JPH01133052A - 防塵膜 - Google Patents
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- JPH01133052A JPH01133052A JP62290882A JP29088287A JPH01133052A JP H01133052 A JPH01133052 A JP H01133052A JP 62290882 A JP62290882 A JP 62290882A JP 29088287 A JP29088287 A JP 29088287A JP H01133052 A JPH01133052 A JP H01133052A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体の製造工程において、フォトマスクや
レチクルをごみの付着から防止する防塵膜に関する。
レチクルをごみの付着から防止する防塵膜に関する。
LSIなどの半導体の製造において、フォトマスクのマ
スクパターンをフォトレジストに転写するりジグラフイ
ー工程では、フォトマスクやレチクルにごみが付着する
のを防止する゛必要があり、そのためにフォトマスクや
レチクルを防塵膜で保護している。
スクパターンをフォトレジストに転写するりジグラフイ
ー工程では、フォトマスクやレチクルにごみが付着する
のを防止する゛必要があり、そのためにフォトマスクや
レチクルを防塵膜で保護している。
このような防塵膜としては、従来ニトロセルロース、セ
ルロース・アセテート・ブチレート、アルキルセルロー
ス等の薄膜が使用されている。
ルロース・アセテート・ブチレート、アルキルセルロー
ス等の薄膜が使用されている。
一方、フォトリゾグラフィーにおいて用いる露光装置(
ステッパー)には、波長が365nm(i線)のもの(
i線ステッパー)と436nm(g線)のもの (g線
ステッパー)とがあり、必要に応じて両者を使い分けて
いる。
ステッパー)には、波長が365nm(i線)のもの(
i線ステッパー)と436nm(g線)のもの (g線
ステッパー)とがあり、必要に応じて両者を使い分けて
いる。
前記防塵膜に要求される性能としては、高透光性を有す
ることであるが、前記従来のものは、 i線に対して高
透光性を示すもののg線に対しては高透光性を示さない
というものや、逆にgjaに対しては高透光性を示すが
i線に対しては高透光性を示さないといったものであり
、 i線ステッパーとg線ステッパーとでそれぞれに適
した防塵膜を用意して使い分けなければならないという
繁雑さがある。
ることであるが、前記従来のものは、 i線に対して高
透光性を示すもののg線に対しては高透光性を示さない
というものや、逆にgjaに対しては高透光性を示すが
i線に対しては高透光性を示さないといったものであり
、 i線ステッパーとg線ステッパーとでそれぞれに適
した防塵膜を用意して使い分けなければならないという
繁雑さがある。
本発明は、このような点に鑑みなされものであり、 i
線及びg線のいずれにも高透光性を示す防塵膜を提供す
ることを目的とする。
線及びg線のいずれにも高透光性を示す防塵膜を提供す
ることを目的とする。
前記問題点を解決する本発明の防塵膜はセルロースエス
テル類からなり、波長365nm及び436nImの光
の透過率がいずれも98%以上である。
テル類からなり、波長365nm及び436nImの光
の透過率がいずれも98%以上である。
ここで、前記セルロースエステルがプロピオン酸セルロ
ースであり、また、膜厚が1.45〜1.48μm、
2.18〜2.21μm、 2.92〜2.95μz、
L65〜3.68μL 4.39〜4.41μ夏の内
、いずれかの範囲に属するとき、本発明の効果が最大限
に発揮される。
ースであり、また、膜厚が1.45〜1.48μm、
2.18〜2.21μm、 2.92〜2.95μz、
L65〜3.68μL 4.39〜4.41μ夏の内
、いずれかの範囲に属するとき、本発明の効果が最大限
に発揮される。
本発明の防塵膜は、波長が365nm及び436na+
の光の透過率がいずれも98%以上であるため、i線ス
テッパー及びg線ステッパーのいずれにも使用できる。
の光の透過率がいずれも98%以上であるため、i線ス
テッパー及びg線ステッパーのいずれにも使用できる。
本発明において、セルロースエステルとしては、例えば
ニトロセルロース、酢酸セルロース、硫酸セルロース、
リン酸セルロース、あるいはプロピオン酸セルロースの
ような脂肪酸セルロース等があるが、好ましく使用され
るのはニトロセルロースまたはプロピオン酸セルロース
であり、とくにプロピオン酸セルロースが好ましく使用
される。
ニトロセルロース、酢酸セルロース、硫酸セルロース、
リン酸セルロース、あるいはプロピオン酸セルロースの
ような脂肪酸セルロース等があるが、好ましく使用され
るのはニトロセルロースまたはプロピオン酸セルロース
であり、とくにプロピオン酸セルロースが好ましく使用
される。
本発明の防塵膜は、セルロースエステルの有機溶媒溶液
から回転製膜法により製造できる。セルロースエステル
に対する有機溶媒としては、メチルイソブチルケトン(
MIBK)、アセトン、メチルエチルケトン、メチルプ
ロピルケトン、ジエチルケトン、ジイソブチルケトン、
シクロペンタノン、シクロヘキサノン、ジアセトンアル
コール等のケトン系溶媒が好適に使用できる。目的とす
る膜厚、膜厚均一性を得るために、最も効率の良い溶媒
を選定する。
から回転製膜法により製造できる。セルロースエステル
に対する有機溶媒としては、メチルイソブチルケトン(
MIBK)、アセトン、メチルエチルケトン、メチルプ
ロピルケトン、ジエチルケトン、ジイソブチルケトン、
シクロペンタノン、シクロヘキサノン、ジアセトンアル
コール等のケトン系溶媒が好適に使用できる。目的とす
る膜厚、膜厚均一性を得るために、最も効率の良い溶媒
を選定する。
むろん、有機溶媒は上述したものに限定されず、例えば
メタノール、エタノール等のアルコール類、テトラヒド
ロフラン、1,2−ジメトキシエタン、l。
メタノール、エタノール等のアルコール類、テトラヒド
ロフラン、1,2−ジメトキシエタン、l。
2−ジェトキシエタン等のエタール類、酢酸エチル、酢
酸プロピル、乳酸エチル、ギ酸ブチル、酢酸ブチル等の
エステル類も単独又は2種以上の組み合わせで使用し得
ることが了解されるべきである。
酸プロピル、乳酸エチル、ギ酸ブチル、酢酸ブチル等の
エステル類も単独又は2種以上の組み合わせで使用し得
ることが了解されるべきである。
メチルイソブチルケトン等の溶媒に対するセルロースエ
ステルの重量比は、30:1〜10: 1 、好適には
20:1〜10:1の範囲内にあるのがよい。
ステルの重量比は、30:1〜10: 1 、好適には
20:1〜10:1の範囲内にあるのがよい。
このセルロースエステルの溶液をそのまま使用して回転
製膜法により製膜してもよいが、異物の除去のため、濾
過した後に薄膜に成形した方が良い。濾過は例えば0.
2μ訳のフィルタを用いた加圧濾過方法による。
製膜法により製膜してもよいが、異物の除去のため、濾
過した後に薄膜に成形した方が良い。濾過は例えば0.
2μ訳のフィルタを用いた加圧濾過方法による。
また、セルロースエステル溶液から分別沈澱法により高
分子量のものを予め除去しておくときには、生成する薄
膜の膜厚の分布が均一となり、且つ光学的特性も顕著に
向上する。
分子量のものを予め除去しておくときには、生成する薄
膜の膜厚の分布が均一となり、且つ光学的特性も顕著に
向上する。
さらに前記有機溶媒に対して混和性を有するがプロピオ
ン酸セルロースに対しては貧溶媒である第二の有機溶媒
を前記プロピオン酸セルロースの有機溶媒溶液に添加し
て、プロピオン酸セルロース中の高分子mセルロース、
さらに好ましくは高分子量成分と共にゲル状物、低溶解
度不純物等を析出させ、前記溶液から高分子量プロピオ
ン酸セルロースを分離し、分離後のプロピオン酸セルロ
ース溶液を回転製膜法により製膜するとよい。
ン酸セルロースに対しては貧溶媒である第二の有機溶媒
を前記プロピオン酸セルロースの有機溶媒溶液に添加し
て、プロピオン酸セルロース中の高分子mセルロース、
さらに好ましくは高分子量成分と共にゲル状物、低溶解
度不純物等を析出させ、前記溶液から高分子量プロピオ
ン酸セルロースを分離し、分離後のプロピオン酸セルロ
ース溶液を回転製膜法により製膜するとよい。
このように高分子量のものを分別沈澱させであるいは貧
溶媒を用いて除去することにより、製膜用原料溶液の安
定性や濾過性、更には成膜性能を高め、また、これによ
り得られる薄膜の厚みの分布を均一化し、且つ光学的特
性を顕著に向上させることが可能となる。
溶媒を用いて除去することにより、製膜用原料溶液の安
定性や濾過性、更には成膜性能を高め、また、これによ
り得られる薄膜の厚みの分布を均一化し、且つ光学的特
性を顕著に向上させることが可能となる。
本発明の好適態様に従い、貧溶媒添加前のセルロースエ
ステル溶液にメチルアルコールを配合すると、貧溶媒を
添加した時の高分子量セルロースエステルの析出速度が
速くなる。メチルアルコールの添加量はメチルイソブチ
ルケトンと等容量以下に設定するのが好ましい。この場
合、貧溶媒の添加量はメチルイソブチルケトンとメチル
アルコールの合計容重以上とするのが好適である。
ステル溶液にメチルアルコールを配合すると、貧溶媒を
添加した時の高分子量セルロースエステルの析出速度が
速くなる。メチルアルコールの添加量はメチルイソブチ
ルケトンと等容量以下に設定するのが好ましい。この場
合、貧溶媒の添加量はメチルイソブチルケトンとメチル
アルコールの合計容重以上とするのが好適である。
セルロースエステルに対する貧溶媒としては、ヘキサン
、ヘプタン、メチルシクロヘキサン、シクロヘキサン、
トルエン、オクタン、ツルベントナフタ、シクロナツタ
、キシレン等が挙げられるが、この貧溶媒は後に加熱し
て脱溶媒する必要上、メチルイソブチルケトンの溶媒の
沸点よりその沸点が低いもの、特にヘキサン、ヘプタン
、メチルシクロヘキサン、シクロヘキサン等の脂肪族炭
化水素又は指環族炭化水素で、炭素数が5乃至10のも
のが有利である。入手に容易さやコストの面でヘキサン
が有利である。
、ヘプタン、メチルシクロヘキサン、シクロヘキサン、
トルエン、オクタン、ツルベントナフタ、シクロナツタ
、キシレン等が挙げられるが、この貧溶媒は後に加熱し
て脱溶媒する必要上、メチルイソブチルケトンの溶媒の
沸点よりその沸点が低いもの、特にヘキサン、ヘプタン
、メチルシクロヘキサン、シクロヘキサン等の脂肪族炭
化水素又は指環族炭化水素で、炭素数が5乃至10のも
のが有利である。入手に容易さやコストの面でヘキサン
が有利である。
貧溶媒の添加量は、容積比で貧溶媒/溶媒=0.5〜1
.5であるのが好ましく、実使用上は0.6〜1.0が
好適である。メチルイソブチルケトン等の溶媒の量より
貧溶媒の量が少ないと、高分子量セルロースエステル等
の析出作用が思うように行なわれない。貧溶媒(ヘキサ
ン)とメチルイソブチルケトンの容積比を変化させるこ
とにより、たとえばプロピオン酸セルロースの平均分子
量がどのように変化するかを調べたところ、貧溶媒の添
加量が増えるほどプロピオン酸セルロースの平均分子量
が減ること、すなわち、高分子量分が析出されることが
理解できる。但し、貧溶媒の添加量が多すぎると、得る
べきプロピオン酸セルロースの精製溶液の収量が少なく
なり、生産性が劣ることとなる。
.5であるのが好ましく、実使用上は0.6〜1.0が
好適である。メチルイソブチルケトン等の溶媒の量より
貧溶媒の量が少ないと、高分子量セルロースエステル等
の析出作用が思うように行なわれない。貧溶媒(ヘキサ
ン)とメチルイソブチルケトンの容積比を変化させるこ
とにより、たとえばプロピオン酸セルロースの平均分子
量がどのように変化するかを調べたところ、貧溶媒の添
加量が増えるほどプロピオン酸セルロースの平均分子量
が減ること、すなわち、高分子量分が析出されることが
理解できる。但し、貧溶媒の添加量が多すぎると、得る
べきプロピオン酸セルロースの精製溶液の収量が少なく
なり、生産性が劣ることとなる。
貧溶媒を添加した後、デカンテーションや遠心分離等の
手段で高分子量セルロースエステルのみを除去したセル
ロースエステル溶液を得、さらに、残留している貧溶媒
を脱溶媒し、セルロースエステルの精製溶液を得る。脱
溶媒の手段はメチルイソブチルケトンの沸点以下で貧溶
媒の沸点以上に加熱して、貧溶媒を蒸発させてしまうこ
とにより行う。その際セルロースエステル溶液を減圧下
に置いてもよい。
手段で高分子量セルロースエステルのみを除去したセル
ロースエステル溶液を得、さらに、残留している貧溶媒
を脱溶媒し、セルロースエステルの精製溶液を得る。脱
溶媒の手段はメチルイソブチルケトンの沸点以下で貧溶
媒の沸点以上に加熱して、貧溶媒を蒸発させてしまうこ
とにより行う。その際セルロースエステル溶液を減圧下
に置いてもよい。
セルロースエステル溶液の濃度や粘度を調整することに
より薄膜の厚みは種々変化させ得るが、波長365nm
及び436nmのいずれの光に対しても透過率が98%
以上とするには、0.72〜0.75μN、 1.45
〜1.48μm、 2.18〜2.21μm、 2.9
2〜2.95μm、3.65〜3.68μ真、 4.3
9〜4.41μ度のものがよく、強度や取り扱いの面で
1.45μm以上で前記範囲内のものが良い。
より薄膜の厚みは種々変化させ得るが、波長365nm
及び436nmのいずれの光に対しても透過率が98%
以上とするには、0.72〜0.75μN、 1.45
〜1.48μm、 2.18〜2.21μm、 2.9
2〜2.95μm、3.65〜3.68μ真、 4.3
9〜4.41μ度のものがよく、強度や取り扱いの面で
1.45μm以上で前記範囲内のものが良い。
ここで、回転製膜法に使用する装置の一例について説明
する。この装置は第1図に示すように、回転駆動される
ターンテーブル1上に基板2を載置したもので、この基
板2を回転体とし、基板2の上面を水平に保って水平面
3としたものである。
する。この装置は第1図に示すように、回転駆動される
ターンテーブル1上に基板2を載置したもので、この基
板2を回転体とし、基板2の上面を水平に保って水平面
3としたものである。
そして、この水平面3にセルロースエステル溶液をノズ
ル4から供給してターンテーブルを回すと、基板2も回
転し、その遠心力でセルロースエステル溶液が水平面3
に沿って薄く広がり、セルロースエステル薄膜が成形さ
れる。
ル4から供給してターンテーブルを回すと、基板2も回
転し、その遠心力でセルロースエステル溶液が水平面3
に沿って薄く広がり、セルロースエステル薄膜が成形さ
れる。
基板2の回転速度は通常400〜4000rpm、好ま
しくは500〜3000rpmがよいが、定速で回転さ
せるだけでなく、立ち上がりは低速(200〜1010
00rpとし、途中から高速(400〜4000rpm
)としても良い。
しくは500〜3000rpmがよいが、定速で回転さ
せるだけでなく、立ち上がりは低速(200〜1010
00rpとし、途中から高速(400〜4000rpm
)としても良い。
また、基板2の水平面3に離型剤を予め塗布しておくと
、薄膜を水平面から剥がしやすい。
、薄膜を水平面から剥がしやすい。
以下、本発明の実施例、比較例について説明する。
〈実施例f〉
プロピオン酸セルロース〔アルドリッチ社製ハイモレキ
ュラーウェートゲレード) 1339を、シクロへキ
サノンl 7619に溶解し、0.20μmのフィルタ
で濾過し、この溶液をガラス基板上に流延し、780
rpmで回転製膜した。その後140℃で5分間乾燥し
た後、ガラス基板より剥離し、アルミニウム製の支持枠
に接着した。得られた膜の厚さは1.462μlであり
、分光光度計により測定した光透過率は、波長365n
mの光に対して99.6%であり、波長436nmの光
に対して99.8%であった。
ュラーウェートゲレード) 1339を、シクロへキ
サノンl 7619に溶解し、0.20μmのフィルタ
で濾過し、この溶液をガラス基板上に流延し、780
rpmで回転製膜した。その後140℃で5分間乾燥し
た後、ガラス基板より剥離し、アルミニウム製の支持枠
に接着した。得られた膜の厚さは1.462μlであり
、分光光度計により測定した光透過率は、波長365n
mの光に対して99.6%であり、波長436nmの光
に対して99.8%であった。
〈実施例2〉
プロピオン酸セルロース〔アルドリッチ社製ハイモレキ
ュラーウェートゲレード〕80gを、メチルイソブチル
ケトン1209に溶解し、この溶液に攪拌しながらヘキ
サンを滴下し、−晩装置した後上澄み液を1μmのフィ
ルタで濾過し溶媒を留去した。これを3709のメチル
イソブチルケトンで溶液とし0.2μlのフィルタで濾
過した後、ガラス基板上に流延し、22Orpmで回転
製膜した。その後100℃で5分間乾燥した後、ガラス
基板より剥離し、アルミニウム製の支持枠に接着した。
ュラーウェートゲレード〕80gを、メチルイソブチル
ケトン1209に溶解し、この溶液に攪拌しながらヘキ
サンを滴下し、−晩装置した後上澄み液を1μmのフィ
ルタで濾過し溶媒を留去した。これを3709のメチル
イソブチルケトンで溶液とし0.2μlのフィルタで濾
過した後、ガラス基板上に流延し、22Orpmで回転
製膜した。その後100℃で5分間乾燥した後、ガラス
基板より剥離し、アルミニウム製の支持枠に接着した。
得られた膜の厚さは2.205μmであり、分光光度計
により測定した光透過率は、波長365nmの光に対し
て99.1%であり、波長436nmの光に対して99
.0%であった。
により測定した光透過率は、波長365nmの光に対し
て99.1%であり、波長436nmの光に対して99
.0%であった。
〈実施例3〜5〉
実施例2と同様にして膜厚が2,298μm、 3.6
61μm、 4.396μmのものを製造し、光透過率
を測定した。結果は第1表に示す。
61μm、 4.396μmのものを製造し、光透過率
を測定した。結果は第1表に示す。
く比較例1〉
プロピオン酸セルロース〔アルドリッチ社製ハイモレキ
ュラーウェートゲレード) 140gを、シクロへキ
サノン1828gに溶解し、0.45μlのフィルタで
濾過し、この溶液をガラス基板上に流延し、410rp
mで回転製膜した。その後130℃で5分間乾燥した後
、ガラス基板より剥離し、アルミニウム製の支持枠に接
着した。得られた膜の厚さは2.30μmであり、分光
光度計により測定した光透過率は、波長365nmの光
に対して93゜2%であり、波長436nmの光に対し
て89.3%であった。
ュラーウェートゲレード) 140gを、シクロへキ
サノン1828gに溶解し、0.45μlのフィルタで
濾過し、この溶液をガラス基板上に流延し、410rp
mで回転製膜した。その後130℃で5分間乾燥した後
、ガラス基板より剥離し、アルミニウム製の支持枠に接
着した。得られた膜の厚さは2.30μmであり、分光
光度計により測定した光透過率は、波長365nmの光
に対して93゜2%であり、波長436nmの光に対し
て89.3%であった。
く比較例2〉
実施例2と同様に調製した溶液を用いて300rplで
回転製膜し、同様の後処理を施して厚さ1.739μm
の膜を得た。この膜の光透過率は波長365nmの光に
対して87.1%であり、波長436nmの光に対して
99.9%であった。
回転製膜し、同様の後処理を施して厚さ1.739μm
の膜を得た。この膜の光透過率は波長365nmの光に
対して87.1%であり、波長436nmの光に対して
99.9%であった。
〈比較例3〜5〉
実施例2と同様にして膜厚が2.590μm’、 3.
394μm、 3.881μlのものを製造し、光透過
率を測定した。結果は第1表に示す。
394μm、 3.881μlのものを製造し、光透過
率を測定した。結果は第1表に示す。
(本頁、以下余白)
第1表
〔発明の効果〕
本発明の防塵膜は、波長が365nn+及び436nm
の光の透過率がいずれも98%以上であるため、 i線
ステッパー及びg線ステッパーのいずれにも使用でき、
よって、従来のように、 i線ステッパーとg線ステッ
パーに対応してそれぞれに専用の防塵膜を製造し、使い
分けなくとも良いため、経済的であると面時に、フォト
リゾグラフィー工程を容易にすることができる。
の光の透過率がいずれも98%以上であるため、 i線
ステッパー及びg線ステッパーのいずれにも使用でき、
よって、従来のように、 i線ステッパーとg線ステッ
パーに対応してそれぞれに専用の防塵膜を製造し、使い
分けなくとも良いため、経済的であると面時に、フォト
リゾグラフィー工程を容易にすることができる。
第1図は本発明のセルロースエステル薄膜の製造方法に
使用する装置の斜視図である。 ■・・・ターンテーブル、2・・・基板、3・・・水平
面。
使用する装置の斜視図である。 ■・・・ターンテーブル、2・・・基板、3・・・水平
面。
Claims (3)
- (1)セルロースエステル類からなり、波長365nm
及び436nmの光の透過率がいずれも98%以上であ
ることを特徴とする防塵膜。 - (2)前記セルロースエステルがプロピオン酸セルロー
スであることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
防塵膜。 - (3)膜厚が1.45〜1.48μm、2.18〜2.
21μm、2.92〜2.95μm、3.65〜3.6
8μm、4.39〜4.41μmの内、いずれかの範囲
に属すること特徴とする特許請求の範囲第1項記載の防
塵膜。
Priority Applications (11)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62290882A JPH01133052A (ja) | 1987-11-18 | 1987-11-18 | 防塵膜 |
CA000580730A CA1330860C (en) | 1987-10-26 | 1988-10-20 | Dust-proof film |
MYPI88001207A MY103629A (en) | 1987-10-26 | 1988-10-22 | Dust-proof film |
KR1019880013854A KR910009610B1 (ko) | 1987-10-26 | 1988-10-24 | 방진막 |
EP88309983A EP0314418B1 (en) | 1987-10-26 | 1988-10-24 | Dust-proof film |
AT88309983T ATE171550T1 (de) | 1987-10-26 | 1988-10-24 | Staubschutzschicht |
SG1996001337A SG47433A1 (en) | 1987-10-26 | 1988-10-24 | Dust-proof film |
ES88309983T ES2124686T3 (es) | 1987-10-26 | 1988-10-24 | Pelicula anti-polvo. |
DE3856253T DE3856253T2 (de) | 1987-10-26 | 1988-10-24 | Staubschutzschicht |
US07/262,809 US5028702A (en) | 1987-10-26 | 1988-10-26 | Dust-proof film |
HK98103210A HK1003950A1 (en) | 1987-10-26 | 1998-04-17 | Dust-proof film |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62290882A JPH01133052A (ja) | 1987-11-18 | 1987-11-18 | 防塵膜 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01133052A true JPH01133052A (ja) | 1989-05-25 |
Family
ID=17761730
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62290882A Pending JPH01133052A (ja) | 1987-10-26 | 1987-11-18 | 防塵膜 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01133052A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20170114977A (ko) | 2016-04-05 | 2017-10-16 | 아사히 가세이 가부시키가이샤 | 펠리클 |
KR20190038369A (ko) | 2017-09-29 | 2019-04-08 | 아사히 가세이 가부시키가이샤 | 펠리클 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6235359A (ja) * | 1985-08-09 | 1987-02-16 | Daicel Chem Ind Ltd | コ−テツド薄膜の製造法 |
JPS6239859A (ja) * | 1985-08-14 | 1987-02-20 | Daicel Chem Ind Ltd | フオトマスク保護用樹脂薄膜の製法 |
JPS62127801A (ja) * | 1985-11-27 | 1987-06-10 | ユン−ツアイ、イエン | 反射防止被膜を有する複合光学用素子 |
-
1987
- 1987-11-18 JP JP62290882A patent/JPH01133052A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6235359A (ja) * | 1985-08-09 | 1987-02-16 | Daicel Chem Ind Ltd | コ−テツド薄膜の製造法 |
JPS6239859A (ja) * | 1985-08-14 | 1987-02-20 | Daicel Chem Ind Ltd | フオトマスク保護用樹脂薄膜の製法 |
JPS62127801A (ja) * | 1985-11-27 | 1987-06-10 | ユン−ツアイ、イエン | 反射防止被膜を有する複合光学用素子 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR20170114977A (ko) | 2016-04-05 | 2017-10-16 | 아사히 가세이 가부시키가이샤 | 펠리클 |
KR20190038369A (ko) | 2017-09-29 | 2019-04-08 | 아사히 가세이 가부시키가이샤 | 펠리클 |
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