JPH01137621A - 気相成長装置 - Google Patents
気相成長装置Info
- Publication number
- JPH01137621A JPH01137621A JP29654587A JP29654587A JPH01137621A JP H01137621 A JPH01137621 A JP H01137621A JP 29654587 A JP29654587 A JP 29654587A JP 29654587 A JP29654587 A JP 29654587A JP H01137621 A JPH01137621 A JP H01137621A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrodes
- substrate
- trays
- reaction
- exhaust
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 27
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 15
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 claims description 11
- 238000007664 blowing Methods 0.000 claims description 10
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 5
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 claims description 5
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 2
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 claims 2
- 239000010408 film Substances 0.000 abstract description 13
- 239000010409 thin film Substances 0.000 abstract description 9
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 abstract description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 abstract 3
- 210000002381 plasma Anatomy 0.000 abstract 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 17
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- 101150097381 Mtor gene Proteins 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は半導体あるいは電子部品の薄膜製造工程におけ
るプラズマ気相成長(以下プラズマCVDと略す)法を
用いた薄膜形成装置に関するものである。
るプラズマ気相成長(以下プラズマCVDと略す)法を
用いた薄膜形成装置に関するものである。
従来の技術
近年、プラズマCVD装置は、半導体や薄膜電子部品等
の薄膜を形成するために用いられているが、特に薄膜電
子部品においては、大型基板への成膜、スループットの
向上、メンテナンス性の向上や占有面積の縮小などの要
求に応えるため、縦型両面デポジション方式のプラズマ
CVD装置の実用化が進んでいる。
の薄膜を形成するために用いられているが、特に薄膜電
子部品においては、大型基板への成膜、スループットの
向上、メンテナンス性の向上や占有面積の縮小などの要
求に応えるため、縦型両面デポジション方式のプラズマ
CVD装置の実用化が進んでいる。
以下、上述した従来の縦型両面プラズマCVD装置の一
例について第3図を参照しながら説明する。
例について第3図を参照しながら説明する。
図に示すような構成でろってまず、真空保持可能な反応
容器301内を30mTorr以下まで排気した後、各
々のガス吹き出し電極303より反応ガスを導入し、反
応ガス排気口308の圧力調整機構308によ!llO
,1〜1 、OTorrの所望の真空度に調圧する。次
に各々のガス吹き出し電極303に周波数13.66M
H,の高周波電力を印加して基板を含むトレイ304と
電極303間の空間2ケ所に低温プラズマを発生させ、
反応ガスを励起して両面の2枚の基板305上に一度に
反応生成物を堆積させる。
容器301内を30mTorr以下まで排気した後、各
々のガス吹き出し電極303より反応ガスを導入し、反
応ガス排気口308の圧力調整機構308によ!llO
,1〜1 、OTorrの所望の真空度に調圧する。次
に各々のガス吹き出し電極303に周波数13.66M
H,の高周波電力を印加して基板を含むトレイ304と
電極303間の空間2ケ所に低温プラズマを発生させ、
反応ガスを励起して両面の2枚の基板305上に一度に
反応生成物を堆積させる。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら、上記の構成では、ガス排気口307が反
応容器301の底部にあって底部での排気が他に比し強
くなるため、トレイ304と電極303間の空間で反応
ガス濃度が不均一であり、またトレイ304は自身の搬
送機構306のため回転させることができないので基板
305上で反応生成物の膜厚均一性が得られ難いという
問題点を有している。また、2ケ所のトレイ304と電
極間の空間で真空度に差が生じ、ガス濃度が両面で同一
でないことから、他の条件を全て両面同一にして成膜を
行っても、膜厚及び膜質の両面間の均一性が得がたいと
いう問題点も・有していた。
応容器301の底部にあって底部での排気が他に比し強
くなるため、トレイ304と電極303間の空間で反応
ガス濃度が不均一であり、またトレイ304は自身の搬
送機構306のため回転させることができないので基板
305上で反応生成物の膜厚均一性が得られ難いという
問題点を有している。また、2ケ所のトレイ304と電
極間の空間で真空度に差が生じ、ガス濃度が両面で同一
でないことから、他の条件を全て両面同一にして成膜を
行っても、膜厚及び膜質の両面間の均一性が得がたいと
いう問題点も・有していた。
本発明は上記問題点に鑑み、基板面内の膜厚均一性と両
面の基板間の膜厚均一性の優れた縦型両面プラズマCV
D装置を提供することを目的とするものである。
面の基板間の膜厚均一性の優れた縦型両面プラズマCV
D装置を提供することを目的とするものである。
問題点を解決するための手段
本発明は前記のような目的を達成するために、真空保持
可能な反応容器と、各々に高周波電力が印加される対向
する2つの反応ガス吹き出し電極と、少なくとも両面で
2枚以上の基板を保持し、搬送機構により前記電極間に
位置することが可能な接地された一対のトレイと、前記
トレイの内側に位置し前記トレイ及び基板を加熱制御す
るための発熱体とを備え、前記反応容器内部で前記トレ
イ上の基板に化学的気相成長を行う縦型両面プラズマ気
相成長装置において、圧力調整機構を有すると共に反応
室中心部に向く多数の排気孔を持つリング状排気管を2
つの電極の周囲に各々独立して設けたことを特徴とする
ものである。
可能な反応容器と、各々に高周波電力が印加される対向
する2つの反応ガス吹き出し電極と、少なくとも両面で
2枚以上の基板を保持し、搬送機構により前記電極間に
位置することが可能な接地された一対のトレイと、前記
トレイの内側に位置し前記トレイ及び基板を加熱制御す
るための発熱体とを備え、前記反応容器内部で前記トレ
イ上の基板に化学的気相成長を行う縦型両面プラズマ気
相成長装置において、圧力調整機構を有すると共に反応
室中心部に向く多数の排気孔を持つリング状排気管を2
つの電極の周囲に各々独立して設けたことを特徴とする
ものである。
作 用
本発明は上記した構成によって、トレイと電極間の空間
をリング状排気管により電極面外周方向に均一に排気す
ることにより、基板上でのガス濃度を均一にし、基板面
内の膜厚均一性を確保するとともに、2つのリング状排
気管の圧力調整機構を調整し、両面間の真空度すなわち
ガス濃度を制御することにより、両面間での膜厚均一性
を確保できることとなる。
をリング状排気管により電極面外周方向に均一に排気す
ることにより、基板上でのガス濃度を均一にし、基板面
内の膜厚均一性を確保するとともに、2つのリング状排
気管の圧力調整機構を調整し、両面間の真空度すなわち
ガス濃度を制御することにより、両面間での膜厚均一性
を確保できることとなる。
実施例
以下本発明て係る縦型両面プラズマCVD装置の一実施
例について、図面を参照しながら説明する。
例について、図面を参照しながら説明する。
第1図に全体の構成を示し、第2図に第1図A−A線の
断面を示しているように、真空保持可能な反応容器10
1の中央に発熱体であるパネルヒータ102が設けられ
、反応容器101の左右高周波電力が印加されるガス吹
き出し電極103が設けられている。パネルヒータ10
2の左右両側には基板105を保持し搬送機構106に
よって搬送可能な接地されたl・レイ104が設けられ
ている。
断面を示しているように、真空保持可能な反応容器10
1の中央に発熱体であるパネルヒータ102が設けられ
、反応容器101の左右高周波電力が印加されるガス吹
き出し電極103が設けられている。パネルヒータ10
2の左右両側には基板105を保持し搬送機構106に
よって搬送可能な接地されたl・レイ104が設けられ
ている。
さらに左右の各ガス吹き出し電[103のまわりにはそ
れを囲繞するリング状排気管1Q7゜107が個別に設
けられ、各リング状排気管107には反応容器101内
中央部に向く多数の排気孔107 aが配設されている
。また各リング状排気管107は圧力調整機構109が
それぞれ連続されると共に、この圧力調整機構109が
連結されている部分よりも反応容器101の側に真空計
108が設けられている。
れを囲繞するリング状排気管1Q7゜107が個別に設
けられ、各リング状排気管107には反応容器101内
中央部に向く多数の排気孔107 aが配設されている
。また各リング状排気管107は圧力調整機構109が
それぞれ連続されると共に、この圧力調整機構109が
連結されている部分よりも反応容器101の側に真空計
108が設けられている。
次に動作を説明する。
まず、真空保持可能な反応容器101内を30mTor
r以下まで排気した後、各々のガス吹き比し電極103
により反応ガスを導入し、各々のリング状排気管107
から反応ガスを排気しながら、両面の真空度が等しくな
るように圧力調整機構109を調整し、0.1〜1 、
OTor rの所望の真空度に調圧する。次に、各々の
ガス吹き出し電極103に周波数13.5 eM l−
1zの高周波電力を印加して基板105を含むトレイ1
04と電極103間の空間に低温プラズマを発生させ、
反応ガスを励起ルで両面の2枚の基板105上に反応生
成物を堆積させる。これにより基板105上に所望の薄
膜を形成することができる。
r以下まで排気した後、各々のガス吹き比し電極103
により反応ガスを導入し、各々のリング状排気管107
から反応ガスを排気しながら、両面の真空度が等しくな
るように圧力調整機構109を調整し、0.1〜1 、
OTor rの所望の真空度に調圧する。次に、各々の
ガス吹き出し電極103に周波数13.5 eM l−
1zの高周波電力を印加して基板105を含むトレイ1
04と電極103間の空間に低温プラズマを発生させ、
反応ガスを励起ルで両面の2枚の基板105上に反応生
成物を堆積させる。これにより基板105上に所望の薄
膜を形成することができる。
このように薄膜形成過程において、反応容器101内を
圧力調整機構109により調圧するのに、反応室中心部
に向く多数の排気孔107aをもちかつ各ガス吹き出し
電極103を囲繞するリング状排気管107を通じた反
応ガスの排気によって行うと、反応と室内の排気が偏よ
らず基板106面内のガス濃度を均一にできる。このた
め、面内の膜厚均一性を得るとともに、トレイ104と
電極103間の両面間の真空度を等しく、すなわちガス
濃度を両面で等しくでき、両面間の膜厚均一性を得るこ
とができる。
圧力調整機構109により調圧するのに、反応室中心部
に向く多数の排気孔107aをもちかつ各ガス吹き出し
電極103を囲繞するリング状排気管107を通じた反
応ガスの排気によって行うと、反応と室内の排気が偏よ
らず基板106面内のガス濃度を均一にできる。このた
め、面内の膜厚均一性を得るとともに、トレイ104と
電極103間の両面間の真空度を等しく、すなわちガス
濃度を両面で等しくでき、両面間の膜厚均一性を得るこ
とができる。
なお、前記した実施例において、各々のリング状排気管
107の真空度を等しく他の条件を全て両面同一にして
成膜を行っても、両面間の膜厚均一性が得られない場合
は、リング状排気管10γの真空度に両面間で差を設け
、その結果、トレイ104と電極103間のガス濃度を
等しくして、両面間の膜厚均一性を制御することもでき
る。
107の真空度を等しく他の条件を全て両面同一にして
成膜を行っても、両面間の膜厚均一性が得られない場合
は、リング状排気管10γの真空度に両面間で差を設け
、その結果、トレイ104と電極103間のガス濃度を
等しくして、両面間の膜厚均一性を制御することもでき
る。
また、ガス吹き出し電11103の周囲に設けたリング
状排気管107は基板105上での気相成長度忘には寄
与しない、電極103裏面部に滞流している反応ガスを
排気でき、これにより電極103の周囲及び裏面と、反
応室内表面への膜の付着を防止でき、反応時もしくはト
レイ104の搬送時の基板106へのフレークの落下を
削減することもできる。
状排気管107は基板105上での気相成長度忘には寄
与しない、電極103裏面部に滞流している反応ガスを
排気でき、これにより電極103の周囲及び裏面と、反
応室内表面への膜の付着を防止でき、反応時もしくはト
レイ104の搬送時の基板106へのフレークの落下を
削減することもできる。
発明の効果
本発明によれば、圧力調整機構を持ち、反応室中心部に
向く多数の排気孔を持つリング状排気管を2つの電極の
周囲に各々独立して設けたことにより、基板面内の膜厚
均一性を得ることができ、また両面の基板間の膜厚均一
性を圧力調整機構により確保することができる。
向く多数の排気孔を持つリング状排気管を2つの電極の
周囲に各々独立して設けたことにより、基板面内の膜厚
均一性を得ることができ、また両面の基板間の膜厚均一
性を圧力調整機構により確保することができる。
第1図は本発明の第1の実施例における縦型両面プラズ
マCVD装置の構成図、第2図は第1図のA−A断面図
、第3図は従来の縦型両面プラズマCVD装置の構成図
である。 101・・・・・・反応容器、103・・・・・・ガス
吹き出し電極、104・・・・・・トレイ、105・・
・・・・基板、106・・・・・・搬送機構、107・
・・・・・リング状排気管、109・・・・・・圧力調
整機構。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名to
f−−女府Aト器 (03−”9′ス戻き’j1.L項ζ屓友1oC−勇出
弐構 107−−−リンゲ、、lた羽り民11イ乃−−,TQ
双;1(、 fOQ−二圧力功!奥頂 ぐ) 区 〇
マCVD装置の構成図、第2図は第1図のA−A断面図
、第3図は従来の縦型両面プラズマCVD装置の構成図
である。 101・・・・・・反応容器、103・・・・・・ガス
吹き出し電極、104・・・・・・トレイ、105・・
・・・・基板、106・・・・・・搬送機構、107・
・・・・・リング状排気管、109・・・・・・圧力調
整機構。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名to
f−−女府Aト器 (03−”9′ス戻き’j1.L項ζ屓友1oC−勇出
弐構 107−−−リンゲ、、lた羽り民11イ乃−−,TQ
双;1(、 fOQ−二圧力功!奥頂 ぐ) 区 〇
Claims (1)
- 真空保持可能な反応容器と、各々に高周波電力が印加
される対向する2つの反応ガス吹き出し電極と、少なく
とも両面で2枚以上の基板を保持し、搬送機構により前
記電極間に位置することが可能な接地された一対のトレ
イと、前記トレイの内側に位置し前記トレイ及び基板を
加熱制御するための発熱体とを備え、前記反応容器内部
で前記トレイ上の基板に化学的気相成長を行う縦型両面
プラズマ気相成長装置において、圧力調整機構を有する
と共に反応室中心部に向く多数の排気孔を持つリング状
排気管を2つの電極の周囲に各々独立して設けたことを
特徴とする気相成長装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29654587A JPH01137621A (ja) | 1987-11-25 | 1987-11-25 | 気相成長装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29654587A JPH01137621A (ja) | 1987-11-25 | 1987-11-25 | 気相成長装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01137621A true JPH01137621A (ja) | 1989-05-30 |
Family
ID=17834916
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29654587A Pending JPH01137621A (ja) | 1987-11-25 | 1987-11-25 | 気相成長装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01137621A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5225375A (en) * | 1991-05-20 | 1993-07-06 | Process Technology (1988) Limited | Plasma enhanced chemical vapor processing of semiconductor substrates |
KR20030021528A (ko) * | 2001-09-06 | 2003-03-15 | 주식회사 엘지이아이 | 냉장고용 제빙기의 히터단속장치 |
KR20030021527A (ko) * | 2001-09-06 | 2003-03-15 | 주식회사 엘지이아이 | 냉장고용 제빙기의 이빙레버 위치감지방법 및 장치 |
KR100437387B1 (ko) * | 2001-08-14 | 2004-06-25 | 주식회사 엘지이아이 | 냉장고용 제빙기의 히터단속방법 및 장치 |
JP2006261363A (ja) * | 2005-03-17 | 2006-09-28 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | プラズマ処理装置 |
JP2007181131A (ja) * | 2005-12-28 | 2007-07-12 | Kyocera Kinseki Corp | ラーメモード水晶振動子の保持構造 |
-
1987
- 1987-11-25 JP JP29654587A patent/JPH01137621A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5225375A (en) * | 1991-05-20 | 1993-07-06 | Process Technology (1988) Limited | Plasma enhanced chemical vapor processing of semiconductor substrates |
KR100437387B1 (ko) * | 2001-08-14 | 2004-06-25 | 주식회사 엘지이아이 | 냉장고용 제빙기의 히터단속방법 및 장치 |
KR20030021528A (ko) * | 2001-09-06 | 2003-03-15 | 주식회사 엘지이아이 | 냉장고용 제빙기의 히터단속장치 |
KR20030021527A (ko) * | 2001-09-06 | 2003-03-15 | 주식회사 엘지이아이 | 냉장고용 제빙기의 이빙레버 위치감지방법 및 장치 |
JP2006261363A (ja) * | 2005-03-17 | 2006-09-28 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | プラズマ処理装置 |
JP4623422B2 (ja) * | 2005-03-17 | 2011-02-02 | 富士電機システムズ株式会社 | プラズマ処理装置 |
JP2007181131A (ja) * | 2005-12-28 | 2007-07-12 | Kyocera Kinseki Corp | ラーメモード水晶振動子の保持構造 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7079686B2 (ja) | 成膜方法及び成膜装置 | |
JP3822055B2 (ja) | 高周波型プラズマ強化化学気相堆積反応装置、及びそれを実施する方法 | |
US5015330A (en) | Film forming method and film forming device | |
JPH02138473A (ja) | 縦型熱処理装置 | |
JP2008177501A (ja) | 半導体装置の製造方法及び装置 | |
JP2588388B2 (ja) | 被膜作製方法 | |
JPH01137621A (ja) | 気相成長装置 | |
JP2001257164A (ja) | 基板処理装置、基板処理方法及び圧力制御方法 | |
JPH0322523A (ja) | 気相成長装置 | |
JP4782316B2 (ja) | 処理方法及びプラズマ装置 | |
JPH0456770A (ja) | プラズマcvd装置のクリーニング方法 | |
KR101596329B1 (ko) | Vhf를 이용한 pe-ald 장치 및 방법 | |
JPH01298169A (ja) | 膜形成方法 | |
JPH0555150A (ja) | マイクロ波プラズマ処理装置 | |
JPH0341722A (ja) | 薄膜製造装置 | |
JPH03202467A (ja) | 高周波プラズマ素材プロセッシング装置 | |
JPH0436452B2 (ja) | ||
JPH10223620A (ja) | 半導体製造装置 | |
JPH04211115A (ja) | Rfプラズマcvd装置ならびに該装置による薄膜形成方法 | |
JPH05326453A (ja) | マイクロ波プラズマ処理装置 | |
JPS6299463A (ja) | 堆積膜形成法 | |
JPS63263718A (ja) | 気相成長装置 | |
JPH03151629A (ja) | 半導体薄膜製造装置及び半導体多層薄膜の製造方法 | |
JPH0628239B2 (ja) | 連続式プラズマcvd装置 | |
JPH07193009A (ja) | 気相成長装置およびこれを用いた気相成長方法 |