JPH01165906A - 欠陥検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、例えば工作機械等により加工された後に行な
われるワークの欠陥検査方法に係り、特に、複数の被検
査面を有するワークをそれぞれの行程で当該被検査面毎
に検査するようにした欠陥検査方法に関する。

（従来の技術） 一般に、生産工場等における製造・加工ラインには、品
質検査を行なう検査行程が設けられており、自動化の進
んだ今日では、目視検査に代わって、カメラ等の光学機
械を用いて製品の品質検査を行なっている。この品質検
査の内、製造・加工後のワーク表面にキズがあるか否か
の検査をする表面検査があるが、この表面検査は、例え
ば第６図に示されるような装置を用いて行なっている。

同図に示すように、回転治具４には、ワーク１−が固定
されており、ワーク１は、この回転治具４によって位置
決めされるととも（，１所定方向に回転させられる また、回転治具４の周囲には、ワーク１の表面検査を行
なう検査装置が配置されており、この検査装置は、この
ワーク１が有する複数の被検査面のそれぞれに光を照射
する検査光源３ａ〜３Ｃ及びこれらの検査光源３ａ〜３
Ｃによりそれぞれ照射された被検査面の画像を個々に入
力するカメラ２ａ〜２ｃ（以下、総称してカメラ２とい
う。）によって構成されている。そして、カメラ２及び
回転治具４には、判断装置５が接続され、この判断装Ｗ
５によって、カメラ２からの画像が取込まれ、ワーク１
の表面検査が行なわれるとともに回転治具４の回転速度
等が制御される。

なお、検査光源３ａ〜３Ｃ及びカメラ２ａ〜２Ｃは第６
図に示ずような位置関係で配置されている。つまり、検
査光源３ａは、ワーク１の上面を照射する位置に、検査
光源３１）は、ワーク１の側面を照射する位置に、検査
光源３Ｃは、ワーク上の下面を照射する位置にそれぞれ
配置され、カメラ２ａ〜２Ｃはこれらからの反射光を入
射しうる位置にそれぞれ配置されている。

したがって、判断装置５により回転治具４か駆動され、
ワーク１が一回転すると、この判断装置５には、カメラ
２によってワーク１のそれそ゛れの被検査面における一
回転分の画像が入力されることになる。そして、判断装
置５は、この画像処理を行なうことによって、ワーク１
の表面状態が検査され、その検査結果の良否により表示
ランプ６を点灯させる。

このように、従来は複数の被検査面を有するワークに対
して、それぞれの被検査面の画像を入力するための検査
光源とカメラとを組合わせて分散配置し、ワーク１を一
回転させることで当該ワーク１の有する全ての被検査面
の画像を入力し、この入力した画像に基づいて前記ワー
ク１の表面検査を行なっている。

（発明が解決しようとする問題点） しかしながら、このような従来の欠陥検査方法にあって
は、ワークの形状が複雑で複数の被検査面を有する場合
には、一つのワークに対して複数の検査光源とカメラと
をワーク周辺に配置しなければならないことから、その
設置スペースが大きくなり、ワークが小さいものである
と、その設置スペースが十分にとれないという問題があ
る。

また、ワークの周囲に検査光源が配置される場合には、
例えば相対向して配設された他の検査光源からの検査光
がカメラに入力され、この入力された検査光がノイズと
して働いてしまう虞もあり、検査の信頼性が低下するこ
とも考えられる。

本発明は、このような従来の問題点に鑑みて成されたも
のであり、複数の被検査面を有するワークをそれぞれの
行程で当該被検査面毎に検査するようにした欠陥検査方
法を提供することを目的とする。

（問題点を解決するための手段） 前記目的を達成するための本発明は、ワークが有する複
数の被検査面のそれぞれに対して光を照射し、このそれ
ぞれの被検査面からの反射光に基づいて当該被検査面に
おける欠陥を検査する欠陥検査方法において、前記ワー
クを同心円状に搬送する搬送装置を設け、当該搬送装置
の周囲に、前記ワークの特定の被検査面に光を照射する
検査光源及び当該被検査面からの反射光を入射する入力
手段を有する検査ステージを複数配設し、前記搬送装置
によって前記ワークを順次異なる検査ステージに搬送し
、それぞれの検査ステージで、前記ワークが有する複数
の被検査面の内、検査ステージ毎に予め定められた特定
の被検査面における欠陥を前記検査光源及び入力手段に
より順次検査することによって前記ワークの全被検査面
における欠陥を検査することを特徴とするものである。

（作用） このような欠陥検査方法によれば、搬送装置によって同
心円状に搬送されたワークは、それぞれの検査ステージ
で、前記ワークが有する複数の被検査面の内、検査ステ
ージ毎に予め定められた特定の被検査面における欠陥を
検査光源及び入力手段により順次検査することになるの
で、前記検査光源及び入力手段を分散配置することがで
き、これらの設置が容易になる。また、前記検査光源か
らの光がこの検査光源に対応する入力手段以外の入力手
段に入射されないように配置することができるので検査
の信頼性が向上することになる。

（実施例） 以下に本発明の実施例を、図面に基づいて詳細に説明す
る。

第１１図は、本発明に係る欠陥検査方法を用いた欠陥検
査装置の概略構成図である。

ワークであるシール部材１を搬送する搬送リング］−〇
は、この搬送リング１０上に等ピッチで配設された回転
治具４を有し、この回転治具４によってここにセットさ
れたシール部材１を所定の方向に回転させる。一方、こ
の搬送リング］−〇は図示しない伝達機構を介してモー
タ１２が接続され、このモータ１２が回転することによ
って搬送リング１０が回転し、各回転治具４にセットさ
れているシール部材１を所定位置に同時に搬送する。

そして、搬送リング１０の周囲には、シール部材１をパ
ーツフィーダ］１から供給し、この供給されたシール部
材１を回転治具４に装着するワーク搬入ステージＡと、
４種類の異なった検査ステージであるカット面検査ステ
ージＢ、ベース面検査ステージＣ１外側面検査ステージ
Ｄ及び内側面検査と検査後のシール部材１の排出を行な
う内側面検査ステージＥが各々回転治具４のピッチに合
わせて配設されている。

カット面検査ステージＢには、シール部材１の上面に有
する２カ所のカット面の画像を入力する入力手段として
のカメラ１３ａ及び１３　ｂが配置されるとともにこれ
らのカット面のそれぞれに光を照射する検査光源として
の照明１−４ａ及び１４ｂが配置されており、カメラ１
３ａ及びカメラ１３ｂと照明１４ａ及び１４　ｂ　（、
こよってそれぞれのカッＩ・面の検査をする。またペー
ス面検査ステージＣには、シール部材１のベース面の画
像を入力する入力手段としてのカメラ１−３ｃ及びこの
ベース面に光を照射する検査光源としての照明１４ｃが
配設されており、カメラ１３ｃと照明１４ｃによってベ
ース面を検査する。さらに、外側面検査ステージＤには
、シール部材１の外側面の画像を入力する入力手段とし
てのカメラ１３ｄ及びこのベース面Ｇこ光を照射する検
査光源としての照明１４ｄが配設されており、カメラ１
３ｃ及び照明１４ｄｌこよって、外側面を検査する。そ
して、内側面検査ステージＥには、シール部材１の内側
面の画像を入力する入力手段としてのカメラ１３ｅ及び
カメラ１４ｆが配置されるとともにこの内面に光を照射
する検査光源としての照明１４ｅ及び１４ｆが配置され
、また、検査後のシール部材１をＯＫ品とＮＧ品とに分
類して搬出する搬出装置１５が配置されている。このス
テージ（、こおいては、カメラ］、３ｅ、１３ｆ及び照
明１４ｅ、１４ｆによって内面の検査をするとともに、
検査後のシール部材１の搬出が行なわれる。

まな、これらのカメラ１３ａ〜１４ｅ、搬出装置１５、
シール部材１の有無を検出するワークセンサ１８及びモ
ータコ２の動作を制御する駆動制御装置１７には、制御
装置１６が接続され、これらの機器からあるいはこれら
の機器に信号を授受している。

したがって、シール部材１は搬送リング１ｏに−つ　　
− よって各検査ステージに順次搬送され、搬送された各シ
ール部材１は回転治具４によって回転させられ、それぞ
れの検査ステージに配置されている各カメラ及び照明及
びこれらに接続されている制御装置１６によってそれぞ
れの検査ステージにおいて分担されている面の欠陥検査
を行なうことになる。

第２図及び第３図には、前記した制御装置１６及び駆動
制御装置１７の構成ブロック図が示しである。

第２図に示すように、本発明に係る欠陥検査方法を用い
た欠陥検査装置の総括的な制御をする演算部２２には、
入力インターフェース２０を介してシール部材１の各部
の画像を入力するカメラ１３及びワークセンサ１８が接
続されるとともにカメラ１３からの画像情報を記憶する
ＲＡＭ２１−及び処理プログラムが記憶されているＲＯ
Ｍ２Ｂが接続され、カメラ１３からの画像情報は入力イ
ンターフェース２０を介して演算部２０に入力され、こ
こで二値化処理されたデジタル情報がＲＡＭ　２１に記
憶されることになる。また、演算部２２には、モータ１
２を制御する駆動制御装置１７及び搬出装置１５４こ接
続され、これらの装置の作動を制御している。

また、前記した駆動制御装置１７は、第３図に示すよう
に構成されている。

制御装置１６からモータ１２の作動信号を入力する制御
部３１には、搬送リング１０の基準位置を検出するセン
サ３５が接続された入力インターフェース３０が接続さ
れ、制御部３１は、入力インターフェース３０を介して
入力したセンサ３５からの信号を基準として搬送リング
１０の位置決め制御等を行なう。また、制御部３１には
、カウンタ３２と搬送リング１０を駆動するモータ］−
２の回転量を検出するエンコーダ３６が接続され、カウ
ンタ３２には、Ｄ／Ａ変換部３３を介してドライバー３
４が接続され、Ｄ／Ａ変換部３３からカウンタ３２に入
力されている現在のパルス数に応じた電圧がドライバー
３４に出力されてモータ１２が回転する。なお、カウン
タ３２には、制御部３１−から搬送リング１０を移動さ
せる際の移動回転角に応じたパルス数が出力され、この
パルス数は、カウンタ３２によって、モータ１−２の回
転に伴なってエンコーダ３６から出力されるパルスに基
づいて減算される。そして、モータ１２は、カウンタ３
２に残されているパルス数が０になると、Ｄ１／Ａ変換
部３３から電圧が出力されなくなるので停止することに
なる。

このような構成を有する本発明の欠陥検査方法を用いた
欠陥検査装置は、第４図に示す動作フローチャートに基
づいて以下のように動作する。

まず、演算部２２は、欠陥検査装置の初期化を行なう。

つまり、駆動制御装置１７は、モータ１１２を作動させ
、センサ３５からの信号に基づいて搬送リング］−〇を
原位置に設定し、カウンタ３２を０に設定し、また、Ｒ
ＡＭ２１をクリアし、照明１４ａ〜１．４　ｆを点灯さ
せる（ステップ１）。

次に、制御装置１６は、パーツフィーダ１１を作動して
、シール部材１を搬送リング１０の回転治具４にセット
シ（ステップ２）、セット終了後、−１２−’ 制御装置１６における演算部２２は、駆動制御装置１７
の制御部３１にワーク搬送の指示を与え、この指示を受
けた制御部３１は、シール部材１を次ステージに搬送す
るためのパルスをカウンタ３２に出力する（ステップ３
）。

Ｄ／Ａ変換部３３は、カウンタ３２（、こ格納されてい
るパルス数に基づいた電圧をドライバ３４に出力し、こ
のドライバ３４によってモータ１２が駆動される。なお
、カウンタ３２に格納されているパルス数が○になると
、ドライバ３４からは電圧が出力されなくなるので、モ
ータ１２が停止し、搬送リング１０は所定位置で位置決
めされることになる。すなわち、各回転治具４にセット
されているシール部材１がそれぞれ次ステージに搬送さ
れることになる（ステップ４）。

そして、制御装置１９６は、回転治具４を回転さぜる図
示しないモータを作動させ（ステップ５）、各ステージ
に配設されているカメラから各被検査面画像を入力する
。すなわち、第５図（、こ示すように、検査ステージＡ
においてはカメラ］−３ａと１＝　　１３　− ３１）とによってシール部材１のカッＦ・面の画像を、
検査ステージＢにおいては、カメラ１３ｃによってシー
ル部材１−のベース面の画像を、検査ステージＣにおい
ては、カメラ１３ｄによってシール部材１の外側面の画
像を、検査ステージＤにおいてはカメラ１−３ｅと１３
ｆとによってシール部材１の内側面の画像をそれぞれ入
力し、これらの画像は制御部Ｗｔ　１６の入力インター
フェース２０を介して演算部２２に出力されてＲＡＭ２
１に画像データとして記憶される（ステップ６）。そし
て、この画像は演算部２２において画像処理され、この
処理後の画像を設定されている画像と比較し、これらの
被検査面にキズがあるかどうかの判断をする（ステップ
７）。そして、制御装置１６は、シール部材１が回転治
具４によって一回転したかどうかの判断をし、一回転し
たら、次の処理をし、一回転していなければ一回転する
までステップ６からステップ８に処理を行なう（ステッ
プ８）。

制御装置１６は、シール部材１−が回転治具４によって
一回転したら、この回転を停止しくステラプ９）、ステ
ップ７の処理において各検査ステージにおいて欠陥が見
つかれば、そのシール部利が検査ステージＥから搬出さ
れる場合に、ＮＧの方にＪｔ出されるようにｊＭ出装Ｗ
１５に与えるデータを記憶しくステップ１０）、制御装
置」６は、搬出装置］５に、ＯＫ又はＮＧのいずれかの
方向に搬出するかの指令信号を出力し、搬出装置１５は
この指令によってシール部材］−を搬出する（ステップ
１１）。

このように、各ステージ毎にシール部材１が有する複数
の被検査面の内の所定の被検査面を検査し、シール部材
１−が４回搬送されると、シール部用］−の有する全゛
被検査面の検査が終了し、搬出装置１５によって川（品
とＮＧ品との仕分けが行なわれることになる。

尚、本実施例においては、一種類のワークに対しての検
査について例示したが、搬送リング１−０に異種のワー
クをセットする回転治具を同時に設け、このワークを検
査する検査ステージをさらに設けれは、複数種のワーク
を同時に検査することか可能である。

（発明の効果） 以上の説明により明らかなように、本発明の欠陥検査方
法によれば、複数の被検査面を有するワークをそれぞれ
の行程で当該被検査面毎に検査するようにしなので、検
査光源及び入力手段を分散配置することができ、これら
の設置が容易になる。

また、前記検査光源からの光がこの検査光源に対応する
入力手段以外の入力手段に入射されないように配置する
ことができるので検査の信頼性が向上するという効果を
奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明に係る欠陥検査方法を用いた欠陥検査
装置の概略構成図、第２図は、第１図に示した制御装置
のブロック図、第３図は、第１図に示した駆動制御装置
のブロック図、第４図は、本発明に係る欠陥検査方法を
用いた欠陥検査装置の動作フローチャート、第５図は、
第４図に示した動作フローチャートの動作説明に供する
第６図はん、従来の欠陥検査方法を示す図である。 ト・・シール部材（ワーク）、 ４・・・回転治具、１０・・・搬送リング（搬送装置）
１１・・・パーツフィーダ　　］−２・・・モータ、１
３・・・カメラ（入力手段）、 １４・・・照明（検査光源）、 １５・・・搬出装置、　　１６・・・制御装置、１７・
・・駆動制御装置、　　　１８・・・センサ。 特許出願人　　　　　日産自動車株式会社代理人　弁理
士　　　八　１）幹　ａ（ほか１名）第１図 第５し ｎ−／、面検如力 夕漣″Ｊ１触ρ Ｎ捌面抄を図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 ワークが有する複数の被検査面のそれぞれに対して光を
   照射し、このそれぞれの被検査面からの反射光に基づい
   て当該被検査面における欠陥を検査する欠陥検査方法に
   おいて、 前記ワークを同心円状に搬送する搬送装置を設け、当該
   搬送装置の周囲に、前記ワークの特定の被検査面に光を
   照射する検査光源及び当該被検査面からの反射光を入射
   する入力手段を有する検査ステージを複数配設し、前記
   搬送装置によって前記ワークを順次異なる検査ステージ
   に搬送し、それぞれの検査ステージで、前記ワークが有
   する複数の被検査面の内、検査ステージ毎に予め定めら
   れた特定の被検査面における欠陥を前記検査光源及び入
   力手段により順次検査することによって前記ワークの全
   被検査面における欠陥を検査することを特徴とする欠陥
   検査方法。