、この透過長に応じてビームハードニ
ング補正値を示す上記ビームハードニング補正スライス
厚を有する歪み投影データを求める手段と、 上記歪み
投影データを再構成して歪み再構成画像を得て、これを
上記第１の再構成画像に加算することで上記再構成スラ
イス厚を有する第２の再構成画像を得る手段と、を有す
ることを特徴とするＸ線ＣＴ装置を開示する。
と、被検体を透過した上記Ｘ線を任意の計測スライス厚
を有する複数の第１の投影データとして検出する検出装
置と、上記投影データを処理して画像データに変換する
画像処理装置を備えたＸ線ＣＴ装置において、上記画像
処理装置は、上記計測スライス厚とこの計測スライス厚
以上のビームハードニング補正スライス厚とこのビーム
ハードニング補正スライス厚以上の再構成画像スライス
厚とを設定する設定手段と、 上記複数の第１の投影デ
ータに対して上記計測スライス厚に応じた重み付け加算
をして、上記ビームハードニング補正スライス厚を有す
る加算投影データを作成し、さらにこれを再構成して第
１の再構成画像を作成し、上記ビームハードニング補正
スライス厚毎に、この第１の再構成画像から上記被検体
内の透過長を求め、この透過長に応じてビームハードニ
ング補正値を示す上記ビームハードニング補正スライス
厚を有する歪み投影データを求める手段と、 上記歪み
投影データを再構成して歪み再構成画像を得て、これを
上記第１の再構成画像に加算することで上記再構成スラ
イス厚を有する第２の再構成画像を得る手段と、を有す
ることを特徴とするＸ線ＣＴ装置を開示する。
【００１２】 更に本発明は、Ｘ線を照射するＸ線源
と、被検体を透過した上記Ｘ線を任意の計測スライス厚
を有する複数の投影データとして検出する検出装置と、
上記投影データを処理して画像データに変換する画像処
理装置を備えたＸ線ＣＴ装置において、上記画像処理装
置は、上記計測スライス厚とこの計測スライス厚以上の
ビームハードニング補正スライス厚とこのビームハード
ニング補正スライス厚以上の再構成画像スライス厚とを
設定する設定手段と、 上記複数の投影データをそれぞ
れ再構成して各投影データに対応する複数の第１の再構
成画像を作成し、上記ビームハードニング補正スライス
厚毎に、上記複数の第１の再構成画像から上記被検体内
の透過長を求め、この透過長に応じて上記複数の投影デ
ータに対してビームハードニング補正した上記ビームハ
ードニング補正スライス厚を有する複数の補正投影デー
タを求める手段と、 上記複数の補正投影データに対し
て上記計測スライス厚に応じた重み付けと再構成処理を
行うことで上記再構成スライス厚を有する第２の再構成
画像を得る手段と、を有することを特徴とするＸ線ＣＴ
装置を開示する。
と、被検体を透過した上記Ｘ線を任意の計測スライス厚
を有する複数の投影データとして検出する検出装置と、
上記投影データを処理して画像データに変換する画像処
理装置を備えたＸ線ＣＴ装置において、上記画像処理装
置は、上記計測スライス厚とこの計測スライス厚以上の
ビームハードニング補正スライス厚とこのビームハード
ニング補正スライス厚以上の再構成画像スライス厚とを
設定する設定手段と、 上記複数の投影データをそれぞ
れ再構成して各投影データに対応する複数の第１の再構
成画像を作成し、上記ビームハードニング補正スライス
厚毎に、上記複数の第１の再構成画像から上記被検体内
の透過長を求め、この透過長に応じて上記複数の投影デ
ータに対してビームハードニング補正した上記ビームハ
ードニング補正スライス厚を有する複数の補正投影デー
タを求める手段と、 上記複数の補正投影データに対し
て上記計測スライス厚に応じた重み付けと再構成処理を
行うことで上記再構成スライス厚を有する第２の再構成
画像を得る手段と、を有することを特徴とするＸ線ＣＴ
装置を開示する。
【００１３】
【作用】計測スライス厚を薄くすることで計測時のパー
シャルボリューム効果に起因するアーチファクトが抑制
される。また、再構成画像のＣＴ値精度を向上して透過
長情報を正しく取得することによって精密なビームハー
ドニング補正が可能となり、それらの画像を加算するこ
とによってアーチファクトや画像ノイズの少ない良好な
画像が得られることになる。
シャルボリューム効果に起因するアーチファクトが抑制
される。また、再構成画像のＣＴ値精度を向上して透過
長情報を正しく取得することによって精密なビームハー
ドニング補正が可能となり、それらの画像を加算するこ
とによってアーチファクトや画像ノイズの少ない良好な
画像が得られることになる。
【００１４】更に、複数スライスのデータを加算するこ
とで、薄いスライスで計測した場合の演算時間及び観察
すべき画像枚数の増加を抑え、スクリーニングに要する
時間や読影者の負担が軽減される。
とで、薄いスライスで計測した場合の演算時間及び観察
すべき画像枚数の増加を抑え、スクリーニングに要する
時間や読影者の負担が軽減される。
【００１５】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。図４は、本発明によるＸ線ＣＴ装置の一実施例の
概略を示す構成図である。本発明装置は、図示例ではス
リップリングを搭載し連続回転が可能で一周１秒のスキ
ャンができる走査ガントリ４０１と、撮影制御、画像処
理あるいは診断支援をする画像診断装置４０４と、Ｘ線
に高電圧を供給する高電圧発生装置４０３と、患者テー
ブル４０２とを備えてなる。
する。図４は、本発明によるＸ線ＣＴ装置の一実施例の
概略を示す構成図である。本発明装置は、図示例ではス
リップリングを搭載し連続回転が可能で一周１秒のスキ
ャンができる走査ガントリ４０１と、撮影制御、画像処
理あるいは診断支援をする画像診断装置４０４と、Ｘ線
に高電圧を供給する高電圧発生装置４０３と、患者テー
ブル４０２とを備えてなる。
【００１６】撮影条件としては、管電圧、管電流、スラ
イス厚（計測スライス厚）、スキャン時間、通常スキャ
ン／螺旋スキャン等のスキャンモードの選択等がある。
これらの設定は画像診断装置４０４で行われる。また、
スキャンモードの選択において螺旋スキャンを選択した
場合は、テーブル移動速度や画像再構成間隔等を画像診
断装置４０４で設定する。
イス厚（計測スライス厚）、スキャン時間、通常スキャ
ン／螺旋スキャン等のスキャンモードの選択等がある。
これらの設定は画像診断装置４０４で行われる。また、
スキャンモードの選択において螺旋スキャンを選択した
場合は、テーブル移動速度や画像再構成間隔等を画像診
断装置４０４で設定する。
【００１７】更に本発明装置においては、計測スライス
厚とは別にビームハードニング補正スライス厚と再構成
画像スライス厚を例えば画像診断装置４０４に設けられ
たスキャン設定手段で設定できるようになっている。螺
旋データ補正については、特開昭６２−８７１３７号
（特願昭６０−２２７００６号）に代表される補正方法
が用いられるが、ここでは説明を簡略化するために、螺
旋データ補正後のデータは設定した計測スライス厚と実
効的に等しいと仮定する。
厚とは別にビームハードニング補正スライス厚と再構成
画像スライス厚を例えば画像診断装置４０４に設けられ
たスキャン設定手段で設定できるようになっている。螺
旋データ補正については、特開昭６２−８７１３７号
（特願昭６０−２２７００６号）に代表される補正方法
が用いられるが、ここでは説明を簡略化するために、螺
旋データ補正後のデータは設定した計測スライス厚と実
効的に等しいと仮定する。
【００１８】ここで、本発明装置におけるスキャンパラ
メータ設定の一例をテーブル化して図３に示す。本発明
装置において関連するパラメータは、計測スライス厚
（単位：ｍｍ）、ビームハードニング補正スライス厚
（ＢＨ補正スライス厚（単位：ｍｍ））、再構成画像ス
ライス厚（単位：ｍｍ）である。テーブルにはそれぞれ
のパラメータ値における後述加算処理ステップ１０５、
１０７、１０９における加算データ数（単位：枚）を示
してある。この場合、加算データ数１は加算しないこ
と、換言すれば加算処理ステップ１０５、１０７、１０
９において、その処理ステップがスルーとなることを意
味している。
メータ設定の一例をテーブル化して図３に示す。本発明
装置において関連するパラメータは、計測スライス厚
（単位：ｍｍ）、ビームハードニング補正スライス厚
（ＢＨ補正スライス厚（単位：ｍｍ））、再構成画像ス
ライス厚（単位：ｍｍ）である。テーブルにはそれぞれ
のパラメータ値における後述加算処理ステップ１０５、
１０７、１０９における加算データ数（単位：枚）を示
してある。この場合、加算データ数１は加算しないこ
と、換言すれば加算処理ステップ１０５、１０７、１０
９において、その処理ステップがスルーとなることを意
味している。
【００１９】本発明装置における画像処理の流れの一例
を図１に示す。図１において、ビームハードニング補正
ステップ１０６は、前述したような透過長情報を用いて
ビームハードニング補正するステップで、例えば図２に
示すように、ビームハードニング補正用再構成画像５０
０を求める再構成処理部５０１と、透過長情報を得る透
過長算出処理部５０２と、求めた透過長情報を元にビー
ムハードニング補正を行うビームハードニング補正処理
部５０３とからなる。
を図１に示す。図１において、ビームハードニング補正
ステップ１０６は、前述したような透過長情報を用いて
ビームハードニング補正するステップで、例えば図２に
示すように、ビームハードニング補正用再構成画像５０
０を求める再構成処理部５０１と、透過長情報を得る透
過長算出処理部５０２と、求めた透過長情報を元にビー
ムハードニング補正を行うビームハードニング補正処理
部５０３とからなる。
【００２０】このようなビームハードニング補正ステッ
プ１０６からは、補正前の投影データに加える歪み投影
データ５０４又は補正済みの補正投影データ１０２を出
力することができるが、ここでは補正投影データ１０２
を出力するものとして説明する。
プ１０６からは、補正前の投影データに加える歪み投影
データ５０４又は補正済みの補正投影データ１０２を出
力することができるが、ここでは補正投影データ１０２
を出力するものとして説明する。
【００２１】例えば、計測スライス厚３ｍｍ、ＢＨ補正
スライス厚６ｍｍ、再構成画像スライス厚１２ｍｍとし
た場合、図１の加算処理ステップ１０５によって２スラ
イスの計測投影データ（螺旋スキャンにより計測した場
合は、螺旋スキャンにより得られた計測データから補間
又は重み付け等により求めたスキャナ回転面に平行な断
面の投影データをいう。）１０１を加算した６ｍｍスラ
イスの加算投影データを求め、ビームハードニング補正
ステップ１０６でビームハードニング補正を行う。
スライス厚６ｍｍ、再構成画像スライス厚１２ｍｍとし
た場合、図１の加算処理ステップ１０５によって２スラ
イスの計測投影データ（螺旋スキャンにより計測した場
合は、螺旋スキャンにより得られた計測データから補間
又は重み付け等により求めたスキャナ回転面に平行な断
面の投影データをいう。）１０１を加算した６ｍｍスラ
イスの加算投影データを求め、ビームハードニング補正
ステップ１０６でビームハードニング補正を行う。
【００２２】次いで、上記のように再構成画像スライス
厚は１２ｍｍであるから、加算処理ステップ１０７又は
１０９で２スライスの補正投影データ１０２又は補正画
像１０３を加算し、補正後再構成画像（最終補正画像）
１０４を得る。
厚は１２ｍｍであるから、加算処理ステップ１０７又は
１０９で２スライスの補正投影データ１０２又は補正画
像１０３を加算し、補正後再構成画像（最終補正画像）
１０４を得る。
【００２３】ここで、上記加算処理ステップ１０７と１
０９は、どちらか一方のみが選択されて加算が行わる
（このとき他方の加算処理ステップはスルーとなる）。
どちらで加算を行っても補正後再構成画像（最終補正画
像）１０４はほとんど等価である。
０９は、どちらか一方のみが選択されて加算が行わる
（このとき他方の加算処理ステップはスルーとなる）。
どちらで加算を行っても補正後再構成画像（最終補正画
像）１０４はほとんど等価である。
【００２４】加算処理ステップ１０７で加算を行ったと
きは、その加算後の１の補正投影データに対して再構成
処理ステップ１０８で再構成処理を行い（加算処理ステ
ップ１０９はスルーとなり）、補正後再構成画像（最終
補正画像）１０４を得る。
きは、その加算後の１の補正投影データに対して再構成
処理ステップ１０８で再構成処理を行い（加算処理ステ
ップ１０９はスルーとなり）、補正後再構成画像（最終
補正画像）１０４を得る。
【００２５】加算処理ステップ１０９で加算を行うとき
は、複数の補正投影データ１０２の各々について再構成
処理ステップ１０８で再構成処理を行い（加算処理ステ
ップ１０７はスルーとなり）、再構成された複数の補正
画像１０３を加算処理ステップ１０９で加算し、その加
算後のデータ（１の補正画像）に対して再構成処理ステ
ップ１０８で再構成処理を行い、補正後再構成画像（最
終補正画像）１０４を得る。
は、複数の補正投影データ１０２の各々について再構成
処理ステップ１０８で再構成処理を行い（加算処理ステ
ップ１０７はスルーとなり）、再構成された複数の補正
画像１０３を加算処理ステップ１０９で加算し、その加
算後のデータ（１の補正画像）に対して再構成処理ステ
ップ１０８で再構成処理を行い、補正後再構成画像（最
終補正画像）１０４を得る。
【００２６】計測スライス厚と等しい（又は補正後再構
成画像（最終補正画像）１０４より薄いスライス厚の）
補正画像１０３を必要としないならば、加算処理ステッ
プ１０７での加算を選択すれば（加算処理ステップ１０
９をスルーとすれば）、より高速に補正後再構成画像
（最終補正画像）１０４が得られる。なお、補正画像１
０３を必要とする場合としては、例えば薄いスライス像
である補正画像１０３を用いて３Ｄ画像を作成したいと
き等が挙げられる。
成画像（最終補正画像）１０４より薄いスライス厚の）
補正画像１０３を必要としないならば、加算処理ステッ
プ１０７での加算を選択すれば（加算処理ステップ１０
９をスルーとすれば）、より高速に補正後再構成画像
（最終補正画像）１０４が得られる。なお、補正画像１
０３を必要とする場合としては、例えば薄いスライス像
である補正画像１０３を用いて３Ｄ画像を作成したいと
き等が挙げられる。
【００２７】前記スキャンパラメータ設定に当たって、
早い段階で加算処理が行われるように設定した方が補正
後再構成画像（最終補正画像）１０４を得るまでの全体
の演算時間が短くなり、加算処理ステップ１０９で加算
する場合はかなりの演算量，時間となる。
早い段階で加算処理が行われるように設定した方が補正
後再構成画像（最終補正画像）１０４を得るまでの全体
の演算時間が短くなり、加算処理ステップ１０９で加算
する場合はかなりの演算量，時間となる。
【００２８】またＢＨ補正スライス厚は、薄い設定の方
がビームハードニング補正が有効に働き、画質的に良好
な画像が得られる。薄いＢＨ補正スライス厚が設定され
ていることは、薄いスライス厚で計測されていることと
なるので、計測時のパーシャルボリュームエラーは軽減
されていることとなり、したがって補正後再構成画像
（最終補正画像）１０４と同じスライス厚で計測した場
合と比べれば十分良好な画像となる。
がビームハードニング補正が有効に働き、画質的に良好
な画像が得られる。薄いＢＨ補正スライス厚が設定され
ていることは、薄いスライス厚で計測されていることと
なるので、計測時のパーシャルボリュームエラーは軽減
されていることとなり、したがって補正後再構成画像
（最終補正画像）１０４と同じスライス厚で計測した場
合と比べれば十分良好な画像となる。
【００２９】スライス厚の異なる投影データを混在して
図１の処理を行う場合は、加算処理時にスライス厚に応
じた重みづけ加算をする必要がある。例えば、スライス
厚１ｍｍの６枚の投影データとスライス厚２ｍｍの２枚
の投影データを加算する場合は、加算後画像（補正後再
構成画像（最終補正画像）１０４等）の実質的なスライ
ス厚１０ｍｍに対する重みとして、スライス厚１ｍｍの
各投影データには１／１０、スライス厚２ｍｍの各投影
データには２／１０の重みを乗じて加算する。
図１の処理を行う場合は、加算処理時にスライス厚に応
じた重みづけ加算をする必要がある。例えば、スライス
厚１ｍｍの６枚の投影データとスライス厚２ｍｍの２枚
の投影データを加算する場合は、加算後画像（補正後再
構成画像（最終補正画像）１０４等）の実質的なスライ
ス厚１０ｍｍに対する重みとして、スライス厚１ｍｍの
各投影データには１／１０、スライス厚２ｍｍの各投影
データには２／１０の重みを乗じて加算する。
【００３０】なお、スキャンパラメータ設定での設定値
の採り方による画像処理の流れの代表的な３例（Ｉ，I
I，III）を図５に示しておく。この図５において、６０
１は加算投影データ（１枚）、１０２ａは第１の補正投
影データ（又は第１の歪投影データ）（１枚）、１０２
ｂは第２の補正投影データ（又は第２の歪投影データ）
（複数枚）、１０２ｃは第３の補正投影データ（１
枚）、１０４ａ〜１０４ｃは各々補正後再構成画像（１
枚）である。その他、図５において図１と同一符号は同
一又は相当部分を示す。
の採り方による画像処理の流れの代表的な３例（Ｉ，I
I，III）を図５に示しておく。この図５において、６０
１は加算投影データ（１枚）、１０２ａは第１の補正投
影データ（又は第１の歪投影データ）（１枚）、１０２
ｂは第２の補正投影データ（又は第２の歪投影データ）
（複数枚）、１０２ｃは第３の補正投影データ（１
枚）、１０４ａ〜１０４ｃは各々補正後再構成画像（１
枚）である。その他、図５において図１と同一符号は同
一又は相当部分を示す。
【００３１】第１例（ルートＩ）によれば、複数のスラ
イスをまとめて補正するので補正にかかる処理時間を大
幅に短縮可能（第１例〜第３例中、最少処理時間）とな
る。
イスをまとめて補正するので補正にかかる処理時間を大
幅に短縮可能（第１例〜第３例中、最少処理時間）とな
る。
【００３２】第２例，第３例（ルートII，ルートIIＩ）
によれば、パーシャルボリューム効果の影響の少ないデ
ータで補正を行うためスライス厚の厚い画像でも良好な
画像が得られる。第３例（ルートIIＩ）によれば、第２
例（ルートII）より処理時間が短縮する。
によれば、パーシャルボリューム効果の影響の少ないデ
ータで補正を行うためスライス厚の厚い画像でも良好な
画像が得られる。第３例（ルートIIＩ）によれば、第２
例（ルートII）より処理時間が短縮する。
【００３３】図１，図５において、加算、ビームハード
ニング補正、再構成等、各処理（ステップ１０５，１０
７，１０９、ステップ１０６、ステップ１０９での処
理）は、図４中の画像診断装置４０４等に設けられた画
像処理手段にて行われる。
ニング補正、再構成等、各処理（ステップ１０５，１０
７，１０９、ステップ１０６、ステップ１０９での処
理）は、図４中の画像診断装置４０４等に設けられた画
像処理手段にて行われる。
【００３４】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、計
測スライス厚を薄くすることで計測時のパーシャルボリ
ューム効果に起因するアーチファクトが抑制される。ま
た、再構成画像のＣＴ値精度を向上して透過長情報を正
しく取得することによって精密なビームハードニング補
正が可能となり、それらの画像を加算することによって
アーチファクトや画像ノイズの少ない良好な画像が得ら
れるという効果がある。
測スライス厚を薄くすることで計測時のパーシャルボリ
ューム効果に起因するアーチファクトが抑制される。ま
た、再構成画像のＣＴ値精度を向上して透過長情報を正
しく取得することによって精密なビームハードニング補
正が可能となり、それらの画像を加算することによって
アーチファクトや画像ノイズの少ない良好な画像が得ら
れるという効果がある。
【００３５】また、複数スライスのデータを加算するこ
とで、薄いスライスで計測した場合の演算時間及び観察
すべき画像枚数の増加を抑え、スクリーニングに要する
時間や読影者の負担が軽減されるという効果もある。
とで、薄いスライスで計測した場合の演算時間及び観察
すべき画像枚数の増加を抑え、スクリーニングに要する
時間や読影者の負担が軽減されるという効果もある。
【００３６】更に、スキャンパラメータ設定において、
計測スライス厚とは別にビームハードニング補正スライ
ス厚を設定可能なため撮影部位に適した補正が容易に設
定でき、同様に再構成画像スライス厚を設定可能なため
診断目的に応じた厚さの高品位画像が得られるという効
果もある。
計測スライス厚とは別にビームハードニング補正スライ
ス厚を設定可能なため撮影部位に適した補正が容易に設
定でき、同様に再構成画像スライス厚を設定可能なため
診断目的に応じた厚さの高品位画像が得られるという効
果もある。
【図１】本発明装置における画像処理の流れの一例を示
す図である。
す図である。
【図２】図１中のビームハードニング補正ステップのハ
ード構成例を示す図である。
ード構成例を示す図である。
【図３】本発明装置におけるスキャンパラメータ設定の
一例をテーブル化して示す図である。
一例をテーブル化して示す図である。
【図４】本発明によるＸ線ＣＴ装置の一実施例の概略を
示す構成図である。
示す構成図である。
【図５】本発明装置における画像処理の流れの代表例を
示す図である。
示す図である。
【図６】パーシャルボリューム効果の説明図である。
１０１ 計測投影データ
１０２ 補正投影データ
１０３ 補正画像
１０４ 補正後再構成画像（最終補正画像）
１０５、１０７、１０９ 加算処理ステップ
１０６ ビームハードニング補正ステップ
１０８ 再構成処理ステップ
４０１ 走査ガントリ
４０２ 患者テーブル
４０３ 高電圧発生装置
４０４ 画像診断装置（画像処理手段，スキャン設定
手段） ５００ ビームハードニング補正用再構成画像 ５０１ 再構成処理部 ５０２ 透過長算出処理部 ５０３ ビームハードニング補正処理部 ５０４ 歪み投影データ
手段） ５００ ビームハードニング補正用再構成画像 ５０１ 再構成処理部 ５０２ 透過長算出処理部 ５０３ ビームハードニング補正処理部 ５０４ 歪み投影データ
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(56)参考文献 特開 平６−7341（ＪＰ，Ａ)
特開 平２−249535（ＪＰ，Ａ)
特開 平５−192325（ＪＰ，Ａ)
特開 昭61−109551（ＪＰ，Ａ)
特開 昭54−144189（ＪＰ，Ａ)
特公 平３−27046（ＪＰ，Ｂ２)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
A61B 6/03
Claims (6)
- 【請求項１】 Ｘ線を照射するＸ線源と、被検体を透過
した上記Ｘ線を任意の計測スライス厚を有する複数の第
１の投影データとして検出する検出装置と、上記投影デ
ータを処理して画像データに変換する画像処理装置を備
えたＸ線ＣＴ装置において、 上記画像処理装置は、上記計測スライス厚とこの計測スライス厚以上のビーム
ハードニング補正スライス厚とこのビームハードニング
補正スライス厚以上の再構成画像スライス厚とを設定す
る設定手段と、 上記複数の第１の投影データに対して上記計測スライス
厚に応じた重み付け加算をして、上記ビームハードニン
グ補正スライス厚を有する加算投影データを作成し、さ
らにこれを再構成して第１の再構成画像を作成し、上記
ビームハードニング補正スライス厚毎に、この第１の再
構成画像から上記被検体内の透過長を求め、この透過長
に応じてビームハードニング補正した上記ビームハード
ニング補正スライス厚を有する第２の投影データを求め
る手段と、 上記第２の投影データを再構成して、上記構成スライス
厚を有する第２の再構成画像を得る手段と、を有する こ
とを特徴とするＸ線ＣＴ装置。 - 【請求項２】 Ｘ線を照射するＸ線源と、被検体を透過
した上記Ｘ線を任意の計測スライス厚を有する複数の第
１の投影データとして検出する検出装置と、上記投影デ
ータを処理して画像データに変換する画像処理装置を備
えたＸ線ＣＴ装置において、 上記画像処理装置は、上記計測スライス厚とこの計測スライス厚以上のビーム
ハードニング補正スライス厚とこのビームハードニング
補正スライス厚以上の再構成画像スライス厚とを設定す
る設定手段と、 上記複数の第１の投影データに対して
上記計測スライス厚に応じた重み付け加算をして、上記
ビームハードニング補正スライス厚を有する加算投影デ
ータを作成し、さらにこれを再構成して第１の再構成画
像を作成し、上記ビームハードニング補正スライス厚毎
に、この第１の再構成画像から上記被検体内の透過長を
求め、この透過長に応じてビームハードニング補正値を
示す上記ビームハードニング補正スライス厚を有する歪
み投影データを求める手段と、 上記歪み投影データを
再構成して歪み再構成画像を得て、これを上記第１の再
構成画像に加算することで上記再構成スライス厚を有す
る第２の再構成画像を得る手段と、を有する ことを特徴
とするＸ線ＣＴ装置。 - 【請求項３】 Ｘ線を照射するＸ線源と、被検体を透過
した上記Ｘ線を任意の計測スライス厚を有する複数の投
影データとして検出する検出装置と、上記投影データを
処理して画像データに変換する画像処理装置を備えたＸ
線ＣＴ装置において、 上記画像処理装置は、上記計測スライス厚とこの計測スライス厚以上のビーム
ハードニング補正スライス厚とこのビームハードニング
補正スライス厚以上の再構成画像スライス厚とを設定す
る設定手段と、 上記複数の投影データをそれぞれ再構
成して各投影データに対応する複数の第１の再構成画像
を作成し、 上記ビームハードニング補正スライス厚毎に、上記複数
の第１の再構成画像から上記被検体内の透過長を求め、
この透過長に応じて上記複数の投影データに対してビー
ムハードニング補正した上記ビームハードニング補正ス
ライス厚を有する複数の補正投影データを求める手段
と、 上記複数の補正投影データに対して上記計測スラ
イス厚に応じた重み付けと再構成処理を行うことで上記
再構成スライス厚を有する第２の再構成画像を得る手段
と、を有する ことを特徴とするＸ線ＣＴ装置。 - 【請求項４】 前記投影データには、前記スライス幅の
異なる投影データが混在していることを特徴とする請求
項１から３のいずれかに記載のＸ線ＣＴ装置。 - 【請求項５】 前記投影データは、螺旋スキャンにより
得られた計測結果に基づいて得られたスキャナ回転面に
平行な断面の投影データであることを特徴とする請求項
１から４のいずれかに記載のＸ線ＣＴ装置。 - 【請求項６】 上記設定手段でのビームハードニング補
正スライス厚と再構成画像ス ライス厚とは、撮影部位に
応じて定めるものとした請求項１〜５のいずれかに記載
のＸ線ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06855794A JP3491951B2 (ja) | 1994-04-06 | 1994-04-06 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06855794A JP3491951B2 (ja) | 1994-04-06 | 1994-04-06 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07275236A JPH07275236A (ja) | 1995-10-24 |
| JP3491951B2 true JP3491951B2 (ja) | 2004-02-03 |
Family
ID=13377189
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP06855794A Expired - Lifetime JP3491951B2 (ja) | 1994-04-06 | 1994-04-06 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3491951B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10255698B2 (en) | 2017-08-28 | 2019-04-09 | Shenzhen United Imaging Healthcare Co., Ltd. | System and method for removing hard tissue in CT image |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3744041B2 (ja) * | 1995-12-28 | 2006-02-08 | 株式会社島津製作所 | 放射線撮像装置 |
| US6351548B1 (en) * | 1999-06-23 | 2002-02-26 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Fast hierarchical reprojection algorithm for tomography |
| JP4597334B2 (ja) * | 2000-09-12 | 2010-12-15 | 株式会社日立メディコ | 画像診断装置 |
| JP4142482B2 (ja) * | 2003-04-04 | 2008-09-03 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2008061957A (ja) * | 2006-09-11 | 2008-03-21 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置およびｘ線ｃｔ装置におけるデータ処理方法 |
| JP5384521B2 (ja) * | 2008-11-27 | 2014-01-08 | 株式会社日立メディコ | 放射線撮像装置 |
| JP2012050853A (ja) * | 2011-11-04 | 2012-03-15 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP6142172B2 (ja) * | 2014-06-03 | 2017-06-07 | 朝日レントゲン工業株式会社 | ビームハードニング補正装置、ビームハードニング補正方法、及びｘ線撮影装置 |
| JP2018166721A (ja) * | 2017-03-29 | 2018-11-01 | 株式会社日立製作所 | Ｘ線ｃｔ装置、画像処理装置、および、画像処理方法 |
-
1994
- 1994-04-06 JP JP06855794A patent/JP3491951B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10255698B2 (en) | 2017-08-28 | 2019-04-09 | Shenzhen United Imaging Healthcare Co., Ltd. | System and method for removing hard tissue in CT image |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07275236A (ja) | 1995-10-24 |
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