JPH01144205A - 薄膜磁気ヘッド及びその製造方法 - Google Patents

薄膜磁気ヘッド及びその製造方法

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JPH01144205A
JPH01144205A JP30366287A JP30366287A JPH01144205A JP H01144205 A JPH01144205 A JP H01144205A JP 30366287 A JP30366287 A JP 30366287A JP 30366287 A JP30366287 A JP 30366287A JP H01144205 A JPH01144205 A JP H01144205A
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JP
Japan
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film
insulating film
magnetic
magnetic head
inorganic insulating
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JP30366287A
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Mikio Matsuzaki
幹男 松崎
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TDK Corp
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TDK Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、基体の上に磁性膜及び導体コイル膜でなる磁
気回路を有する面内記録再生用または垂直記録再生用の
薄膜磁気ヘッド及びその製造方法に関し、磁性膜の上か
ら基体に対して両者間の段差を埋めて導体コイル膜の形
成面を平坦化する無機絶縁膜を付与することにより、導
体コイル膜形成面の平坦度を高めて導体コイル膜の断線
、短絡等を防止できるようにすると共に、ボール部分で
のステップカバリングを向上させるようにしたものであ
る。
〈従来の技術〉 薄膜磁気ヘッドとしては、面内記録再生用と垂直記録再
生用の2種類の方式のものが知られている。第7図は従
来より知られた面内記録再生用薄膜磁気ヘッドの要部の
斜視図で、1はAl2O3,Ti(:等のセラミックで
構成された基体、2は下部磁性膜、3はアルミナ等でな
るギャップ膜、4は上部磁性膜、5は導体コイル膜、6
はノボラック樹脂等の有機絶縁樹脂で構成された絶縁膜
、7.8は引出リード部である。図示はされていないが
、各部2〜8を覆うアルミナ等の保護膜が設けられる。
下部磁性膜2及び上部磁性膜4の先端部はアルミナ等で
なるギャップ膜3を隔てて対向するボール部21.42
となっており、このボール部21.41において読み書
きを行なう。
上述の薄tli 磁気ヘッドは、フォトリソグラフィと
呼ばれる薄膜パターン形成技術によって形成されるが、
特に下部磁性膜2の境界Aの付近で、段差を生じる。こ
のため導体コイル膜5のパターン形成のフォトリソグラ
フィ、プロセスにおいて、ポジレジスト膜を使用した場
合は、段差上面に位置する導体コイル膜5の幅よりも、
段差下面に位置する導体コイル膜5の幅の方が広くなり
、隣り合う導体コイル膜5−5間に短絡を生じる。ネガ
レジスト膜を使用した場合には、段差下面に位置する導
体コイル膜5の幅が狭くなり、断線等を引起す。このよ
うな問題点を解決するための従来技術としては、例えば
特開昭61−120315号公報に記載された技術が知
られている。この先行技術では、基体1上に形成された
下部磁性膜2を含む上端面と含まない上端面とが、同程
度の高さ ′となるように、絶縁パターンを形成するこ
とにより、導体コイル膜の形成面を平坦化したものであ
る。第8図は上記先行技術によって得られた薄膜磁気ヘ
ッドの要部の断面図、第9図は下部磁性膜と絶縁パター
ンとの関係を示す平面図である。図において、基体1の
上に下部磁性膜2を形成すると共に、この下部磁性膜2
の上にアルミナ等の酸化物絶縁膜でなるギャップ膜3を
形成し、このギャップ膜3の上から、基体1と下部磁性
膜2の間に生じている段差を埋めるように、有機絶縁膜
9を形成しである。4は上部磁性膜、51.52は導体
コイル膜、61〜63は眉間絶縁膜、10はアルミナ等
、でなる保護膜である。
有機絶縁膜9を形成するには、例えば、ノボラック樹脂
系のポジタイプレジスト膜を塗布した後、ソフトベーク
化のための熱処理を加え、次にフォトマスクを当てて露
光した後、現像し、次に、熱処理を加えて硬化させる。
上述のようにして平坦化した後、通常の工程にしたがっ
て、膜間絶縁@61〜63、導体コイル膜51.52及
び上部磁性膜4及び保護膜10を形成する。
上述した先行技術によれば、下部磁性膜2の段差が有機
絶縁膜9によって埋められ、導体コイル膜51.52の
形成面が平坦化されるので、フォトリソグラフィによる
導体コイル膜51.52のパターン形成時に、その線幅
が均一化され、断線、短絡等が防止できる。
〈発明が解決しようとする問題点〉 しかしながら、上述した先行技術では、有機絶縁樹脂を
塗布した後、フォトマスクを当てて露光し現像するとい
う、パターン形成プロセスを経る必要があるため、次の
ような問題点があった。
(イ)有機絶縁樹脂膜9のパターン形成に当って、マス
ク合せ時のズレによる重なりを防ぐため、第9図に示す
ように、塗布された有機絶縁樹脂膜9と下部磁性膜2と
の間に隙間gを取る必要がある。この隙間gのために、
平坦化が不完全になり易い。
(ロ)前述の隙間gが生じないようにするためには、有
機絶縁樹脂膜9を下部磁性膜2の上に重ねなければなら
ず、平坦化が損なわれる。
(ハ)有機絶縁樹脂膜9が媒体との接触面となるボール
先端部に露出すると、有機絶縁樹脂膜9が媒体との接触
によって削り取られたり、欠けたりする等の問題を生じ
るから、ボール部21.41のABS面となる部分から
、間隔d1だけ内側に有機絶縁樹脂膜9を形成しなけれ
ばならない(第9図参照)。このため、ボール部21.
41で基体1の面との間に大きな段差が発生し、この上
に保護膜1oをスパッタ等によって形成する際のステッ
プカバリングが悪くなるという問題点があった。
く問題点を解決するための手段〉 上述する従来の問題点を解決するため、本発明は、基体
の上に磁性膜及び導体コイル膜でなる磁気回路を有する
薄膜磁気ヘッドにおいて、前記磁性膜の上から前記基体
に対して、両者間の段差を埋めて前記導体コイル膜の形
成面を平坦化する無機絶縁膜を付与したことを特徴とす
る。
また、上述する薄膜磁気ヘッドを製造するための本発明
に係る製造方法は、基体の上に磁性膜を形成する工程と
、前記磁性膜の上から前記基体に対して無機絶縁膜を付
与し両者間の段差を埋める工程と、前記無機絶縁膜を面
加工して平坦化する工程と、前記無機絶縁膜の上に前記
導体コイル膜を形成する工程とを含むことを特徴とする
く作用〉 磁性膜の上から基体に対して、両者間の段差を埋めて導
体コイル膜の形成面を平坦化する無機絶縁膜を付与する
と、導体コイル膜の線幅が均一化され、断線、短絡等が
防止できる。
しかも、スパッタリング等によって成膜の可能な無機絶
縁膜でなり、これを磁性膜の上から基体に付与しである
ので、無機絶縁膜の表面を、磁性膜から基体に連続させ
、両者間に不連続部分や部分的型なりを生じることのな
い平坦な平面に形成できる。
また、無機絶縁膜であるので、磁性膜を、媒体との接触
部となるボール先端部まで覆うように付与し、ボール部
での段差を吸収できる。このため、ボール部分でのステ
ップカバリンが良好になる。
〈実施例〉 第1図は本発明に係る面内記録再生用の薄膜磁気ヘッド
の要部における断面図、第2図は第1図At−Al線上
における断面図、第3図は第1図A2−A2線上におけ
る断面図である。図において、第7図〜第9図と同一の
参照符号は同一性ある構成部分を示している。11は無
機絶縁膜である。この無機絶縁膜11は例えばA1□0
. 、SfO□、Ta2O3等の酸化物絶縁物の少なく
とも1 flで構成されており、下部磁性膜2の上から
基体1に対して、両者間2−1の段差を埋めて導体コイ
ル膜51.52の形成面を平坦化するように付与されて
いる。このような無機絶縁膜11はバイアススパッタま
たはノンバイアススパッタ等の手段によって形成できる
。導体コイル膜51.52及びその層間絶縁膜61〜6
3を形成すべき無機絶縁膜11の表面は平坦化されてお
り、段差がない。
このため、導体コイル膜51.52の線幅が均一化され
、断線、短絡等が防止できる。しかも、無機絶縁膜11
は、スパッタリング等の手段によって、下部磁性膜2の
上から基体1に連続して形成されているので、無機絶縁
膜11の表面に不連続部分や、部分的型なりを生じるこ
とがない。このため、無機絶縁膜11の表面が高度の平
坦面となり、導体コイル膜51.52の線幅がより一層
−定化される。
無機絶縁膜11は、下部磁性膜2を、媒体との接触部と
なるボール先端部まで覆うように付与しボール部21で
の段差も埋めている。このため、保護膜10をスパッタ
リング等の手段によって形成する場合のボール部分21
.41でのステップカバリンが容易になり、信頼性の高
い薄膜磁気ヘッドが得られる。
第4図は本発明に係る垂直記録再生用薄膜磁気ヘッドの
要部における断面図である。垂直薄膜磁気ヘッドの場合
は、下部磁性膜2のボール部21による単極構造となり
、面内記録再生の場合のようなボール対極による磁気ギ
ャップは持たない。
上部磁性膜4は、その上に接着等の手段によって設けら
れたフェライト等でなる軟磁性体12と共に磁束復帰路
を構成している。図示は省略したが、垂直記録再生用の
薄膜磁気ヘッドの他の例としては、基体1をフェライト
等の軟磁性体によって構成し、上部磁性膜4及びその上
に設けられる軟磁性体12を省略したものも知られてい
る。
上記垂直記録再生用の薄膜磁気ヘッドにおいても、下部
磁性膜2の上から基体1に対して、両者1−2間の段差
を埋めて導体コイル膜51.52の形成面を平坦化する
無機絶縁膜11を付与してあり、第1図〜第3図で説明
した面内記録再生用の薄膜磁気ヘッドの場合と同様の作
用効果が得られる。
次に、第5図及び第6図を参照して、本発明に係る薄膜
磁気ヘッドの製造方法を説明する。
まず、第5図(a)、第6図(a)に示すように、基体
1の上に通常の手段によって下部磁性膜2を形成する。
次に、第5図(b)、第6図(b)に示すように下部磁
性膜2の上から基体1に対して無機絶縁膜11を付与し
、両者2−1間の段差を埋める。
この工程は、例えばAl2O3,5fO2、Ta2O,
等の酸化絶縁物のバイアススパッタまたはノンバイアス
スパッタによって行なうことができる。
次に第5図(C)、第6図(c)に示すように、無機絶
縁膜11を面加工して平坦化する。この工程は、研磨、
イオンミーリングまたは両者の組合せによって行なうこ
とができる。これにより、無機絶縁膜11の表面が平坦
化される。しかも、無機絶縁膜11は、スパッタリング
等の手段によって、下部磁性膜2の上から基体1に連続
して形成されているので、無機絶縁膜11の表面に不連
続部分や、部分的型なりを生じることがない。
この後、通常のフォトリソグラフィ、プロセスを経るこ
とにより、導体コイル膜、その層間絶縁膜、上部磁性膜
及び保、iW膜等を形成することにより、薄膜磁気ヘッ
ドが得られる。次に、その−例について説明する。第5
図(d)、第6図(d)に示すように、無機絶縁膜11
の表面に、ノボラック系のポジタイプレジスト膜61を
コーティングし、90℃、30分の条件でソフトベーク
を行なった後、露光、現像及び水洗の処理を施し、続い
て、130℃、1時間の熱処理及び220℃1時間の熱
処理をそれぞれ行なフて層間絶縁膜61を形成する。層
間絶縁膜61を形成すべき無機絶縁膜11の表面は平坦
化されており、段差がない。このため、その上に形成さ
れる層間絶縁膜6エの表面も平坦化される。
次に、第5図(e)、第6図(e)に示すように、層間
絶縁膜61の表面にCU / T iの材料をスパッタ
リングして、下地導体膜51Aを形成した後、第5図(
f)に示すように、下地導体膜51Aの表面にポジレジ
スト膜62Aを塗布し、90℃、30分の条件でソフト
ベークを行なう。
層間絶縁膜61の表面は平坦化されており段差がない。
このため、その上に形成される下地導体膜51Aも平坦
になる。
次に、第5図(g)に示すように、ポジレジスト膜62
Aの上にフォトマス13を位置決めし、露光を行なう。
層間絶縁膜61、下地導体膜51A及びポジレジスト層
62Aのベースとなる無機絶縁膜11の表面が平坦化さ
れているので、フォトマスク13がポジレジスト膜62
Aの表面に密着し、隙間が生じない。このため、第5図
(h)に示すように、フォトマスク13のパターンと一
致した均一な露光パターンが得られる。
次に、第5図(i)に示すように、Cuメツキ膜51B
を、例えば2.5μmの厚さで、レジスト膜62Aの除
去された部分62Bに付着させる。
次に、レジスト膜51Bを剥離し、更に、剥離されたレ
ジスト膜51Bの下にある下地導体膜51Aをイオンミ
ーリングで除去して、第5図(j)に示すように、層間
絶縁膜61の上に導体コイル@51を形成する。
この後、第5図(d)〜(j)の工程を繰返し、層間絶
縁膜62、導体コイル膜52及び層間絶縁膜63を積層
した後、層間絶縁膜63の表面に上部磁性膜4を形成し
、その上から保護膜1゜をスパッタリング等の手段によ
フて付着させる。
また、垂直記録再生ヘッドでは軟磁性体12を接着する
保護膜10をスパッタリングによって形成する場合、第
5図(C)、第6図(C)で説明したように、無機絶縁
膜11は、下部磁性膜2のボール部21の先端部まで覆
うように付与してあって、ボール部21での段差も埋め
ている。このため、ボール部分21または41でのステ
ップカバリンが良好になる。
上記実施例では、面内記録再生用の薄膜磁気ヘッドの製
造方法を示したが、垂直記録再生用の薄膜磁気ヘッドの
製造方法も同様の工程となる。
〈発明の効果〉 以上述べたように、本発明に係る薄膜磁気ヘッドによれ
ば、次のような効果が得られる。
(a ) En性膜の上から基体に対して、両者間の段
差を埋めて導体コイル膜の形成面を平坦化する無機絶縁
膜を付与したから、導体コイル膜の断線、短絡等を生じ
ることのない薄膜磁気ヘッドを提供できる。
(b)無機絶縁膜は、下部磁性膜の上から基体に付与さ
れているから、無機絶縁膜の表面の導体コイル膜形成面
を、不連続部分や、部分的型なりを生じることのない平
坦な平面とし、導体コイル膜の断線、短絡を確実に防止
し得るようにした薄膜磁気ヘッドを提供できる。
(c)無機絶縁膜は、媒体との接触部となるボール先端
部まで覆うように付与して、ボール部での段差を吸収で
きる。このため、ボール部分でのステップカバリンの良
好な薄膜磁気ヘッドを提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る薄膜磁気ヘッドの要部における断
面図、第2図は第1図A IA I線上における断面図
、第3図は第1図A2−A2線上における断面図、第4
図は本発明に係る薄膜磁気ヘッドの別の実施例における
断面図、第5図(a)〜(j)は本発明に係る薄膜磁気
ヘッドの製造工程を示す断面図、第6図(a)〜(e)
は本発明に係る薄膜磁気ヘッドの製造工程を媒体摺動面
側から見た図、第7図は従来の薄膜磁気ヘッドの要部の
斜視図、第8図は従来の薄膜磁気ヘッドの要部の断面図
、第9図は同じく下部磁性膜と絶縁パターンとの関係を
示す平面図である。 1・・・基体     2・・・下部磁性膜5.51.
52・・・導体コイル膜 11・・・無機絶縁膜 第2図 第4図 第5図

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基体の上に磁性膜及び導体コイル膜でなる磁気回
    路を有する薄膜磁気ヘッドにおいて、前記磁性膜の上か
    ら前記基体に対して、両者間の段差を埋めて前記導体コ
    イル膜の形成面を平坦化する無機絶縁膜を付与したこと
    を特徴とする薄膜磁気ヘッド。
  2. (2)前記無機絶縁膜は酸化絶縁物でなることを特徴と
    する特許請求の範囲第1項に記載の薄膜磁気ヘッド。
  3. (3)前記酸化絶縁物は、Al_2O_3、SiO_2
    、Ta_2O_5等の少なくとも1種でなることを特徴
    とする特許請求の範囲第2項に記載の薄膜磁気ヘッド。
  4. (4)基体の上に磁性膜及び導体コイル膜でなる磁気回
    路を有する薄膜磁気ヘッドの製造方法において、前記基
    体の上に前記磁性膜を形成する工程と、前記磁性膜の上
    から前記基体に対して無機絶縁膜を付与し両者間の段差
    を埋める工程と、前記無機絶縁膜を面加工して平坦化す
    る工程と、前記無機絶縁膜の上に前記導体コイル膜を形
    成する工程とを含むことを特徴とする薄膜磁気ヘッドの
    製造方法。
  5. (5)前記無機絶縁膜は、スパッタによって形成するこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第4項に記載の薄膜磁気
    ヘッドの製造方法。
  6. (6)前記面加工は、研磨またはイオンミーリングの工
    程であることを特徴とする特許請求の範囲第4項または
    第5項に記載の薄膜磁気ヘッドの製造方法。
JP30366287A 1987-12-01 1987-12-01 薄膜磁気ヘッド及びその製造方法 Pending JPH01144205A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04103008A (ja) * 1990-08-23 1992-04-06 Nec Corp 薄膜磁気ヘッド
US6757133B1 (en) 1999-01-13 2004-06-29 Alps Electric Co., Ltd. Thin Film magnetic head

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US6941643B2 (en) 1999-01-13 2005-09-13 Alps Electric Co., Ltd. Method of producing a thin film magnetic head

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