JPH01176358U - - Google Patents

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JPH01176358U
JPH01176358U JP7232788U JP7232788U JPH01176358U JP H01176358 U JPH01176358 U JP H01176358U JP 7232788 U JP7232788 U JP 7232788U JP 7232788 U JP7232788 U JP 7232788U JP H01176358 U JPH01176358 U JP H01176358U
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coupled plasma
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  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の要部を示すスプレーチヤンバ
ーの分解構成斜視図であり、第2図は本考案実施
例の構成説明図、第3図は従来例の構成説明図で
ある。 1……プラズマトーチ、3……アルゴンガス供
給源、4……試料槽、4′……ネブライザ、5a
……スプレーチヤンバー本体、5b,5c……冷
却用アルミニウムブロツク、5d……ペルチエ素
子、5b,5c……伝熱用シリコンシート、5h
……放熱用アルミニウムブロツク、5i……冷却
水用の貫通穴、5j……ネジ、7……高周波誘導
結合プラズマ、8……ノズル、9……スキマー、
11……フオアチヤンバー、13……センターチ
ヤンバー、16……マスフイルタ、17……リア
チヤンバー、20……信号処理部。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 試料槽内の試料をネブライザで霧化しての
    ちアルゴンガスによつてスプレーチヤンバー内に
    搬送して冷却し、その後、プラズマトーチの内室
    へ搬入し高周波誘導結合プラズマを用いて前記試
    料をイオン化し生じたイオンを真空中に導入しイ
    オン光学系を通して質量分析計検出器に導いて検
    出することにより前記試料中の被測定元素を分析
    する分析計において、スプレーチヤンバー本体の
    両側を伝熱用シリコンシートを介して冷却用アル
    ミニウムブロツクで覆うと共に該冷却用アルミニ
    ウムブロツクと内部に冷却水が流れる連通穴が設
    けられている放熱用アルミニウムブロツクとの間
    にペルチエ素子を装着して前記スプレーチヤンバ
    ーを構成し、前記スプレーチヤンバー本体内に搬
    送された試料が前記ペルチエ素子の冷却効果によ
    つて冷却されるようにしたことを特徴とする高周
    波誘導結合プラズマ質量分析計。 (2) 前記冷却用アルミニウムブロツクに代えて
    大型のヒートシンクを用いたことを特徴とする実
    用新案登録請求範囲第(1)項記載の高周波誘導結
    合プラズマ質量分析計。
JP7232788U 1988-05-31 1988-05-31 高周波誘導結合プラズマ質量分析計 Expired - Lifetime JPH0731494Y2 (ja)

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JPH01176358U true JPH01176358U (ja) 1989-12-15
JPH0731494Y2 JPH0731494Y2 (ja) 1995-07-19

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019155545A1 (ja) * 2018-02-07 2019-08-15 株式会社島津製作所 質量分析装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019155545A1 (ja) * 2018-02-07 2019-08-15 株式会社島津製作所 質量分析装置

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Publication number Publication date
JPH0731494Y2 (ja) 1995-07-19

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