JPH0113316Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0113316Y2 JPH0113316Y2 JP1981127734U JP12773481U JPH0113316Y2 JP H0113316 Y2 JPH0113316 Y2 JP H0113316Y2 JP 1981127734 U JP1981127734 U JP 1981127734U JP 12773481 U JP12773481 U JP 12773481U JP H0113316 Y2 JPH0113316 Y2 JP H0113316Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- arc
- conductor
- contact
- protrusion
- fixed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 83
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 6
- 239000002923 metal particle Substances 0.000 description 38
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 5
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 5
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 2
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 229910000570 Cupronickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000896 Manganin Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- UPHIPHFJVNKLMR-UHFFFAOYSA-N chromium iron Chemical compound [Cr].[Fe] UPHIPHFJVNKLMR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HPDFFVBPXCTEDN-UHFFFAOYSA-N copper manganese Chemical compound [Mn].[Cu] HPDFFVBPXCTEDN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YOCUPQPZWBBYIX-UHFFFAOYSA-N copper nickel Chemical compound [Ni].[Cu] YOCUPQPZWBBYIX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- UGKDIUIOSMUOAW-UHFFFAOYSA-N iron nickel Chemical compound [Fe].[Ni] UGKDIUIOSMUOAW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- QMQXDJATSGGYDR-UHFFFAOYSA-N methylidyneiron Chemical compound [C].[Fe] QMQXDJATSGGYDR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000010008 shearing Methods 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Breakers (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は回路しや断器に関するものであり、
特にしや断時における限流性能を向上させた回路
しや断器に関するものである。
特にしや断時における限流性能を向上させた回路
しや断器に関するものである。
一般的な回路しや断器を第1図a,bに基づい
て説明する。
て説明する。
第1図aは回路しや断器を示す平断面図であ
り、第1図bは第1図aの線−における側断
面図である。第1図a,bにおいて、回路しや断
器の外枠を形成する包囲体1は排出口101を備
えており、固定接触子2は、包囲体1に固定され
た固定導体201とその一端部に固着された固定
接点202とから構成される。また、可動接触子
3は、固定導体201に対して開閉動作をする可
動導体301とその一端部に固着された可動接点
302とから構成されている。そして可動導体3
01は操作機構部4によつて開閉される。固定接
点202と可動接点302との間のアーク空間に
は消弧板5が設けられ、この消弧板5は、上記接
点202,302側に開放された切欠溝501を
有する。いま、可動接点302と固定接点202
とが閉成している場合を考えると、電流は固定導
体201→固定接点202→可動接点302→可
動導体301の経路で流れる。この状態におい
て、短絡電流等の大電流がこの回路に流れると、
操作機構部4が作動して可動接点302を固定接
点202から開離させる。この時、固定接点20
2と可動接点302との間にはアークAが発生
し、固定接点202と可動接点302との間には
アーク電圧が発生する。このアーク電圧は、固定
接点202からの可動接点302の開離距離が増
大するに従つて上昇する。また、同時にアークA
が消弧板5の方向へ磁気力によつて引き付けられ
伸長するために、アーク電圧はさらに上昇する。
り、第1図bは第1図aの線−における側断
面図である。第1図a,bにおいて、回路しや断
器の外枠を形成する包囲体1は排出口101を備
えており、固定接触子2は、包囲体1に固定され
た固定導体201とその一端部に固着された固定
接点202とから構成される。また、可動接触子
3は、固定導体201に対して開閉動作をする可
動導体301とその一端部に固着された可動接点
302とから構成されている。そして可動導体3
01は操作機構部4によつて開閉される。固定接
点202と可動接点302との間のアーク空間に
は消弧板5が設けられ、この消弧板5は、上記接
点202,302側に開放された切欠溝501を
有する。いま、可動接点302と固定接点202
とが閉成している場合を考えると、電流は固定導
体201→固定接点202→可動接点302→可
動導体301の経路で流れる。この状態におい
て、短絡電流等の大電流がこの回路に流れると、
操作機構部4が作動して可動接点302を固定接
点202から開離させる。この時、固定接点20
2と可動接点302との間にはアークAが発生
し、固定接点202と可動接点302との間には
アーク電圧が発生する。このアーク電圧は、固定
接点202からの可動接点302の開離距離が増
大するに従つて上昇する。また、同時にアークA
が消弧板5の方向へ磁気力によつて引き付けられ
伸長するために、アーク電圧はさらに上昇する。
このようにして、アーク電流は電流零点を迎え
てアークAが消弧し、しや断が完結する。このよ
うなしや断動作中において、可動接点302と固
定接点202との間には、アークAによつて短時
間、すなわち数ミリ秒の内に大量のエネルギーが
発生する。そのために、包囲体1内の気体の温度
は上昇し、かつ圧力も急激に上昇するが、この高
温高圧の気体は排出口101から大気中に放出さ
れる。
てアークAが消弧し、しや断が完結する。このよ
うなしや断動作中において、可動接点302と固
定接点202との間には、アークAによつて短時
間、すなわち数ミリ秒の内に大量のエネルギーが
発生する。そのために、包囲体1内の気体の温度
は上昇し、かつ圧力も急激に上昇するが、この高
温高圧の気体は排出口101から大気中に放出さ
れる。
回路しや断器及びその内部構成部品は、そのし
や断に際して上記のような動作をするが、次に固
定接点202と可動接点302との動作について
特に説明する。一般にアーク抵抗Rは次のような
式で与えられる。
や断に際して上記のような動作をするが、次に固
定接点202と可動接点302との動作について
特に説明する。一般にアーク抵抗Rは次のような
式で与えられる。
R=ρl/S
ただし、R:アーク抵抗(Ω)
ρ:アーク抵抗率(Ω・cm)
l:アーク長さ(cm)
S:アーク断面積(cm2)
しかるに、一般に数KA以上の大電流でかつア
ーク長さlが50mm以下の短いアークAにおいて
は、アーク空間は、その表面にアークの足が存在
する導体の金属粒子によつて占められてしまいし
かも、この金属粒子の放出は、導体表面に直角方
向に起こる。また、この放出された金属粒子は、
放出時においては導体金属の沸点近くの温度を有
し、さらにアーク空間に注入されるや否や電気的
エネルギーの注入を受けて高温、高圧化されると
共に導電性を帯び、アーク空間の圧力分布に従つ
た方向に膨張しながら高速度で導体から遠ざかる
方向に流れ去る。そして、アーク空間におけるア
ーク抵抗率ρおよびアーク断面積Sは、この金属
粒子の発生量とその放出方向によつて定まる。し
たがつて、アーク電圧も、このような金属粒子の
挙動によつて、決定される。
ーク長さlが50mm以下の短いアークAにおいて
は、アーク空間は、その表面にアークの足が存在
する導体の金属粒子によつて占められてしまいし
かも、この金属粒子の放出は、導体表面に直角方
向に起こる。また、この放出された金属粒子は、
放出時においては導体金属の沸点近くの温度を有
し、さらにアーク空間に注入されるや否や電気的
エネルギーの注入を受けて高温、高圧化されると
共に導電性を帯び、アーク空間の圧力分布に従つ
た方向に膨張しながら高速度で導体から遠ざかる
方向に流れ去る。そして、アーク空間におけるア
ーク抵抗率ρおよびアーク断面積Sは、この金属
粒子の発生量とその放出方向によつて定まる。し
たがつて、アーク電圧も、このような金属粒子の
挙動によつて、決定される。
次に、このような金属粒子の挙動を第2図を用
いて説明する。
いて説明する。
第2図において、一対の導体8,9は相対向す
る一対の金属製円柱状の一般的な導体から構成さ
れたものであつて、導体8は陽極であり、導体9
は陰極である。また導体8,9の夫々のX面は導
体8,9が接触する場合の接触面となる対向面で
あり、導体8,9の夫々のY面は夫々の対向面で
あるX面以外の電気的接触面である導体表面を示
す。X面を接点部材で構成しても以下の説明にお
ける金属粒子の振舞いは何ら変るところはない。
また図中一点鎖線で示す輪かくZは導体8,9間
に発生するアークAの外かくを示し、さらに、金
属粒子a及び金属粒子bは、導体8,9のX面及
びY面から蒸発等により発したそれぞれの金属粒
子を模式的に示したもので、その放出方向は、そ
れぞれ矢印m,m′及び矢印nによつて示した各
流線の方向である。
る一対の金属製円柱状の一般的な導体から構成さ
れたものであつて、導体8は陽極であり、導体9
は陰極である。また導体8,9の夫々のX面は導
体8,9が接触する場合の接触面となる対向面で
あり、導体8,9の夫々のY面は夫々の対向面で
あるX面以外の電気的接触面である導体表面を示
す。X面を接点部材で構成しても以下の説明にお
ける金属粒子の振舞いは何ら変るところはない。
また図中一点鎖線で示す輪かくZは導体8,9間
に発生するアークAの外かくを示し、さらに、金
属粒子a及び金属粒子bは、導体8,9のX面及
びY面から蒸発等により発したそれぞれの金属粒
子を模式的に示したもので、その放出方向は、そ
れぞれ矢印m,m′及び矢印nによつて示した各
流線の方向である。
このような導体8,9から放出された金属粒子
a,bは、アーク空間のエネルギーによつて導体
金属の沸点温度である約3000℃程度から、導電性
を帯びる温度、すなわち8000℃以上、またはさら
に高温の、20000℃程度にまで昇温され、その昇
温の過程でアーク空間からエネルギーを奪い去
り、アーク空間の温度を下げ、その結果アーク抵
抗Rを増大させる。アーク空間から金属粒子a,
bが奪い去るエネルギー量は、金属粒子の昇温の
程度が大きい程大きく、その昇温の程度は、導体
8,9から発した金属粒子a,bのアーク空間に
おける位置及び放出経路によつて定まる。
a,bは、アーク空間のエネルギーによつて導体
金属の沸点温度である約3000℃程度から、導電性
を帯びる温度、すなわち8000℃以上、またはさら
に高温の、20000℃程度にまで昇温され、その昇
温の過程でアーク空間からエネルギーを奪い去
り、アーク空間の温度を下げ、その結果アーク抵
抗Rを増大させる。アーク空間から金属粒子a,
bが奪い去るエネルギー量は、金属粒子の昇温の
程度が大きい程大きく、その昇温の程度は、導体
8,9から発した金属粒子a,bのアーク空間に
おける位置及び放出経路によつて定まる。
さらに導体8,9から発した金属粒子a,bの
経路は、アーク空間の圧力分布によつて定まる。
そのアーク空間の圧力は、電流自身のピンチ力と
金属粒子a,bの熱膨張とのかね合いによつて決
定される。ピンチ力は電流の密度によつてほぼ決
定される量であり、これはすなわち導体8,9上
のアークAの足の大きさによつて決定される。一
般には金属粒子a,bはピンチ力によつて決定さ
れた空間を、熱膨張しながら飛行すると考えても
よい。また導体8,9上におけるアークAの足に
制限を加えない場合には、金属粒子aは片側の導
体9から他の導体8に一方的にペーパー・ジエツ
トして吹き付けられることが知られている。この
ように片側の導体9から他の導体8に向けて、金
属粒子aが一方的に吹き付けられる際には、アー
クAの陽光性に注入される金属粒子aは、ほぼ片
側導体9からのみ供給されるのである。第2図で
は一例として陰極から陽極へ強く吹き付けが行な
われているものを示したが、この逆方向の吹き付
けられる場合もある。
経路は、アーク空間の圧力分布によつて定まる。
そのアーク空間の圧力は、電流自身のピンチ力と
金属粒子a,bの熱膨張とのかね合いによつて決
定される。ピンチ力は電流の密度によつてほぼ決
定される量であり、これはすなわち導体8,9上
のアークAの足の大きさによつて決定される。一
般には金属粒子a,bはピンチ力によつて決定さ
れた空間を、熱膨張しながら飛行すると考えても
よい。また導体8,9上におけるアークAの足に
制限を加えない場合には、金属粒子aは片側の導
体9から他の導体8に一方的にペーパー・ジエツ
トして吹き付けられることが知られている。この
ように片側の導体9から他の導体8に向けて、金
属粒子aが一方的に吹き付けられる際には、アー
クAの陽光性に注入される金属粒子aは、ほぼ片
側導体9からのみ供給されるのである。第2図で
は一例として陰極から陽極へ強く吹き付けが行な
われているものを示したが、この逆方向の吹き付
けられる場合もある。
次に、上記の事情を説明する。第2図におい
て、何らかの理由で導体9から導体8にむけて一
方的に吹き付けが生起しているとする。導体9の
対向面であるX面から発する金属粒子aは、導体
界面に直角に、すなわち陽光柱に向かつて飛行し
ようとする。この時、導体9のX面を発した金属
粒子aはピンチ力によつて生じた圧力によつて陽
光柱に注入される。他方の導体8のX面を発した
金属粒子aは陽光柱の中の粒子の流れに押されて
X面の外角方向に排出され陽光中に入りきらず瞬
時に系外に逃げ去ることになる。このように導体
8から発せられるものと導体9から発せられるも
のとで金属粒子aの動きが第2図中の矢印m,
m′の流線に示したように異なるのは、前述した
如く導体界面におけるピンチ力により生じる圧力
に差があることによるものである。こうして、導
体9の一方向からの吹きつけは、吹きつけられる
側の導体8を熱し、導体8の表面上のアークの足
(陽極点・陰極点)をその正面のX面からそれ以
外のY面へと拡大させる。このために導体8の導
体界面上の電流密度は低下し、且つアークの圧力
も低下する。したがつて、ますます導体9からの
一方向の吹きつけを強めることになる。このよう
にして生じたそれぞれの導体8,9を発した金属
の粒子aの飛行経路の差は、アーク空間から奪い
去るエネルギー量の差となる。したがつて、導体
9のX面を発した金属粒子aは、陽光柱から充分
にエネルギーを吸収し得るが、導体8のX面を発
した金属粒子aは充分にエネルギーを吸収し得
ず、有効にアークAを冷却しないままに系外に放
出されてしまう。また導体8,9のY面から発す
る金属粒子bは、図中の矢印nの流線に示すよう
に、アークAから充分な熱を奪わないばかりか、
アーク断面積Sを増大させ、かつアークAのアー
ク抵抗Rを低下させることになる。
て、何らかの理由で導体9から導体8にむけて一
方的に吹き付けが生起しているとする。導体9の
対向面であるX面から発する金属粒子aは、導体
界面に直角に、すなわち陽光柱に向かつて飛行し
ようとする。この時、導体9のX面を発した金属
粒子aはピンチ力によつて生じた圧力によつて陽
光柱に注入される。他方の導体8のX面を発した
金属粒子aは陽光柱の中の粒子の流れに押されて
X面の外角方向に排出され陽光中に入りきらず瞬
時に系外に逃げ去ることになる。このように導体
8から発せられるものと導体9から発せられるも
のとで金属粒子aの動きが第2図中の矢印m,
m′の流線に示したように異なるのは、前述した
如く導体界面におけるピンチ力により生じる圧力
に差があることによるものである。こうして、導
体9の一方向からの吹きつけは、吹きつけられる
側の導体8を熱し、導体8の表面上のアークの足
(陽極点・陰極点)をその正面のX面からそれ以
外のY面へと拡大させる。このために導体8の導
体界面上の電流密度は低下し、且つアークの圧力
も低下する。したがつて、ますます導体9からの
一方向の吹きつけを強めることになる。このよう
にして生じたそれぞれの導体8,9を発した金属
の粒子aの飛行経路の差は、アーク空間から奪い
去るエネルギー量の差となる。したがつて、導体
9のX面を発した金属粒子aは、陽光柱から充分
にエネルギーを吸収し得るが、導体8のX面を発
した金属粒子aは充分にエネルギーを吸収し得
ず、有効にアークAを冷却しないままに系外に放
出されてしまう。また導体8,9のY面から発す
る金属粒子bは、図中の矢印nの流線に示すよう
に、アークAから充分な熱を奪わないばかりか、
アーク断面積Sを増大させ、かつアークAのアー
ク抵抗Rを低下させることになる。
このように、一方の導体9からの吹き付けがあ
る場合には、陽光柱の金属粒子aによる冷却効率
が悪くなり、また両方の導体8,9の対向面以外
の面であるY面から発生する金属粒子bが陽光柱
の冷却に何ら寄与せず、しかもアーク断面積Sを
増大させることにより、アーク抵抗Rも低下す
る。したがつて、一方の導体から他方の導体へ一
方的な金属粒子の吹き付けが存在するとアーク電
圧を上昇させる上では不利であり、したがつてし
や断時の限流性能を向上させ得ない。
る場合には、陽光柱の金属粒子aによる冷却効率
が悪くなり、また両方の導体8,9の対向面以外
の面であるY面から発生する金属粒子bが陽光柱
の冷却に何ら寄与せず、しかもアーク断面積Sを
増大させることにより、アーク抵抗Rも低下す
る。したがつて、一方の導体から他方の導体へ一
方的な金属粒子の吹き付けが存在するとアーク電
圧を上昇させる上では不利であり、したがつてし
や断時の限流性能を向上させ得ない。
一般に従来の回路しや断器に使用されている固
定接触子及び可動接触子は第2図のモデルの導体
と同様に対向面の表面積が大きく、したがつて生
じたアークの足の大きさの制限が加わらないだけ
でなく対向面以外にもその側面等に露出面を有す
るので、第2図において説明したように、両接触
子面に生じるアークの足(陽極点又は陰極点)の
位置及び大きさに別段に制限が加えられていない
ため、第2図について説明した機構で一方の接触
子から他方の接触子に対して金属粒子aの一方的
な吹き付けが行なわれ、このためアーク断面積S
が大きくなり、上述のようにしや断時の限流性能
を向上させ得ない欠点があつた。
定接触子及び可動接触子は第2図のモデルの導体
と同様に対向面の表面積が大きく、したがつて生
じたアークの足の大きさの制限が加わらないだけ
でなく対向面以外にもその側面等に露出面を有す
るので、第2図において説明したように、両接触
子面に生じるアークの足(陽極点又は陰極点)の
位置及び大きさに別段に制限が加えられていない
ため、第2図について説明した機構で一方の接触
子から他方の接触子に対して金属粒子aの一方的
な吹き付けが行なわれ、このためアーク断面積S
が大きくなり、上述のようにしや断時の限流性能
を向上させ得ない欠点があつた。
さらに従来の接触子の大きな欠点は、Y面への
アークの足の拡大のために一般にこのY面に設け
られることの多い導体との接合部に直接アークの
足が拡大しやすく、この熱によつて融点の低い接
合部材が溶融し、接点脱落を起す危険性があつた
点である。
アークの足の拡大のために一般にこのY面に設け
られることの多い導体との接合部に直接アークの
足が拡大しやすく、この熱によつて融点の低い接
合部材が溶融し、接点脱落を起す危険性があつた
点である。
この考案の目的は、高いアーク電圧を有し、か
つ、しや断時の限流性能がよく、しかも接点の脱
落のおそれのない回路しや断器を得ることにあ
る。
つ、しや断時の限流性能がよく、しかも接点の脱
落のおそれのない回路しや断器を得ることにあ
る。
この考案の回路しや断器では、固定導体とこの
固定導体に固着された固定接点とからなる固定接
触子と、可動導体とこの可動導体に固着された可
動接点とからなり、上記固定接触子に対し上方へ
回動することにより開離する可動接触子とを備
え、上記両接触子のうちの少くとも固定接触子
に、前記導体とほぼ同一の導電性を有する材料か
らなる突起部を導体に接触して設けるとともに、
上記接触子の導体上に、導体よりも抵抗率の高い
高抵抗材料からなる圧力反射体を、接点の外周
と、突起部があるときはこの突起部の外周とを取
り囲むように配設し、かつ、接点間に発生するア
ークを消弧するための消弧板に、一端が上記接点
側に開放されて上記突起部の上方に位置する切欠
溝を設け、上記消弧板の切欠溝幅を、この突起部
の幅よりも小さくしてある。
固定導体に固着された固定接点とからなる固定接
触子と、可動導体とこの可動導体に固着された可
動接点とからなり、上記固定接触子に対し上方へ
回動することにより開離する可動接触子とを備
え、上記両接触子のうちの少くとも固定接触子
に、前記導体とほぼ同一の導電性を有する材料か
らなる突起部を導体に接触して設けるとともに、
上記接触子の導体上に、導体よりも抵抗率の高い
高抵抗材料からなる圧力反射体を、接点の外周
と、突起部があるときはこの突起部の外周とを取
り囲むように配設し、かつ、接点間に発生するア
ークを消弧するための消弧板に、一端が上記接点
側に開放されて上記突起部の上方に位置する切欠
溝を設け、上記消弧板の切欠溝幅を、この突起部
の幅よりも小さくしてある。
さらに、上記圧力反射体に、接点の一側面を起
点としてこれからアークの走行方向へ向つて延
び、突起部があるときは、この突起部に達する溝
を設けて導体の表面を露出させてある。
点としてこれからアークの走行方向へ向つて延
び、突起部があるときは、この突起部に達する溝
を設けて導体の表面を露出させてある。
ここで上記の高抵抗材料としては例えば有機あ
るいは無機絶縁物、又は、銅ニツケル、銅マンガ
ン、マンガニン、鉄炭素、鉄ニツケル、あるいは
鉄クロム等の高抵抗金属が使用できる。又温度上
昇に対して抵抗が急激に増加する鉄の使用も可能
である。
るいは無機絶縁物、又は、銅ニツケル、銅マンガ
ン、マンガニン、鉄炭素、鉄ニツケル、あるいは
鉄クロム等の高抵抗金属が使用できる。又温度上
昇に対して抵抗が急激に増加する鉄の使用も可能
である。
つぎに、この考案の実施例を、第3図および第
4図にしたがつて説明する。
4図にしたがつて説明する。
第3図aはこの考案に係る回路しや断器の一実
施例を示す一部を切欠した平断面図であり、第3
図bは一部を切欠した側断面図である。第4図a
及びbは第3図に示す固定接触子及び可動接触子
と圧力反射体との分解斜視図である。
施例を示す一部を切欠した平断面図であり、第3
図bは一部を切欠した側断面図である。第4図a
及びbは第3図に示す固定接触子及び可動接触子
と圧力反射体との分解斜視図である。
1は絶縁体からなる包囲体であり、回路しや断
器の外枠を形成し、かつこれに気体の排出口10
1が設けられる。固定接触子2は固定導体201
とその一端部に固着された固定接点202とから
構成され、また可動接触子3は可動導体301と
その一端部に固着された可動接点302とから構
成されている。可動接触子3は、操作機構部4の
作動により、固定接触子2に対して開閉動作を行
なう。固定接触子2と可動接触子3との間のアー
ク空間を取囲むように消弧板5が設けられる。こ
の消弧板5は、その一端が上記接点202,30
2側に開放された切欠部501を有する。また固
定接触子2及び可動接触子3には、それぞれ圧力
反射体6,7が取付けられる。第4図aから明ら
かなように、固定接触子2に取付けられた圧力反
射体6は、2つの貫通孔601,602を有し、
その一方の貫通孔601に前記固定接点202が
貫挿される。上記貫通孔601と602との間に
は固定接点202と突起部203との間の固定接
触子2を露出させる溝605を設けて、アークが
突起部203へ転移し易いように形成されてお
り、また、第4図bから明らかなように、可動接
触子3に取付けられた圧力反射体7も貫通孔70
1を有し、この貫通孔701に前記可動接点30
2が貫挿される。上記可動接点302の一側に
は、この可動接点302より遠ざかる方向(アー
クの転移方向)に溝705を設けてアークが突起
部203へ転移し易いように形成されている。圧
力反射体7は上記導体201,301よりも抵抗
率の高い高抵抗材料からなる。この構成により、
各接触子2,3の各接点202,302の外周が
圧力反射体6,7によつて取囲まれ、その周囲の
導体部位が圧力反射体6,7により覆われる。図
示例において、固定接触子2の接点近傍に導電性
の突起部203が設けられ、この突起部203
が、前記圧力反射体6の他方の貫通孔602に貫
挿され、この圧力反射体6上に突出される。ここ
において、突起部203の幅lcは、前記消弧板5
の小幅切欠溝502の幅lgよりも大きくなるよう
に設定される。すなわち、切欠溝502は突起部
203よりも小さい幅のものとして構成される。
つまり、lc>lgなる関係である。
器の外枠を形成し、かつこれに気体の排出口10
1が設けられる。固定接触子2は固定導体201
とその一端部に固着された固定接点202とから
構成され、また可動接触子3は可動導体301と
その一端部に固着された可動接点302とから構
成されている。可動接触子3は、操作機構部4の
作動により、固定接触子2に対して開閉動作を行
なう。固定接触子2と可動接触子3との間のアー
ク空間を取囲むように消弧板5が設けられる。こ
の消弧板5は、その一端が上記接点202,30
2側に開放された切欠部501を有する。また固
定接触子2及び可動接触子3には、それぞれ圧力
反射体6,7が取付けられる。第4図aから明ら
かなように、固定接触子2に取付けられた圧力反
射体6は、2つの貫通孔601,602を有し、
その一方の貫通孔601に前記固定接点202が
貫挿される。上記貫通孔601と602との間に
は固定接点202と突起部203との間の固定接
触子2を露出させる溝605を設けて、アークが
突起部203へ転移し易いように形成されてお
り、また、第4図bから明らかなように、可動接
触子3に取付けられた圧力反射体7も貫通孔70
1を有し、この貫通孔701に前記可動接点30
2が貫挿される。上記可動接点302の一側に
は、この可動接点302より遠ざかる方向(アー
クの転移方向)に溝705を設けてアークが突起
部203へ転移し易いように形成されている。圧
力反射体7は上記導体201,301よりも抵抗
率の高い高抵抗材料からなる。この構成により、
各接触子2,3の各接点202,302の外周が
圧力反射体6,7によつて取囲まれ、その周囲の
導体部位が圧力反射体6,7により覆われる。図
示例において、固定接触子2の接点近傍に導電性
の突起部203が設けられ、この突起部203
が、前記圧力反射体6の他方の貫通孔602に貫
挿され、この圧力反射体6上に突出される。ここ
において、突起部203の幅lcは、前記消弧板5
の小幅切欠溝502の幅lgよりも大きくなるよう
に設定される。すなわち、切欠溝502は突起部
203よりも小さい幅のものとして構成される。
つまり、lc>lgなる関係である。
つぎに、この考案の原理を第5図にしたがつて
説明する。第5図において、一対の導体8,9は
第2図と同一形状に構成されており、かつ圧力反
射体6,7が導体8,9の夫々の対向面であるX
面を突出させるように、かつアークAに対向して
導体8,9に取付けてある。勿論X面を接点部材
で構成しても以下の説明における金属粒子の振舞
いは全く同一である。すなわち、空間Q,Qにお
ける圧力値は、アークA自身の空間の圧力値以上
にはなり得ないが、しかし少くとも、圧力反射体
6,7が設けられていない場合に比べて、圧倒的
に高い値を示す。したがつて、圧力反射体6,7
によつて生じた相当に高い圧力をもつ周辺空間
Q,Qは、アークAの空間の拡がりを抑制する力
を与え、アークAを狭い空間に「しぼり込む」こ
とになる。これはすなわち、対向面であるX面よ
り発した金属粒子a,c等の流線m,m′,o,
o′をアーク空間にしぼり込み閉じ込めることにな
る。よつて、X面より発した金属粒子a,cは有
効にアーク空間に注入される。その結果、有効に
注入された大量の金属粒子a,cは、アーク空間
から従来装置とは比較にならないほどの大量のエ
ネルギーを奪い去るため、アーク空間を著しく冷
却する。したがつて、抵抗率ρすなわちアーク抵
抗Rを著しく上昇させてアーク電圧をきわめて大
きく上昇させる。
説明する。第5図において、一対の導体8,9は
第2図と同一形状に構成されており、かつ圧力反
射体6,7が導体8,9の夫々の対向面であるX
面を突出させるように、かつアークAに対向して
導体8,9に取付けてある。勿論X面を接点部材
で構成しても以下の説明における金属粒子の振舞
いは全く同一である。すなわち、空間Q,Qにお
ける圧力値は、アークA自身の空間の圧力値以上
にはなり得ないが、しかし少くとも、圧力反射体
6,7が設けられていない場合に比べて、圧倒的
に高い値を示す。したがつて、圧力反射体6,7
によつて生じた相当に高い圧力をもつ周辺空間
Q,Qは、アークAの空間の拡がりを抑制する力
を与え、アークAを狭い空間に「しぼり込む」こ
とになる。これはすなわち、対向面であるX面よ
り発した金属粒子a,c等の流線m,m′,o,
o′をアーク空間にしぼり込み閉じ込めることにな
る。よつて、X面より発した金属粒子a,cは有
効にアーク空間に注入される。その結果、有効に
注入された大量の金属粒子a,cは、アーク空間
から従来装置とは比較にならないほどの大量のエ
ネルギーを奪い去るため、アーク空間を著しく冷
却する。したがつて、抵抗率ρすなわちアーク抵
抗Rを著しく上昇させてアーク電圧をきわめて大
きく上昇させる。
さらに、この圧力反射体6,7を、固定接点2
02と可動接点302との接触面、すなわち、第
5図に示す対向面であるX面の周辺近くに設置す
るならば、導体表面であるY面にまでアークAが
移動することを防ぎ、アークAの足の大きさをも
制限することになる。このため、金属粒子a,c
の発生をX面に集中させ得るとともに、アーク断
面積Sも縮小し得て、金属粒子a,cのアーク空
間への有効な注入が一層促進される。したがつ
て、アーク空間の冷却、アーク抵抗率ρの上昇及
びアーク抵抗Rの上昇を一層促進して、アーク電
圧が一層上昇される。
02と可動接点302との接触面、すなわち、第
5図に示す対向面であるX面の周辺近くに設置す
るならば、導体表面であるY面にまでアークAが
移動することを防ぎ、アークAの足の大きさをも
制限することになる。このため、金属粒子a,c
の発生をX面に集中させ得るとともに、アーク断
面積Sも縮小し得て、金属粒子a,cのアーク空
間への有効な注入が一層促進される。したがつ
て、アーク空間の冷却、アーク抵抗率ρの上昇及
びアーク抵抗Rの上昇を一層促進して、アーク電
圧が一層上昇される。
次にこの動作を説明する。いま、可動接点30
2が固定接点202から開離すると、可動接点3
02と固定接点202との間にアークAが発生す
る。このアークAは、以下の理由で、その足(ス
ポツト)を固定接点202から突起部203に転
移する。すなわち、アークAは、前述の理由で、
圧力反射体6,7の作用により、固定接点202
と可動接点302との間のアーク電圧を上昇させ
ること、また突起部203は固定接点202と同
電位であるため電界強度が非常に高くなること、
さらに突起部203はアークAによる高温かつ高
電離気体中に位置すること、等より可動接点30
2と突起部203との間で絶縁破壊を発生し、固
定接点202上のアークAの足が突起部203に
転移する。そのため、固定接点202の消耗が少
なくなる。また、消弧板5の切欠溝502の幅lg
が転移用の突起部203の幅lcよりも小さく設定
されているため、アークAは転移時に必らず消弧
板5に接触して冷却されることから、消弧性能が
一段と向上する。さらに、圧力反射体6,7が固
定接点202及び可動接点302の周囲の導体部
位を覆つているために、アークAの足がこれらの
接点202,302のみに形成されてその周囲ま
で拡がらないこと、及びアークAの足が圧力反射
体6,7に形成された溝605,705によつて
速やかに突起部203へ転移するために固定接点
202のジユール発熱が減少すること、等によつ
て、接点脱落が生じることはない。また、接点2
02,302と突起部203の周囲を圧力反射体
6,7で覆い、かつ上記溝605,705を設け
ていることから、接点202,302上のアーク
が突起部203以外の部分へ転移するのが確実に
防止される。この場合、突起部203へ転移した
アークは、前述した理由によつて紋り込み作用を
受けて限流されつづけることは、いうまでもな
い。
2が固定接点202から開離すると、可動接点3
02と固定接点202との間にアークAが発生す
る。このアークAは、以下の理由で、その足(ス
ポツト)を固定接点202から突起部203に転
移する。すなわち、アークAは、前述の理由で、
圧力反射体6,7の作用により、固定接点202
と可動接点302との間のアーク電圧を上昇させ
ること、また突起部203は固定接点202と同
電位であるため電界強度が非常に高くなること、
さらに突起部203はアークAによる高温かつ高
電離気体中に位置すること、等より可動接点30
2と突起部203との間で絶縁破壊を発生し、固
定接点202上のアークAの足が突起部203に
転移する。そのため、固定接点202の消耗が少
なくなる。また、消弧板5の切欠溝502の幅lg
が転移用の突起部203の幅lcよりも小さく設定
されているため、アークAは転移時に必らず消弧
板5に接触して冷却されることから、消弧性能が
一段と向上する。さらに、圧力反射体6,7が固
定接点202及び可動接点302の周囲の導体部
位を覆つているために、アークAの足がこれらの
接点202,302のみに形成されてその周囲ま
で拡がらないこと、及びアークAの足が圧力反射
体6,7に形成された溝605,705によつて
速やかに突起部203へ転移するために固定接点
202のジユール発熱が減少すること、等によつ
て、接点脱落が生じることはない。また、接点2
02,302と突起部203の周囲を圧力反射体
6,7で覆い、かつ上記溝605,705を設け
ていることから、接点202,302上のアーク
が突起部203以外の部分へ転移するのが確実に
防止される。この場合、突起部203へ転移した
アークは、前述した理由によつて紋り込み作用を
受けて限流されつづけることは、いうまでもな
い。
消弧板5の構成材料としては磁性材あるいは非
磁性材の何れでもよい。すなわち、磁性材で構成
した場合にはアークの冷却は効果的に行われる
が、定格電流の大きい回路しや断器では、磁性材
に発生する渦電流によつて定格運転時の温度上昇
が問題となる。一方、非磁性材で構成した場合に
は、アークの冷却効果は少し劣るが、定格運転時
の温度上昇は問題とならない。
磁性材の何れでもよい。すなわち、磁性材で構成
した場合にはアークの冷却は効果的に行われる
が、定格電流の大きい回路しや断器では、磁性材
に発生する渦電流によつて定格運転時の温度上昇
が問題となる。一方、非磁性材で構成した場合に
は、アークの冷却効果は少し劣るが、定格運転時
の温度上昇は問題とならない。
この実施例では、突起部203を固定接触子2
のみに設けたものを説明したが、これに限らず、
可動接触子3のみに設けても、あるいは双方の接
触子2,3に設けても作用効果は同じである。双
方の接触子2,3に設けると、特に、両方の接点
202,302の消耗が一層少なくなるという利
点がある。
のみに設けたものを説明したが、これに限らず、
可動接触子3のみに設けても、あるいは双方の接
触子2,3に設けても作用効果は同じである。双
方の接触子2,3に設けると、特に、両方の接点
202,302の消耗が一層少なくなるという利
点がある。
以上のように、この考案によれば、従来に比べ
はるかに高い限流性能を有し、アークの消弧が効
果的に行われ、接点の消耗および脱落が防止でき
且つ安価な回路しや断器を得ることができる。
はるかに高い限流性能を有し、アークの消弧が効
果的に行われ、接点の消耗および脱落が防止でき
且つ安価な回路しや断器を得ることができる。
第1図aは一般的な回路しや断器を示す平断面
図、第1図bは第1図aの線−における側断
面図、第2図は第1図の回路しや断器における金
属粒子の挙動の模式的説明図、第3図aはこの考
案の一実施例による回路しや断器を示す一部切欠
した平面図、第3図bは同一部を切欠した側面
図、第4図aおよびbは第3図aおよびbに示す
可動接触子と固定接触子との分解斜視図、第5図
は第3図の回路しや断器における金属粒子の挙動
の模式的説明図である。 2……固定接触子、201……固定導体、20
2……固定接点、203……突起部、3……可動
接触子、301……可動導体、302……可動接
点、5……消弧板、502……切欠溝、6,7…
…圧力反射体、601,602,701……貫通
孔、605,705……溝、lg……消弧板の切欠
溝幅、lc……突起部の幅。なお、図中、同一符号
は同一または相当部分を示す。
図、第1図bは第1図aの線−における側断
面図、第2図は第1図の回路しや断器における金
属粒子の挙動の模式的説明図、第3図aはこの考
案の一実施例による回路しや断器を示す一部切欠
した平面図、第3図bは同一部を切欠した側面
図、第4図aおよびbは第3図aおよびbに示す
可動接触子と固定接触子との分解斜視図、第5図
は第3図の回路しや断器における金属粒子の挙動
の模式的説明図である。 2……固定接触子、201……固定導体、20
2……固定接点、203……突起部、3……可動
接触子、301……可動導体、302……可動接
点、5……消弧板、502……切欠溝、6,7…
…圧力反射体、601,602,701……貫通
孔、605,705……溝、lg……消弧板の切欠
溝幅、lc……突起部の幅。なお、図中、同一符号
は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- 固定導体とこの固定導体に固着された固定接点
とからなる固定接触子と、可動導体とこの可動導
体に固着された可動接点とからなり、上記固定接
触子に対し上方へ回動することにより開離する可
動接触子とを備え、上記両接触子のうちの少くと
も固定接触子に、上記導体とほぼ同一の導電性を
有する材料からなり、接点よりもアークの走行側
に位置する突起部を導体に接触して設けるととも
に、上記両接触子の導体上に、導体よりも抵抗率
の高い高抵抗材料からなる反力反射体を、接点の
外周と、突起部があるときはこの突起部の外周と
を取り囲むように配設し、かつ、接点間に発生す
るアークを消弧するための消弧板に、一端が上記
接点側に開放されて固定接触子側の突起部の上方
に位置する切欠溝を設け、この切欠溝の幅を固定
接触子側の突起部の幅よりも小さくし、さらに上
記圧力反射体に接点の一側面を起点としてこれか
らアーク走行方向へ向つて延び、突起部があると
きはこの突起部まで達する溝を設けて導体の表面
を露出させた回路しや断器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12773481U JPS5831659U (ja) | 1981-08-27 | 1981-08-27 | 回路しや断器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12773481U JPS5831659U (ja) | 1981-08-27 | 1981-08-27 | 回路しや断器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5831659U JPS5831659U (ja) | 1983-03-01 |
JPH0113316Y2 true JPH0113316Y2 (ja) | 1989-04-19 |
Family
ID=29921453
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12773481U Granted JPS5831659U (ja) | 1981-08-27 | 1981-08-27 | 回路しや断器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5831659U (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0438384U (ja) * | 1990-07-30 | 1992-03-31 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5232066A (en) * | 1975-09-08 | 1977-03-10 | Mitsubishi Plastics Ind | Method of treating of frp product for hydrophilization |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5343495Y2 (ja) * | 1972-07-14 | 1978-10-19 | ||
JPS4950761U (ja) * | 1972-08-10 | 1974-05-04 | ||
JPS5752829Y2 (ja) * | 1973-11-30 | 1982-11-16 | ||
JPS6114122Y2 (ja) * | 1977-11-29 | 1986-05-01 | ||
JPS54147675U (ja) * | 1978-04-07 | 1979-10-13 |
-
1981
- 1981-08-27 JP JP12773481U patent/JPS5831659U/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5232066A (en) * | 1975-09-08 | 1977-03-10 | Mitsubishi Plastics Ind | Method of treating of frp product for hydrophilization |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5831659U (ja) | 1983-03-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0070413B2 (en) | A circuit breaker with arc restricting device | |
JPH0113316Y2 (ja) | ||
US4409444A (en) | Circuit breaker | |
JPH0218512Y2 (ja) | ||
JPH0113314Y2 (ja) | ||
JPH0113315Y2 (ja) | ||
JPH0218513Y2 (ja) | ||
JPH0218516Y2 (ja) | ||
EP0061097B2 (en) | Circuit breaker | |
JPH0126028Y2 (ja) | ||
JPH0218515Y2 (ja) | ||
JPH0222494B2 (ja) | ||
KR880001824Y1 (ko) | 회로차단기 | |
JPH0135390Y2 (ja) | ||
JPH0135389Y2 (ja) | ||
KR880001791Y1 (ko) | 회로 차단기 | |
JPH0218517Y2 (ja) | ||
JPH027134B2 (ja) | ||
JPH0218514Y2 (ja) | ||
JPH0215977B2 (ja) | ||
JPH0226326B2 (ja) | ||
JPS5828141A (ja) | 回路しや断器 | |
JPS59211931A (ja) | 回路しや断器 | |
JPS59186223A (ja) | 回路しや断器 | |
JPS5828134A (ja) | 回路しや断器 |