JPH01124716A - シンクロトロン放射光用ビームモニタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、シンクロトロン放射光用ビームモニタに関す
る。

［従来の技術］ シンクロトロン放射光射光を使用する場合、装置の調整
のため、シンクロトロン放射光ビームの高さを測定する
必要がある。

第４図は、従来のシンクロトロン放射光用ビームモニタ
の一例を示す斜視図である。従来より、シンクロトロン
放射光は強度が大き過ぎるため、第４図に示す如く、減
衰板７を透過させたのち、ビームを螢光板８に照射して
、螢光板８の発光点を検出することにより、ビームの高
さを測定していた。

［発明が解決しようとする問題点］ しかしながら、上記従来のビームモニタでは、減衰板と
螢光板の２枚の板を使用するため、広い設置のスペース
が必要であった。また、測定後ビームモニタをシンクロ
トロン放射光の光路から退避させる際も、２枚の板を操
作しなければならないというわずられしさがあった。

本発明の目的は、ビームモニタの構成を簡素化し、狭い
場所にも取付は可能で操作の簡単なシンクロトロン放射
光用ビームモニタを提供することにある。

゛　［問題点を解決するための手段］ 本発明は、シンクロトロン放射光を螢光板に照射し、螢
光板の発光を検出することによりビーム位置を測定する
ビームモニタにおいて、放射光に照射される側と反対の
面に螢光塗料を塗布した薄板を螢光板として使用するこ
とを特徴とするシンクロトロン放射光用ビームモニタで
ある。

［作用］ 本発明においては、薄板の裏面を螢光板として使用し、
その発光によりシンクロトロン放射光の位置を測定する
ため、１枚の板を減衰板、螢光板の両方に使用でき、構
造が単純となり、操作も簡単である。

［実施例］ 以下、本発明の実施例について、第１〜第３図を参照し
て詳細に説明する。

第１図は、本発明の一実施例を示す斜視図である。第１
図において、シンクロトロン放射光１は薄板２を透過し
、その裏側の螢光面３のビームが通過した部分を発光さ
せ、ビームの位置を測定可能とする。薄板２の材質およ
び厚さを適切に選ぶことにより、螢光の明るさを調節し
、適度の明るさとすることができる。薄板２の材料とし
ては、例えば０．５ｍｍ程度の厚さのアルミニウム板を
使用することができる。

□第２図は、本発明の別の一実施例を示す平面図である
。同図において、薄板２は回転軸４を中心にして回動す
る。図中５は、薄板２のシンクロトロン放射光１に対す
る傾斜角θである。この傾斜角θを変化させることによ
りシンクロトロン放射光１が薄板２中を通過する距離が
変わるので、透過するシンクロトロン放射光量が変化し
、螢光面の輝度を調整することが可能である。

ざらに、第３図に本発明の別な一実施例を示すように、
もう１枚の螢光板６を同一光路上で使用することにより
、同時に２ケ所でビーム位置を測定することもできる。

［発明の効果］ 以上、詳述した如く、本発明によればシンクロトロン放
射光の位置を簡単な構成の装置で測定することができ、
狭い場所にも取付可能で、操作の簡単なシンクロトロン
放射光用ビームモニタを提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す斜視図、第２図は本発
明の別の一実施例を示す平面図、第３図は本発明のざら
に別の一実施例を示す平面図、第４図は従来例によるシ
ンクロトロン放射光用ビームモニタを示す斜視図である
。 １・・・シンクロトロン放射光　　２・・・薄板３・・
・螢光面　　　　　　　　　４・・・回転軸５・・・薄
板と光軸とのなす傾斜角

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）シンクロトロン放射光を螢光板に照射し、螢光板
   の発光を検出することによりビーム位置を測定するビー
   ムモニタにおいて、放射光に照射される側と反対の面に
   螢光塗料を塗布した薄板を螢光板として使用することを
   特徴とするシンクロトロン放射光用ビームモニタ。