JPH0341722A - 薄膜製造装置 - Google Patents

薄膜製造装置

Info

Publication number
JPH0341722A
JPH0341722A JP17675489A JP17675489A JPH0341722A JP H0341722 A JPH0341722 A JP H0341722A JP 17675489 A JP17675489 A JP 17675489A JP 17675489 A JP17675489 A JP 17675489A JP H0341722 A JPH0341722 A JP H0341722A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mask
substrate
reaction chamber
thin film
film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP17675489A
Other languages
English (en)
Inventor
Atsushi Iwasaki
淳 岩崎
Saburo Adaka
阿高 三郎
Hideaki Nishihara
西原 英明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Power Ltd
Original Assignee
Babcock Hitachi KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Babcock Hitachi KK filed Critical Babcock Hitachi KK
Priority to JP17675489A priority Critical patent/JPH0341722A/ja
Publication of JPH0341722A publication Critical patent/JPH0341722A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野] 本発明は薄膜製造装置に係り、特に任意形状の多層膜を
生産性良く、かつ薄膜中への不純物の混入を低減して作
製するのに好適な薄膜製造装置に関する。
〔従来の技術〕
従来の主な薄膜製造法の1つである化学気相成長法(C
V D : Chemical Vapor Depo
sition)では、熱、プラズマ、光等の励起源のエ
ネルギーによって、反応ガスを活性化し、基板上に薄膜
を堆積させる。第4図にプラズマCVD法を用いた薄膜
製造装置の1例を示す。本装置は反応室51内の平行平
板の放電用電極52.53の片側に基板55を設置し、
高周波電源58を介し、両電極間5253の放電によっ
て生しるプラズマ中での反応ガス57の分解で発生する
活性種(ラジカル)とヒータ54によって所定の温度に
加熱された基板55との反応から、薄膜を堆積し、排気
口59から未反応ガス等を排出している。
このような従来の薄膜製造法では、所望の形状の薄膜を
作製する場合、第5図に示すように、基板55上へマス
ク56を取り付け、その開口部にのみ膜を堆積するなど
の方法が用いられている。
上記従来技術では、1回の戒膜毎にマスク56と基板5
5の取り出し及び交換作業を行うため、多数の基板55
を処理する場合、あるいは同一基板55上に任意形状の
多層膜を作製する場合等において、生産性の低下及び反
応室51の大気開放によって膜における不純物等の)昆
入量の増加などの不具合が生じる。
なお、この種の成膜用マスクに関連する技術としては、
特開昭63−70513号公報、特開昭63−3857
5号公報等が挙げられる。
[発明が解決しようとする課題] 上記の薄膜製造装置は、同一形状の1膜を多数の基板5
5に堆積する場合、あるいは同一基板55上に任意形状
の多層膜を堆積する場合等において、基板55の交換と
共にマスク56を取り換える必要がある。このため、装
置のスルーブツトが悪いために生産性が低下する。また
、反応室51外でマスク56の交換作業を行うため、マ
スク56が汚染され、作製した膜中に不純物が取り込ま
れるなどの問題が生じる。
本発明の目的は、上記した従来技術の課題を解決し、同
一形状の薄膜を多数の基板に堆積する場合、あるいは同
一基板上に任意形状の多層膜を堆積する場合等において
、生産性の向上及び膜中への不純物の混入量の低減を達
成することができる薄膜製造装置を提供することにある
〔課題を解決するための手段〕
上記した目的は、反応室に連通ずる状態で大気遮断可能
なマスク収納室を付設し、マスク収納室に設置されたマ
スクを反応室内の基板側に政道すると共にそのマスクを
基板に密着可能とするマスク移動保持機構を設けること
によって達成される。
〔作用〕
マスク収納室には、予め所望の開口部を有する任意形状
の複数枚のマスクが収納される。このマスクはマスク移
動保持機構によって保持されてマスク収納室から反応室
に搬送され、基板面に密着した状態で設置される。
したがって、戒膜毎のマスクの取り出し及び交換作業を
行う必要がなくなり、また、マスクは大気中にさらされ
ることがなく、これに伴うスループットの低下、マスク
の汚染等が回避される。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は本発明の薄膜製造装置の一実施例を示す縦断面
図、第2図(A)は第1図の要部拡大平面図、第2図C
B ’)は第2図(A)の側面図である。
この薄膜製造装置は、プラズマCVD装置であって、反
応室1の室内空間部に連通ずる空間部を有するマスク収
納室1aが設けられ、このマスク収納室1aには上下方
向に所定の間隔をおいて複数段(図では3段)のマスク
保持棚7が並設されており、各段にはマスク6b、6c
、6dが載置された状態を示している。マスク収納室1
aに近接してマスクホルダ8が設置され、ホルダ上下動
調節バルブ9により上下動に調整自在となっており、ま
た、ホルダ回転調節バルブ10により回転自在となって
いる。
マスクホルダ8の上端部付近には水平方向に延設された
水平部材8aと、この水平部材8aの上面に固定された
四角柱状の係止部材8bが固定されている。係止部材8
bの形状は、それぞれマスク6a〜6bの長手方向一端
部側に形成された開口部に対応した形状となっている。
なお、反応室の1側面側に付設してマスク収納室1aを
設けているため、排気口13はマスク収納室1aと対面
する反応室lの他側面側に設けられており、その他の構
成部分は、実質的に従来の装置と同一であり、2.3は
放電用電極、4は基板加熱用ヒータ、5は基板、11は
反応ガス、12は高周波電源である。
次に上記のように構成される薄膜製造装置の作用につい
て説明する。
反応室1内に反応ガス11を導入し、平行平板の放電用
電極2と3の間に高周波電源12を用いてプラズマを発
生させる。この時、基板5は一方の電極面上に設置され
、内部の基板加熱用ヒータ4によって、所望の温度に制
御される。プラズマCVD法では、反応ガス11がプラ
ズマ中の荷電粒子との衝突で分解・励起され、活性種(
ラジカル)となり、これら活性種と基板5との間の反応
によって膜が堆積される。
このような成膜を行なう前に、マスク保持棚7に設置し
た複数枚のマスク6a〜6dから所望の形状のマスクを
ホルダ上下動調節バルブ9及びホルダ回転調節IOを用
いて順次選定し、基板5上に移動、密着させることによ
って、所望の形状の薄膜を堆積することができる。
例えば、マスクの取り扱いに関しては、第1図及び第2
図に示すようにホルダ上下動調節バルブ9によってマス
クホルダ8に固定された係止部材8bの上面が、所望の
マスクの下面側に位置するように上下動させ、次いで回
転調節バルブ10によって係止部材8bが所望のマスク
に形成された開口部の下面に位置するようにマスクホル
ダ8を回転させる。その後ホルダ上下動調節バルブ9を
上昇させ、マスクに形成された開口部に係止部材8bを
係止させ、再びマスクホルダを回転させ、マスクが基板
5の下面に位置した後、マスクホルダ8を上昇させて、
マスクを基板5に密着させる。
また、同一基板5上に任意形状の多層膜を作製する場合
では、基板5を一度も反応室から出さずに工程を終える
ことが可能となる。
以上のように、本発明からなる製造法を用いた装置では
、所望の形状の多層膜を作製する場合、あらかしめ必要
なマスク6を反応室l内のマスク保持棚7に設置してお
き、各層の成膜前に所望のマスクを基板5上に密着させ
ることにより、−度も基板5を取り出すことなく、任意
形状の多層膜を作製することができる。これによって、
成膜の生産性が向上すると共に反応室1の大気開放及び
基板5の取り出し等がないため、膜中への不純物の混入
を極力低減することができる。また、上記理由から、作
製した膜の膜質の再現性向上も図ることができる。
第3図は本発明の薄膜製造装置の他の実施例を示す縦断
面図である。
この装置は、第1図に示す装置と同様にプラズマCVD
装置であって、反応室1とゲートバルブ14を介して基
板処理室15が付設され、基板処理室15には基板搬送
機構16が設置されている。
また、反応室1の底部側に排気口17が設けられている
。第3図において、その他の構成部分は第1図と同一で
あるので、第1図と同一符号で示している。
本実施例では、基板5は処理室15内の搬送機構16に
セットされ、ゲートバルブ14を通じて反応室l内に導
入される。
本実施例の効果は、次の通りである。第1にマスク6を
大気中にさらすことがなくなるため、マスク6の汚染を
防ぐことができ、膜中への不純物の混入を極力低減する
ことが可能となる。次に多枚数の基板5を処理する場合
、マスク6の交換が不要となるため、生産性の向上及び
コストの低減を図ることができる。
なお、本発明からなる実施例として、上記プラダマCV
D装置を例に説明したが、本発明は他の励起源(熱、光
等)を用いたCVD装置、あるいはスバンタ装置、エツ
チング装置などの各種薄膜製造装置に適用できる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、あらかしめ反応室内に複数枚のマスク
を設置し、成膜前に所望のマスクを選定して基板上に密
着させることにより、任意形状の多層膜を効率良く作製
することができる。この時、成膜毎のマスク交換作業が
不要となるため、大気によるマスクの汚染を防ぐことが
でき、膜中への不純物の混入を極力低減することができ
る。また、多枚数の基板を処理する場合では、生産性の
向上が可能となる。
さらに、上記効果により、本装置を各種薄膜デバイスの
製造工程に通用すれば、工程の短縮及び製品の歩留まり
向上等を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明になる薄膜製造装置の一実施例を示す装
置の縦断面図、第2図(A)、(B)は第1図の要部拡
大平面図及び同要部拡大側面図、第3図は本発明の他の
実施例を示す装置の縦断面は第4図は従来のyi膜製造
法による装置の縦断面図、第5図(A)、(B)は従来
の薄膜製造法に用いられるマスクの側面図及び平面図で
ある。 l・・・・・・反応室、2.3・・・・・・放電用電極
、4・・・・・・基板加熱用ヒータ、5・・・・・・基
板、6a〜6d・・・・・・マスク、7・・・・・・マ
スク保持棚、8・・・・・・マスクホルダ、9・・・・
・・ホルダ上下動調節バルブ、10・・・・・・ホルダ
回転調節バルブ、11・・・・・・反応ガス、12・・
・・・・高周波電源、13・・・・・・排気口、14・
・・・・・ゲートバルブ、15・・・・・・基板処理室
、16・・・・・・基板搬送機構、17・・・・・・排
気口。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)反応ガス又は固体源を用いて反応室内に設置され
    た基板上に基板装着用マスクを介して所定形状の薄膜を
    堆積させる薄膜製造装置において、前記反応室に連通す
    る状態で大気遮断可能なマスク収納室を付設し、該マス
    ク収納室に設置されたマスクを前記反応室内の基板側に
    搬送すると共にそのマスクを基板に密着可能とするマス
    ク移動保持機構を設けたことを特徴とする薄膜製造装置
  2. (2)前記反応室にゲートバルブを介して大気遮断可能
    な基板処理室を設け、該基板処理室に基板搬送機構を設
    置したことを特徴とする請求項(1)記載の薄膜製造装
    置。
JP17675489A 1989-07-07 1989-07-07 薄膜製造装置 Pending JPH0341722A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17675489A JPH0341722A (ja) 1989-07-07 1989-07-07 薄膜製造装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17675489A JPH0341722A (ja) 1989-07-07 1989-07-07 薄膜製造装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0341722A true JPH0341722A (ja) 1991-02-22

Family

ID=16019227

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17675489A Pending JPH0341722A (ja) 1989-07-07 1989-07-07 薄膜製造装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0341722A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5431700A (en) * 1994-03-30 1995-07-11 Fsi International, Inc. Vertical multi-process bake/chill apparatus
JP2009077310A (ja) * 2007-09-21 2009-04-09 Takenaka Komuten Co Ltd 通過体情報読取装置
JP2011061621A (ja) * 2009-09-11 2011-03-24 Toshiba Tec Corp アンテナ装置
JP2012074533A (ja) * 2010-09-29 2012-04-12 Toppan Printing Co Ltd ドライエッチング装置、ドライエッチング方法及びフォトマスク製造方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5431700A (en) * 1994-03-30 1995-07-11 Fsi International, Inc. Vertical multi-process bake/chill apparatus
JP2009077310A (ja) * 2007-09-21 2009-04-09 Takenaka Komuten Co Ltd 通過体情報読取装置
JP2011061621A (ja) * 2009-09-11 2011-03-24 Toshiba Tec Corp アンテナ装置
JP2012074533A (ja) * 2010-09-29 2012-04-12 Toppan Printing Co Ltd ドライエッチング装置、ドライエッチング方法及びフォトマスク製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9023438B2 (en) Methods and apparatus for combinatorial PECVD or PEALD
KR101803768B1 (ko) 회전형 세미 배치 ald 장치 및 프로세스
EP1125321B1 (en) Chemical deposition reactor and method of forming a thin film using the same
US5735960A (en) Apparatus and method to increase gas residence time in a reactor
EP0844314A2 (en) Distribution plate for a reaction chamber
KR101160788B1 (ko) 반도체 처리용 종형 플라즈마 처리 장치
US8821987B2 (en) Combinatorial processing using a remote plasma source
US5626678A (en) Non-conductive alignment member for uniform plasma processing of substrates
TW201737296A (zh) 用於產生派形加工的對稱電漿源
JPS63187619A (ja) プラズマcvd装置
KR101525210B1 (ko) 기판 처리장치
JP3342118B2 (ja) 処理装置
JP2023507111A (ja) 高密度プラズマ化学気相堆積チャンバ
JP7121446B2 (ja) 高密度プラズマ化学気相堆積チャンバ
JPH0341722A (ja) 薄膜製造装置
KR102236013B1 (ko) 원자층 증착장치
JPH0568096B2 (ja)
JP2990551B2 (ja) 成膜処理装置
US9023739B2 (en) Site-isolated rapid thermal processing methods and apparatus
JP2004508706A (ja) プラズマ処理
JPH01137621A (ja) 気相成長装置
US20200098549A1 (en) Heat conductive spacer for plasma processing chamber
KR20200021404A (ko) 처리 챔버들을 위한 코팅 재료
KR101512140B1 (ko) 원자층 증착 장치 및 방법
KR101513504B1 (ko) 기판 처리장치