JPS6436964U - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6436964U
JPS6436964U JP13262587U JP13262587U JPS6436964U JP S6436964 U JPS6436964 U JP S6436964U JP 13262587 U JP13262587 U JP 13262587U JP 13262587 U JP13262587 U JP 13262587U JP S6436964 U JPS6436964 U JP S6436964U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inductively coupled
frequency inductively
sample
coupled plasma
plasma torch
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP13262587U
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP13262587U priority Critical patent/JPS6436964U/ja
Publication of JPS6436964U publication Critical patent/JPS6436964U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案実施例の構成説明図、第2図は
従来例の構成説明図である。 1……プラズマトーチ、3……アルゴンガス供
給源、4a……レーザ光源、4d……試料台、5
……試料、7……高周波誘導結合プラズマ、8…
…ノズル、9……スキマー、11……フオアチヤ
ンバー、13……センターチヤンバー、16……
マスフイルタ、17……リアチヤンバー、20…
…信号処理部、21……セパレータ、21a……
セパレータの入口、21b……セパレータの排出
口、21c……セパレータの出口、21d……ボ
ールジヨイント。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 高周波誘導結合プラズマを用いて試料を励
    起し生じたイオンを真空中に導入しイオン光学系
    を通して質量分析計検出器に導いて検出すること
    により前記試料中の被測定元素を分析する分析計
    において、前記高周波誘導結合プラズマを生じさ
    せるプラズマトーチと、レーザ光源からのレーザ
    光を試料に照射して該試料を気化させ且つ該気化
    ののち固化して生ずる大粒の粒子を分離して除去
    すると共に均一な微粒子だけを前記プラズマトー
    チへ導くセパレータとを具備することを特徴とす
    る高周波誘導結合プラズマ質量分析計。 (2) 前記プラズマトーチは、最外室、外室、及
    び内室を有する三重管構造のプラズマトーチでな
    る実用新案登録請求範囲第(1)項記載の高周波誘
    導結合プラズマ質量分析計。
JP13262587U 1987-08-31 1987-08-31 Pending JPS6436964U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13262587U JPS6436964U (ja) 1987-08-31 1987-08-31

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13262587U JPS6436964U (ja) 1987-08-31 1987-08-31

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6436964U true JPS6436964U (ja) 1989-03-06

Family

ID=31389760

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13262587U Pending JPS6436964U (ja) 1987-08-31 1987-08-31

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6436964U (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54162597A (en) * 1978-06-14 1979-12-24 Hitachi Ltd Laser probe induction coupled plasma emission analyzing apparatus
JPS6148100A (ja) * 1984-08-15 1986-03-08 シヨウワサ−ビス株式会社 在車表示システム

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54162597A (en) * 1978-06-14 1979-12-24 Hitachi Ltd Laser probe induction coupled plasma emission analyzing apparatus
JPS6148100A (ja) * 1984-08-15 1986-03-08 シヨウワサ−ビス株式会社 在車表示システム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH05251038A (ja) プラズマイオン質量分析装置
JPH08505258A (ja) プラズマ源質量分析計における干渉の低減
JPS6436964U (ja)
CN114216955A (zh) 一种激光原位微区Mg同位素测定方法
JPS6436963U (ja)
JPS6436962U (ja)
JP2009110853A (ja) レーザアブレーション誘導結合プラズマ質量分析装置
JP4585069B2 (ja) 誘導結合プラズマ質量分析装置及び方法
JPH01176359U (ja)
JPS6451259U (ja)
JP3471821B2 (ja) 高周波誘導結合プラズマ分析装置
JPH04104449A (ja) 高周波誘導プラズマ質量分析計
JP2792140B2 (ja) 高周波誘導結合プラズマ質量分析計
JPS6451258U (ja)
JPS63139758U (ja)
JPS6423867U (ja)
JPH0448628Y2 (ja)
JPH0316656U (ja)
JPH0366146U (ja)
JPH01176358U (ja)
JPH07240169A (ja) 誘導結合プラズマ質量分析装置
JPH0323653Y2 (ja)
JPS6420670U (ja)
JPH0779017B2 (ja) 高周波誘導結合プラズマ質量分析計
JP2956164B2 (ja) 高周波誘導結合プラズマ質量分析計