JP7396508B2 - ラジカル発生装置及びイオン分析装置 - Google Patents

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Description

本発明は、ラジカル発生装置、及び、該装置で発生させたラジカル種を利用してイオンを解離させて分析するイオン分析装置に関する。
従来、試料成分由来のイオンに、水素ラジカル、酸素ラジカル、窒素ラジカルなどのラジカル種を照射することで該イオンを解離させ、生成されたプロダクトイオンを質量分析する質量分析装置が知られている(特許文献1、非特許文献1など参照)。例えばペプチド由来のイオンに対して、こうしたラジカル種を用いた解離操作を行うことで、ペプチドのアミノ酸配列等の構造を反映した様々な種類のプロダクトイオンを生成することができる。それらプロダクトイオンが観測されるマススペクトルを解析することで、ペプチドの構造を推定することができる。
ラジカル発生装置にはいくつかの方式があるが、上述したような質量分析装置に搭載されるラジカル発生装置は、できるだけ小形且つ軽量であることが好ましい。こうしたラジカル発生装置として、非特許文献1、2等に記載のものが知られている。このラジカル発生装置では、石英等の誘電体から成るキャピラリー管の周囲に巻回された導電体であるスパイラルアンテナにマイクロ波電力を供給し、渦電流によってキャピラリー管内に放電を生じさせプラズマを生成する。また、強い磁場を発生する磁石をキャピラリー管の外側に配置し、この磁場を利用した電子サイクロトロン共鳴(Electron Cyclotron Resonance:ECR)によって、プラズマの密度を高め且つ安定化させる。このラジカル発生装置は、プラズマの生成及び維持に、局所的な誘導型放電と共鳴サイクロトロン共鳴とを利用しているため、ECR-LICP(Electron Cyclotron Resonance-Localized Inductively Coupled Plasma)型と呼ばれている。
特開2019-191081号公報
Yuji Simabukuro、ほか4名、「タンデム・マス・スペクトロメトリー・オブ・ペプタイド・イオンズ・バイ・マイクロウェイブ・エキサイテッド・ハイドロジェン・アンド・ウォーター・プラズマズ(Tandem Mass Spectrometry of Peptide Ions by Microwave Excited Hydrogen and Water Plasmas)」、Analytical Chemistry、2018年、Vol.90、No.12、pp.7239-7245 島袋祐次(Yuji Simabukuro)、「コンプリヘンシブ・スタディ・オン・ザ・ロー-エナジー・アトミック・ハイドロゲン・ビーム:フロム・プロダクション・トゥー・ベロシティ・ディストリビューション・メジャーメント(Comprehensive Study on the Low-energy Atomic Hydrogen Beam: From Production to Velocity Distribution Measurement」(博士論文本文)、[online]、[2020年4月8日検索]、同志社大学学術リポジトリー、インターネット<URL: https://doors.doshisha.ac.jp/duar/repository/ir/27819/zk1079.pdf>
上述したECR-LICP型のラジカル発生装置では、螺旋状のスパイラルアンテナ(内側導体)の外側に、それと同軸である略円筒状の外側導体が設けられ、該外側導体が接地される。そして、スパイラルアンテナと外側導体との間の間隙に挿入された導電性の部品により、スパイラルアンテナの一部と外側導体とが電気的に接続されることで、ECRの共振回路が構成されるようになっている。
こうした構成では、ECR共振回路において適切な共振が起こるように、スパイラルアンテナにおいて外側導体と電気的に接続される軸方向の位置を、装置毎に調整する必要がある。そのため、スパイラルアンテナと外側導体との安定した電気的接続を実現しつつ、その接続位置の調整を簡便に行えるような調整機構が強く要望されていた。
本発明はこうした課題を解決するものであり、その主たる目的は、プラズマ生成のための共振状態の調整が簡便であり、且つ安定的に高い効率で以てラジカル種を生成することができるラジカル発生装置を提供することである。
また、本発明の他の目的は、そうしたラジカル発生装置を用いて生成されたラジカル種を利用したイオンの解離操作によって、試料の構造解析を良好に行うことができるイオン分析装置を提供することである。
本発明に係るラジカル発生装置の一態様は、
誘電体からなり、その内部にプラズマ原料が導入される円筒管と、
導電体からなり、前記円筒管の周囲に巻回されるアンテナと、
前記円筒管がその内部に挿通され、該円筒管と同軸で断面が同心円状である導電性の内周面を有する外側導体部と、
前記外側導体部の内周面と前記円筒管の外周面との間の間隙に挿入される円筒状体であり、該外側導体部の内周面と前記アンテナとに共に接触して両者を電気的に接続する接続部と、
を備え、前記接続部は、内筒体及び外筒体を含む二重円筒管構造であり、前記内筒体及び前記外筒体のそれぞれの同じ側の端部が軸方向に延びる切れ込みによって周方向に分割されて複数の分割片が形成され、且つ、該内筒体の分割片の外側に先端側に向かうに従って外方に膨出する、又は該外筒の分割片の内側に先端側に向かうに従って内方に膨出するテーパー部が形成されてなるものである。
また、本発明に係るイオン分析装置の一態様は、上記発明に係るラジカル発生装置の一態様を用いたイオン分析装置であって、
目的試料由来のイオンに前記ラジカル発生装置で発生させたラジカル種を照射して前記イオンを解離させる反応部と、
前記反応部で生成されたイオン種を、個々のイオン種を特徴付けるパラメーターに応じて分離して検出する分析部と、
を備えるものである。
ここで、上記個々のイオン種を特徴付けるパラメーターとは、イオンの質量電荷比(厳密には斜体字の「m/z」)やイオン移動度などとすることができる。また、上記反応室は例えばイオントラップやコリジョンセルなどとすることができる。
本発明に係るラジカル発生装置の上記態様では、例えば、接続部の内筒体の分割片の外側に、先端側に向かうに従って外方に膨出するテーパー部が形成されている。外筒体の先端部が内筒体のテーパー部に達しない位置まで該内筒体が該外筒体の内側に挿通された状態から、外筒体を内筒体に対して軸方向に進出させていく(又は逆に内筒体を外筒体に対して軸方向に後退させていく)と、外筒体の分割片の先端が内筒体のテーパー部に接触する。そして、その状態からさらに外筒体を内筒体に対して軸方向に進出させていくと、内筒体のテーパー部が外筒体の分割片を外方に押圧し、その外筒体の分割片は外方に曲がる(つまりは広がる)。逆に、外筒体の分割片は内筒体のテーパー部を内方に押圧し、その内筒体の分割片は内方に曲がる。
即ち、接続部に含まれる内筒体及び外筒体における各分割片はいずれも、内方及び外方に弾性変形可能な板ばねとして機能する。これによって、内筒体の分割片はその内側にあるアンテナに密着する一方、外筒体の分割片は外側導体部の内周面に密着する。また逆に、内筒体の分割片はアンテナからの反発力を受け、外筒体の分割片は外側導体部からの反発力を受けるので、内筒体の先端部(テーパー部)と外筒体の先端部との接触性も高まる。その結果、アンテナの軸方向における特定の位置である部位と外側導体部の内周面とが、接続部を介し、安定して電気的に接続される。
このようにして本発明に係る上記態様のラジカル発生装置によれば、接続部を介した接続箇所をアンテナの軸方向の任意の位置で固定することができる。また、接続部を介したアンテナと外側導体部との安定的な電気的接触を確保して、その両者を確実に導通させることができる。それにより、ECRによる共振が良好に生じる状態にラジカル発生装置を簡便に調整し、その状態を維持することができる。その結果、円筒管の内部で安定的にプラズマを生成し、そのプラズマを利用して所望のラジカル種を安定的に且つ効率的に発生させることができる。
また本発明に係る上記態様のイオン分析装置によれば、反応室に十分な量のラジカル種を安定的に供給することができるので、目的試料由来のイオンを高い効率で解離させ、各種のプロダクトイオンを生成することができる。それによって、目的試料に含まれる成分(化合物)の構造解析に有用な情報を収集し、該解析を精度良く行うことができる。
本発明に係るイオン分析装置の一実施態様である質量分析装置の概略構成図。 本実施形態の質量分析装置におけるラジカル発生部の要部の概略断面図。 図2に示したラジカル発生部の要部の概略断面斜視図。 図2に示したラジカル発生部の要部の断面拡大図。 ラジカル発生部に含まれる共振器調整機構の構造を示す斜視一部断面図。
以下、本発明の一実施形態であるラジカル発生装置、及び該装置を用いたイオン分析装置の一例である質量分析装置について、添付の図面を参照して説明する。
図1は、本実施形態の質量分析装置の概略構成図である。この質量分析装置は、大気圧イオン源を備えたトリプル四重極型質量分析装置である。この質量分析装置は、しばしば、その前段に液体クロマトグラフ(LC)が接続され、液体クロマトグラフ質量分析装置として利用される。
図1に示すように、この質量分析装置は、イオン化室11と真空チャンバー10とを有する。イオン化室11内は略大気圧雰囲気である。真空チャンバー10の内部は複数に区切られ、各室はそれぞれ図示しない真空ポンプ(ロータリーポンプ及び/又はターボ分子ポンプ)により真空排気され、第1中間真空室12、第2中間真空室13、及び分析室14となっている。即ち、この質量分析装置は、略大気圧雰囲気であるイオン化室11から高真空雰囲気である分析室14まで順に真空度が高まる、多段差動排気系の構成となっている。
イオン化室11にはエレクトロスプレーイオン化(ESI)プローブ20が設置されており、ESIプローブ20には例えばLCのカラムから溶出する溶出液(試料液)が導入される。イオン化室11と第1中間真空室12との間は、細径の脱溶媒管21を通して連通している。第1中間真空室12の内部には、Qアレイと呼ばれる一種のイオンガイド22が配置されている。第1中間真空室12と第2中間真空室13とは、スキマー23の頂部に形成された小孔を介して連通している。第2中間真空室13の内部には、多重極型イオンガイド24が配置されている。
高い真空度に維持される分析室14の内部には、直線状のイオン光軸Cに沿って、前段四重極マスフィルター25、コリジョンセル26、後段四重極マスフィルター28、及び、イオン検出器29が配置されている。前段四重極マスフィルター25及び後段四重極マスフィルター28はいずれも、イオン光軸Cを取り囲むように該イオン光軸Cに平行に配置された4本のロッド電極を有し、質量電荷比に応じてイオンを選択する機能を有する。コリジョンセル26にはラジカル発生部40が接続されており、コリジョンセル26はラジカル発生部40から供給される酸素ラジカル等のラジカル種によってイオンを解離する機能を有する。コリジョンセル26の内部には、イオン光軸Cを取り囲むように多重極型のイオンガイド27が配置されている。イオン検出器29による検出信号は、その実体がコンピューターであるデータ処理部30に入力される。
本実施形態の質量分析装置における、典型的なMS/MS分析動作を概略的に説明する。
ESIプローブ20は、供給される試料液に電荷を付与しながら該試料液をイオン化室11内に噴霧する。噴霧された帯電液滴中の試料成分は、液滴が微細化されるとともに溶媒が気化する過程でイオン化される。生成された試料成分由来のイオンは、脱溶媒管21の両端の圧力差によって形成されるガス流に乗って脱溶媒管21中に吸い込まれ、第1中間真空室12へ送られる。第1中間真空室12に入射したイオンは概ねイオン光軸Cに沿って進行し、イオンガイド22、スキマー23のオリフィス、多重極型イオンガイド24を経て、分析室14にまで送られ、前段四重極マスフィルター25に導入される。
前段四重極マスフィルター25を構成する複数のロッド電極には、図示しない電源から直流電圧と高周波電圧とを加算した電圧が印加され、この電圧に応じた特定の質量電荷比を有するイオンのみが選択的に前段四重極マスフィルター25を通過し、コリジョンセル26に導入される。コリジョンセル26内にはラジカル発生部40から酸素ラジカル等のラジカル種が供給され、コリジョンセル26に導入されたイオン(一般的にプリカーサーイオンという)はラジカル種と反応して解離する。解離により生成された各種のプロダクトイオンは、イオンガイド27により形成される電場の作用によって収束され、コリジョンセル26から出て後段四重極マスフィルター28に導入される。
後段四重極マスフィルター28を構成する複数のロッド電極には、前段四重極マスフィルター25と同様に、直流電圧と高周波電圧とを加算した電圧が印加され、この電圧に応じた特定の質量電荷比を有するプロダクトイオンのみが選択的に後段四重極マスフィルター28を通過し、イオン検出器29に到達する。イオン検出器29は、入射したイオンの量に応じた検出信号をデータ処理部30へと出力する。
例えば、プリカーサーイオン及びプロダクトイオンの質量電荷比がいずれも既知であるような試料成分の定量分析を行いたい場合には、前段四重極マスフィルター25及び後段四重極マスフィルター28でそれぞれ選択するイオンの質量電荷比を固定し、その特定のプリカーサーイオンから生成される特定のプロダクトイオンを繰り返し検出する。即ち、特定の質量電荷比の組合せを対象とする多重反応モニタリング(Multiple Reaction Monitoring:MRM)測定を繰り返す。データ処理部30は、そのMRM測定の繰り返しにより得られる検出信号に基いてクロマトグラム(抽出イオンクロマトグラム)を作成し、該クロマトグラムにおいて観測されるピークの面積から目的の試料成分の濃度(含有量)を算出する。
なお、コリジョンセル26内でなされる酸素ラジカル等のラジカル種とイオンとの反応を利用したイオン解離のメカニズムについては本明細書の趣旨ではなく、特許文献1のほか、様々な文献で説明されているので、ここでは省略する。
次に、酸素ラジカル等のラジカル種をコリジョンセル26に供給するラジカル発生部40の構成について、詳しく説明する。
ラジカル発生部40は、上述したECR-LICP型のラジカル発生装置であり、図1に示すように、プラズマ生成部41と、原料供給部42と、冷却ガス供給源43と、マイクロ波電源44と、を含む。
図2は、ラジカル発生部40におけるプラズマ生成部41の構造を模式的に示す概略断面図である。図3は、プラズマ生成部41の一部の概略断面斜視図である。図4は、プラズマ生成部41の一部の断面拡大図である。図5は、プラズマ生成部41の一部である共振器調整機構の構造を示す部分断面斜視図である。
プラズマ生成部41は、原料供給部42から供給されるプラズマ原料を基にプラズマを生成し、該プラズマ中で発生したラジカル種を外部へ、具体的にはコリジョンセル26へと送り出すものである。冷却ガス供給源43は、適宜に加圧した冷却ガスを供給するものである。マイクロ波電源44は、プラズマを生成するための電力を供給するものである。ここでは、プラズマ原料は水蒸気である。
プラズマ生成部41は、絶縁体で且つ誘電体である石英(又はそのほかの誘電体)から成る中心円筒管410と、中心円筒管410の周囲に螺旋状に巻回された帯状の導電体(通常は金属)であるスパイラルアンテナ411と、中心円筒管410と同軸で、その内径が中心円筒管410の外径よりも一回り大きい円筒開口を有する、導電体からなる外側導体部412と、外側導体部412に埋設された永久磁石413と、外側導体部412を保持するケーシング414と、ケーシング414に取り付けられたマイクロ波供給コネクター416と、同じくケーシング414に取り付けられた冷却ガス接続部415と、後述する内筒421と外筒424とを含む共振器調整機構420と、を有する。スパイラルアンテナ411には、例えば、導電性と成形性が高い純銅に近い材料(無酸素銅、タフピッチ銅など)が用いられる。また、酸化防止のために、その表面に金メッキが施されることが好ましい。
中心円筒管410の内部は、プラズマ原料である水蒸気が導入される原料導入管であるとともにプラズマ生成室である。マイクロ波供給コネクター416は同軸コネクターであり、図示しない同軸ケーブルを介してマイクロ波電源44に接続される。同軸コネクターの導電線は、スパイラルアンテナ411の一端に接続されている。また、外側導体部412は、図示しないものの接地されている。後述するが、スパイラルアンテナ411の一部と外側導体部412とは共振器調整機構420を介して電気的に接続されており、その接続位置においてスパイラルアンテナ411は接地されていることになる。スパイラルアンテナ411、外側導体部412、共振器調整機構420などはECRの共振器を構成する。マイクロ波電源44は、同軸ケーブル及びマイクロ波供給コネクター416を介して、この共振器に電力を供給する。
ラジカル発生部40では、次のようにしてラジカル種が生成される。
原料供給部42で生成された水蒸気が中心円筒管410に供給される。マイクロ波電源44は、2.45GHzの周波数のマイクロ波電流をスパイラルアンテナ411に供給する。すると、スパイラルアンテナ411に流れる電流の作用によって誘導放電が生じ、中心円筒管410の内壁に沿って軸方向に局所的に、水蒸気を原料とするプラズマが生成される。また、共振器調整機構420により、永久磁石413による磁場の周りを運動する電子の電子サイクロトロン周波数とマイクロ波の周波数とが一致するように共振器を調整すると、ECRによってプラズマの密度が高まるとともに安定化する。そして、新たな水蒸気の導入に伴って、プラズマ中の酸素ラジカル等のラジカル種が中心円筒管410中を輸送され、末端の開口端から放出される。
このとき、冷却ガス供給源43から冷却ガスが冷却ガス接続部415を通して接続室430に導入される。冷却ガスは、後述するスパイラルアンテナ保持部である内筒421、外筒424の切れ込み部421a、424bを通って上部に抜ける。これにより、連続的にラジカル種が生成される際に、スパイラルアンテナ411等の各部の加熱を防止することができる。また併せて、スパイラルアンテナ411が酸化し易い金属である場合でも、その酸化を防止する作用も有する。スパイラルアンテナ411が金メッキされている場合には、酸化のおそれはないため、単なる空気を冷却ガスとして用いることができる。一方、スパイラルアンテナ411が金メッキされていない場合には、不活性な窒素ガスを冷却ガスとして使用するとよい。
ECRの共振器を調整するための共振器調整機構420は、図3に示すように、同軸の二重円筒管構造である内筒421と外筒424、及び、可動ノブ425、を含む。内筒421は外筒424よりも所定長さだけ長い。内筒421及び外筒424はいずれも弾性変形する部品であり、ばね用の銅合金(ベリリウム銅、リン青銅など)を用いるとよい。また、接触抵抗を減らすために、内筒421及び外筒424の表面には金メッキを施すことが好ましい。なお、便宜的に、内筒421及び外筒424について、中心円筒管410に先行して挿入される側の端部(図3では下側の端部)を先端部、反対側の端部を基部ということとする。
図5に示すように、内筒421の先端部は軸に平行である切れ込み部421aによって複数に分割され、分割片421bを形成している。この例では、分割片421bは四つであるが、この数は3以上であればこれに限らない。この各分割片421bの先端には、基部側から先端部に向かうに従って徐々に外方に膨出するテーパー部421cが形成されている。また、図3に示すように、内筒421の基部には固定ノブ423が取り付けられ、固定ノブ423との接続端から軸方向に所定長さの範囲に亘り、内筒421の外周には雄ネジ部422が設けられている。
一方、外筒424の先端部も、内筒421と同様に、軸に平行な切れ込み部424aによって複数に分割され、分割片424bを形成している。この例では、分割片424bは四つであるが、この数は3以上であればこれに限らない。また、分割片421bと分割片424bとは同数でなくてもよい。内筒421及び外筒424の先端部の各分割片421b、424bは、それぞれ独立した板ばねとして機能する。可動ノブ425は、内筒421の雄ネジ部422に螺合する雌ネジ部が内周面に形成された貫通穴を有する。
図3及び図5に示すように、使用時に、可動ノブ425は内筒421の雄ネジ部422に螺合するように取り付けられ、内筒421は外筒424中に挿通される。内筒421を外筒424中に挿通する際には、テーパー部421cが障害にならないように分割片421bを内方に弾性変形させればよい。
ユーザーは、図3に示すように、一体化された状態の共振器調整機構420の内筒421及び外筒424を、中心円筒管410の周囲のスパイラルアンテナ411と外側導体部412の内周面との間の間隙431に挿入していく。このときには、内筒421及び外筒424の分割片421b、424bは弾性変形しておらず、内筒421の内周面はスパイラルアンテナ411とごく僅かな空隙を保ちながら、また外筒424の外周面は外側導体部412の内周面を擦りながら、スムーズに挿入される。
図4に示すように、外筒424の先端が内筒421のテーパー部421cに接触した状態であれば、そのときに弾性変形した内筒421が接触している部分でスパイラルアンテナ411は接地される。このスパイラルアンテナ411の接地位置が軸方向で変わると共振状態が変化し、生成されるプラズマの状態が変わる。そこで、ユーザーは、共振器調整機構420全体を移動させることでスパイラルアンテナ411の接地位置を変更し、プラズマが良好に生成される位置を見つける。プラズマが良好に生成されているか否かは、例えばマイクロ波電源44から供給される電流などをモニタすることで判断することができる。また、例えば、複数設けた冷却ガス接続部415の一つに確認用ガラス付きアダプタを装着し、ここからプラズマが発生する際のオレンジ色の発光を目視で確認できるようにすることで、プラズマが良好に生成されているか否か判断できるようにしてもよい。
そして、スパイラルアンテナ411の最適な接地位置が見いだせたならば、ユーザーは、固定ノブ423を持って内筒421の位置を固定したまま、可動ノブ425を回動させる。すると、可動ノブ425は外筒424の基部を押し、内筒421に対して外筒424を軸方向に進出させる。図4及び図5に示すように、外筒424の分割片424bの先端は内筒421のテーパー部421cに当接してこれを押すため、内筒421の分割片421bは内方に弾性変形する。逆に、外筒424の分割片424bは外方に弾性変形する。それにより、内筒421の分割片421bはスパイラルアンテナ411に密着し、外筒424の分割片424bは外側導体部412の内周面に密着する。また、分割片421b、424bはスパイラルアンテナ411と外側導体部412とからそれぞれ押されるため、内筒421の分割片421bと外筒424の分割片424bも強く密着する。
こうして、それぞれの密着面において電気的な接続が良好になり、且つ、その軸方向の接触位置も固定されるから、プラズマは良好に生成され続ける。共振器の調整をやり直す際には、可動ノブ425を先とは反対方向に回し、内筒421に対し外筒424を軸方向に後退させる(図2及び図4では引き上げる)ようにすればよい。
以上のようにして、本実施形態の質量分析装置では、共振器調整機構420を利用してプラズマが良好に発生するように、つまりはラジカル種が効率良く生成されるように、ラジカル発生部40のECR共振器を簡便に調整することができる。
なお、上記説明では、可動ノブ425をユーザーが回すことで調整を行っていたが、手作業に依らず、可動ノブ425を自動的に回動させる駆動源を設けてもよい。また、さらにプラズマ状態等をモニタした結果に基いて自動的に調整を行う手段(回路)を設けてもよい。
また、上記実施形態では、内筒421にテーパー部421cを設けたが、外筒424にテーパー部を設けることでも同様の調整が可能である。
また、上記実施形態の質量分析装置はトリプル四重極型質量分析装置であるが、ラジカル種を利用してイオンを解離させるコリジョンセルやイオントラップを備える、他の方式の質量分析装置にも本発明を適用できることは明らかである。具体的には、例えば四重極-飛行時間型質量分析装置、イオントラップ型質量分析装置、イオントラップ飛行時間型質量分析装置などにも本発明を適用可能である。
また、ラジカル種を利用して解離させたイオンをイオン移動度に応じて分離して検出する、イオン移動度分析装置や、イオン移動度-質量分析装置などにも本発明を適用可能であることは明らかである。
さらにまた、上記実施形態や変形例はあくまでも本発明の一例であり、本発明の趣旨の範囲で適宜変形、修正、追加等を行っても本願特許請求の範囲に包含されることは当然である。
[種々の態様]
上述した複数の例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
(第1項)本発明に係るラジカル発生装置の一態様は、
誘電体からなり、その内部にプラズマ原料が導入される円筒管と、
導電体からなり、前記円筒管の周囲に巻回されるアンテナと、
前記円筒管がその内部に挿通され、該円筒管と同軸で断面が同心円状である導電性の内周面を有する外側導体部と、
前記外側導体部の内周面と前記円筒管の外周面との間の間隙に挿入される円筒状体であり、該外側導体部の内周面と前記アンテナとに共に接触して両者を電気的に接続する接続部と、
を備え、前記接続部は、内筒体及び外筒体を含む二重円筒管構造であり、前記内筒体及び前記外筒体のそれぞれの同じ側の端部が軸方向に延びる切れ込みによって周方向に分割されて複数の分割片が形成され、且つ、該内筒体の分割片の外側に先端側に向かうに従って外方に膨出する又は該外筒の分割片の内側に先端側に向かうに従って内方に膨出するテーパー部が形成されてなるものである。
第1項に記載のラジカル発生装置では、内筒体及び外筒体にそれぞれ形成された複数の分割片が板ばねとして機能し、内筒体に対し外筒体を軸方向に相対的に移動させたときに、板ばねの作用によって内筒体と外筒体とがそれぞれアンテナと外導体部とに密着する。したがって、第1項に記載のラジカル発生装置によれば、接続部を介した接続箇所をアンテナの軸方向の任意の位置で固定することができる。また同時に、接続部を介したアンテナと外側導体部との安定的な電気的接触を確保して、その両者を確実に導通させることができる。それにより、ECRによる共振が良好に生じる状態に簡便に装置を調整し、その状態を維持することができる。その結果、円筒管の内部で安定的にプラズマを生成し、そのプラズマを利用して所望のラジカル種を安定的に且つ効率的に発生させることができる。
(第2項)第1項に記載のラジカル発生装置では、前記内筒体の分割片の外側に先端側に向かうに従って外方に膨出するテーパー部が形成され、前記接続部は、前記内筒体に対し前記外筒体を先端部の方向に移動させる移動機構を含む構成とすることができる。
第2項に記載のラジカル発生装置によれば、内筒体の分割片がアンテナに接触する位置を保ったまま、外筒体を移動させて接続部の位置を固定することができる。そのため、上述したような装置の調整が容易である。
(第3項)第2項に記載のラジカル発生装置において、前記移動機構は、前記内筒体に対しその軸方向に移動自在で且つ前記外筒体を押す可動ノブを含む構成とすることができる。
(第4項)また第3項に記載のラジカル発生装置において、前記可動ノブは前記内筒体の外周面に螺合され、該可動ノブを回動させることで前記外筒体が押される構成とすることができる。
第3項及び第4項に記載のラジカル発生装置によれば、調整の機構が簡単であり、コストを抑えることが容易である。また、ユーザーが手作業で調整を行う際にも作業が容易である。
(第5項)本発明に係るイオン分析装置の一態様は、第1項~第4項のいずれか1項に記載のラジカル発生装置を用いたイオン分析装置であって、
目的試料由来のイオンに前記ラジカル発生装置で発生させたラジカル種を照射して前記イオンを解離させる反応部と、
前記反応部で生成されたイオン種を、個々のイオン種を特徴付けるパラメーターに応じて分離して検出する分析部と、
を備えるものである。
第5項に記載のイオン分析装置によれば、反応室に十分な量のラジカル種を安定的に供給することができるので、目的試料由来のイオンを高い効率で解離させ、各種のプロダクトイオンを生成することができる。それによって、目的試料に含まれる成分(化合物)の構造解析に有用な情報を収集し、該解析を精度良く行うことができる。
10…真空チャンバー
11…イオン化室
12…第1中間真空室
13…第2中間真空室
14…分析室
20…ESIプローブ
21…脱溶媒管
22、24、27…イオンガイド
23…スキマー
25…前段四重極マスフィルター
26…コリジョンセル
28…後段四重極マスフィルター
29…イオン検出器
30…データ処理部
40…ラジカル発生部
41…プラズマ生成部
410…中央円筒管
411…スパイラルアンテナ
412…外側導体部
413…永久磁石
414…ケーシング
415…冷却ガス接続部
416…マイクロ波供給コネクター
420…共振器調整機構
421…内筒
421a、424a…切れ込み部
421b、424b…分割片
421c…テーパー部
422…雄ネジ部
423…固定ノブ
424…外筒
425…可動ノブ
430…接続室
431…間隙
42…原料供給部
43…冷却ガス供給源
44…マイクロ波電源
C…イオン光軸

Claims (5)

  1. 誘電体からなり、その内部にプラズマ原料が導入される円筒管と、
    導電体からなり、前記円筒管の周囲に巻回されるアンテナと、
    前記円筒管がその内部に挿通され、該円筒管と同軸で断面が同心円状である導電性の内周面を有する外側導体部と、
    前記外側導体部の内周面と前記円筒管の外周面との間の間隙に挿入される円筒状体であり、該外側導体部の内周面と前記アンテナとに共に接触して両者を電気的に接続する接続部と、
    を備え、前記接続部は、内筒体及び外筒体を含む二重円筒管構造であり、前記内筒体及び前記外筒体のそれぞれの同じ側の端部が軸方向に延びる切れ込みによって周方向に分割されて複数の分割片が形成され、且つ、該内筒体の分割片の外側に先端側に向かうに従って外方に膨出する又は該外筒の分割片の内側に先端側に向かうに従って内方に膨出するテーパー部が形成されてなるラジカル発生装置。
  2. 前記内筒体の分割片の外側に先端側に向かうに従って外方に膨出するテーパー部が形成され、前記接続部は、前記内筒体に対し前記外筒体を先端部の方向に移動させる移動機構を含む、請求項1に記載のラジカル発生装置。
  3. 前記移動機構は、前記内筒体に対しその軸方向に移動自在で且つ前記外筒体を押す可動ノブを含む、請求項2に記載のラジカル発生装置。
  4. 前記可動ノブは前記内筒体の外周面に螺合され、該可動ノブを回動させることで前記外筒体が押される、請求項3に記載のラジカル発生装置。
  5. 請求項1に記載のラジカル発生装置を用いたイオン分析装置であって、
    目的試料由来のイオンに前記ラジカル発生装置で発生させたラジカル種を照射して前記イオンを解離させる反応部と、
    前記反応部で生成されたイオン種を、個々のイオン種を特徴付けるパラメーターに応じて分離して検出する分析部と、
    を備えるイオン分析装置。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003194723A (ja) 2001-12-27 2003-07-09 Rikogaku Shinkokai プラズマトーチ
JP2007142444A (ja) 1995-12-04 2007-06-07 Hitachi Kokusai Electric Inc 発生させたプラズマ間の容量電流における位相部と逆位相部が平衡する誘導構造によって励起される高周波プラズマ処理方法
US20120217876A1 (en) 2011-02-25 2012-08-30 Trustees Of Princeton University Systems and Methods for Cylindrical Hall Thrusters with Independently Controllable Ionization and Acceleration Stages
JP2016529652A (ja) 2013-06-17 2016-09-23 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated プラズマリアクタ用の強化されたプラズマ源
JP2016192408A (ja) 2011-02-03 2016-11-10 テクナ・プラズマ・システムズ・インコーポレーテッド 高性能誘導プラズマトーチ

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4109213B2 (ja) * 2004-03-31 2008-07-02 株式会社アドテック プラズマ テクノロジー 同軸形マイクロ波プラズマトーチ
CN102413627B (zh) * 2011-07-22 2013-03-20 中国科学院空间科学与应用研究中心 一种改变等离子体参数的方法
JP6579587B2 (ja) * 2017-09-20 2019-09-25 住友理工株式会社 プラズマ処理装置
JP7036380B2 (ja) * 2018-04-27 2022-03-15 株式会社島津製作所 分析装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007142444A (ja) 1995-12-04 2007-06-07 Hitachi Kokusai Electric Inc 発生させたプラズマ間の容量電流における位相部と逆位相部が平衡する誘導構造によって励起される高周波プラズマ処理方法
JP2003194723A (ja) 2001-12-27 2003-07-09 Rikogaku Shinkokai プラズマトーチ
JP2016192408A (ja) 2011-02-03 2016-11-10 テクナ・プラズマ・システムズ・インコーポレーテッド 高性能誘導プラズマトーチ
US20120217876A1 (en) 2011-02-25 2012-08-30 Trustees Of Princeton University Systems and Methods for Cylindrical Hall Thrusters with Independently Controllable Ionization and Acceleration Stages
JP2016529652A (ja) 2013-06-17 2016-09-23 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated プラズマリアクタ用の強化されたプラズマ源

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