JPH01202807A

JPH01202807A - 小型大容量積層セラミックコンデンサ

Info

Publication number: JPH01202807A
Application number: JP2649288A
Authority: JP
Inventors: Fumio Matsushita; 文夫松下; Shingo Kimura; 真吾木村; Hiroyasu Akashi; 明石　景泰
Original assignee: Asahi Chemical Industry Co Ltd
Current assignee: Asahi Chemical Industry Co Ltd
Priority date: 1988-02-09
Filing date: 1988-02-09
Publication date: 1989-08-15

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）本発明は、電子材料分野で使用される積層セラミックコ
ンデンサに関するものであり、さらに詳しくは、誘電体
セラミックと金属導体を層状にして互いに密着して積層
することにより、小型大容量を実現する積層セラミック
コンデンサに関するものである。

（従来の技術）積層セラミックコンデンサは、そのサイズが例えば３．
２■Ｘ　２．５　（Ｗ）１１１１と非常に小さいにもか
かわらず、１μＦにも達する極めて大きな静電容量を有
しており、小型大容量という優れた特徴を持っている。

本発明では、大きさを表す記号として、Ｌ、Ｗ。

Ｔ等を日本電子機械工業会規格：　ＲＣ−３４０２に準
じて使用する。

このような小型大容量の積層セラミックコンデンサは、
よシ小型高密度化する電子機器のニーズとも合致し、広
く使用されると共に、より小型大容量化の傾向を強めら
る。

積層セラミックコンデンサは、第１図に示すように、誘
電体セラミック材料と金属導体を層状に積みかさね、金
属導体の層を一層ごとに対極する電極層１となし、誘電
体セラミック材料の層を誘電体層２となし、この誘電体
層−層に一個のコンデンサ機能を待たせ、これを積み重
ねることにより、小型ながら大容量を持つような構造を
有している。なお、第１図において、３は有効積層部分
である。

本発明では、積層セラミックコンデンサの小型・大容量
性を表わす目安として、有効積層部分の１立方ミリメー
トル酒たりの靜電容ｉｉ’ｉｖ効静電容量として定義す
る。本発明で有効積層部分とは。

誘電体層と電極層が交互に積層され、かつ、電極層が一
層おきに電位差を生じ、静電容量を有効に引き出す構造
となっている部分を言う。有効積層部分と称する目的は
、積層セラミックコンデンサ内部において、電極の存在
しない誘電体層のみの部分や、電極層と訪′屯体層が交
互に積み重なっていても、電極が全て等電位となり静電
容量を引き出すことができない部分等があシ、これらの
部分は、実質的にコンデンサとして有効に働がないため
、これらの部分と区別するためである。

従来一般に製造されている積層セラミックコンデンサの
有効静電容量は１通常０．２μＦ／ｌｎｍ”であり、最
近では０．９μＦ／ｌｒｉといった比較的高容量のもの
も製造されはじめている。

（発明が解決しようとする課題）積層セラミックコンデンサは、このように小型で大容量
という優れた特徴を持っている。しかし。

電子機器のより小型経量化へのニーズはめざましく、将
来、今よりさらに小型で容量の大きい積層セラミックコ
ンデンサが要求されることは確実である。この場合、積
層セラミックコンデンサの小型大容量という特性を、こ
の要求に応じて延ばすために、有効静電容量をさらに増
加させなければならないが、現実には従来技術では、ど
こまでも有効静電容ｉを増やしていくことは不可能であ
る。

積層セラミックコンデンサにおいて有効静電容量を大き
くするためには、誘電体層の誘′亀率を大きくするか、
または誘電体層を薄くするかの二つの手段しかない。

このうち、誘電体層の誘電率は、誘電体層の誘電体セラ
ミック材料に依存するもので、現在、誘電体層の誘電体
セラミック材料は、チタン酸バリウムを主成分とする誘
電体セラミック材料もしくＶｉＰｂ（Ｍｇ’Ｎｂ：）Ｏ
，、Ｐｂ（Ｍｇ４　ｗ４）ｏ８．Ｐｂ（ＦｅｊＷｊ）Ｏ
ｓ　。

ｐ　ｂ　ＣＦ　ｅｘ　Ｎ　ｂ　ｉ　）　ｏｓ　等の複合
ペロブスカイトを主成分とする誘電体セラミック材料が
主であり、これら誘電体セラミック材料の誘電率は大体
決まっており、配合組成や焼結方法の最適化部１通常、
誘電率同上のために行われる手法を用いたとしても、今
後、誘電率が大きく向上することは期待できない。

有効静電容量を向上させるための最も有効な方法は、特
電体層の厚さを薄くすることである。

ところが、従来の方法にしたがえば、第２図に示すよう
に、誘電体層を薄くするにつれて積層セラミックコンデ
ンサの耐電圧は低下する。

積層セラミックコンデンサの耐°電圧は１日本電子機械
工業会規格：ＲＣ−５４０２では、定格電圧の２．５倍
の電圧をかけて破壊しなければ合格とされるが１品質保
証を行うためには、製造者側の内部基準として、さらに
厳しい耐電圧が必要である。品質保証を行うために必要
とされる耐電圧は。

積層セラミックコンデンサが便用される機器や成子回路
の糧類にもよるが１通常、電子回路には瞬間的に高電圧
がかかる場合があり、さらに、高温負荷試験や耐湿負荷
試験等の寿命試験で、初期故障や偶発故障の発生がない
高い信頼性を確保しなければならないことからも、定格
電圧の少なくとも２０倍以上あることが好ましく、さら
に好ましくは、定格電圧の５０倍以上である。

積層セラミックコンデンサの定格電圧は１通常。

１．６Ｖ以上であるから、電圧値で云えば、少なくとも
約３００ｖ以上の耐電圧が必要である。逆に。

積層セラミックコンデンサの耐電圧が３００ｖ以上あれ
ば、積層セラミックコンデンサの定格電圧１６Ｖ以上を
保証できる。耐電圧３００ｖ以上を確保するためには、
誘電体層の厚さをどこまでも薄くすることはできず、第
２図からすると、その場合の誘電体層の厚みは、最低で
も１０μｍ以上なければならない。それ以上誘電体層の
厚さを薄くすると、定格電圧を下げざるを得ない。

また、さらにより高い安全性を確保するためには、たと
え耐電圧が３００ｖ以上あっても、その耐電圧値が３０
０ｖよりわずかに高い程度であれば、定格電圧は６Ｖと
するのが好ましい。

また、電極層の厚さも薄くすることが望ましいが１通常
は３μｍ前後であり、技術的に１μｍが限界で、これ以
上薄くすることは困難である。

すなわち、従来技術によれば、積層セラミックコンデン
サのマイクロフアラド毎豆方ミリメートル単位で表示し
た有効静電容量は、誘電体層の誘電率をマイクロファラ
ド毎メートル単位で表示した値の７倍程度が限界である
。

このため、従来の技術では、将来の大容量化の要求には
全く対応できない。

本発明は、このような従来の限界を破り、将来の大容量
化の要求に充分対応できるような積層セラミックコンデ
ンサを提供するものである。

（課題を解決するための手段）本発明者らは、誘電体層と電極層を交互に密着して積層
した構造を有する積層セラミックコンデンサにおいて、
有効静電容量をいかにして増加させるべきかについて鋭
意検討を重ねた結果、特定のチタン酸バリウム粉末１例
えば１本発明者らが特開昭６０−８１０２３で開示した
微細で均一粒径で、かつ、実質的に球形状のチタン酸バ
リウム粉末を主成分にして製造した誘電体セラミック材
料は、驚くべきことに、耐電圧が従来の誘電体セラミッ
ク材料に比べて極めて高く、したがって。

この誘電体セラミック材料を使って積層セラミックコン
デンサを炸裂すれば、誘電体層の厚さを薄くすることが
でき、その積層セラミックコンデンサにおける有効積層
部分の１立方ミリメートル当たりの静電容量、すなわち
１本発明で定義するところの有効静電容量を飛躍的に大
きくできることを発見し、本発明をなすに至った。

なお１．上記特開昭６０−８１０２３で開始したチタン
酸バリウム粉末は、平均粒径が０．０７へ０．５μ、比
表面積が２〜１５　ｍ”／　ｔ　、粉末Ｘ線回折像のピ
ークの半値巾から計算される結晶子径がａ、ａ　Ｓ５以
上０．５μ以下で、その形状が球形状であることを特徴
とするチタン酸バリウム粉末である。

すなわち１本発明は、誘電体層と電極層を交互に密着し
て積層した構造を有する積層セラミックコンデンサにお
いて、有効積層部分の一立方メートル当たりのマイクロ
フアラド単位で表示した静電容量が、誘電体層の誘電率
をマイクロフアラド毎メートル単位で表示した値の８倍
以上であることを特徴とする積層セラミックコンデンサ
を提供するものである。

本発明の積層セラミックコンデンサの製造方法の一例を
以下に記す。

原料のチタン酸バリウム粉末と若干の無機質添加剤と有
機バインダー、有機溶媒、および若干の有機質添加剤等
を混合してスリップを作る。

原料のチタン酸バリウム粉末には１例えば１本発明者ら
が先に特開昭６０−８１０２３で開示した、微細で均一
粒径で、かつ、実質的に球形状のチタン酸バリウム粉末
を使用することができる。

若干の無機質添加剤は、所望の誘′４ｔＩｐ！ｆ性を出
すために添加されるもので、例えば、錫酸バリウム。

錫酸マグネシウム、錫酸カルシウム、錫酸鉛、ジルコン
酸カルシウム、ジルコン酸マ／：＋’ｙｆｙム。

ジルコン酸リチウム、ジルコン酸鉛、ジルコン酸バリウ
ム、チタン酸鉛、チタン酸マグネシウム。

チタン酸ストロンチウム、チタン酸リチウム、ニオブ酸
リチウム、ニオブ酸マンガン、ニオブ酸ストロンチウム
、タンタル酸リチウム、アンチモン酸ストロンチウム、
アンチモン酸鉛、酸化鋼、酸化リチウム、酸化鉄、酸化
ニオブ、酸化亜鉛、酸化アンチモン、酸化ランタン、酸
化ガドリニウム。

ｌｋチタン、酸化マグネシウム、酸化セリウム。

酸化′ガリウム、酸化マンガン、酸化ニッケル、酸化コ
バルト、酸化シリコン、＠化ホウソ、酸化アルミニウム
、酸化クロム、酸化モリブデン、酸化バナジウム、酸化
ビスマス、酸化サマリウム、酸化ディスプロシウム、酸
化鉛、酸化イツトリウム。

酸化ネオジウム、酸化ツリウム、酸化インジウム。

酸化ホルミウム、酸化ユーロピウム、酸化ランタン等が
考えられるが、特に限定するものではない。

有機バインダーとしては、アクリル酸系ポリマー、メタ
クリル酸系ポリマー、スチレン系ポリマー、マたはセル
ロースアセテート、ニトロセルロース、エチルセルロー
ス等のセルロース系ホリマー、あるいはポリビニルブチ
ラール、ポリビニルアルコール、塩化ビニル等のビニル
系ポリマー等が用いられる。

有機溶媒には１例えば、エチルアルコール、プロピルア
ルコール、ブチルアルコール等のアルコール系溶媒、ト
ルエン、キシレン等の芳香族系溶媒、酢酸メチル、酢酸
エチル、酢酸イソブチル等のエステル系溶媒、アセトン
、ジアセトン、メチルエチルケトン等のケトン系溶媒、
ナフサ、ヘキサン等の炭化水素系溶媒、メチロセロソル
ブ、エチルセロンルフ、ブチルセロソルブ等のセロンル
ブ溶媒、あるいはメチレンクロライド、エチレンクロラ
イド、クロロホルム等の塩素化炭化水素系溶媒等がある
。

若干の有機質添加剤は、解こう剤、湿潤剤、可塑剤等で
あり、通常、このような目的で使用されるものであれば
特に限定はしない。例えば、解こう剤には、脂肪酸、天
然魚油１合成界面活性剤、ベンゼンスルフォン酸、オレ
イン酸メチル、オクタジエン等がある。また、湿潤剤に
は、アルキルアリルポリエーテル、ポリエチレングリコ
ールのエチルエーテル、エチルフェニルグリコール、ホ
リオキシエチレンエステル、モノオレイン酸グリセリン
、トリオレイン酸グリセリン、アルコール類等がある。

可塑剤には、ブチルベンジルフタレート、ジブチルフタ
レート、ジメチルフタレート等の７タル酸エステル類、
ホＩ）エチレングリコールｏ誘導体、　　トリクレゾー
ルフォスフェート、脂肪酸エステル、燐酸エステル等が
使われる。

また、混合の方法は、ボールミル、振動ミル。

サンドミル、攪拌等１通常用いられる方法で充分である
。

得られ元スリップは、ドクターブレード法、押し出し成
形法、ロールコーティング法等で製膜してセラミックシ
ートにする。

セラミックシートの厚さは１作ろうとする積層セラミッ
クコンデンサの誘電体層の厚さに応じて決めればよいが
１本発明の場合、セラミックシートの厚さハク０μｍ以
下である。

このセラミックシート上に、銀、銀−パラジウム、六ラ
ジウム等の電極ペーストを、所望の成極パターンに応じ
て印刷して、必要な層数だけ積み重ね、さらに、この積
み重ねた上下にセラミックシートを保護層にするために
、必要な枚数だけ重ね合わせ、熱プレスをかけｆｌ：、
ｉ、、印刷した電極ノ（ターンに応じて切断して、グリ
ーンチップを得る。

本発明で′電極ペーストは、特に限定するものではない
が１本発明の焼結条件を考慮すれば、銀−）くラジウム
（組成比９５：５〜６５：３５）が好ましい。本発明で
プレスの方法は、−軸プレス、静水圧プレス等、一般に
知られたプレスの方法であれば充分である。

このグ１）−メチレンを空気中、５ｏａＣ以下で加熱し
て、有機バインダー、有機溶媒、その他若干の有機質添
加剤等を焼き飛ばした後、高温で焼結する。

本発明で焼結する温度は９００〜１１５０Ｃであるが、
特に限定するものではない。

最後に外部電極を焼き付けて、積層セラミックコンデン
サを完成する。

本発明の積１ｍセラミックコンデンサのマイクロフアラ
ド毎立方ミリメートル単位で表示した有効静電容量は、
誘電体層の誘電率をマイクロファラド毎メートル単位で
表示した値の８倍以上であり。

好ましくは１０倍以上である。すなわち、誘電体層の比
誘電率が例えば１７０００であれば、誘電率をマイクロ
ファラド毎メートルで表示した値は０．１５μＦ／ｍで
あるから、有効静電容量は１．２μＦ／關１以上であり
、好ましくは１．５μＦ／關８以上である。

本発明で８倍以上とするのは、８倍より小さければ従来
技術で到達できる範囲であり、将来のより大容量化の要
求に対応できないからである。さらに１０倍以上であれ
ば、その対応力は飛躍的に向上する。

本発明の積層セラミックコンデンサにおいて。

有効静電容量を大きくできるのは、第３図に示すように
１本発明の積層セラミックコンデンサでは。

誘電体層を薄くしても、耐電圧は従来の積層セラミック
コンデンサよシ極めて高く、シたがって。

誘電体層の厚さを薄くできることによる。このように耐
電圧が従来の積層セラミックコンデンサの耐電圧より極
めて高くなることは、従来技術からは予測することが不
可能な驚くべき事実であり、何故そのようなことが起こ
るのかはよく分からないが、おそらく本発明の積層セラ
ミックコンデンサは、原料粉末に特開昭６０−８１０２
！Ｓで開示した微細で均一粒径で、かつ、実質的に球形
状のチタン酸バリウム粉末を使用しているため、これを
焼結してできた本発明の積層セラミックコンデンサの誘
電体層の誘電体セラミック材料も、これを構成する粒子
は微細であり、このため粒界の数が他のセラミック材料
に比べて極めて多く、この粒界が電位障壁となって耐電
圧が向上するものと考えられる。

本発明の積層セラミックコンデンサのマイクロフアラド
毎豆方ミリメートル単位で表示した有効静電容量は、誘
電体層の誘電率をマイクロフアラド毎メートル単位で表
示した値の１２５倍以下である。本発明で１２５倍以下
である理由は、１２５倍より大きければ、耐電圧が３０
０ｖ以下に低下し、実用的でなくなるからである。すな
わち、有効静電容量を大きくするためには、誘電体層を
さらに薄くしなければならないが、誘電体層を２μｍ以
下にすると、第３図に示すように、耐電圧が３００ｖ以
下になシ、定格電圧１６Ｖ以上で使用する場合、信頼性
に問題が出る恐れが生じる。

本発明で有効静電容量は、積層セラミックコンデンサの
静電容量と有効積層部分の体積を実測し。

静電容量を有効積層部分の体積で除して求めればよい。

本発明で誘電体層の誘電体セラミック材料を構成する粒
子の平均粒径は、添加する若干の無機質添加剤にもよる
が、最大の場合でも７μｍ以下１通常は５μｍ以下と非
常に小さい。最も小さい場合は、平均粒径０．２μｍの
−ものまで得ることが可能であるが、７μｍ以下であれ
ば１本発明の目的を達成することができる。

本発明で焼結体の平均粒径は、走査型電子顕微鏡観察に
より得られる。すなわち、焼結体の表面の電子顕微鏡写
真を撮り、この写真上に任意の直線を引き、この直線の
長さをり、直線を横ぎる粒界の個数をｎとした時、直線
の分割長さＬを次式により求め。

さらに１次式によシ直線の分割長さの平均ｔを求め。

さらに、このｔを１．５倍して平均粒径ｄを求める。

ｄ−ｔ、ｓ　ｘ　ｔただし１ｍはｔの総測定点数である。

上記計算において、ｎは５以上が望ましく、１枚の写真
の中でｎが５以上になるような適当な倍率で写真を撮る
のが好ましい、Ｌの測定点数は、１枚の写真につき１〜
５．ｍは５０以上が好ましい。

（発明の効果）不発明の積層セラミックコンデンサは、マイクロフアラ
ド毎立方ミリメートルで表示した有効静電容量が、誘電
体層の誘電率をマイクロ７７ラド毎メ−トル単位で表示
し７’Ｃ値の８倍以上と極めて高く。

例えば１日本電子機械工業会規格：　Ｒｅ−３４０２で
定める３、２　Ｘ　１．６　Ｘ　１．２５５１１品で、
該規格の表１５の数列を規格値を示す数値として使用し
た時。

誘電体層の誘電率が１７０００であれば、最高で静電容
量の規格値８２μＦまで製造可能である。

現在、規格５．２　Ｘ　１．６　Ｘ　１．２５ｎ品では
、静電容量の規格値１μＦが限界であるから１本発明の
積層セラミックコンデンサは、従来品に比べて極めて大
きな静電容量を有していることがわかる。

このため、従来、信頼性の低い電界コンデンサしなかっ
たため、これを使用せざるをえなかった電子回路にも、
信頼性が高い積層セラミックコンデンサを使用できるよ
うになり、電子回路の信頼性が飛開的に高まつ次。

本発明の積層セラミックコンデンサを、電源回路、高周
波回路等に電界コンデンサに替えて使用すれば、極めて
有効である。

（実施例）実施例１平均粒径０．２μｍのチタン酸バリウム粉末１００重量
部とポリメチルメタクリレート　１３．５重量部、メチ
ルエチルケトン３３重量部、トリクロロエタン８０重量
部、天然魚油０．３重量部１合電界面活性剤０．８重量
部、ブチルアルコール１．５　ｆａｔ部、ブチルベンジ
ルフタレート１重量部を、ボールミルで４８時間混合し
、スリップを得た。

このスリップをドクターブレード法で製膜し、厚さ１３
μｍのセラミックシートにした。このセラミックシート
を１２．５０ＢＸ　１４０％に切断し、Ａｇ−Ｐｄ　（
組成比７：３）電極を印刷し、この上にさらにセラミッ
クシートを置いて、再びＡｇ−Ｐｄ電極を印刷する操作
を繰り返して、最終的に９０層まで積み上げた。これの
上下各々に誘電体シート２０枚ｔａｂ付け、８５　ｃ、
　２００　ｋｙ／ｃｌ／Ｉチー軸プレスしｆｃ後、電極
パターンに応じてカットし、グリーンチップを得九。

このグリーンチップを真空中で３５０Ｃで１゜分間保持
して、ポリメチルメタクリレート、天然魚油１合成界面
活性剤、ブチルベンジルフタレート等の有機含有物を除
去した。その後、これを空気中、１１００Ｃで３時間焼
結して焼結体を得た。

この焼結体にＡｇ−Ｐｄ外部ｔＷを焼き付け、積層セラ
ミックコンデンサを完成した。

この積層セラミックコンデンサの大きさハ５．２（Ｌ）
ＸＬ（Ｓ　（Ｗ）　Ｘ　ｔ、３１　（Ｔ）０で、静電容
量は６゜１μＦと非常に大きかった。

この積層セラミックコンデンサの有効静電容量を測定し
たところ１．９１μＦ／１１−であり、極めて大きいも
のであつ友。

また、先のセラミックシートを、電極を印刷せずに５０
枚積み重ねて、８５０．２００ｋｐ／ｃ！ＩＩで−軸プ
レスした後、７０ｗｍφに切断し１本発明の積層セラミ
ックコンデンサの製造条件に合わせて。

真空中、ｊ５０Ｃで加熱後、１１００Ｃで焼結して誘電
体セラミック材料を得た。ＪＩＳ　　Ｃ２１４１（１９
７８）にしたがって、この誘電体セラミック材料の両面
に電極を焼き付けて、その誘電率を測定したところ、０
．１５μＦ／ｍであった。

すなわち、このセラミックシートを使って製造した積層
セラミックコンデンサの誘電体層の誘電率ｎ、Ｏ−１５
μＦ／ｍであることが推定された。

さらに、これを確認するために、ここで製造した積層セ
ラミックコンデンサの誘電体層および電極層の淳さと、
積層数およびその静電容量を測定し、計算によって誘電
体層の誘電率を求めたところ、やはり０．１５μＦ／ｍ
であった。

したがって、ここで製造した積層セラミックコンデンサ
のマイクロファラド毎立方ミリメートル単位で表示した
有効静電容量は、誘電体層の誘電率をマイクロファラド
毎メートル単位で表示した値の１２．７倍であることが
分かった。

さらに、耐゛電圧を測定したところ、４７０Ｖであり、
実用上極めて優れたものであった。

この積層セラミックコンデンサ１００個について、１２
５Ｃ，４５Ｖの条件で高温負荷試験を行ったところ、初
期故障および偶発故障ゐ発生は全く見られなかつ友。

さらに、この積層セラミックコンデンサを切断し、その
断面を研磨した後、塩酸でエツチングし。

走査型電子顕微鏡で誘電体層を観察し、誘電体セラミッ
クの平均粒径を測定したところ、平均粒径は３．３μｍ
と非常に小さいものであることが分かった。

実施例２実ｍ例１のスリップを使って、ロールコーティング法で
製膜し、厚さ８．５μｍのセラミックシートを得た。

このセラミックシートにＡｇ−Ｐｄ　（組成比７：３）
電極を所望の電極パターンに印刷し、この印刷し之セラ
ミックシートを１５Ｘ１５ＧＢの大きさに切断して、１
２５枚積み重ねた。さらに、この積み重ねたセラミック
シートの上下に、印刷をしていないセラミックシートを
各々２８枚ずつ重ね合わせた。これを８０　Ｃ，２００
ｋｇ／ｃｄで静水圧プレス機でプレスした後、′ｉＬ極
パターンに応じてカットシ、グリーンチップを得た。

このグリーンチップを真空中、３ｏｏＣで加熱して、有
機含有物を除去した後、空気中、１１００Ｃで２時間焼
結した。これに外部電極を焼き付けて、積層セラミック
コンデンサを得た。

この積層セラミックコンデンサは、その大きさが３．２
　（Ｌ）　ｘ　２．５　（Ｗ）　ｘ　ｔ、３６　（Ｔ）
　ｒｉｍで、静電容量は２０μＦと極めて大きいもので
あった。

さらに、この積層セラミックコンデンサの有効静電容量
を求めたところ、３．４μＦ／Ｉｍ”であった。

ｉた、誘電体層の誘電率は、実施例１と同様０．１５μ
Ｆ／ｍであるから、この積層セラミックコンデンサの有
効静電容量は、誘電体層の誘電率をマイクロファラド毎
メートル単位で表示した値の２２．７倍であった。

さらに、耐電圧を測定したところ、４１０Ｖと非常に高
いものであった。

この積層セラミックコンデンサ１００個についても、実
施例１と同じ条件で高温負荷試験を行ったところ、寿命
期に達する直前で１個に偶発故障が発生し友。

実施例１と同様に誘電体ｔａの誘電体セラミックの平均
粒径を測定し罠ところ、３．１μｍであつ次。

実施例３実施例１のスリップをドクターブレード法で製膜し、厚
さ５μｍのセラミックシートを作製した。

このセラミックシートにＡｇ−Ｐｄ　（組成比７：３）
電極を所望の電極パターンに印刷し、この印刷したセラ
ミックシートを１５Ｘ１５０１の大きさに切断して、１
４５枚積み重ねた。さらに、この積み重ねたセラミック
シートの上下に、印刷をしていないセラミックシートを
各々５０枚ずつ重ね合わせた。これを７０　Ｃ，２００
ｋｇ／ｃｄで静水圧プレス機でプレスした後、電極パタ
ーンに応じてカットし、グリーンチップを得た。

このグリーンチップを真空中、２８０Ｃで加熱して有機
含有物を除去した後、空気中、１０９０’Ｃで３時間焼
結した。これに外部電極を焼き付けて積層セラミックコ
ンデンサを得た。

この積層セラミックコンデンサの大きさは２．０（Ｌ）
　ｘ　１．２　（Ｗ）　ｘ　１，１６　（Ｔ）　ｔａｘ
で、静電容量は９゜３μＦで、有効静電容量は？、１μ
Ｆ／ＩＩｍ”であった。

この有効静電容量は、誘電体層の誘電率をマイクロファ
ラド毎メートル単位で表示した値の６６．７倍に相当す
る。さらに、耐電圧は３３０ｖであり、実用上全く問題
はない。

さらに、１００個の積層セラミックコンデンサについて
、実施例１および２と同じ条件で高温負荷試験を行った
ところ、６個に偶発故障が見られた。

そこで、１８Ｖ、１２５Ｃの条件で高温負荷試験を行っ
たところ、今度は全く初期故障および偶発故障の発生は
見られなかった。

誘電体層の誘電体セラミックの粒径を測定したところ、
！μｍであった。

比較例１市販の１２　（Ｌ）　ｘ　１．６　（Ｗ）ｒａｍと小型
で、しかも静電容量が１μＦと市販品の中では最も容量
の大きい積層セラミックコンデンサの有効静電容量を測
定したところ、０．８７μＦ／Ｉｍであり、本発明の積
層セラミックコンデンサよりかなり低い値であった。

ま友、耐電圧は約２８０ｖで、測定誤差を考慮すると、
許容し得るほとんど限界の値であつ友。

実施例１〜５同様、誘電体セラミックの平均粒径を測定
したところ、１１μｍとかなり大きなものであることが
分かった。

【図面の簡単な説明】

第１図は、積層セラミックコンデンサの構造を示す説明
図、第２図は、従来の積層セラミックコンデンサの誘電
体層厚さと耐電圧の関係を示すグラフ、第３図は１本発
明と比較従来品の誘電体層厚さと耐電圧の関係を示すグ
ラフである。第１図誘電体層厚さ　（μｍ）第２図誘電体Ｍ厚さ　（μｒｎ）第３図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）誘電体層と電極層を交互に密着して積層した構造
を有する積層セラミックコンデンサにおいて、有効積層
部分の一立方ミリメートル当たりのマイクロフアラド単
位で表示した静電容量が、誘電体層の誘電率をマイクロ
フアラド毎メートル単位で表示した値の８倍以上である
ことを特徴とする積層セラミックコンデンサ。
（２）誘電体層がチタン酸バリウムを主成分とするセラ
ミックである請求項１記載の積層セラミックコンデンサ
。
（３）有効積層部分の一立方ミリメートル当たりの静電
容量が１．５μＦ以上である請求項１記載の積層セラミ
ックコンデンサ。
（４）誘電体層と電極層を交互に密着して積層した構造
を有する積層セラミックコンデンサの定格電圧値が６Ｖ
以上である請求項１記載の積層セラミックコンデンサ。
（５）誘電体層と電極層を交互に密着して積層した構造
を有する積層セラミックコンデンサの定格電圧値が１６
Ｖ以上である請求項１記載の積層セラミックコンデンサ
。