JPH01170835A - 風化試験システム - Google Patents
風化試験システムInfo
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- JPH01170835A JPH01170835A JP63068016A JP6801688A JPH01170835A JP H01170835 A JPH01170835 A JP H01170835A JP 63068016 A JP63068016 A JP 63068016A JP 6801688 A JP6801688 A JP 6801688A JP H01170835 A JPH01170835 A JP H01170835A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N17/00—Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light
- G01N17/004—Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light to light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N17/00—Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light
Landscapes
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- Environmental Sciences (AREA)
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- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本余所勿を量
織物サンプル、ペイント塗装パネルおよびプラスチック
のような製品の耐候性および耐光性をテストするための
システムは、例えばイリノイ州シカゴのアトラス、エレ
クトリック、デバイシス、カンパニーから販売され、現
在入手可能である。
のような製品の耐候性および耐光性をテストするための
システムは、例えばイリノイ州シカゴのアトラス、エレ
クトリック、デバイシス、カンパニーから販売され、現
在入手可能である。
これら装置は材料および製品の耐候および耐光性を厳密
に制御された条件下で試験する。
に制御された条件下で試験する。
自然環境において、光、熱および水分は、屋外風化条件
へ曝された製品に光学的、機械的および化学的変化を生
じさせるように相乗的に組合わされる。典型的には、そ
れらの装置は、製造業者が彼等の製品が数ケ月または数
年にわたって風化に対してどのように変化するかの情報
を得るを許容するため、そのような風化データを加速時
間ヘースで得るために使用することができる。
へ曝された製品に光学的、機械的および化学的変化を生
じさせるように相乗的に組合わされる。典型的には、そ
れらの装置は、製造業者が彼等の製品が数ケ月または数
年にわたって風化に対してどのように変化するかの情報
を得るを許容するため、そのような風化データを加速時
間ヘースで得るために使用することができる。
菅の米国特許第4,627.287号は、製品の両光お
よび耐候能力のテストのための耐光試験機を開示し、そ
こではテストされているサンプルの温度を制御するため
システムを通って空気が循環し、そのため典型的にはキ
セノンランプである放射線源によってオーハーヒ−1・
されないようになっている。この特許は、テストされて
いるサンプルの非均−冷却を発生することなしにシステ
ムを空冷するための技術に向けられている。
よび耐候能力のテストのための耐光試験機を開示し、そ
こではテストされているサンプルの温度を制御するため
システムを通って空気が循環し、そのため典型的にはキ
セノンランプである放射線源によってオーハーヒ−1・
されないようになっている。この特許は、テストされて
いるサンプルの非均−冷却を発生することなしにシステ
ムを空冷するための技術に向けられている。
本発明によれば、テストされているサンプルが少量の空
気の循環を要するのみでより大きい効率で均一に空冷さ
れることができる風化試験システムの改良が提供される
。これはパワーを節約し、同時に空気ポンプの有用寿命
を延長するため、低い運転速度で作動する低パワー空気
ポンプの使用を可能とし、そのため該ポンプは低容量の
低コストポンプであることができる。加えて、本発明の
風化試験システムは、サンプルの温度を絶えず監視する
ことなくあらかじめ定めた値に信頼して維持することが
できるように、自動化した態様で制御されたサンプル温
度を持つことができる。
気の循環を要するのみでより大きい効率で均一に空冷さ
れることができる風化試験システムの改良が提供される
。これはパワーを節約し、同時に空気ポンプの有用寿命
を延長するため、低い運転速度で作動する低パワー空気
ポンプの使用を可能とし、そのため該ポンプは低容量の
低コストポンプであることができる。加えて、本発明の
風化試験システムは、サンプルの温度を絶えず監視する
ことなくあらかじめ定めた値に信頼して維持することが
できるように、自動化した態様で制御されたサンプル温
度を持つことができる。
本光所皇脱所
本発明において、テストすべきサンプルを支承するため
のラック手段と、ラックに支承されたサンプルの内向き
の表面を照射するための手段と、そして空気流をラック
を通って指向するためのブロワ−手段とを備える風化試
験システムが提供される。
のラック手段と、ラックに支承されたサンプルの内向き
の表面を照射するための手段と、そして空気流をラック
を通って指向するためのブロワ−手段とを備える風化試
験システムが提供される。
本発明によれば、一般に円錐形の部材が空気流を一般に
円錐形流路中に外側へ再指向させるため、空気流中に配
置される。一般に円錐形の流路は、ラック手段上に支承
されたサンプルの内向き表面を横切って流れるように、
円錐形部材の形状と位置とによって位置決めされる。こ
れは、サンプルを横切る主空気流の直接の流れを防止す
るために努力がなされている先に引用した特許の教示と
対照的である。その代わりに、引用した特許では流れの
一部はシステムの中央にある光源へ向けられ、流れの残
りの大部分は、サンプルホルダーを本発明のようにその
内向き表面でなくそれらの外側表面を通って主に冷却す
るため、フレームおよびサイプルホルダーの外側へ向け
られる。
円錐形流路中に外側へ再指向させるため、空気流中に配
置される。一般に円錐形の流路は、ラック手段上に支承
されたサンプルの内向き表面を横切って流れるように、
円錐形部材の形状と位置とによって位置決めされる。こ
れは、サンプルを横切る主空気流の直接の流れを防止す
るために努力がなされている先に引用した特許の教示と
対照的である。その代わりに、引用した特許では流れの
一部はシステムの中央にある光源へ向けられ、流れの残
りの大部分は、サンプルホルダーを本発明のようにその
内向き表面でなくそれらの外側表面を通って主に冷却す
るため、フレームおよびサイプルホルダーの外側へ向け
られる。
従って本発明により、ブロワ−手段によって形成された
空気流の大部分は、ラック手段によって支承されている
サンプルの内向き表面を直接横切って通る。この状況に
おいて、存在するすべてのサンプルに対して良好な冷却
均一性を提供できることが判明した。同時に、前述した
ように、製造および運転コストの両方の有意なコスト節
約のため、低容器空気ブロワ−を使用することができる
。
空気流の大部分は、ラック手段によって支承されている
サンプルの内向き表面を直接横切って通る。この状況に
おいて、存在するすべてのサンプルに対して良好な冷却
均一性を提供できることが判明した。同時に、前述した
ように、製造および運転コストの両方の有意なコスト節
約のため、低容器空気ブロワ−を使用することができる
。
好ましくは、典型的には電子的性格の温度感知手段が、
ブロワ−手段のために自動制御手段(好ましくは電子的
)と電気的接続に空気流中でラック上に設&Jられる。
ブロワ−手段のために自動制御手段(好ましくは電子的
)と電気的接続に空気流中でラック上に設&Jられる。
この結果、ブロワ−手段の出力は、感知手段の位置にお
いてあらかじめ定められた温度を維持するように、感知
した温度に応答する態様で調節することができる。温度
感知手段は、テストされる種々のサンプルの配置および
距離に相当する配置および光源からの距離に配置し、感
知した温度はサンプルが露出される温度であるようにす
ることができる。
いてあらかじめ定められた温度を維持するように、感知
した温度に応答する態様で調節することができる。温度
感知手段は、テストされる種々のサンプルの配置および
距離に相当する配置および光源からの距離に配置し、感
知した温度はサンプルが露出される温度であるようにす
ることができる。
前記したラック手段および照射手段は典型的にはハウジ
ング内に支承される。空気をハウジングからブロワ−手
段へ再循環し、ブロワ−によって空気流中へ取り入れる
だめの導管手段が設けられる。加えて、高湿度テスト条
件が望まれる時使用するため、空気流中へ水滴を挿入す
るための手段(パワー加湿器のような)を設けることが
できる。
ング内に支承される。空気をハウジングからブロワ−手
段へ再循環し、ブロワ−によって空気流中へ取り入れる
だめの導管手段が設けられる。加えて、高湿度テスト条
件が望まれる時使用するため、空気流中へ水滴を挿入す
るための手段(パワー加湿器のような)を設けることが
できる。
加えて、加湿器へ供給する水源を暖めるための加熱手段
を設けることができる。
を設けることができる。
ラック手段は、好ましくはテストすべきサンプルを照射
手段の中心に関し実質上等距離関係に保持し、そのため
装置のそれぞれのサンプルの照射および加熱条件は実質
上コンスタントである。
手段の中心に関し実質上等距離関係に保持し、そのため
装置のそれぞれのサンプルの照射および加熱条件は実質
上コンスタントである。
本発明のシステムにおいては、空気流によって直接冷却
されるのはテストのためのサンプルの表面である。これ
は空気流の大部分がテストサンプルの背後に衝突する場
合よりも、より大きな冷却のコントロールおよび均一性
を提供する。そのような場合には、冷却は大部分テスト
サンプルの表面から速く動いている空気流への熱の直接
交換によるのではなく、テストサンプルの厚みを通る伝
導によって発生しなければならない。また、このシステ
ムの使用は、添付図面に示したように、光源のまわりに
大体球状の列にテストサンプルの望ましい配置を可能と
する。テストサンプルのそのような配置では、空気流が
テスI・サンプルの外側表面に吹付けられる状況におい
ては、空気流から最遠方のテストサンプルを他のサンプ
ルと均一な態様で冷却することは不可能であろう。最遠
方サンプルの外側表面に沿ったそのような流れは殆ど確
実にその位置決めによって阻止され、そのため流れの停
滞が発生し、そして遠方のサンプルは伯のサンプルより
もより高温へ加熱されるであろう。
されるのはテストのためのサンプルの表面である。これ
は空気流の大部分がテストサンプルの背後に衝突する場
合よりも、より大きな冷却のコントロールおよび均一性
を提供する。そのような場合には、冷却は大部分テスト
サンプルの表面から速く動いている空気流への熱の直接
交換によるのではなく、テストサンプルの厚みを通る伝
導によって発生しなければならない。また、このシステ
ムの使用は、添付図面に示したように、光源のまわりに
大体球状の列にテストサンプルの望ましい配置を可能と
する。テストサンプルのそのような配置では、空気流が
テスI・サンプルの外側表面に吹付けられる状況におい
ては、空気流から最遠方のテストサンプルを他のサンプ
ルと均一な態様で冷却することは不可能であろう。最遠
方サンプルの外側表面に沿ったそのような流れは殆ど確
実にその位置決めによって阻止され、そのため流れの停
滞が発生し、そして遠方のサンプルは伯のサンプルより
もより高温へ加熱されるであろう。
図I江υ1町
ID面は、ハウジングの一部を破断し、そして−部を概
略形で示した本発明の風化試験システムの正面図である
。
略形で示した本発明の風化試験システムの正面図である
。
詩文」」u糺9説割−
図面を参照すると、本発明の風化試験システム10は中
央保持チャンバー13を形成する第1のハウジング12
を含んでいる。テストサンプル14は、その耐候性デー
タを望む、ホルダ一部材中に保持された布片、塗装板、
プラスチック片その他である。
央保持チャンバー13を形成する第1のハウジング12
を含んでいる。テストサンプル14は、その耐候性デー
タを望む、ホルダ一部材中に保持された布片、塗装板、
プラスチック片その他である。
テストサンプル14はラック16上に支承することがで
き、16は図示するようにそれへテストサンプル14を
取り付けることができるステンレス支柱18のほぼ円筒
形の配列でできている。中央リング20の列がラック1
6の残りから外側へ突出し、テストサンプルをラック1
6へ前述したように大体球状に取り付けることを許容す
る。テストパネル14の球状配列の中心に光源があり、
これは普通に入手し得るタイプのキセノンランプ22と
することができる。ラック16は、取り付けたサンプル
14がキセノンランプ22の中央24からすべて実質上
等距離にあり、そのためずべてのサンプル14がランプ
22の中央24から各テストサンプル14へ外側へ延び
る半径に対して実質上直角に配置され、実質上均な照射
を受けるように配置される。
き、16は図示するようにそれへテストサンプル14を
取り付けることができるステンレス支柱18のほぼ円筒
形の配列でできている。中央リング20の列がラック1
6の残りから外側へ突出し、テストサンプルをラック1
6へ前述したように大体球状に取り付けることを許容す
る。テストパネル14の球状配列の中心に光源があり、
これは普通に入手し得るタイプのキセノンランプ22と
することができる。ラック16は、取り付けたサンプル
14がキセノンランプ22の中央24からすべて実質上
等距離にあり、そのためずべてのサンプル14がランプ
22の中央24から各テストサンプル14へ外側へ延び
る半径に対して実質上直角に配置され、実質上均な照射
を受けるように配置される。
ハウジング12の底は開口26を備える。空気流30を
開口26を通って上方へ吹き出し、ラック16を通って
向けるため、慣用の遠心空気ブロワ−28が設けられる
。空気ブロワ−28は、ベルト駆動システム34を介し
てブロワ−28へ接続された電気モータ32によって運
転される。
開口26を通って上方へ吹き出し、ラック16を通って
向けるため、慣用の遠心空気ブロワ−28が設けられる
。空気ブロワ−28は、ベルト駆動システム34を介し
てブロワ−28へ接続された電気モータ32によって運
転される。
ブロワ−28は第2のハウシング部分36によって形成
された第2のチャンバーを占領する。循環空気が第1の
ハウジングによって形成されたチャンバー13の頂部か
ら開口40を通って引かれ、導管42を通って第2のハ
ウジング部分36によって形成されたチャンバー44へ
通常再循環され、ブロワ−28へ供給される。
された第2のチャンバーを占領する。循環空気が第1の
ハウジングによって形成されたチャンバー13の頂部か
ら開口40を通って引かれ、導管42を通って第2のハ
ウジング部分36によって形成されたチャンバー44へ
通常再循環され、ブロワ−28へ供給される。
回動する弁部材46は一対の回動し得るフラップ48.
50を備える。図示した弁46の位置にあっては再循環
が行われる。しかしながら弁部材46はJシステムのた
めの流れ出口排気口を提供するため開口52を開き、そ
して空気入口ポート53を開くように反時計方向に45
度回転することができる。このためユニットは非循環シ
ステムへ変換される。
50を備える。図示した弁46の位置にあっては再循環
が行われる。しかしながら弁部材46はJシステムのた
めの流れ出口排気口を提供するため開口52を開き、そ
して空気入口ポート53を開くように反時計方向に45
度回転することができる。このためユニットは非循環シ
ステムへ変換される。
本発明によれば、一般に円錐形部材54は、中空漏斗形
かまたは中実形でよく、スリーブ56によって第2のハ
ウジング部分36の壁に支持されることができる静止支
持部材58へ接続される。
かまたは中実形でよく、スリーブ56によって第2のハ
ウジング部分36の壁に支持されることができる静止支
持部材58へ接続される。
それ故、ブロワ−28が空気流30を開口26を通って
上方へ指向する時、空気流は、円錐形部材54によって
外側へ、サンプル14の内向き表面、すなわちキセノン
ランプ22へ面する表面を横切って流れるように配置さ
れた一般に円錐形の流路30aに偏向される。このため
円錐形空気流30aの直接空気流がサンプル14の内向
き表面の各自を横切って流れることが見られる。これは
、空気流30の流量が先行技術の類似寸法の試験システ
ムの対応する流量よりも有意に減らされた時でさえも、
この流れはそれぞれのサンプル14間に良好な温度均一
性を提供することができる。
上方へ指向する時、空気流は、円錐形部材54によって
外側へ、サンプル14の内向き表面、すなわちキセノン
ランプ22へ面する表面を横切って流れるように配置さ
れた一般に円錐形の流路30aに偏向される。このため
円錐形空気流30aの直接空気流がサンプル14の内向
き表面の各自を横切って流れることが見られる。これは
、空気流30の流量が先行技術の類似寸法の試験システ
ムの対応する流量よりも有意に減らされた時でさえも、
この流れはそれぞれのサンプル14間に良好な温度均一
性を提供することができる。
加えて、第2のハウジング36はその底区域に水60を
含むことができ、パワー加湿器62へ供給することがで
きる。加湿器62は、所望によりテストサンプルを高放
射および高湿度条件でテストするため、流れる空気特に
空気流30中へ取り入れられる水滴の霧を放出する慣用
構造のものでよい。ハウジング12は空気流から沈下し
た水を受ける槽63を備えることができる。
含むことができ、パワー加湿器62へ供給することがで
きる。加湿器62は、所望によりテストサンプルを高放
射および高湿度条件でテストするため、流れる空気特に
空気流30中へ取り入れられる水滴の霧を放出する慣用
構造のものでよい。ハウジング12は空気流から沈下し
た水を受ける槽63を備えることができる。
ヒータ64は水滴の形で加熱した水が循環する時システ
ムへ余分の全体熱を供給するように水60を加熱するこ
とができ、そのため放射線、存在する湿度および温度の
変数は本発明の装置において独立に制御することができ
る。所望の時冷凍コイルおよびシステム65は、所望の
時空気流へ冷却を提供することができる。
ムへ余分の全体熱を供給するように水60を加熱するこ
とができ、そのため放射線、存在する湿度および温度の
変数は本発明の装置において独立に制御することができ
る。所望の時冷凍コイルおよびシステム65は、所望の
時空気流へ冷却を提供することができる。
加えて、ブラックパネルセンサー66のような温度セン
サーをテストサンプル14の位置に対応する位置にラッ
ク16上に支承することができる。
サーをテストサンプル14の位置に対応する位置にラッ
ク16上に支承することができる。
ブラックパネルセンサーは慣用構造のものでよく、そし
て電気導体68および74により、ダンパー46を図示
した位置において空気流を再循環させるための、または
反時計方向回転(例えば45度)によって空気を開口5
2を通って追い出しそして開口53を通って導管42に
吸引するその回転位置間を作動するに設計された制御部
材70へ接続することができる。
て電気導体68および74により、ダンパー46を図示
した位置において空気流を再循環させるための、または
反時計方向回転(例えば45度)によって空気を開口5
2を通って追い出しそして開口53を通って導管42に
吸引するその回転位置間を作動するに設計された制御部
材70へ接続することができる。
従ってシステムは再循環モードにある時特にキセノンラ
ンプ22によって暖められるが、しかしシステムはより
少ない再循環が行われるように任意の程度ダンパー46
を開くことによって冷却でき、そして再循環を増すよう
にダンパー46を閉じることによって暖めることができ
る。このためブラックパネル66によって提供される温
度データにより、制御ユニット70は、テストサンプル
14によって感知された温度を制御するようにダンパー
46を作動することができる。加えて制御ユニット70
は制御ユニット76を介し、空気流の一温度制御のそれ
以上の融通性のため、ヒーター64および冷凍コイル6
5を制御することができる。
ンプ22によって暖められるが、しかしシステムはより
少ない再循環が行われるように任意の程度ダンパー46
を開くことによって冷却でき、そして再循環を増すよう
にダンパー46を閉じることによって暖めることができ
る。このためブラックパネル66によって提供される温
度データにより、制御ユニット70は、テストサンプル
14によって感知された温度を制御するようにダンパー
46を作動することができる。加えて制御ユニット70
は制御ユニット76を介し、空気流の一温度制御のそれ
以上の融通性のため、ヒーター64および冷凍コイル6
5を制御することができる。
このためブラックパネルおよび乾燥バルブ温度を制御す
ることができる。乾燥バルブ温度は空気流中のセンサー
90によって感知し、そして制御部材70へ接続するこ
とができる。このため乾燥バルブセンサー90によって
提供される温度データにより、制御ユニット70は空気
流温度を制御することができる。加えて、ブラックパネ
ル66は、ブラックパネル温度を制御する手段として、
空気ブロワ−28のためのモータ32の運転速度を制御
するができる制御ユニット76へ接続することができる
。それ故、ブラックパネルおよび乾燥バルブ温度の制御
することができる。これは多数の温度感受性材料の相関
関係を改良する。制御ユニット76は加湿器62.ヒー
ター64.および冷凍システム65を制御することがで
きる。
ることができる。乾燥バルブ温度は空気流中のセンサー
90によって感知し、そして制御部材70へ接続するこ
とができる。このため乾燥バルブセンサー90によって
提供される温度データにより、制御ユニット70は空気
流温度を制御することができる。加えて、ブラックパネ
ル66は、ブラックパネル温度を制御する手段として、
空気ブロワ−28のためのモータ32の運転速度を制御
するができる制御ユニット76へ接続することができる
。それ故、ブラックパネルおよび乾燥バルブ温度の制御
することができる。これは多数の温度感受性材料の相関
関係を改良する。制御ユニット76は加湿器62.ヒー
ター64.および冷凍システム65を制御することがで
きる。
光感知日・7ド77はランプ22が放出する光の強度を
モニターするために設けられる。
モニターするために設けられる。
このように本発明により、テストサンプルへ冷却の有意
義な均一性と、そしてそれらが曝される放射の均一性が
提供される風化試験システムが提供される。このシステ
ムは自動的温度コントロールを備えることができ、そし
てその中に設けられた新しい効率的な空気流パターンの
ため、当初コストおよび運転の両方の効率性を提供する
。
義な均一性と、そしてそれらが曝される放射の均一性が
提供される風化試験システムが提供される。このシステ
ムは自動的温度コントロールを備えることができ、そし
てその中に設けられた新しい効率的な空気流パターンの
ため、当初コストおよび運転の両方の効率性を提供する
。
上記は例証目的のみで提供され、特許請求の範囲に規定
する本発明の範囲を制限することを意図しない。
する本発明の範囲を制限することを意図しない。
図面は本発明の風化試験システムの一部破断正面図であ
る。 12は第1のハウジング、14はテストサンプル、16
はラック、22は中央リング、28は空気ブロワ−13
0は空気流、36は第2のハウジング、46はダンパー
、54は円錐形部材である。
る。 12は第1のハウジング、14はテストサンプル、16
はラック、22は中央リング、28は空気ブロワ−13
0は空気流、36は第2のハウジング、46はダンパー
、54は円錐形部材である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)試験すべきサンプルを支承するためのラック手段
と、前記ラックに支承されているサンプルの内向き表面
を照射するための手段と、そして前記ラックを通って空
気流を指向させるためのブロワー手段を備える風化試験
システムにおいて、 前記空気流を一般に円錐形流路に外側へ再指向させるた
めの、前記空気流内に配置させた一般に円錐形の部材を
備え、前記一般に円錐形の流路は前記円錐形部材によっ
て前記ラック手段に支承されたサンプルの内向きの表面
を横切って流れるように位置決めされることを特徴とす
る前記システム。 (2)前記ブロワー手段のための自動制御手段と電気的
接続にある温度感知手段が前記空気流中において前記ラ
ック手段上に支持されており、それによって前記ブロワ
ー手段の出力は前記感知手段の位置においてあらかじめ
定めた温度へ調節することができる第1項のシステム。 (3)前記ラック手段および照射手段はハウジング内に
支持され、そして空気を前記ハウジングから前記空気流
へ取り入れるための前記ブロワー手段へ再循環し戻すた
めの導管手段を備えている第1項または第2項のシステ
ム。 (4)前記ハウジング内に排気開口手段とそして前記排
気開口を通る流れを制御するためのダンパー手段を備え
ており、それによって空気は前記ダンパー手段の位置に
応じて前記システムを再循環するか、または1回通過で
通過することができる第3項のシステム。 (5)前記ダンパー手段の位置決めのための自動制御手
段と電気的接続にある温度感知手段が前記空気流中にお
いて前記ラック手段上に支持されている第4項のシステ
ム。 (6)前記空気流中へ水滴を挿入するための手段を備え
ている第1項ないし第5項のいずれかのシステ(7)前
記ラック手段は前記サンプルを前記照射手段の中心に関
し実質上等距離間隔に支承している第1項ないし第6項
のいずれかのシステム。 (8)前記ラック手段は前記サンプルを前記照射手段の
まわりに大体球形配列に支承している第7項のシステム
。 (9)前記空気流を加熱および冷却する手段を備えてい
る第1項ないし第8項のいずれかのシステム。
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