JPH01187833A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPH01187833A JPH01187833A JP1066688A JP1066688A JPH01187833A JP H01187833 A JPH01187833 A JP H01187833A JP 1066688 A JP1066688 A JP 1066688A JP 1066688 A JP1066688 A JP 1066688A JP H01187833 A JPH01187833 A JP H01187833A
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Classifications
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
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- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32225—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
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- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73201—Location after the connecting process on the same surface
- H01L2224/73203—Bump and layer connectors
- H01L2224/73204—Bump and layer connectors the bump connector being embedded into the layer connector
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体装置の技術に関し、特にIJ −ドレ
スやワイヤボンディングレス構造の半導体装置に適用し
て有効な技術に関する。
スやワイヤボンディングレス構造の半導体装置に適用し
て有効な技術に関する。
半導体装置の技術分野においては、小形化、多ビン化、
微細ピッチ化、基板への高密度実装化等の傾向が進んで
いるが、この傾向に応じるべき半導体装置の技術として
、リードレスやワイヤボンディングレス構造の半導体装
置がある。
微細ピッチ化、基板への高密度実装化等の傾向が進んで
いるが、この傾向に応じるべき半導体装置の技術として
、リードレスやワイヤボンディングレス構造の半導体装
置がある。
このような半導体装置は、たとえば株式会社プレスジャ
ーナル、昭和62年9月28日発行、rsemicon
ductor WorldJ臨時増刊号、P175〜
P179に記載されている。
ーナル、昭和62年9月28日発行、rsemicon
ductor WorldJ臨時増刊号、P175〜
P179に記載されている。
その概要は、半導体ペレットの裏面にバンプが形成され
、このバンブとガラス実装基板とがエポキシ系の導電性
接着剤により接着固定されるとともに電気的接続が行わ
れ、その後に樹脂封止される構造とされている。
、このバンブとガラス実装基板とがエポキシ系の導電性
接着剤により接着固定されるとともに電気的接続が行わ
れ、その後に樹脂封止される構造とされている。
しかしながら、前記した半導体装置は、バンプと実装基
板とを導電性接着剤によって接続した後に、それらのバ
ンブの間の隙間に樹脂を流し込んで製造するため、製造
工程が複雑化し、製造コスト高となり、またバンブと樹
脂と導電性接着剤等との熱膨張係数差等によりストレス
が生じてクラック等が発生し易いという問題点があるこ
とが本発明者によって明らかにされた。
板とを導電性接着剤によって接続した後に、それらのバ
ンブの間の隙間に樹脂を流し込んで製造するため、製造
工程が複雑化し、製造コスト高となり、またバンブと樹
脂と導電性接着剤等との熱膨張係数差等によりストレス
が生じてクラック等が発生し易いという問題点があるこ
とが本発明者によって明らかにされた。
本発明の目的は、製造工程の簡易化、製造コストの低廉
化を図ることができ、また装置の信頼性の向上を図るこ
とができる半導体装置を提供することにある。
化を図ることができ、また装置の信頼性の向上を図るこ
とができる半導体装置を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
。
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
。
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、次の通りである。
を簡単に説明すれば、次の通りである。
すなわち、導電性フィルムと半導体ペレットとが接合さ
れ、この導電性フィルムの導電部を介して前記半導体ペ
レットのパッドと実装基板の配線構造とが電気的に接続
される半導体装置である。
れ、この導電性フィルムの導電部を介して前記半導体ペ
レットのパッドと実装基板の配線構造とが電気的に接続
される半導体装置である。
前記した手段によれば、導電性フィルムによって半導体
ペレットのパッドと実装基板の配線構造とが電気的に接
続されていることにより、リードやワイヤボンディング
等の接続手段を不要とすることができる。
ペレットのパッドと実装基板の配線構造とが電気的に接
続されていることにより、リードやワイヤボンディング
等の接続手段を不要とすることができる。
この場合に、導電性フィルムは、その導電部と絶縁部と
が予め一体化されて形成されているので、半導体装置の
実装基板への接続後に樹脂等の流し込みによって絶縁部
を形成する必要性がなく、製造工程の簡易化を図ること
ができ、また導電部と絶縁部とに対する信頼性の向上を
図ることができる。
が予め一体化されて形成されているので、半導体装置の
実装基板への接続後に樹脂等の流し込みによって絶縁部
を形成する必要性がなく、製造工程の簡易化を図ること
ができ、また導電部と絶縁部とに対する信頼性の向上を
図ることができる。
更に、実装基板への実装に際しても導電性フィルムを実
装基板に接合するだけで、実装することができる。
装基板に接合するだけで、実装することができる。
第1図は本発明の一実施例である半導体装置を示す断面
図である。
図である。
本実施例の半導体装置1は、半導体ペレット2の裏面に
導電性フィルム3が、たとえば熱圧着等によって接合さ
れ、これらの半導体ペレッ2と導電性フィルム3との全
体の表面側と西側面側とがモールド成形によってエポキ
シ樹脂等の合成樹脂層4によって被覆された構造とされ
ている。
導電性フィルム3が、たとえば熱圧着等によって接合さ
れ、これらの半導体ペレッ2と導電性フィルム3との全
体の表面側と西側面側とがモールド成形によってエポキ
シ樹脂等の合成樹脂層4によって被覆された構造とされ
ている。
前記半導体ペレット2の裏面には、パッド2aが形成さ
れている。
れている。
前記導電性フィルム3は、たとえばSBR,BR,EP
DM、 ウレタン、シリコンゴム等の高分子にカーボ
ンブラック、金属粉末、金属繊維等の導電材を厚さ方向
に部分的に配合して導電部3aが形成され、この導電部
3aの以外の残存部位が絶縁部3bとされている。
DM、 ウレタン、シリコンゴム等の高分子にカーボ
ンブラック、金属粉末、金属繊維等の導電材を厚さ方向
に部分的に配合して導電部3aが形成され、この導電部
3aの以外の残存部位が絶縁部3bとされている。
この場合に、導電性フィルム3は、たとえば有機系の高
分子化合物自体をその分子構造的に部分的に導電性をも
たせて導電部3aを形成したものを適用することも可能
である。
分子化合物自体をその分子構造的に部分的に導電性をも
たせて導電部3aを形成したものを適用することも可能
である。
導電性フィルム3の導電部3aは、半導体ペレット2の
パッド2aと電気的に接続されている。
パッド2aと電気的に接続されている。
また、このような構造の半導体装置lは、樹脂やセラミ
ック等からなる実装基板4に搭載されて、その導電性フ
ィルム3が、たとえば熱圧着等によって接合され、その
導電性フィルム3の導電部3aと実装基板4との配線構
造4aとが電気的に接続される構造とされている。
ック等からなる実装基板4に搭載されて、その導電性フ
ィルム3が、たとえば熱圧着等によって接合され、その
導電性フィルム3の導電部3aと実装基板4との配線構
造4aとが電気的に接続される構造とされている。
次に、本実施例の作用について説明する。
たとえば、本実施例の半導体装1tlは、次のようにし
て製造される。
て製造される。
半導体ペレット2と導電性フィルム3とを夫々のパッド
2aと導電部3aとを対応させて重合させ、熱圧着によ
って両者を接合させる。
2aと導電部3aとを対応させて重合させ、熱圧着によ
って両者を接合させる。
次いで、このようにして接合された半導体ペレット2と
導電性フィルム3の全体の表面側と西側面側とをモール
ド成形によってエポキシ樹脂等の合成樹脂層4によって
被覆する。
導電性フィルム3の全体の表面側と西側面側とをモール
ド成形によってエポキシ樹脂等の合成樹脂層4によって
被覆する。
このようにして製造された半導体装置lの実装基板4へ
の実装に際しては、導電性フィルム3と実装基板4とを
夫々の導電部3aと配線構造4aとを対応させて熱圧着
することによって、半導体装置lを実装基板4に搭載さ
せる。
の実装に際しては、導電性フィルム3と実装基板4とを
夫々の導電部3aと配線構造4aとを対応させて熱圧着
することによって、半導体装置lを実装基板4に搭載さ
せる。
この熱圧着の際に、半導体装置1と実装基板4を挟圧す
る治具等を用いて該半導体装置1と実装基板4とが挟圧
されるようにすれば、導電性フィルム3の導電部3aと
実装基板4の配線構造4aとを確実に電気的に接続する
ことができる。
る治具等を用いて該半導体装置1と実装基板4とが挟圧
されるようにすれば、導電性フィルム3の導電部3aと
実装基板4の配線構造4aとを確実に電気的に接続する
ことができる。
本実施例の半導体装置1は、たとえばこのようにして製
造され、また実装基板4に実装される。
造され、また実装基板4に実装される。
この場合に、本実施例の半導体装置1によれば、導電性
フィルム3の導電部3aを介して半導体ペレット2のバ
ッド2aと実装基板4の配線構造4aとが電気的に接続
されているので、リードやワイヤボンディング等の接続
手段を不要とすることができ、したがってリード曲がり
等に伴う実装不能あるいは短絡等の問題がなく、また装
置の薄形化等による装置の小形化2多ピン化、微細ピッ
チ化、基板への実装の高密度化等を図ることができる。
フィルム3の導電部3aを介して半導体ペレット2のバ
ッド2aと実装基板4の配線構造4aとが電気的に接続
されているので、リードやワイヤボンディング等の接続
手段を不要とすることができ、したがってリード曲がり
等に伴う実装不能あるいは短絡等の問題がなく、また装
置の薄形化等による装置の小形化2多ピン化、微細ピッ
チ化、基板への実装の高密度化等を図ることができる。
また、導電性フィルム3は、その導電部3aと絶縁部3
bとが予め一体化された構造とされているので、半導体
装置1の実装基板4への接続後に樹脂等の流し込みによ
って絶縁部3bを形成する必要性がなく、製造の簡易化
、製造コストの低廉化を図ることができる。また、導電
部3aと絶縁部3bとの信頼性の向上を図ることができ
る。
bとが予め一体化された構造とされているので、半導体
装置1の実装基板4への接続後に樹脂等の流し込みによ
って絶縁部3bを形成する必要性がなく、製造の簡易化
、製造コストの低廉化を図ることができる。また、導電
部3aと絶縁部3bとの信頼性の向上を図ることができ
る。
更に、半導体装置1の実装基板4への実装に際しては導
電性フィルム3を熱圧着等によって実装基板4に接合す
るだけで実装することができるので、実装基板4への実
装の簡易化を図ることができる。
電性フィルム3を熱圧着等によって実装基板4に接合す
るだけで実装することができるので、実装基板4への実
装の簡易化を図ることができる。
また、導電性フィルム3を耐湿性の材質で形成すれば、
半導体装置1の実装基板4側における耐湿性の向上を容
易に図ることができる。
半導体装置1の実装基板4側における耐湿性の向上を容
易に図ることができる。
このように本実施例によれば、以下の効果を得ることが
できる。
できる。
(1)、導電性フィルム3の導電部3aを介して半導体
ペレット2のバッド2aと実装基板4の配線構造4aと
が電気的に接続されているので、リードやワイヤボンデ
ィング等の接続手段を不要とすることができ、したがっ
てリード曲がり等に伴う問題がなく、また装置の薄形化
等による装置の小形化、多ピン化、微細ピッチ化、基板
への実装の高密度化等を図ることができる。
ペレット2のバッド2aと実装基板4の配線構造4aと
が電気的に接続されているので、リードやワイヤボンデ
ィング等の接続手段を不要とすることができ、したがっ
てリード曲がり等に伴う問題がなく、また装置の薄形化
等による装置の小形化、多ピン化、微細ピッチ化、基板
への実装の高密度化等を図ることができる。
(2)、導電性フィルム3は、その導電部3aと絶縁部
3bとが予め一体化された構造とされているので、半導
体装置1の実装基板4への接続後に樹脂等の流し込みに
よって絶縁部3bを形成する必要性がなく、製造の簡易
化、製造コストの低廉化を図ることができる。
3bとが予め一体化された構造とされているので、半導
体装置1の実装基板4への接続後に樹脂等の流し込みに
よって絶縁部3bを形成する必要性がなく、製造の簡易
化、製造コストの低廉化を図ることができる。
(3)、前記した(2)と同様の理由により、導電部3
aと絶縁部3bとに対する信頼性の向上を図ることがで
きる。
aと絶縁部3bとに対する信頼性の向上を図ることがで
きる。
(4)、半導体装置1の実装基板4への実装に際しては
導電性フィルム3を熱圧着等によって実装基板4に接合
するだけで実装することができるので、実装基板4への
実装の簡易化を図ることができる。
導電性フィルム3を熱圧着等によって実装基板4に接合
するだけで実装することができるので、実装基板4への
実装の簡易化を図ることができる。
(5)、導電性フィルム3を耐湿性の材質で形成すれば
、半導体装置1の実装基板4(ll!Iにおける耐湿性
の向上を容易に図ることができる。
、半導体装置1の実装基板4(ll!Iにおける耐湿性
の向上を容易に図ることができる。
(6)、前記した(3)と(5)の効果により、半導体
装置の信頼性の向上を図ることができる。
装置の信頼性の向上を図ることができる。
以上、本発明者によってなされた発明を実施例に基づき
具体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。
具体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。
たとえば、本実施例において、半導体ペレット2と導電
性フィルム3との接合手段は、熱圧着手段とされている
が、本発明においては半導体ペレット2と導電性フィル
ム3との接合手段はそのような熱圧着手段に適用に限定
されるものではなく、たとえば導電性の接着剤等によっ
て半導体ペレット2と導電性フィルム3とが接合される
ようにしても良い。
性フィルム3との接合手段は、熱圧着手段とされている
が、本発明においては半導体ペレット2と導電性フィル
ム3との接合手段はそのような熱圧着手段に適用に限定
されるものではなく、たとえば導電性の接着剤等によっ
て半導体ペレット2と導電性フィルム3とが接合される
ようにしても良い。
また、本実施例においては、実装基板4への実装に際し
ては導電性フィルム3を熱圧着等によって実装基板4に
接合して実装したが、前記したと同様に、たとえば導電
性の接着剤等によって導電性フィルム3と実装基板4と
が接合されて実装基板4に実装されるようにしても良い
。
ては導電性フィルム3を熱圧着等によって実装基板4に
接合して実装したが、前記したと同様に、たとえば導電
性の接着剤等によって導電性フィルム3と実装基板4と
が接合されて実装基板4に実装されるようにしても良い
。
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、次の通りである。
て得られる効果を簡単に説明すれば、次の通りである。
すなわち、導電性フィルムは、その導電部と絶縁部とが
予め一体化された構造とされているので、半導体装置の
実装基板への接続後に樹脂等の流し込みによって絶縁部
を形成する必要性がなく、したがって、製造の簡易化、
製造コストの低廉化を図ることができ、また導電部と絶
縁部とに対する信頼性の向上を図ることができる。
予め一体化された構造とされているので、半導体装置の
実装基板への接続後に樹脂等の流し込みによって絶縁部
を形成する必要性がなく、したがって、製造の簡易化、
製造コストの低廉化を図ることができ、また導電部と絶
縁部とに対する信頼性の向上を図ることができる。
第1図は本発明の一実施例である半導体装置を示す断面
図である。 1・・・半導体装置、2・・・半導体ペレット、2a・
・・パッド、3・・・導電性フィルム、3a・・・導電
部、3b・・・絶縁部、4・・・実装基板、4a・・・
配線構造。
図である。 1・・・半導体装置、2・・・半導体ペレット、2a・
・・パッド、3・・・導電性フィルム、3a・・・導電
部、3b・・・絶縁部、4・・・実装基板、4a・・・
配線構造。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、導電性フィルムと半導体ペレットとが接合され、こ
の導電性フィルムの所要個所に形成された導電部を介し
て前記半導体ペレットのパッドと実装基板の配線構造と
が電気的に接続されることを特徴とする半導体装置。 2、前記導電性フィルムの導電部が導電性材を配合して
形成されていることを特徴とする請求項1記載の半導体
装置。 3、前記導電性フィルムの導電部が高分子化合物自体を
分子構造的に導電性をもたせて形成されていることを特
徴とする請求項1記載の半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1066688A JPH01187833A (ja) | 1988-01-22 | 1988-01-22 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1066688A JPH01187833A (ja) | 1988-01-22 | 1988-01-22 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01187833A true JPH01187833A (ja) | 1989-07-27 |
Family
ID=11756566
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1066688A Pending JPH01187833A (ja) | 1988-01-22 | 1988-01-22 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01187833A (ja) |
-
1988
- 1988-01-22 JP JP1066688A patent/JPH01187833A/ja active Pending
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