JPS61120003A - 赤外線厚さ測定装置 - Google Patents

赤外線厚さ測定装置

Info

Publication number
JPS61120003A
JPS61120003A JP24166384A JP24166384A JPS61120003A JP S61120003 A JPS61120003 A JP S61120003A JP 24166384 A JP24166384 A JP 24166384A JP 24166384 A JP24166384 A JP 24166384A JP S61120003 A JPS61120003 A JP S61120003A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detector
reflecting plate
measured
infrared rays
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP24166384A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsutaka Emoto
江本 充孝
Hiroshi Shimoyama
下山 博
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Chino Corp
Original Assignee
Chino Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Chino Works Ltd filed Critical Chino Works Ltd
Priority to JP24166384A priority Critical patent/JPS61120003A/ja
Publication of JPS61120003A publication Critical patent/JPS61120003A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (1)発明の分野 この発明は、赤外線を用いて測定物体の厚さを測定する
装置に関するものである。
(2)従来技術 従来、フィルムのような測定物体の厚みを測定するには
、測定物体に赤外線投光し、測定物体を反射または透過
した赤外線の減衰量から測定物体の膜厚、厚さを測定し
ていた。
しかしながら、測定物体が薄い場合、透過形の測定方式
では、測定物体を透過した赤外線の十分な減衰量が得ら
れず、S /’ N比が悪く、測定精度が悪かった。ま
た、測定物体が透明な場合、従来の反射形の測定方式で
は、投光した光がほとんど測定物体を透過してしまい、
測定物体を反射した赤外線の十分な反射光が得られず、
やはり、測定精度があまり良くなかった。
(3)発明の目的 この発明の目的は、以上の点に鑑み、透明なフィルムの
ような測定物体の厚さを高精度に測定することができる
ようにした赤外線厚さ測定装置を提供することである。
(4)発明の概要 この発明は、投受光一体形の検出器と、この検出品と測
定物体をはさんだ反対側に設【プられた反射板とを備え
、検出器から投光された赤外線は、測定物体を通過し、
反射板で反射され、再び測定物体を透過して検出器に入
射されるようにし、測定物体の厚さを測定するようにし
た赤外線厚さ測定装置である。
(5)発明の実施例 第1図は、この発明の一実施例を示す構成説明図である
図に、13いて、1は、投受光一体形の検出器、2は1
紙上に垂直に走行する透明フィルムのような測定物体3
をはざんで検出器1と対向する反対mlの位置に設けら
れた反射板、4は、支持フレームで、上方フレーム41
は検出器1を支持、走行・しない走行手段、制御手段に
より常に対向した位置で、同期して移動するようになっ
ている。また、反射板2は、アルミニウムの表面にアル
マイト処理を施し、ナシ刑法とされた拡散面となってい
る。
つまり、検出器1と反射板2とは、測定物体3の幅方向
を往復走査し、各点の厚みを測定する。
検出器1からの赤外線は、測定物体3を透過し、反射板
2滲反射し、再び測定物体3を透過し、検出器1に入射
する。
測定が確実で、測定精度が向上する。
検出器1から投受光される赤外線として、例えば単一波
長のものを用い、その戻ってくる赤外線の減衰量から測
定物体3の厚さを測定してもよい。
また第2図で示すように、光源1oの光を回転セクタ1
1により測定物体3が吸収する波長λ1と吸収しない波
長λ2との光に分離して反射ミラーM1より投光し、回
面鏡M2により集光し、検出器12により検出するよう
にしてもよい。
また、第3図で示すように、測定物体3のフィルムのベ
ース30が、不透明である場合、そのベース30がアル
ミニムのように表面反射性を有する場合、反射板2を用
いず、そのベース30で赤外線を反射させ同一装置で測
定できる。また、第4図で示すように、ベース31が透
明である場合、反(ト)仮2を利用して同様に測定が可
能である。
また、測定物体が多層フィルムである場合、例えば特公
昭58−9362号公報で示される演算手段を用い、同
様に測定か可能である。
(6)発明の効果 ■投受光一体形の検出器を用いているので、分離形で必
要な光軸調整は不要である。
■反射板を用いて、赤外線測定光を測定物体を211透
過するようにしているので、測定物体を透過する光の減
衰Mは2イ8となり、S y′N比が向上し、特l、:
e物のフィルムに対し測定精度が大幅に向上する。
■同一ライン、測定M置で、透明フィルム、透明ベース
上のコート債、不透明ベース上のコート予の各種の厚み
の測定ができる。
■散乱面を有する反射板を用いた場合、鏡面状反射板と
比べて反射板の角度変動による測定値変動が小さく、ま
た、散乱光による計測のため測定物体の位置変動に対し
、測定値への外乱の影響が少い。
■反射板が検出器と同期するため、幅広の反射板は不要
であり、材料費、工事費が安価に、幅広のフィルムの測
定が行える。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図、第3図、第4図は、この発明の一実施
例を示す構成説明図である。 1・・・検出器、 2・・−反射板、 3・・・測定物
体、4・・・支持フレーム 特許出願人 株式会社 千野製作所 謬10 争2回

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、投受光一体形の検出器と、この検出器と測定物体を
    はさんだ反対側に設けられた反射板とを備え、検出器か
    ら投光された赤外線は、測定物体を透過し反射板で反射
    され、再び測定物体を透過して検出器に入射されるよう
    にし、測定物体の厚さを測定することを特徴とする赤外
    線厚さ測定装置。 2、前記反射板の表面を拡散面としたことを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載の赤外線厚さ測定装置。 3、前記検出器と反射板とを同期して移動させるように
    したことを特徴とする特許請求の範囲第1項または第2
    項記載の赤外線厚さ測定装置。
JP24166384A 1984-11-16 1984-11-16 赤外線厚さ測定装置 Pending JPS61120003A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24166384A JPS61120003A (ja) 1984-11-16 1984-11-16 赤外線厚さ測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24166384A JPS61120003A (ja) 1984-11-16 1984-11-16 赤外線厚さ測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61120003A true JPS61120003A (ja) 1986-06-07

Family

ID=17077665

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24166384A Pending JPS61120003A (ja) 1984-11-16 1984-11-16 赤外線厚さ測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61120003A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006348941A (ja) * 2005-06-14 2006-12-28 Alstom Technology Ltd 蒸気タービン
JP2007021743A (ja) * 2005-07-12 2007-02-01 Dainippon Printing Co Ltd 見当マーク検出装置および印刷ユニット

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS49134351A (ja) * 1973-04-25 1974-12-24
JPS511135A (ja) * 1974-06-24 1976-01-07 Nippon Telegraph & Telephone

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS49134351A (ja) * 1973-04-25 1974-12-24
JPS511135A (ja) * 1974-06-24 1976-01-07 Nippon Telegraph & Telephone

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006348941A (ja) * 2005-06-14 2006-12-28 Alstom Technology Ltd 蒸気タービン
JP2007021743A (ja) * 2005-07-12 2007-02-01 Dainippon Printing Co Ltd 見当マーク検出装置および印刷ユニット

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4873430A (en) Method and apparatus for optically measuring characteristics of a thin film by directing a P-polarized beam through an integrating sphere at the brewster's angle of the film
US4429225A (en) Infrared thickness measuring device
US3631526A (en) Apparatus and methods for eliminating interference effect errors in dual-beam infrared measurements
US8314388B2 (en) Single-sided infrared sensor for thickness or weight measurement of products containing a reflective layer
JPH0678892B2 (ja) 被膜厚さ測定器
JPS5839931A (ja) 赤外線を使用してプラスチツクフイルムの特性を測定する方法
JPH08114421A (ja) 透明材料からなる物体の厚さの非接触型測定装置
EP0453797A2 (en) Infrared ray moisture meter
JPH0467889B2 (ja)
KR840002359B1 (ko) 적외선 필름 두께 측정기
JPS61120003A (ja) 赤外線厚さ測定装置
JPS58216903A (ja) 厚さ測定装置
US4592650A (en) Apparatus for projecting a pattern on a semiconductor substrate
JPS622113A (ja) 反射光による表面粗さ計
JPH05500853A (ja) ガラス管壁の厚さを決定するための方法及び装置
JPH03115911A (ja) 透光体の厚み測定装置
JPS63145929A (ja) 赤外温度測定装置
JP2890699B2 (ja) 非接触式配向計
JPH03115915A (ja) 厚み測定装置
JP2906613B2 (ja) 水分量測定装置
JP3309537B2 (ja) フーリエ変換分光光度計
JP2576457Y2 (ja) シ―ト状物体の特性測定装置
JPH0569165B2 (ja)
JPH1123233A (ja) 赤外線膜厚計および赤外線膜厚測定法
JPS6332355A (ja) 光吸収率測定方法