RU1772619C

RU1772619C - Способ контрол качества поверхности издели

Info

Publication number: RU1772619C
Application number: SU904848993A
Authority: RU
Inventors: Виктор Владимирович Имшенецкий; Зоя Владимировна Новаковская; Богдан Степанович Югас
Original assignee: Львовский политехнический институт им.Ленинского комсомола
Priority date: 1990-07-10
Filing date: 1990-07-10
Publication date: 1992-10-30

Abstract

Изобретение относитс к измерительной технике, в частности к области производства электронно-лучевых приборов, а именно к способам контрол качества алюминиевой пленки экранных покрытий электронно-лучевой трубки (ЭЛТ). Цель изобретени - обеспечение возможности определени отражательной способности алюминиевой пленки экранов ЭЛТ. КонтроЬ Уч Чч ч лируемый экран б устанавливают в фиксированное положение по отношению к источнику 1 излучени и фотоприемникам 2 и 3 на плиту 8 до упора к фиксаторам 7. Калибруют мощность излучени источника 1 излучени . Направл ют луч лазера нн экран б. Фото- приемник 2 располагают в максимуме диаграммы рассе ни и снимают показани измерительного устройства 4. Фотоприемник 3 располагают под углом 45-55&deg; относительно максимума и снимают показани измерительного устройства 5. С помощью градуировочных кривых производ т пересчет показаний измерительного устройства в коэффициент зеркального отражени , коэффициент диффузного отражени , коэффициент полного отражени , по которым определ ют отражательную способность алюминиевой пленки экрана, Перемеща экран по фиксаторам 7, обеспечивающим посто нство рассто ний и углов измер емого участка относительно источника 1 света и фотоприемников 2 и 3, определ ют отражательную способность алюминиевой пленки на поверхности всего экрана 6. 1 ил. Х| Х| ГО о 8

Description

Изобретение относитс к области производства электронно-лучевых приборов, а именно к способам контрол качества алюминиевой пленки экранных покрытий электронно-лучевой трубки (ЭЛТ).

Известен способ контрол отражательной способности алюминиевой пленки, основанный на измерении интегрального коэффициента отражени при помощи шарового фотоэлектрического спектрофотометра (спектрофотометр регистрирующий СФ-14).

Недостатком такого способа вл етс низка точность и производительность контрол отражательной способности алюминиевой пленки экранов ЭЛТ.

Наиболее близким к предлагаемому способу вл етс способ определени чистоты обработки поверхности материала по форме диаграммы рассе ни отраженного светового потока, котора характеризуетс ее отражательной способностью.

Недостатком данного способа вл етс невозможность определени отражательной способности алюминиевой пленки на экране ЭЛТ, вследствие того, что он имеет сферическую форму. А это обуславливает сложность обеспечени попадани светового луча в одну точку экрана при его повороте . Еще более сложно обеспечить необходимую точность измерений при контроле отражательной способности алюмини по всей поверхности экрана.

Цель изобретени - повышение точности и производительности контрол отражательной способности алюминиевой пленки экранов ЭЛТ.

Согласно предлагаемому способу устанавливают экран электронно-лучевой трубки в фиксированное положение по отношению к источнику излучени и двум фотоприемникам, направл ют световой поток от источника излучени на контролируемый участок поверхности экрана. Регистрируют отраженный от поверхности световой поток двум фотоприемниками одновременно в двух точках. Один из фотоприемников располагают в максимуме диаграммы рассе ни и по величине отраженного светового потока в максимуме определ ют величину зеркального отражени алюминиевой пленки экрана, а второй фотоприемник располагают под упом 45-55° от- носительно максимума и измер ют отраженный световой поток, который зависит от степени шероховатости алюминиевой пленки экрана. По его величине определ ют величину диффузного отражени . С помощью градуировочных кривых по величинам отраженных световых потоков,

измеренных фотоприемниками, наход т коэффициенты зеркального, диффузного и полного отражени .

Предлагаемый способ по сн етс чертежом .

На чертеже представлены: 1 - источник направленного излучени ; 2 - фотоприемник , расположенный в максимуме диаграммы рассе ни ; 3 - фотоприемник,

0 расположенный под углом 45°-55° относительно максимума диаграммы рассе ни ; 4 - измерительное устройство в цепи фотоприемника 2; 5 - измерительное устройство в цепи фотоприемника 3; 6 - алюминироваи5 ный экран ЭЛТ; 7 - фиксаторы экрана; 8 - плита установки.

Контролируемый экран 6 устанавливают в фиксированное положение по отноше- нию к источнику излучени 1 и

0 фотоприсмникам 2 и 3 на плиту 8 до упора к фиксаторам 7. Калибруют мощность излучени источника излучени 1 (лазер ЛГН-105). Направл ют луч лазера на контролируемый экран 6. Фотоприемник 2 (фотодиод ФД15 24 к) располагают в максимуме диаграммы рассе ни и снимают показани измерительного устройства 4 (усилитель на микросхеме К 140 УД7 с вольтметром на выходе) в цепи фотодиода ФДч.

0 Фотолриемник 3 (фотодиод ФДа-24 к) располагают под углом, например, 50° относительно максимума и снимают показани измерительного устройства 5 (усилитель на микросхеме К 140 УД7 с вольтметром на

5 выходе) в цепи фотодиода ФД2.

С помощью градуировочных кривых производ т пересчет показаний измерительного устройства в коэффициент зеркального отражени (цепь фотодиода ФД1),

0 коэффициент диффузного отражени (цепь фотодиода ФД2), коэффициент полного отражени (цепи фотодиодов ФДч и ФДз), по которым определ ют отражательную способность алюминиевой пленки экрана.

5 Перемеща экран по фиксаторам 7, обеспечивающим посто нство рассто ний и углов измер емого участка относительно источника света и фотоприемников, определ ют отражательную способность алюмини0 евой пленки на поверхности всего экрана.

Использование за вл емого изобретени позвол ет: с более высокой степенью точности контролировать отражательную способность пленки алюмини на экране

5 ЭЛТ по всей поверхности при их массовом производстве; повышает производительность измерений по контролю отражательной способности алюминиевой пленки экранов ЭЛТ; дает возможность дальнейшей корректировки технологических режи

мое нанесени пленки алюмини ; увеличи-целью обеспечени возможности определевать ркость свечени за счет улучшени ни отражательной способности алюминиеотражательной способности пленки алюми-вой пленки экрана электронно-лучевой

ни .трубки, регистрацию отраженного от поверФормула изобретени 5 хности светового потока производ т двум

Способ контрол качества поверхностифотоприемниками одновременно в двух точиздели , заключающийс в том, что направ-ках, соответственно в максимуме диаграммы

л ют световой поток от источника излуче-рассе ни и под углом 45-55 относительно

ни на контролируемый участокмаксимума, экран электронно-лучевой трубки

поверхности, регистрируют отраженный от10 устанавливают в фиксированное положение

поверхности световой поток, получают ди-по отношению к источнику излучени и фотоаграмму рассе ни отраженного от поверх-приемникам и определ ют отношение этих

ности светового потока и по форме этойпотоков, по которому суд т об отражательной

диаграммы суд т о качестве поверхностиспособности алюминиевой пленки экрана

издели , отличающийс тем, что, с15 электронно-лучевой трубки.