JP2003194723A - プラズマトーチ - Google Patents

プラズマトーチ

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JP2003194723A
JP2003194723A JP2001398517A JP2001398517A JP2003194723A JP 2003194723 A JP2003194723 A JP 2003194723A JP 2001398517 A JP2001398517 A JP 2001398517A JP 2001398517 A JP2001398517 A JP 2001398517A JP 2003194723 A JP2003194723 A JP 2003194723A
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Japan
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plasma
gas
gas cylinder
cylinder
torch
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JP2001398517A
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English (en)
Inventor
Akitoshi Okino
沖野晃俊
Yasunobu Yabuta
薮田泰伸
Shuichi Miyahara
宮原秀一
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Rikogaku Shinkokai
Original Assignee
Rikogaku Shinkokai
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Abstract

(57)【要約】 【課題】プラズマガス流量を少なくできるプラズマトー
チを提供すること。 【解決手段】プラズマを生じさせるプラズマトーチ1に
おいて、キャリアガス21を移送するキャリアガス筒体
2と、キャリアガス筒体2の外周に配置され、プラズマ
ガス31を移送するプラズマガス筒体3と、プラズマガ
ス筒体3の外周に配置され、プラズマガス筒体3を冷却
する冷却ガス41を移送する冷却ガス筒体4とを備え
た、プラズマトーチ1。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プラズマトーチに
関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、プラズマトーチは、主にアルゴン
やヘリウムをプラズマガスに用いるもので、三重管又は
二重管構造をした石英ガラスもしくはセラミックスで構
成されている。石英ガラスの管内にプラズマガスを回転
しながら流し、外部から高周波電力を印加して、石英ガ
ラスの内部にプラズマを作成している(特開平6−34
2697参照)。プラズマを安定にするために、アルゴ
ンやヘリウムなどの高価なプラズマガスを大量に消費し
ていた。
【0003】また、従来、プラズマトーチは、高温のプ
ラズマが石英ガラスを溶融するため、溶融を防止するた
めにプラズマガスの流量を多くする必要があり、アルゴ
ンやヘリウムなどの高価なプラズマガスを大量に消費し
ていた。そこで、トーチの溶融を防止するために石英ガ
ラスを冷却するプラズマトーチが、SpectrochemicaActa
Part B55(2000)1279-1293に示されている。しか
し、このような石英ガラスを冷却するプラズマトーチで
は、元素分析や物質分解に有効な安定したヘリウムプラ
ズマが得られなかった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】<イ>本発明は、安定
したプラズマを維持できるプラズマトーチを提供するこ
とにある。 <ロ>また、本発明は、プラズマガス流量を少なくでき
るプラズマトーチを提供することにある。 <ハ>また、本発明は、高出力化により高温・高密度プ
ラズマを生成できるプラズマトーチを提供することにあ
る。 <ニ>また、本発明は、大気(空気)の混入を防ぐこと
により、高純度のプラズマを生成できるプラズマトーチ
を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本願発明は、プラズマを
生じさせるプラズマトーチにおいて、キャリアガスを移
送するキャリアガス筒体と、キャリアガス筒体の外周に
配置され、プラズマガスを移送するプラズマガス筒体
と、プラズマガスをプラズマガス筒体内で回転するよう
に導入するプラズマガス導入管と、プラズマガス筒体の
外周に配置され、プラズマガス筒体を冷却する冷却ガス
を移送する冷却ガス筒体とを備え、冷却ガス筒体から冷
却ガスを排出する排出口は、プラズマガス筒体からプラ
ズマガスを排出する排出側にあることを特徴とする、プ
ラズマトーチ、又は、前記プラズマトーチにおいて、冷
却ガスを冷却ガス筒体内で回転するように導入する冷却
ガス導入管を備え、冷却ガス筒体から排出された冷却ガ
スは、プラズマガスを包囲するように排出されることを
特徴とする、プラズマトーチ、又は、前記プラズマトー
チにおいて、キャリアガス筒体とプラズマガス筒体との
間に中間ガスを移送する中間筒体を配置することを特徴
とする、プラズマトーチ、又は、前記プラズマトーチに
おいて、プラズマガス導入管は、複数形成され、プラズ
マガスがプラズマガス筒体内で回転するように配置され
ていることを特徴とする、プラズマトーチ、又は、プラ
ズマを生じさせるプラズマトーチにおいて、キャリアガ
スを移送するキャリアガス筒体と、キャリアガス筒体の
外周に配置され、プラズマガスを移送するプラズマガス
筒体と、プラズマガスをプラズマガス筒体内で回転する
ように導入する複数のプラズマガス導入管と、を備えて
いることを特徴とする、プラズマトーチにある。
【0006】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を説明
する。
【0007】<イ>プラズマトーチ プラズマトーチ1は、アルゴン、ヘリウムなどのプラズ
マガス31をプラズマ発生室11内でプラズマ状態に
し、プラズマ中に移送した試料を分析したり、即ち分析
用プラズマトーチとして使用したり、又は、PCB、フ
ロンなどの物質の分解処理などに使用される。プラズマ
トーチ1は、例えば図1に示すように、キャリアガス筒
体2、プラズマガス筒体3、冷却ガス筒体4を備え、プ
ラズマガス筒体3の内部にプラズマ発生室11を有して
いる。また、プラズマトーチ1は、必要に応じて、図8
に示すような中間ガス筒体6を備えている。図1のプラ
ズマトーチ1は、主にヘリウムガスに適しており、中間
ガス61を使用するプラズマトーチ1は、主にアルゴン
ガスに適している。なお、キャリアガス筒体2、プラズ
マガス筒体3、冷却ガス筒体4、中間ガス筒体6は、石
英ガラスやセラミックスなどの材料で作製することがで
きる。なお、プラズマガス及びキャリアガスには、アル
ゴン、ヘリウムなどの希ガスのほかに、酸素、水素、窒
素、メタンなどの気体若しくはこれらの混合物を用いる
ことができる。
【0008】<ロ>キャリアガス筒体 プラズマトーチ1の中心にキャリアガス21を移送する
円筒状の筒体(以下、キャリアガス筒体2という)を配
置する。キャリアガス筒体2は、キャリアガス21と共
に分析用の試料をプラズマの中に移送するものであり、
プラズマガス31と同一ガスを使用することができる。
キャリアガス筒体2は、プラズマ発生室11にキャリア
ガス21を導入する付近では流路を細くしてある。
【0009】<ハ>プラズマガス筒体 キャリアガス筒体2の外周に同心円状にプラズマガス3
1を移送する円筒状の筒体(以下、プラズマガス筒体3
という)を配置する。プラズマガス31は、好ましく
は、プラズマ発生室11で円筒の内壁面に沿って回転す
るように移送される。そのために、プラズマガス31を
導入するプラズマガス導入管32を図1(B)に示すよ
うにプラズマガス筒体3の円周の接線方向に配置する。
プラズマガス31の流速をプラズマ発生室11の導入部
で速めるために、キャリアガス筒体2とプラズマガス筒
体3の間隙を狭める。そのために、キャリアガス筒体2
のプラズマ発生室11側の部分を太径にするか、又は、
図示していないがキャリアガス筒体2の外周を全体に太
径にしてもよい。
【0010】<ニ>冷却ガス筒体 プラズマガス筒体3の外周に同心円状に冷却ガス41を
移送する円筒状の筒体(以下、冷却ガス筒体4という)
を配置する。冷却ガス筒体4とプラズマガス筒体3との
間の空間に冷却ガス41を流して、プラズマガス筒体3
を冷却することができる。そのために、冷却ガス筒体4
は、プラズマガス筒体3を覆うように配置される。冷却
ガス41は、好ましくは、プラズマガス筒体3の外周を
回転するように移送する。そのために、冷却ガス41を
導入する冷却ガス導入管42は、図1(B)に示すよう
に冷却ガス筒体4の円周の接線方向に配置する。冷却ガ
ス導入管42とプラズマガス導入管32のなす角Θは、
適当な角度を設けて、ガスチューブの接続を容易にして
いる。冷却ガス41の種類は、プラズマガス筒体3を効
率よく冷却でき、プラズマの安定を乱さないものであれ
ばよく、取り扱いが容易で、安価なものとしては空気が
適している。また、プラズマへの大気(空気)の混入を
防ぎたい場合には、プラズマガスと同じガスを用いると
よい。同じガスを使っても、流速を速くすれば、冷却ガ
スはプラズマ化されることがない。
【0011】<ホ>中間ガス筒体 中間ガス筒体6は、図8に示すように、キャリアガス筒
体2とプラズマガス筒体3の間に配置され、中間ガス6
1をプラズマ発生室11に移送するものである。中間ガ
スは、プラズマがキャリアガス筒体の端部と接触しない
ように流されるものであり、プラズマガスと同一でも、
又は異なっていてもよい。プラズマガスと同じ中間ガス
61は、好ましくは、中間ガス筒体6の内壁面に沿って
回転するように移送される。そのために、中間ガス61
を導入する中間ガス導入管62をプラズマガス導入管3
2や冷却ガス導入管42と同様に中間ガス筒体6の円周
の接線方向に配置する。中間ガス筒体6の端部は、プラ
ズマ発生室11付近で、キャリアガス筒体2の端部とほ
ぼ同じ位置にある。中間ガス筒体6の外周は、中間ガス
筒体6のない場合のキャリアガス筒体2の外周の形状、
即ち、プラズマガス31の流速をプラズマ発生室11の
導入部で速めるために、中間ガス筒体6とプラズマガス
筒体3の間隙を狭める。そのために、中間ガス筒体6の
外周を太径にする。
【0012】<ヘ>プラズマ発生室 プラズマ発生室11は、プラズマガス筒体3の内部に形
成され、一端がキャリアガス筒体2、中間ガス筒体6
(存在する場合)の端部であり、他端は、プラズマガス
排出側端部であり、プラズマガス31が外部に排出され
るように開口部12となっている。
【0013】プラズマガス筒体3を冷却ガス41により
冷却して、筒体の溶融を回避できるので、プラズマ発生
室11を長く取ることができる。これにより、サンプリ
ング深さを長く形成でき、分析感度を高めることがで
き、また、質量分析においては、分析感度を下げる原因
となっている二次放電の影響を小さくすることができ
る。
【0014】<ト>冷却ガス筒体とプラズマガス筒体3
のガス排出口の形状 冷却ガス筒体4とプラズマガス筒体3の端部において、
冷却ガスの排出口43の形状は、冷却ガス41が大気中
に排出されるために、プラズマの安定性に重要な役割を
演じている。そのため、排出口43は、図1(A)及び
図2に示すように、プラズマが安定するような形状を取
る。図1(A)の冷却ガス41とプラズマガスの筒体端
部の形状は、中心軸の同一位置で切断された形状になっ
ている。これにより、冷却ガス41とプラズマガス31
は、中心軸の同一位置で軸方向に向けて外部に排出され
る。
【0015】また、図2(A)の筒体端部の形状は、図
1(A)のものよりプラズマガス31の筒体端部が冷却
ガス41の筒体端部より突出して、排出口43を形成し
ている。これにより、冷却ガス41とプラズマガス31
は、軸方向に向けて外部に排出される。また、図2
(B)の筒体端部の形状は、図1(A)のものより冷却
ガス41の筒体端部がプラズマガス31の筒体端部より
突出している。これにより、冷却ガス41とプラズマガ
ス31は、軸方向に向けて外部に排出される。図2
(C)は、プラズマガス筒体端部にひさし13を取り付
ける。ひさし13は、筒体端部から外側に広がるロート
状の形状を有している。広がる角度ψは、プラズマの安
定性を乱すことなく、冷却ガス41をプラズマから離す
方向に排出される。図1(A)や図2のいずれの場合
も、冷却ガス41は、プラズマガス31を周囲から被う
ように排出され、プラズマを安定な状態に保持すること
ができる。
【0016】<チ>プラズマ発生装置 プラズマガス31をプラズマ状態にするために、プラズ
マ発生室11の周囲にプラズマ発生装置5を配置する。
プラズマ発生装置は、例えば、冷却ガス筒体4の外周に
ロードコイルである誘導コイルを巻き、ロードコイルに
高周波発振器を接続し、高周波を印加する。もしくは、
冷却ガス筒体の外周の空洞共振器にマイクロ波を印加す
る。
【0017】<リ>プラズマの形状の比較 図1の本発明のプラズマトーチ1と図9の比較例のプラ
ズマトーチ1とのプラズマ14の形状を比較する。両者
のプラズマトーチは、共に冷却手段を有しているが、本
発明のプラズマトーチは、冷却ガスがプラズマガスの排
出方向と同じ向きになるように排出口43形成されてお
り、比較例のプラズマトーチは、図9に示すように、プ
ラズマガスの排出方向と直交方向になるように排出口4
4が形成されている。両者とも、プラズマガスは、ヘリ
ウムを使用し、流量は、12リットル/分であり、キャ
リアガスのヘリウムガスは、1リットル/分とし、高周
波出力は、400Wである。
【0018】本発明のプラズマトーチ1では、図3のよ
うにプラズマ発生室11の開口部12から軸方向にプラ
ズマ14が安定して延び、直線状で安定したヘリウムプ
ラズマが生成されている。この場合、冷却ガス41は、
プラズマ14を外周から包囲し、軽いヘリウムが上昇し
ないようにし、また、大気の混入を防ぎ、プラズマ14
を安定状態に保持していると考えられる。
【0019】それに対して、比較例のプラズマトーチ1
では、図4のようにプラズマ発生室11の開口部12付
近から上方に向かってプラズマ14が上昇している。こ
の場合、冷却ガスのベンチュリ効果により、プラズマが
冷却ガスに引き寄せられ、不安定になっている。なお、
図3は、プラズマトーチの開口部付近が撮影されていな
いが、図4の開口部と同様の構成になっている。
【0020】<ヌ>プラズマ発生室のワークコイルから
の距離とプラズマ発生の関係 試料がプラズマ発生室11内で発光する強度分布につい
て、図5に示されている。図5(A)は、プラズマ発生
室11のロードコイル51からの距離を横軸にとって、
カルシウムのイオン線の軸方向強度を縦軸に取り、キャ
リアガス流量をパラメータに取ったグラフである。ま
た、図5(B)は、プラズマ発生室11のロードコイル
51からの距離を横軸にとって、鉄の中性原子線強度を
縦軸に取り、キャリアガス流量をパラメータに取ったグ
ラフである。
【0021】これらのグラフには、キャリアガス流量が
多くなると、強度のピークがロードコイル51から離れ
た位置に移ることが示されている。そのために、プラズ
マ発生室11の長さを長くすることにより、強度のピー
ク位置で有効に分析を行うことができる。もし、プラズ
マ発生室11の長さが短いと、プラズマ中に大気が混入
し、測定精度が低下する。
【0022】また、試料ニッケルイオン強度に及ぼすサ
ンプリング深さの影響について、図6に示されている。
図6は、キャリアガス流量を横軸に取り、ニッケルイオ
ン強度を縦軸に取り、ロードコイル51に付与した高周
波電力をパラメータに取ったグラフである。図6
(A)、(B)、(C)、(D)は、各々、サンプリン
グ深さが10mm、15mm、20mm、25mmにつ
いて示している。
【0023】図6のグラフにおいて、ニッケルイオン強
度は、サンプリング深さが大きいほど、キャリアガス流
量が多い方に強度のピークが移り、ピークの強度は、小
さくなっていることを示している。このように、サンプ
リング深さを大きく、即ちプラズマ発生室11の長さを
長くできると、キャリアガス21の流量を多くできる。
したがって、最適な分析感度の条件で分析をおこなうこ
とができる。
【0024】質量分析においては、プラズマの電位に起
因する二次放電が問題となるが、プラズマトーチを長く
できれば、プラズマ電位の低い部分で分析を行えるた
め、二次放電の影響を小さくできる。
【0025】冷却ガスを用いることにより、プラズマト
ーチの溶融が生じないので、プラズマに印加するパワー
を大きくできる。その結果、プラズマが高温で高密度に
なるので、元素分析や物質の分解処理などに有効とな
る。
【0026】<ル>プラズマトーチの性能 従来のプラズマトーチでは、1kWの入力に対して、毎
分10リットル以上のプラズマガスが必要であったが、
本発明のプラズマトーチでは、アルゴン、ヘリウムとも
に毎分3リットルまでガス流量を小さくしても、トーチ
の溶融の問題が無く、プラズマを維持することができ
る。特に、ヘリウムを用いた場合、従来のプラズマトー
チではトーチ溶融のため、1kW程度の入力が限度であ
ったが、本発明のプラズマトーチでは、2kWの入力時
でも、定常的にプラズマを維持することができる。
【0027】以下に、プラズマガス導入管32を複数配
置したプラズマトーチ1を説明する。
【0028】<イ>複数のプラズマガス導入管 図7に示すように、プラズマガス導入管32をプラズマ
ガス筒体3の周囲に複数配置する。図7(A)〜図7
(B)は、キャリアガス筒体2とプラズマガス筒体3を
備えたプラズマトーチ1であり、図7(C)〜図7
(D)は、更に中間ガス筒体6を備えたプラズマトーチ
1である。いずれのプラズマトーチ1でも、図7
(B)、図7(D)に示すように、2本のプラズマガス
導入管32をプラズマガス筒体3の外周の接線方向に取
り付け、プラズマガス31がプラズマガス筒体3の内周
で回転するように配置される。
【0029】このように、複数のプラズマガス導入管3
2を配置することにより、プラズマガス31の回転が安
定し、プラズマの状態を安定にすることができ、また、
導入管の断面積を小さくすると、プラズマガスを高速で
導入にでき、更に良い効果が得られる。例えば、プラズ
マ生成部でのガス旋回速度が増し、プラズマが安定化
し、プラズマガスを更に減らすことができる。この方式
を使うことにより、プラズマガスの使用量を約20%
(2本のプラズマガス導入管を配置した場合)減少させ
ることができる。また、安定なプラズマが生成されるの
で、ノイズの減少により分析感度を向上できる。
【0030】複数のプラズマガス導入管32を備えたプ
ラズマトーチ1において、図示していないが、冷却ガス
筒体4を図1〜図2に示すように配置すると、よりプラ
ズマの状態を安定にすることができる。
【0031】以下に、プラズマトーチの使用例を説明す
る。
【0032】<イ>質量分析 質量分析は、例えば、図8(A)のように、プラズマト
ーチ1とサンプラー71と質量分析装置7を用いて行わ
れる。サンプラー71は、プラズマトーチ1のプラズマ
発生室11の開口部12付近に配置され、円錐状の形状
を有し、中心部に孔が開いている。サンプラー71の孔
部の位置とロードコイル端部の位置との間の長さがサン
プリング深さDである。プラズマガス筒体3が冷却され
るので、サンプリング深さDを必要に応じて長くでき
る。そのため、サンプラー71の孔部の位置とプラズマ
発生室11の開口端の位置との間の距離dを自由に設定
でき、分析の適用範囲を広げることができるので、二次
放電を低減でき、また、空気の混入が無くなり、スペク
トル干渉を低減できる。なお、ここに示したプラズマト
ーチ1は、中間ガス61を使用しているが、中間ガス6
1を使用しないものでも良い。
【0033】質量分析の方法は、分析すべき試料をキャ
リアガス21に乗せてプラズマ発生室11に輸送して行
われる。その際、プラズマガス31は、導入管を通して
プラズマガス筒体内を回転しながらプラズマ発生室11
に導入され、プラズマ発生室11内で、一部がプラズマ
発生装置5によりプラズマになっている。試料は、プラ
ズマ発生室11内に輸送されると、プラズマにより活性
化された状態になり、プラズマと共にプラズマ発生室1
1の開口部12から外部に排出される。試料は、主に、
プラズマ発生室11の円筒状の中心部に存在しながら、
開口部12から外部に排出されるので、サンプラー71
の孔を通過し、真空中を通過して質量分析装置7に向か
い、質量分析される。プラズマ発生室11の大部分のガ
スやプラズマは、サンプラー71で遮られて外周方向に
排出される。冷却ガス41もプラズマガス筒体3を冷却
し、サンプラー71で外周方向に排出される。
【0034】<ロ>分光分析 分光分析は、例えば、図8(B)のように、プラズマト
ーチ1とレンズなどの集光装置81と分光分析装置8を
用いて行われる。分光装置は、主に、プラズマトーチ1
の側部に配置され、プラズマ中の試料が発する光を集光
装置81で集め、分光分析を行う。なお、ここに示した
プラズマトーチ1は、中間ガス61を使用しているが、
中間ガス61を使用しないものでも良い。
【0035】分光分析の方法は、分析すべき試料をキャ
リアガス21に乗せてプラズマ発生室11に輸送して行
われる。その際、プラズマガス31は、導入管を通して
プラズマガス筒体内を回転しながらプラズマ発生室11
に導入され、プラズマ発生室11内で、一部がプラズマ
発生装置5によりプラズマになっている。試料は、プラ
ズマ発生室11内に輸送されると、プラズマにより活性
化された状態になり、プラズマと共にプラズマ発生室1
1の開口部12から外部に排出される。試料は、主に、
プラズマ発生室11の円筒状の中心部に存在し、固有の
光を発生しながら、開口部12から外部に排出される。
排出されても、試料は、プラズマ発生室11の外部で固
有の光を発生しながら、所定の間、プラズマガス31と
共に存在する。そこで、試料の固有の光を集光装置81
で集めて分光分析装置8に送り、分光分析を行う。プラ
ズマガス筒体3が冷却されるので、サンプリング深さD
を必要に応じて長くでき、トーチ内部からの発光を測定
できるので、空気の混入が無く、スペクトル干渉を低減
できる。
【0036】<ハ>分解処理 プラズマトーチは、PCBやフロンなど物質の分解処理
を行うことができる。物質をキャリアガス又はプラズマ
ガスに混入させて、高温プラズマ中に導入することによ
り、物質を分解し、無害化することができる。
【0037】
【発明の効果】本発明は、次のような効果を得ることが
できる。 <イ>本発明は、プラズマガス流量を少なくできるプラ
ズマトーチを提供することができる。 <ロ>また、本発明は、安定したプラズマを維持できる
プラズマトーチを提供することができる。 <ハ>また、本発明は、高出力化により高温・高密度プ
ラズマを生成できるプラズマトーチを提供することがで
きる。 <ニ>また、本発明は、大気(空気)の混入を防ぐこと
により、高純度のプラズマを生成できるプラズマトーチ
を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】冷却可能なプラズマトーチの説明図
【図2】プラズマ発生室の開口部の説明図
【図3】本発明のプラズマトーチによるプラズマの写真
の図
【図4】比較例のプラズマトーチによるプラズマの写真
の図
【図5】プラズマ発生室内で発光するカルシウムと鉄の
強度分布の図
【図6】プラズマ発生室内で発光するニッケルの強度分
布の図
【図7】プラズマガス導入管を複数配置したプラズマト
ーチの図
【図8】プラズマトーチの質量分析及び分光分析の説明
【図9】比較例のプラズマトーチの図
【符号の説明】
1・・・プラズマトーチ 11・・プラズマ発生室 12・・開口部 13・・ひさし 14・・プラズマ 2・・・キャリアガス筒体 21・・キャリアガス 3・・・プラズマガス筒体 31・・プラズマガス 32・・プラズマガス導入管 4・・・冷却ガス筒体 41・・冷却ガス 42・・冷却ガス導入管 43・・冷却ガスの排出口 44・・冷却ガスの排出口 5・・・プラズマ発生装置 51・・ロードコイル 6・・・中間ガス筒体 61・・中間ガス 62・・中間ガス導入管 7・・・質量分析装置 71・・サンプラー 8・・・分光分析装置 81・・集光装置 D・・・サンプルリング深さ d・・・プラズマトーチの開口部とサンプラーの間隔
フロントページの続き (72)発明者 宮原秀一 神奈川県横浜市緑区長津田町4259 東京工 業大学内 Fターム(参考) 2G043 AA01 BA02 EA08 GA11 GB02 GB03 GB05 GB16 HA01 JA01 KA02 KA05 MA01 MA11

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】プラズマを生じさせるプラズマトーチにお
    いて、 キャリアガスを移送するキャリアガス筒体と、 キャリアガス筒体の外周に配置され、プラズマガスを移
    送するプラズマガス筒体と、 プラズマガスをプラズマガス筒体内で回転するように導
    入するプラズマガス導入管と、 プラズマガス筒体の外周に配置され、プラズマガス筒体
    を冷却する冷却ガスを移送する冷却ガス筒体とを備え、 冷却ガス筒体から冷却ガスを排出する排出口は、プラズ
    マガス筒体からプラズマガスを排出する排出側にあるこ
    とを特徴とする、プラズマトーチ。
  2. 【請求項2】請求項1に記載のプラズマトーチにおい
    て、 冷却ガスを冷却ガス筒体内で回転するように導入する冷
    却ガス導入管を備え、 冷却ガス筒体から排出された冷却ガスは、プラズマガス
    を包囲するように排出されることを特徴とする、プラズ
    マトーチ。
  3. 【請求項3】請求項1に記載のプラズマトーチにおい
    て、 キャリアガス筒体とプラズマガス筒体との間に中間ガス
    を移送する中間筒体を配置することを特徴とする、プラ
    ズマトーチ。
  4. 【請求項4】請求項1に記載のプラズマトーチにおい
    て、 プラズマガス導入管は、複数形成され、プラズマガスが
    プラズマガス筒体内で回転するように配置されているこ
    とを特徴とする、プラズマトーチ。
  5. 【請求項5】プラズマを生じさせるプラズマトーチにお
    いて、 キャリアガスを移送するキャリアガス筒体と、 キャリアガス筒体の外周に配置され、プラズマガスを移
    送するプラズマガス筒体と、 プラズマガスをプラズマガス筒体内で回転するように導
    入する複数のプラズマガス導入管と、を備えていること
    を特徴とする、プラズマトーチ。
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