以下、添付図面を参照して本開示の技術的思想の実施例について詳細に説明する。図面上の同一の構成要素に対しては同一の参照符号を使用し、これらに対する重複説明は省略する。
図1は、本発明の例示的な実施例による調理装置(10)を示す斜視図である。図2は、図1の蓋アセンブリー(100)の主要構成を示す平面図である。図3は、図1の蓋アセンブリー(100)の主要構成を示す分離斜視図である。
図1~図3を参照すると、調理装置(10)は調理材料を調理できる調理空間を含む本体(200)と、前記本体(200)に設置された蓋アセンブリー(100)を含み得る。
本体(200)は調理材料を収容するように構成された内釜(図8Aの210)を収容し得る。内釜(210)は容器形態を有し、調理材料が収容される収容空間を有し得る。内釜(210)は本体(200)の調理空間内に分離可能に搭載され得る。例示的な実施例において、内釜(210)はその上段枠に外側に突出したフランジ部(図8Aの211)を含み得る。フランジ部(211)は内釜(210)の上段枠に沿って延び得る。内釜(210)の上段には内釜(210)の上段枠に沿って相互離隔された複数のフランジ部(211)が配置され得る。本体(200)は内釜(210)に収容された調理材料を加熱するための加熱源を含み得る。例えば、本体(200)は熱板方式のヒーターまたは誘導加熱方式で作動するヒーターを含み得る。
蓋アセンブリー(100)は本体(200)の調理空間及び/又は内釜(210)の収容空間を覆うことができる。蓋アセンブリー(100)は調理材料に対する調理が進められる間に、内釜(210)の収容空間に調理に適した圧力が形成されるように内釜(210)の収容空間及び/又は本体(200)の調理空間を密閉するように構成され得る。例示的な実施例において、蓋アセンブリー(100)は本体(200)の一側にヒンジ結合され、ヒンジ軸を基準として回動することができる。蓋アセンブリー(100)は内釜(210)の収容空間を覆う閉じられた位置と、内釜(210)の収容空間を開放する開かれた位置の間で回動することができる。例示的な実施例において、蓋アセンブリー(100)は本体(200)に分離可能に結合されることもできる。
蓋アセンブリー(100)は蓋カバー(101)、内釜カバー(110)、トッププレート(120)、回転カバー(130)、圧力制御装置(103)、ソレノイドバルブ(160)、ロック構造体(170)、及びプッシュ構造体(pushstructure)(190)を含み得る。
蓋カバー(101)は本体(200)に結合され得る。蓋カバー(101)は蓋アセンブリー(100)の外観を形成し得る。蓋カバー(101)は内部に各種の電装部品が設置され得る空間を提供することができる。
内釜カバー(110)は内釜(210)に向き合う蓋アセンブリー(100)の下部に配置され得る。内釜カバー(110)はトッププレート(120)及び/又は蓋カバー(101)に装着され得る。内釜カバー(110)は本体(200)に収容された内釜(210)を覆うことができる。内釜カバー(110)は内釜(210)の収容空間と連通する第1下部蒸気ホール(111H1)、第2下部蒸気ホール(111H2)、及び第3下部蒸気ホール(111H3)を含み得る。内釜カバー(110)の枠部には内釜(210)と内釜カバー(110)の間の密閉のためのパッキング(189)が装着されるパッキング装着溝が形成され得る。
トッププレート(120)は内釜カバー(110)上に配置され得る。トッププレート(120)は蓋カバー(101)内に配置され、蓋カバー(101)に結合され得る。トッププレート(120)は内釜カバー(110)の第1下部蒸気ホール(111H1)に連通する第1上部蒸気ホール(121H1)、第2下部蒸気ホール(111H2)に連通する第2上部蒸気ホール(121H2)、及び第3下部蒸気ホール(111H3)に連通する第3上部蒸気ホール(121H3)を含み得る。
回転カバー(130)はトッププレート(120)上に配置され得る。回転カバー(130)は概ねトッププレート(120)の枠に沿って延びたリング形態を有し得る。回転カバー(130)はトッププレート(120)の枠に沿って回転可能にトッププレート(120)に結合され得る。回転カバー(130)は回転軸方向(Z方向)に対し、第1回転方向(例えば、時計方向)及びこれに反対の第2回転方向(例えば、反時計方向)に回転するように構成され得る。
回転カバー(130)は蓋カバー(101)から突出している操作ハンドル(183)の回転に連動して回転するように構成され得る。操作ハンドル(183)の第1回転方向に沿う回転は回転カバー(130)の第1回転方向に沿う回転を引き起こし、操作ハンドル(183)の第2回転方向に沿う回転は回転カバー(130)の第2回転方向に沿う回転を引き起こし得る。
より具体的には、操作ハンドル(183)と回転カバー(130)は操作ハンドル(183)の回転時、操作ハンドル(183)の回転軸を基準に回動する連結レバー(図示せず)を通じて連結され得る。前記連結レバーの一端は操作ハンドル(183)に連結され、前記連結レバーの他端は回転カバー(130)の連結突起(131)に連結され得る。例えば、ユーザーの操作によって操作ハンドル(183)が回転すれば、操作ハンドル(183)の回転に連動して前記連結レバーが回動し、連結突起(131)を通じて連結レバーに連結された回転カバー(130)がトッププレート(120)の枠に沿って回転し得る。
回転カバー(130)はトッププレート(120)上で予め定められた回転角度範囲内で回転するように構成され得る。回転カバー(130)は回転カバー(130)の回転方向または回転カバー(130)の枠に沿って延びた回転拘束溝(133)を含み得る。回転拘束溝(133)は回転カバー(130)の回転移動を案内すると共に、回転カバー(130)の回転移動範囲を制限することができる。
より具体的には、ネジのような締結構造(185)は回転拘束溝(133)を通じて、回転拘束溝(133)の下にあるトッププレート(120)のボス(boss)(122)内に挿入され得る。回転カバー(130)の回転は前記締結構造(185)が回転拘束溝(133)の一端部にかかる位置から、前記締結構造(185)が回転拘束溝(133)の他端部にかかる位置の間で制限され得る。
圧力制御装置(103)は内釜(210)の収容空間の圧力レベルによって蒸気の排出を制御し、内釜(210)の収容空間の圧力を制御するように構成され得る。圧力制御装置(103)はトッププレート(120)上に装着された第1圧力制御装置(140)及び第2圧力制御装置(150)を含み得る。第1圧力制御装置(140)及び第2圧力制御装置(150)はそれぞれ重りを用いて内釜(210)の収容空間の圧力(即ち、蒸気圧)を予め定められた圧力で維持するように構成されたポアズバルブ(poisevalve)を含み得る。第1圧力制御装置(140)は第1下部蒸気ホール(111H1)及び第1上部蒸気ホール(121H1)を通じて内釜(210)の収容空間と連通する流路を有し得、前記流路に流入した蒸気を選択的に排出するように構成され得る。第2圧力制御装置(150)は第2下部蒸気ホール(111H2)及び第2上部蒸気ホール(121H2)を通じて内釜(210)の収容空間と連通する流路を有し得、前記流路に流入した蒸気を選択的に排出するように構成され得る。
第1圧力制御装置(140)は内釜(210)内に基準圧力(例えば、大気圧)より高い第1圧力を形成するように構成され、第2圧力制御装置(150)は内釜(210)内に第1圧力より高い第2圧力を形成するように構成され得る。例示的な実施例において、前記第1圧力は1.2kgf/cm2~1.8kgf/cm2の間であってもよい。例えば、前記第1圧力は1.5kgf/cm2であってもよい。例示的な実施例において、前記第2圧力は1.8kgf/cm2~2.4kgf/cm2の間であってもよい。例えば、前記第2圧力は2.1kgf/cm2であってもよい。
ソレノイドバルブ(160)はトッププレート(120)上に装着され得る。ソレノイドバルブ(160)は電気的制御信号によって内釜(210)の収容空間の蒸気を排出することで、内釜(210)の収容空間の圧力を調節するように構成され得る。ソレノイドバルブ(160)は第3下部蒸気ホール(111H3)及び第3上部蒸気ホール(121H3)を通じて内釜(210)の収容空間と連通する内部流路を含み得、電気的制御信号によって前記内部流路を選択的に開閉するように構成され得る。例えば、ソレノイドバルブ(160)は調理が完了した時点で前記内部流路を開放して内釜(210)内の残圧を外部に速かに放出するように構成され得る。
ロック構造体(170)は内釜(210)のフランジ部(211)にロックされるロック位置と、内釜(210)のフランジ部(211)に対してアンロックされるアンロック位置の間で移動するように構成され得る。ロック構造体(170)のロック位置とアンロック位置の間での転換は、回転カバー(130)の回転に連動してなされるように構成され得る。
ロック構造体(170)はトッププレート(120)上に装着され、選択的に内釜(210)のフランジ部(211)に噛み合うように構成された係止突起(図8Aの177)を含み得る。ロック構造体(170)のロック位置はロック構造体(170)の係止突起(177)が内釜(210)のフランジ部(211)と垂直方向に重畳する位置であり、ロック構造体(170)のアンロック位置はロック構造体(170)の係止突起(177)が内釜(210)のフランジ部(211)と垂直方向に重畳しない位置であってもよい。内釜(210)に入れられた調理材料に対する調理が進められる間、ロック構造体(170)はロック位置に位置し、係止突起(177)が内釜(210)に固定されることにより、内釜(210)と内釜カバー(110)の間、または内釜(210)とトッププレート(120)の間が堅固に固定され得る。ロック構造体(170)に対しては、図7、図8A、及び図8Bを参照してより詳細に後述する。
図4A及び図4Bは、蓋アセンブリー(100)の一部を示す断面図である。図5A及び図5Bは、プッシュ構造体(190)とシャッター構造体(147)の動作を示す概念図である。
図4Aは、シャッター構造体(147)が第1下部流路(141P)の流出口(141PO)を開放させるシャッター構造体(147)の開放位置にあるときの状態を示し、図4Bは、シャッター構造体(147)が第1下部流路(141P)の流出口(141PO)を閉鎖するシャッター構造体(147)の閉鎖位置にあるときの状態を示す。図5Aは、図4Aに対応したシャッター構造体(147)の開放位置にあるときの状態を示し、図5Bは、図4Bに対応したシャッター構造体(147)の閉鎖位置にあるときの状態を示す。
図1~図5Bを参照すると、第1圧力制御装置(140)は第1下部シリンダ(141)、第1上部シリンダ(143)、第1重り(145)、及びシャッター構造体(shutterstructure)(147)を含み得る。
第1下部シリンダ(141)は内釜(210)の収容空間と連通する第1下部流路(141P)を含み得る。第1下部流路(141P)はトッププレート(120)の第1上部蒸気ホール(121H1)及び内釜カバー(110)の第1下部蒸気ホール(111H1)を通じて内釜(210)の収容空間と連通することができる。第1下部流路(141P)はトッププレート(120)の第1上部蒸気ホール(121H1)に連通する流入口から、シャッター構造体(147)に対面する第1下部シリンダ(141)の一側面を通じて露出した流出口(141PO)まで延び得る。
第1上部シリンダ(143)は第1下部シリンダ(141)上に装着され得、第1上部流路(143P)を含み得る。第1上部流路(143P)は第1上部シリンダ(143)の下側に形成された流入口から、第1上部シリンダ(143)の上側に形成された流出口まで延び得る。
第1重り(145)は第1上部シリンダ(143)上に装着され得る。第1重り(145)は第1上部流路(143P)の流出口に挿入されるように構成された第1圧力突起(1451)を含み得る。第1圧力突起(1451)は第1上部流路(143P)に形成される蒸気圧のレベルによって、第1上部流路(143P)の流出口を開放または閉鎖することができる。
シャッター構造体(147)は第1下部流路(141P)の流出口(141PO)を開閉するように構成され得る。シャッター構造体(147)は第1下部流路(141P)の流出口(141PO)を開放する開放位置と、第1下部流路(141P)の流出口(141PO)を閉鎖する閉鎖位置の間で転換するように構成され得る。このようなシャッター構造体(147)の開放位置と閉鎖位置の間での転換は、後述するプッシュ構造体(190)により実現され得る。シャッター構造体(147)が第1下部流路(141P)の流出口(141PO)を開放する場合、第1下部流路(141P)と第1上部流路(143P)が互いに連通することができる。シャッター構造体(147)が第1下部流路(141P)の流出口(141PO)を閉鎖する場合、第1下部流路(141P)と第1上部流路(143P)が互いに分離され、互いに連通しないこともできる。
シャッター構造体(147)はシャッターフレーム(1471)、シャッターロッド(1473)、弾性カバー(1475)、及び第1弾性体(1477)を含み得る。
シャッターフレーム(1471)は第1下部シリンダ(141)に結合されて第1下部流路(141P)の流出口(141PO)と第1上部流路(143P)の流入口の間を連結する流路を形成し得る。シャッターロッド(1473)はシャッターフレーム(1471)に移動可能に装着され得る。シャッターロッド(1473)はシャッターフレーム(1471)の貫通ホールに挿入されて予め定められた移動範囲内で線状移動するように構成され得る。第1下部流路(141P)の流出口(141PO)と向き合うシャッターロッド(1473)の第1端部はシャッターフレーム(1471)の貫通ホールの直径より大きいサイズを有するように形成され得る。シャッターロッド(1473)の前記第1端部にはゴム等の優れた弾性を有する物質で形成された弾性カバー(1475)が結合され得る。弾性カバー(1475)はシャッターロッド(1473)の前記第1端部を覆うことができる。第1弾性体(1477)はシャッター構造体(147)の閉鎖位置から開放位置に向かう方向に、即ち、シャッターロッド(1473)の前記第1端部が第1下部流路(141P)の流出口(141PO)から遠くなる方向に、シャッターロッド(1473)を弾性支持するように構成され得る。即ち、シャッターロッド(1473)は第1弾性体(1477)により開放位置に弾性バイアスされ得る。例えば、第1弾性体(1477)は弾性スプリングであってもよい。第1弾性体(1477)はシャッターロッド(1473)の外周を取り囲み、第1弾性体(1477)はシャッターロッド(1473)の第2端部に隣接してシャッターロッド(1473)に固定された固定リング(1479)とシャッターフレーム(1471)の外側面の間に配置され得る。このように、シャッター構造体(147)の開放位置と閉鎖位置の間での転換はシャッターロッド(1473)の位置によって決定されるので、本明細書においてシャッター構造体(147)の開放位置は第1下部流路(141P)の流出口(141PO)を開放させるシャッターロッド(1473)の開放位置を意味し得、シャッター構造体(147)の閉鎖位置は第1下部流路(141P)の流出口(141PO)を閉鎖させるシャッターロッド(1473)の閉鎖位置を意味し得る。
プッシュ構造体(190)はシャッター構造体(147)が開放位置と閉鎖位置の間で転換することを制御することができる。プッシュ構造体(190)は、シャッター構造体(147)が閉鎖位置に固定されて第1下部流路(141P)の流出口(141PO)を閉鎖するように、シャッター構造体(147)に外力を印加することができる。または、プッシュ構造体(190)はシャッター構造体(147)に印加される外力を解除し、閉鎖位置から開放位置にシャッター構造体(147)を転換させることができる。
プッシュ構造体(190)は固定本体(191)、移動本体(193)、及び第2弾性体(195)を含み得る。
固定本体(191)は回転カバー(130)に結合され、回転カバー(130)の回転時、回転カバー(130)と共に回転するように構成され得る。移動本体(193)は固定本体(191)に移動可能に装着され得る。例えば、移動本体(193)は回転カバー(130)の半径方向に移動可能に固定本体(191)に装着され、移動本体(193)の移動範囲は固定本体(191)により制限され得る。第2弾性体(195)は移動本体(193)と固定本体(191)の間に配置され、移動本体(193)を弾性支持するように構成され得る。第2弾性体(195)は半径方向の内側に向かう方向に移動本体(193)を弾性支持するように構成され得る。移動本体(193)は第2弾性体(195)に弾性支持され、前記シャッターロッド(1473)が前記開放位置から前記閉鎖位置に向かう方向に移動するように前記シャッターロッド(1473)を加圧することができる。
シャッター構造体(147)のシャッターロッド(1473)は回転カバー(130)の回転時に共に回転する移動本体(193)の移動軌跡上に位置し得る。これにより、回転カバー(130)の回転角度によって、シャッターロッド(1473)はプッシュ構造体(190)に加圧されて閉鎖位置に位置するか、またはプッシュ構造体(190)から分離されて開放位置に位置し得る。
以下で、第1圧力制御装置(140)及び第2圧力制御装置(150)による圧力制御過程をより詳細に説明する。
図4A及び図5Aに示された通り、プッシュ構造体(190)がシャッター構造体(147)から離隔されるように位置したとき、シャッター構造体(147)にはプッシュ構造体(190)による外力が作用しない。シャッター構造体(147)のシャッターロッド(1473)は第1弾性体(1477)により開放位置に弾性バイアスされるので、第1下部流路(141P)の流出口(141PO)が開放され得る。この際、第1下部流路(141P)の流出口(141PO)が開放されているので、内釜(210)の収容空間で発生した蒸気は第1下部流路(141P)を通じて第1上部流路(143P)に流入し得る。もし、内釜(210)の収容空間の蒸気圧が予め定められた第1圧力より低い場合、第1上部流路(143P)の流出口は第1重り(145)の第1圧力突起(1451)により閉鎖され得る。もし、内釜(210)の収容空間の蒸気圧が予め定められた第1圧力またはこれに近接した水準まで高くなった場合、第1重り(145)の第1圧力突起(1451)が蒸気圧によって持ち上げられ第1上部流路(143P)の流出口が開放され、蒸気が外部に排出されて内釜(210)の収容空間の蒸気圧は第1圧力またはこれに近接した水準に維持されることができる。
図4B及び図5Bに示された通り、プッシュ構造体(190)がシャッター構造体(147)を加圧できる位置に回転カバー(130)が回転すれば、プッシュ構造体(190)の移動本体(193)がシャッター構造体(147)のシャッターロッド(1473)に干渉され、第2弾性体(195)に弾性支持された移動本体(193)はシャッターロッド(1473)に外力を印加する。シャッターロッド(1473)はプッシュ構造体(190)により加圧され、開放位置から閉鎖位置に移動するようになり、シャッターロッド(1473)の第1端部に結合された弾性カバー(1475)は第1下部流路(141P)の流出口(141PO)に密着して第1下部流路(141P)の流出口(141PO)を閉鎖するようになる。この際、プッシュ構造体(190)がシャッター構造体(147)に作用する外力によってシャッターロッド(1473)が閉鎖位置に固定されるように、第2弾性体(195)の復原力は第1弾性体(1477)の復原力及び内釜(210)内の蒸気圧によってシャッターロッド(1473)に加えられる力の合力より大きいこともある。第1下部流路(141P)の流出口(141PO)が閉鎖されているので、第1圧力制御装置(140)を通じた蒸気排出は不能状態となる。第1下部流路(141P)の流出口(141PO)がシャッター構造体(147)により閉鎖されている間、内釜(210)の収容空間の蒸気は第2下部エアホール(111H2)及び第2上部蒸気ホール(121H2)に連通する第2圧力制御装置(150)の第2シリンダ(図6Aの151)の第2流路(図6Aの151P)に流入し得る。もし、内釜(210)の収容空間の蒸気圧が第1圧力を越えて第2圧力及びこれに近接した水準まで高くなれば、第2重り(図6Aの155)の第2圧力突起(図6Aの1551)が蒸気圧によって持ち上げられ第2流路(151P)の流出口が開放され、蒸気が外部に排出されて内釜(210)の収容空間の蒸気圧は第2圧力またはこれに近接した水準に維持されることができる。
図6A及び図6Bは、蓋アセンブリー(100)の一部を示す側面図であって、図6Aは、リフトピン(181)がピン-アップ(pin-up)位置に位置したときの状態を示し、図6Bは、リフトピン(181)がピン-ダウン(pin-down)位置に位置したときの状態を示す。
図6A及び図6Bを図1~図3と共に参照すると、調理装置(10)は蓋カバー(101)に昇降可能に装着されたリフトピン(181)を含み得る。リフトピン(181)は蓋カバー(101)の貫通ホールに移動可能に装着され、リフトピン(181)のヘッド部は蓋カバー(101)から突出し得る。
リフトピン(181)の下段部は回転カバー(130)に接触し、回転カバー(130)の回転時、回転カバー(130)の表面部にスライディング接触するように構成され得る。リフトピン(181)の昇降動作は回転カバー(130)の回転に連動してなされ得る。図6Aに示された通り、リフトピン(181)が第1高さレベルにある回転カバー(130)の第1表面部(137)に支持された場合、リフトピン(181)はピン-アップ位置に位置し得る。図6Bに示された通り、リフトピン(181)が第1高さレベルより低い第2高さレベルにある回転カバー(130)の第2表面部(138)に支持された場合、リフトピン(181)はピン-ダウン位置に位置し得る。例えば、回転カバー(130)が第1回転方向に回転する間、リフトピン(181)と回転カバー(130)間の接触位置は回転カバー(130)の第1表面部(137)から第2表面部(138)に移動するようになり、リフトピン(181)はピン-アップ位置からピン-ダウン位置に下降し得る。逆に、回転カバー(130)が第2回転方向に回転する間、リフトピン(181)と回転カバー(130)間の接触位置は回転カバー(130)の第2表面部(138)から第1表面部(137)に移動するようになり、リフトピン(181)はピン-ダウン位置からピン-アップ位置に上昇し得る。
図6Aに示された通り、リフトピン(181)のピン-アップ位置で、リフトピン(181)は第1圧力制御装置(140)の第1重り(145)及び第2圧力制御装置(150)の第2重り(155)を共に持ち上げることができる。リフトピン(181)により第1重り(145)と第2重り(155)が持ち持ち上げられれば、第1圧力制御装置(140)の第1上部流路(143P)の流出口及び第2圧力制御装置(150)の第2流路(151P)の流出口が内釜(210)の収容空間の蒸気圧レベルと関係がなく強制開放され得る。第1上部流路(143P)の流出口及び第2流路(151P)の流出口がリフトピン(181)により強制開放されたとき、内釜(210)の収容空間の蒸気は第1圧力制御装置(140)及び第2圧力制御装置(150)を通じて外部に排出され、調理装置(10)で調理が進められる間、内釜(210)の収容空間の蒸気圧は大気圧またはこれに近接した水準に維持されることができる。
図6Bに示された通り、リフトピン(181)のピン-ダウン位置で、リフトピン(181)は第1重り(145)及び第2重り(155)から離隔され得る。ここで、リフトピン(181)が第1重り(145)及び第2重り(155)から離隔されたことは、リフトピン(181)が第1重り(145)及び/又は第2重り(155)から一定距離離隔されて物理的に接触しない場合と、リフトピン(181)が第1重り(145)及び/又は第2重り(155)に物理的に接触したものの、第1重り(145)及び/又は第2重り(155)を持ち上げるのに十分な外力がリフトピン(181)により提供されない場合を含み得る。リフトピン(181)のピン-ダウン位置で、第1圧力制御装置(140)及び第2圧力制御装置(150)による蒸気排出は内釜(210)の収容空間の蒸気圧レベル及び/又はシャッター構造体(147)により決定され得る。
図7は、ロック構造体(170)を示す平面図である。図8A及び図8Bは、回転カバー(130)の回転によるロック構造体(170)の動作を示す断面図であって、図8Aは、ロック構造体(170)のロック位置にあるときの状態を示し、図8Bは、ロック構造体(170)のアンロック位置にあるときの状態を示す。図9は、回転カバー(130)の一部を示す平面図である。
図7、図8A、図8B、及び図9を図1~図3と共に参照すると、ロック構造体(170)はトッププレート(120)の枠に沿って延びて平面的観点から曲線形態を有するロックブレード(171)を含み得る。ロックブレード(171)はトッププレート(120)の枠及び内釜カバー(110)の枠を側方向で取り囲む側壁部(1713)と、側壁部(1713)の上段部から内側に延びてトッププレート(120)の上面枠部にかかる上部本体(1711)と、前記側壁部(1713)の下段部から内側に延びた下部本体を含み得る。ロックブレード(171)の下部本体は内釜(210)のフランジ部(211)に係止固定されるように構成された係止突起(177)を含み得る。
ロック構造体(170)はロックブレード(171)の上段部の内周に連結され、トッププレート(120)と回転カバー(130)の間に配置された連結プレート(173)を含み得る。連結プレート(173)は直線方向に延びた溝(174)を含み得る。連結プレート(173)の溝(174)はロック構造体(170)の線状移動を案内すると共に、ロック構造体(170)の移動範囲を制限することができる。より具体的には、ネジのような締結構造(187)は連結プレート(173)の溝(174)を通じて、トッププレート(120)のボス(123)内に挿入され得る。ロック構造体(170)の線状移動は、溝(174)の一端部が締結構造(187)にかかる位置から溝(174)の他端部が締結構造(187)にかかる位置の間に制限され得る。
回転カバー(130)は概ね回転カバー(130)の回転方向に沿って延びるガイド溝(135)を含み、ロック構造体(170)の連結プレート(173)は回転カバー(130)のガイド溝(135)に挿入されるガイド突起(175)を含み得る。回転カバー(130)が回転する間、回転カバー(130)とガイド溝(135)に収容されたガイド突起(175)の間の物理的な干渉によってロック構造体(170)の線状移動が実現され得る。
例示的な実施例において、図9に例示された通り、ガイド溝(135)はガイド溝(135)の一端部と他端部の間でガイド溝(135)の延長方向に沿って順に配置された第1位置(P1)、第2位置(P2)、第3位置(P3)、及び第4位置(P4)を含み得る。ガイド溝(135)の第1位置(P1)、第3位置(P3)、及び第4位置(P4)は回転カバー(130)の回転中心(RC)から第1距離(D1)で離隔され得、ガイド溝(135)の第2位置(P2)は回転カバー(130)の回転中心(RC)から第1距離(D1)より大きい第2距離(D2)で離隔され得る。
回転カバー(130)の回転角度によって、ガイド溝(135)に対するガイド突起(175)の相対的な位置が変わるようになる。ガイド突起(175)が回転カバー(130)の回転中心(RC)から実質的に同一の第1距離(D1)で離隔されたガイド溝(135)の第1位置(P1)、第3位置(P3)、及び第4位置(P4)にあるとき、ロック構造体(170)は係止突起(177)が内釜(210)のフランジ部(211)に係止可能なロック位置に位置し得る。ガイド突起(175)が回転カバー(130)の回転中心(RC)から第1距離(D1)より大きい第2距離(D2)で離隔されたガイド溝(135)の第2位置(P2)にあるとき、ロック構造体(170)はロック位置から半径方向の外側に離隔されたアンロック位置にあり得る。即ち、ガイド突起(175)がガイド溝(135)の第1位置(P1)から第2位置(P2)に向かって移動する間、及びガイド溝(135)の第3位置(P3)から第2位置(P2)に向かって移動する間、ロック構造体(170)は半径方向の外側に移動するようになる。逆に、ガイド突起(175)がガイド溝(135)の第2位置(P2)から第1位置(P1)に向かって移動する間、及びガイド溝(135)の第2位置(P2)から第3位置(P3)に向かって移動する間、ロック構造体(170)は半径方向の内側に移動するようになる。
図10は、蓋アセンブリー(100)の操作ハンドル(183)を示す平面図である。
図9及び図10を図1~図3と共に参照すると、操作ハンドル(183)は第1回転方向に順に離隔された第1回転位置、第2回転位置、第3回転位置、及び第4回転位置の間で回転し得る。操作ハンドル(183)の第1~第4回転位置は任意の基準位置を基準に操作ハンドル(183)が回転した回転角度で定義され得る。例えば、操作ハンドル(183)の第1回転位置は操作ハンドル(183)の整列突起(1831)が蓋カバー(101)に設けられた第1標識子(188a)に整列する位置であってもよく、操作ハンドル(183)の第2回転位置は操作ハンドル(183)の整列突起(1831)が蓋カバー(101)に設けられた第2標識子(188b)に整列する位置であってもよく、操作ハンドル(183)の第3回転位置は操作ハンドル(183)の整列突起(1831)が蓋カバー(101)に設けられた第3標識子(188c)に整列する位置であってもよく、操作ハンドル(183)の第4回転位置は操作ハンドル(183)の整列突起(1831)が蓋カバー(101)に設けられた第4標識子(188d)に整列する位置であってもよい。
前述した通り、回転カバー(130)は操作ハンドル(183)の回転に連動して回転するので、操作ハンドル(183)の回転時、回転カバー(130)が回転し、回転カバー(130)のガイド溝(135)に対するガイド突起(175)の相対的な位置が変わり得る。操作ハンドル(183)の第1回転位置にあるときガイド突起(175)はガイド溝(135)の第1位置(P1)に位置し、操作ハンドル(183)の第2回転位置にあるときガイド突起(175)はガイド溝(135)の第2位置(P2)に位置し、操作ハンドル(183)の第3回転位置にあるときガイド突起(175)はガイド溝(135)の第3位置(P3)に位置し、操作ハンドル(183)の第4回転位置にあるときガイド突起(175)はガイド溝(135)の第4位置(P4)に位置し得る。
図11は、回転カバー(130)の回転角度による蓋アセンブリー(100)の動作状態を示す平面図である。図12は、操作ハンドル(183)の回転位置の変化による、ガイド突起(175)の位置変化、ロック構造体(170)の動作、リフトピン(181)の動作、シャッター構造体(147)の動作、及び内釜(210)の圧力変化を示すテーブルである。
以下で、図1~図12を参照して、蓋アセンブリー(100)を含む調理装置(10)の動作方法について説明する。
図11の(a)は、操作ハンドル(183)が第1回転位置に位置したときの、蓋アセンブリー(100)の主要構成を示す平面図である。
図11の(a)に示された通り、操作ハンドル(183)が第1回転位置に位置したとき、ガイド突起(175)はガイド溝(135)の第1位置(P1)に位置するので、ロック構造体(170)は図8Aに示された通りロック構造体(170)の係止突起(177)が内釜(210)のフランジ部(211)に係止されるロック位置に位置する。
操作ハンドル(183)が第1回転位置に位置したとき、図6Aに示された通り第1回転カバー(130)の第1表面部(137)に支持されたリフトピン(181)はピン-アップ位置に上昇しており、第1圧力制御装置(140)の第1上部流路(143P)の流出口及び第2圧力制御装置(150)の第2流路(151P)の流出口を強制開放させ、図4Aに示された通りシャッター構造体(147)は第1下部流路(141P)の流出口(141PO)を開放する開放位置に位置する。これにより、調理が進められる間、内釜(210)の収容空間に発生した蒸気は第1圧力制御装置(140)及び第2圧力制御装置(150)を通じて外部に抜け出るので、内釜(210)の収容空間の圧力は無圧(例えば、大気圧またはこれに近接した圧力)で維持されることができる。
図11の(b)は、操作ハンドル(183)が第2回転位置に位置したときの、蓋アセンブリー(100)の主要構成を示す平面図である。
図11の(a)及び(b)に示された通り、操作ハンドル(183)が第1回転位置から第2回転位置に転換されれば、ガイド突起(175)はガイド溝(135)の第1位置(P1)から第2位置(P2)に移動し、ロック構造体(170)は図8Bに示された通り半径方向の外側に移動するようになってアンロック位置に位置し得る。ロック構造体(170)のアンロック位置で係止突起(177)は内釜(210)に噛み合わないので、蓋アセンブリー(100)の開放のための回動が可能になる。従って、操作ハンドル(183)が第2回転位置にあるとき、蓋アセンブリー(100)を開放し、調理材料の投入及び調理状態の点検等を行うことができる。
操作ハンドル(183)が第2回転位置に位置したとき、操作ハンドル(183)が第1回転位置にあるときと同様にリフトピン(181)はピン-アップ位置にあり、シャッター構造体(147)は開放位置に位置する。これにより、調理が進められる間、内釜(210)の収容空間に発生した蒸気は第1圧力制御装置(140)及び第2圧力制御装置(150)を通じて外部に抜け出るので、内釜(210)の収容空間の圧力は無圧で維持されることができる。
図11の(c)は、操作ハンドル(183)が第3回転位置に位置したときの、蓋アセンブリー(100)の主要構成を示す平面図である。
図11の(b)及び(c)に示された通り、操作ハンドル(183)が第2回転位置から第3回転位置に転換されれば、ガイド突起(175)はガイド溝(135)の第2位置(P2)から第3位置(P3)に移動し、ロック構造体(170)は図8Aに示された通り半径方向の内側に移動するようになってロック位置に位置し得る。
操作ハンドル(183)が第3回転位置に位置したとき、図6Bに示された通り第1回転カバー(130)の第2表面部(138)に支持されたリフトピン(181)はピン-ダウン位置に下降し、図4Aに示された通りシャッター構造体(147)は第1下部流路(141P)の流出口(141PO)を開放する開放位置に位置する。これにより、調理が進められる間、内釜(210)の収容空間に発生した蒸気は互いに連通する第1圧力制御装置(140)の第1下部流路(141P)及び第1上部流路(143P)に流動するようになり、内釜(210)の収容空間の圧力は第1圧力制御装置(140)により決定され得る。即ち、内釜(210)の収容空間の蒸気圧が予め定められた第1圧力またはこれに近接した水準まで高くなった場合に蒸気が第1圧力制御装置(140)を通じて外部に排出されるので、内釜(210)の収容空間の圧力は第1圧力またはこれに近接した水準に維持されることができる。
図11の(d)は、操作ハンドル(183)が第4回転位置に位置したときの、蓋アセンブリー(100)の主要構成を示す平面図である。
図11の(c)及び(d)に示された通り、操作ハンドル(183)が第3回転位置から第4回転位置に転換されれば、ガイド突起(175)はガイド溝(135)の第3位置(P3)から第4位置(P4)に移動し、ロック構造体(170)は操作ハンドル(183)が第3回転位置にあるときと同様にロック位置に位置し得る。
操作ハンドル(183)が第4回転位置に位置したとき、リフトピン(181)は図6Bに示された通りピン-ダウン位置に位置し、図4Bに示された通りシャッター構造体(147)は第1下部流路(141P)の流出口(141PO)を閉鎖する閉鎖位置に位置する。これにより、調理が進められる間、第1圧力制御装置(140)を通じた蒸気の排出が不能状態になるので、内釜(210)の収容空間に発生した蒸気は第2圧力制御装置(150)の第2流路(151P)に流動するようになり、内釜(210)の収容空間の圧力は第2圧力制御装置(150)により決定され得る。即ち、内釜(210)の収容空間の蒸気圧が予め定められた第2圧力またはこれに近接した水準まで高くなった場合に蒸気が第2圧力制御装置(150)を通じて外部に排出されるので、内釜(210)の収容空間の圧力は第2圧力またはこれに近接した水準に維持されることができる。
本発明の例示的な実施例によれば、調理装置(10)は多様な圧力調理モード、例えば無圧で調理する無圧調理モード(または、低圧調理モード)、第1圧力で調理する第1高圧調理モード、及び第2圧力で調理する第2高圧調理モードを提供するので、調理材料及びユーザーの好みによる調理を行うことができる。従って、ユーザーの利便性及び調理品質が向上し得る。
図13は、本発明の例示的な実施例による調理装置の蓋アセンブリー(100a)の主要構成を示す平面図である。図14A及び図14Bは、図13の蓋アセンブリー(100a)の圧力制御装置(103a)を示す断面図である。
図14Aは、シャッター構造体(310)が第1下部流路(141Pa)を開放するシャッター構造体(310)の開放位置にあるときの状態を示し、図14Bは、シャッター構造体(310)が第1下部流路(141Pa)を閉鎖するシャッター構造体(310)の閉鎖位置にあるときの状態を示す。
図13、図14A、及び図14Bに示された蓋アセンブリー(100a)はプッシュ構造体(図3の190参照)が省略された点、第1圧力制御装置(140a)の構成及び動作上の差異点等を除いては、図1~図12を参照して説明された蓋アセンブリー(100)と概ね類似し得る。以下で、図1~図12を参照して説明された蓋アセンブリー(100)及びこれを含む調理装置(10)との差異点を中心に、図13、図14A、及び図14Bに示された蓋アセンブリー(100a)及びこれを含む調理装置について説明する。
図13、図14A、及び図14Bを参照すると、圧力制御装置(103a)は内釜(210)の収容空間に第1圧力を形成するように構成された第1圧力制御装置(140a)と、内釜(210)の収容空間に第1圧力より高い第2圧力を形成するように構成された第2圧力制御装置(150)を含み得る。
第1圧力制御装置(140a)は電気的制御信号によって蒸気の排出有無を調節する電子制御式バルブであってもよい。第1圧力制御装置(140a)は垂直方向に連結された第1下部シリンダ(141a)及び第1上部シリンダ(143)を含む第1シリンダ、第1重り(145)、及びシャッター構造体(310)を含み得る。
第1下部シリンダ(141a)は内釜(210)の収容空間と連通する第1下部流路(141Pa)を含み得る。第1下部流路(141Pa)はトッププレート(120)の第1上部蒸気ホール(121H1)及び内釜カバー(110)の第1下部蒸気ホール(111H1)を通じて内釜(210)の収容空間と連通することができる。第1下部流路(141Pa)はトッププレート(120)の第1上部蒸気ホール(121H1)に連通する流入口から、第1下部シリンダ(141a)の上側に設けられた流出口まで上方に延び得る。
第1上部シリンダ(143)は第1下部シリンダ(141a)上に装着され得、第1下部流路(141Pa)に連通する第1上部流路(143P)を含み得る。第1上部流路(143P)は第1下部シリンダ(141a)の流出口と連通する流入口から、第1上部シリンダ(143)の上側に設けられた流出口まで上方に延び得る。
第1重り(145)は第1上部シリンダ(143)上に装着され得る。第1重り(145)は第1上部流路(143P)の流出口に挿入されるように構成された第1圧力突起(1451)を含み得る。第1圧力突起(1451)は第1上部流路(143P)に形成される蒸気圧のレベルによって、第1上部流路(143P)の流出口を開放または閉鎖することができる。
シャッター構造体(310)は第1圧力制御装置(140a)を通じた蒸気排出を制御するように構成され得る。シャッター構造体(310)は第1下部流路(141Pa)を開閉するように構成され得る。シャッター構造体(310)は第1下部流路(141Pa)を開放する開放位置と、第1下部流路(141Pa)を閉鎖する閉鎖位置の間で転換するように構成され得る。
シャッター構造体(310)はトッププレート(120)上に装着されたフレーム(311)と、前記フレーム(311)内に移動可能に装着されたシャッターロッド(313)を含み得る。シャッターロッド(313)はモータのようなアクチュエータ(312)に連結され、シャッターロッド(313)の移動はアクチュエータ(312)により制御され得る。
図14Bに示された通り、シャッター構造体(310)の閉鎖位置で、シャッターロッド(313)の少なくとも一部分は第1下部流路(141Pa)の中間部分に挿入され、第1下部流路(141Pa)を閉鎖することができる。この場合、第1下部流路(141Pa)が閉鎖され、第1圧力制御装置(140a)を通じた蒸気排出が不能状態になり得る。図14Aに示された通り、シャッター構造体(310)の開放位置で、シャッターロッド(313)は第1下部流路(141Pa)が詰まらないようにシャッター構造体(310)の閉鎖位置から後退した位置にあり得る。このように、シャッター構造体(310)の開放位置と閉鎖位置の間での転換はシャッターロッド(313)の位置によって決定されるので、シャッター構造体(310)の開放位置は第1下部流路(141Pa)を開放させるシャッターロッド(313)の開放位置を意味し得、シャッター構造体(310)の閉鎖位置は第1下部流路(141Pa)を閉鎖させるシャッターロッド(313)の閉鎖位置を意味し得る。
例示的な実施例において、調理装置は操作ハンドル(図10の183)の回転位置及び/又は回転カバー(130)の回転位置を感知するための感知手段と、感知手段で感知された情報に基づいて第1圧力制御装置(140a)に印加される制御信号を生成するように構成された制御器を含み得る。前記感知手段は、例えばリードスイッチ(reedswitch)、光センサ、機械式センサ等のセンサを含み得る。前記制御器はマイクロコントローラーチップを含み得、本体(図1の200)に搭載され得る。
前記感知手段は、操作ハンドル(183)の回転位置及び/又は回転カバー(130)の回転位置を感知するように構成され得る。または、前記感知手段は回転カバー(130)の回転により可変するガイド溝(135)内のガイド突起(175)位置、及び/又は回転カバー(130)の回転により可変する回転拘束溝(133)内の締結構造(185)の位置変化を感知するように構成されることもできる。
制御器は感知手段で感知された情報に基づいて、シャッター構造体(310)を開放位置に位置させるための第1制御信号及びシャッター構造体(310)を閉鎖位置に位置させるための第2制御信号を生成することができる。
以下で、圧力制御装置(103a)による圧力制御過程をより詳細に説明する。
図14Aに示された通り、制御器はシャッターロッド(313)に連結されたアクチュエータ(312)に第1制御信号を印加し、シャッターロッド(313)を開放位置に位置させることができる。シャッターロッド(313)の開放位置で、第1下部流路(141Pa)と第1上部流路(143P)は互いに連通し、内釜(210)の収容空間で発生した蒸気は第1下部流路(141Pa)を通じて第1上部流路(143P)に流入し得る。もし、内釜(210)の収容空間の蒸気圧が予め定められた第1圧力より低い場合、第1上部流路(143P)の流出口は第1重り(145)の第1圧力突起(1451)により閉鎖され得る。もし、内釜(210)の収容空間の蒸気圧が予め定められた第1圧力またはこれに近接した水準まで高くなった場合、第1重り(145)の第1圧力突起(1451)が蒸気圧によって持ち上げられ第1上部流路(143P)の流出口が開放され、蒸気が外部に排出されて内釜(210)の収容空間の蒸気圧は第1圧力またはこれに近接した水準に維持されることができる。
図14Bに示された通り、調理装置の制御器はシャッターロッド(313)に連結されたアクチュエータ(312)に第2制御信号を印加し、シャッターロッド(313)を閉鎖位置に位置させることができる。制御器で提供された第2制御信号によって、シャッターロッド(313)は第1下部流路(141Pa)を閉鎖する閉鎖位置に移動することができる。第1下部流路(141Pa)がシャッターロッド(313)により閉鎖されるので、第1圧力制御装置(140a)を通じた蒸気排出は不能状態となる。第1下部流路(141Pa)がシャッター構造体(310)により閉鎖されている間、内釜(210)の収容空間の蒸気は第2下部エアホール(111H2)及び第2上部蒸気ホール(121H2)に連通する第2シリンダ(151)の第2流路(151P)に流入し得る。もし、内釜(210)の収容空間の蒸気圧が第1圧力を越えて第2圧力及びこれに近接した水準まで高くなれば、第2重り(155)の第2圧力突起(1551)が蒸気圧によって持ち上げられ第2流路(151P)の流出口が開放され、蒸気が外部に排出されて内釜(210)の収容空間の蒸気圧は第2圧力またはこれに近接した水準に維持されることができる。
図15は、回転カバー(130)の回転角度による蓋アセンブリー(100a)の動作状態を示す平面図である。図16は、図13の蓋アセンブリーを含む調理装置で、操作ハンドル(183)の回転位置の変化による、ガイド突起(175)の位置変化、ロック構造体(170)の動作、リフトピン(181)の動作、シャッター構造体(310)の動作、及び内釜(210)の圧力変化を示すテーブルである。参考までに、図16のテーブルで、操作ハンドル(183)が第3回転位置にあるとき、ロック構造体(170)の位置、リフトピン(181)の位置、シャッター構造体(310)の位置、及び内釜(210)の圧力は操作ハンドル(183)が第4回転位置にあるときと同一であるため、省略された。
以下で、図13~図16を図6A~図10と共に参照して、蓋アセンブリー(100a)を含む調理装置の動作方法について説明する。
図15の(a)は、操作ハンドル(183)が第1回転位置に位置したときの、蓋アセンブリー(100a)の主要構成を示す平面図である。
図15の(a)に示された通り、操作ハンドル(183)が第1回転位置に位置したとき、ガイド突起(175)はガイド溝(135)の第1位置(P1)に位置し、ロック構造体(170)は図8Aに示された通りロック構造体(170)の係止突起(177)が内釜(210)のフランジ部(211)に係止されるロック位置に位置する。
操作ハンドル(183)が第1回転位置に位置したとき、図6Aに示された通り第1回転カバー(130)の第1表面部(137)に支持されたリフトピン(181)はピン-アップ位置に上昇しており、第1圧力制御装置(140a)の第1上部流路(143P)の流出口及び第2圧力制御装置(150)の第2流路(151P)の流出口を強制開放させることができる。また、操作ハンドル(183)が第1回転位置に位置したとき、感知手段で感知された情報に基づいて、制御器はシャッター構造体(310)を開放位置に位置させるための第1制御信号をシャッター構造体(310)に印加することができる。シャッター構造体(310)は第1制御信号によって動作し、第1下部流路(141Pa)を開放させる開放位置に位置する。この場合、調理が進められる間、内釜(210)の収容空間に発生した蒸気は第1圧力制御装置(140a)及び第2圧力制御装置(150)を通じて外部に抜け出るので、内釜(210)の収容空間の圧力は無圧(例えば、大気圧またはこれに近接した圧力)で維持されることができる。
図15の(b)は、操作ハンドル(183)が第2回転位置に位置したときの、蓋アセンブリー(100a)の主要構成を示す平面図である。
図15の(a)及び(b)に示された通り、操作ハンドル(183)が第1回転位置から第2回転位置に転換されれば、ガイド突起(175)はガイド溝(135)の第1位置(P1)から第2位置(P2)に移動し、ロック構造体(170)は図8Bに示された通り半径方向の外側に移動するようになってアンロック位置に位置し得る。ロック構造体(170)のアンロック位置で係止突起(177)は内釜(210)に噛み合わないので、蓋アセンブリー(100a)の開放のための回動が可能になる。従って、操作ハンドル(183)が第2回転位置にあるとき、蓋アセンブリー(100a)を開放し、調理材料の投入及び調理状態の点検等を行うことができる。
操作ハンドル(183)が第2回転位置に位置したとき、操作ハンドル(183)が第1回転位置にあるときと同様にリフトピン(181)はピン-アップ位置に位置し得る。
また、操作ハンドル(183)が第2回転位置に位置したとき、感知手段で感知された情報に基づいて、制御器はシャッター構造体(310)を開放位置に位置させるための第1制御信号をシャッター構造体(310)に印加することができる。シャッター構造体(310)は第1制御信号によって動作し、第1下部流路(141Pa)を開放させる開放位置に位置する。これにより、調理が進められる間、内釜(210)の収容空間に発生した蒸気は第1圧力制御装置(140a)及び第2圧力制御装置(150)を通じて外部に抜け出るので、内釜(210)の収容空間の圧力は無圧(例えば、大気圧またはこれに近接した圧力)で維持されることができる。
図15の(c)は、操作ハンドル(183)が第4回転位置に位置したときの、蓋アセンブリー(100a)の主要構成を示す平面図である。
図15の(b)及び(c)に示された通り、操作ハンドル(183)が第2回転位置から第4回転位置に転換されれば、ガイド突起(175)はガイド溝(135)の第2位置(P2)から第4位置(P4)に移動し、ロック構造体(170)は図8Aに示された通り半径方向の内側に移動するようになってロック位置に位置し得る。
操作ハンドル(183)が第4回転位置に位置したとき、図6Bに示された通り第1回転カバー(130)の第2表面部(138)に支持されたリフトピン(181)はピン-ダウン位置に下降し、内釜(210)の収容空間の蒸気圧は第1圧力制御装置(140a)及び/又は第2圧力制御装置(150)により調節され得る。
操作ハンドル(183)が第4回転位置に位置したとき、感知手段で感知された情報に基づいて、制御器はシャッター構造体(310)を開放位置に位置させるための第1制御信号及びシャッター構造体(310)を閉鎖位置に位置させるための第2制御信号のうちいずれか1つをシャッター構造体(310)に印加することができる。例えば、制御器は予め定められた調理レシピにより、シャッター構造体(310)に第1制御信号または第2制御信号を印加するように構成され得る。例えば、制御器は予め定められた調理レシピによる調理時間に応じてシャッター構造体(310)に第1制御信号または第2制御信号を印加し、内釜(210)の収容空間の蒸気圧を調節することができる。
もし、操作ハンドル(183)が第4回転位置に位置したとき、制御器がシャッター構造体(310)に第1制御信号を印加する場合、シャッターロッド(313)は図14Aに示された通り第1下部流路(141Pa)を開放する開放位置に位置し、第1下部流路(141Pa)と第1上部流路(143P)は互いに連通することができる。これにより、調理が進められる間、内釜(210)の収容空間に発生した蒸気は第1圧力制御装置(140a)の第1下部流路(141Pa)及び第1上部流路(143P)に流動するようになり、内釜(210)の収容空間の圧力は第1圧力制御装置(140a)により決定され得る。内釜(210)の収容空間の蒸気圧が予め定められた第1圧力またはこれに近接した水準まで高くなった場合に蒸気が第1圧力制御装置(140a)を通じて外部に排出されるので、内釜(210)の収容空間の圧力は第1圧力またはこれに近接した水準に維持されることができる。
もし、操作ハンドル(183)が第4回転位置に位置したとき、制御器がシャッター構造体(310)に第2制御信号を印加する場合、シャッターロッド(313)は図14Bに示された通り第1下部流路(141Pa)を閉鎖する閉鎖位置に位置し、調理が進められる間、第1圧力制御装置(140a)を通じた蒸気の排出が不能状態となる。この場合、内釜(210)の収容空間に発生した蒸気は第2圧力制御装置(150)の第2流路(151P)に流動するようになり、内釜(210)の収容空間の圧力は第2圧力制御装置(150)により決定され得る。内釜(210)の収容空間の蒸気圧が予め定められた第2圧力またはこれに近接した水準まで高くなった場合に蒸気が第2圧力制御装置(150)を通じて外部に排出されるので、内釜(210)の収容空間の圧力は第2圧力またはこれに近接した水準に維持されることができる。
図17は、本発明の例示的な実施例による調理装置の蓋アセンブリー(100b)の主要構成を示す平面図である。図18は、図17の蓋アセンブリー(100b)の圧力制御装置(103b)を示す斜視図である。図19A~図19Cは、図17の蓋アセンブリー(100b)の圧力制御装置(103b)を示す断面図である。
図19Aは、第1シャッターロッド(323)が第1下部流路(141Pb)を開放する開放位置にあり、第2シャッターロッド(324)が第2下部流路(152P)を開放する開放位置にあるときの状態を示す。図19Bは、第1シャッターロッド(323)が第1下部流路(141Pb)を開放する開放位置にあり、第2シャッターロッド(324)が第2下部流路(152P)を閉鎖する閉鎖位置にあるときの状態を示す。図19Cは、第1シャッターロッド(323)が第1下部流路(141Pb)を閉鎖する閉鎖位置にあり、第2シャッターロッド(324)が第2下部流路(152P)を開放する開放位置にあるときの状態を示す。
図17、図18、図19A~図19Cに示された蓋アセンブリー(100b)は圧力制御装置(103b)の構成及び動作上の差異点等を除いては、図13~図17を参照して説明された蓋アセンブリー(100b)と概ね類似し得る。以下で、図13~図16を参照して説明された蓋アセンブリー(100a)及びこれを含む調理装置との差異点を中心に、図17、図19A~図19Cに示された蓋アセンブリー(100b)及びこれを含む調理装置について説明する。
図17、図18、図19A~図19Cを参照すると、圧力制御装置(103b)は内釜(210)の収容空間に第1圧力を形成するように構成された第1圧力制御装置(140b)と、内釜(210)の収容空間に第1圧力より高い第2圧力を形成するように構成された第2圧力制御装置(150a)と、第1圧力制御装置(140b)及び第2圧力制御装置(150a)のそれぞれを通じた蒸気排出を制御するように構成されたシャッター構造体(320)を含み得る。第1圧力制御装置(140b)及び第2圧力制御装置(150a)は、それぞれ、電気的制御信号によって蒸気の排出有無を調節する電子制御式バルブであってもよい。
第1圧力制御装置(140b)は垂直方向に連結された第1下部シリンダ(141b)及び第1上部シリンダ(143)を含む第1シリンダ、及び第1重り(145)を含み得る。
第1下部シリンダ(141b)は内釜(210)の収容空間と連通する第1下部流路(141Pb)を含み得る。第1下部流路(141Pb)はトッププレート(120)の第1上部蒸気ホール(121H1)及び内釜カバー(110)の第1下部蒸気ホール(111H1)を通じて内釜(210)の収容空間と連通することができる。第1下部流路(141Pb)はトッププレート(120)の第1上部蒸気ホール(121H1)に連通する流入口から、第1下部シリンダ(141b)の流出口まで上方に延び得る。
第1上部シリンダ(143)は第1下部シリンダ(141b)上に装着され得、第1下部シリンダ(141b)に連通する第1上部流路(143P)を含み得る。第1上部流路(143P)は第1下部シリンダ(141b)の流出口と連通する流入口から、第1上部シリンダ(143)の上側に設けられた流出口まで上方に延び得る。
第1重り(145)は第1上部シリンダ(143)上に装着され得る。第1重り(145)は第1上部流路(143P)の流出口に挿入されるように構成された第1圧力突起(1451)を含み得る。第1圧力突起(1451)は第1上部流路(143P)に形成される蒸気圧のレベルによって、第1上部流路(143P)の流出口を開放または閉鎖することができる。
第2圧力制御装置(150a)は垂直方向に連結された第2下部シリンダ(152)及び第2上部シリンダ(153)を含む第2シリンダ、及び第2重り(155)を含み得る。
第2下部シリンダ(152)は内釜(210)の収容空間と連通する第2下部流路(152P)を含み得る。第2下部流路(152P)はトッププレート(120)の第2上部蒸気ホール(121H2)及び内釜カバー(110)の第2下部蒸気ホール(111H2)を通じて内釜(210)の収容空間と連通することができる。第2下部流路(152P)はトッププレート(120)の第2上部蒸気ホール(121H2)に連通する流入口から、第2下部シリンダ(152)の上側に設けられた流出口まで上方に延び得る。
第2上部シリンダ(153)は第2下部シリンダ(152)上に装着され得、第2下部流路(152P)に連通する第2上部流路(153P)を含み得る。第2上部流路(153P)は第2下部シリンダ(152)の流出口と連通する流入口から、第2上部シリンダ(153)の上側に設けられた流出口まで上方に延び得る。
第2重り(155)は第2上部シリンダ(153)上に装着され得る。第2重り(155)は第2上部流路(153P)の流出口に挿入されるように構成された第2圧力突起(1551)を含み得る。第2圧力突起(1551)は第2上部流路(153P)に形成される蒸気圧のレベルによって、第2上部流路(153P)の流出口を開放または閉鎖することができる。
シャッター構造体(320)はトッププレート(120)上に装着されたフレーム(321)、フレーム(321)内に移動可能に装着されて第1下部流路(141Pb)を開閉するように構成された第1シャッターロッド(323)、フレーム(311)内に移動可能に装着されて第2下部流路(152P)を開閉するように構成された第2シャッターロッド(324)を含み得る。第1シャッターロッド(323)は第1下部流路(141Pb)を開放する開放位置と、第1下部流路(141Pb)を閉鎖する閉鎖位置の間で線状移動するように構成され得る。第2シャッターロッド(324)は第2下部流路(152P)を開放する開放位置と、第2下部流路(152P)を閉鎖する閉鎖位置の間で線状移動するように構成され得る。第1シャッターロッド(323)及び第2シャッターロッド(324)はアクチュエータ(322)に連結され得、第1シャッターロッド(323)の移動及び第2シャッターロッド(324)の移動はアクチュエータ(322)により制御され得る。
図19Cに示された通り、第1シャッターロッド(323)が閉鎖位置にあるとき、第1シャッターロッド(323)の一部分が第1下部流路(141Pb)の中間部分に挿入されて第1下部流路(141Pb)を閉鎖するので、第1圧力制御装置(140b)を通じた蒸気排出が不能状態になり得る。図19A及び図19Bに示された通り、第1シャッターロッド(323)が開放位置にあるとき、第1シャッターロッド(323)は第1下部流路(141Pb)が詰まらないように閉鎖位置から後退した位置にあり得る。
図19Bに示された通り、第2シャッターロッド(324)が閉鎖位置にあるとき、第2シャッターロッド(324)の一部分が第2下部流路(152P)の中間部分に挿入されて第2下部流路(152P)を閉鎖するので、第2圧力制御装置(150a)を通じた蒸気排出が不能状態になり得る。図19A及び図19Cに示された通り、第2シャッターロッド(324)が開放位置にあるとき、第2シャッターロッド(324)は第2下部流路(152P)が詰まらないように閉鎖位置から後退した位置にあり得る。
例示的な実施例において、調理装置は操作ハンドル(図10の183)の回転位置及び/又は回転カバー(130)の回転位置を感知するための感知手段と、感知手段で感知された情報に基づいて圧力制御装置(103b)に印加される制御信号を生成するように構成された制御器を含み得る。前記感知手段は、例えばリードスイッチ(reedswitch)、光センサ、機械式センサ等のセンサを含み得る。前記制御器はマイクロコントローラーチップを含み得、本体(図1の200)に搭載され得る。
前記感知手段は、操作ハンドル(183)の回転位置及び/又は回転カバー(130)の回転位置を感知するように構成され得る。または、前記感知手段は回転カバー(130)の回転により可変するガイド溝(135)内のガイド突起(175)の位置、及び/又は回転カバー(130)の回転により可変する回転拘束溝(133)内の締結構造(185)の位置変化を感知するように構成されることもできる。
制御器は感知手段で感知された情報に基づいて、第1シャッターロッド(323)を開放位置に位置させるための第1制御信号、第1シャッターロッド(323)を閉鎖位置に位置させるための第2制御信号、第2シャッターロッド(324)を開放位置に位置させるための第3制御信号、及び第2シャッターロッド(324)を閉鎖位置に位置させるための第4制御信号を生成することができる。
以下で、圧力制御装置(103b)による圧力制御過程をより詳細に説明する。
図19Aに示された通り、制御器はアクチュエータ(322)に第1制御信号及び第3制御信号を印加し、第1シャッターロッド(323)及び第2シャッターロッド(324)をそれぞれ開放位置に位置させることができる。第1シャッターロッド(323)及び第2シャッターロッド(324)がそれぞれ開放位置に位置すれば、第1圧力制御装置(140b)の第1下部流路(141Pb)及び第1上部流路(143P)が互いに連通し、第2圧力制御装置(150a)の第2下部流路(152P)及び第2上部流路(153P)が互いに連通することができる。この場合、第1圧力制御装置(140b)は第2圧力制御装置(150a)より低いレベルで内釜(210)の収容空間の蒸気圧を維持するように構成されるので、内釜(210)内で発生した蒸気は概ね第1圧力制御装置(140b)を通じて排出され得る。もし、内釜(210)の収容空間の蒸気圧が予め定められた第1圧力またはこれに近接した水準まで高くなった場合、第1重り(145)の第1圧力突起(1451)が蒸気圧によって持ち上げられ第1上部流路(143P)の流出口が開放され、蒸気が外部に排出されて内釜(210)の収容空間の蒸気圧は第1圧力またはこれに近接した水準に維持されることができる。
図19Bに示された通り、制御器はアクチュエータ(322)に第1制御信号及び第4制御信号を印加し、第1シャッターロッド(323)を開放位置に位置させて第2シャッターロッド(324)を閉鎖位置に位置させることができる。第2下部流路(152P)が第2シャッターロッド(324)により閉鎖されるので、第2圧力制御装置(150a)を通じた蒸気排出は不能状態となる。この場合、内釜(210)内で発生した蒸気は第1圧力制御装置(140b)を通じて排出され得る。もし、内釜(210)の収容空間の蒸気圧が予め定められた第1圧力またはこれに近接した水準まで高くなった場合、第1重り(145)の第1圧力突起(1451)が蒸気圧によって持ち上げられ第1上部流路(143P)の流出口が開放され、蒸気が外部に排出されて内釜(210)の収容空間の蒸気圧は第1圧力またはこれに近接した水準に維持されることができる。
図19Cに示された通り、制御器はアクチュエータ(322)に第2制御信号及び第3制御信号を印加し、第1シャッターロッド(323)を閉鎖位置に位置させて第2シャッターロッド(324)を開放位置に位置させることができる。第1下部流路(141Pb)が第1シャッターロッド(323)により閉鎖されるので、第1圧力制御装置(140b)を通じた蒸気排出は不能状態となる。この場合、内釜(210)内で発生した蒸気は第2圧力制御装置(150a)を通じて排出され得る。もし、内釜(210)の収容空間の蒸気圧が第1圧力を越えて第2圧力及びこれに近接した水準まで高くなれば、第2重り(155)の第2圧力突起(1551)が蒸気圧によって持ち上げられ第2流路(151P)の流出口が開放され、蒸気が外部に排出されて内釜(210)の収容空間の蒸気圧は第2圧力またはこれに近接した水準に維持されることができる。
図20は、図17の蓋アセンブリーを含む調理装置で、操作ハンドル(183)の回転位置の変化による、ガイド突起(175)の位置変化、ロック構造体(170)の動作、リフトピン(181)の動作、シャッター構造体(320)の動作、及び内釜(210)の圧力変化を示すテーブルである。参考までに、図20のテーブルで、操作ハンドル(183)が第3回転位置にあるとき、ロック構造体(170)の位置、リフトピン(181)の位置、第1シャッターロッド(323)の位置、第2シャッターロッド(324)の位置、及び内釜圧力は操作ハンドル(183)が第4回転位置にあるときと同一であるため、省略された。
以下で、図17~図20を図6A~図10と共に参照して、図13~図16を参照して説明された蓋アセンブリー(100a)を含む調理装置の動作方法との差異点を中心に、蓋アセンブリー(100b)を含む調理装置の動作方法について説明する。
操作ハンドル(183)が第1回転位置にあるときは、先に図13~図16を参照して説明された蓋アセンブリー(100a)でと同様に、ロック構造体(170)はロック位置に位置し得る。
操作ハンドル(183)が第1回転位置にあるとき、先に図13~図16を参照して説明された蓋アセンブリー(100a)でと同様に、第1圧力制御装置(140b)の第1上部流路(143P)の流出口及び第2圧力制御装置(150a)の第2上部流路(153P)の流出口はピン-アップ位置に上昇したリフトピン(181)により開放され得る。また、操作ハンドル(183)が第1回転位置に位置したとき、制御器はシャッター構造体(320)に第1制御信号及び第3制御信号を印加して第1シャッターロッド(323)及び第2シャッターロッド(324)を開放位置に位置させることができる。この場合、調理が進められる間、内釜(210)の収容空間に発生した蒸気は第1圧力制御装置(140b)及び第2圧力制御装置(150a)を通じて外部に抜け出るので、内釜(210)の収容空間の圧力は無圧(例えば、大気圧またはこれに近接した圧力)で維持されることができる。
操作ハンドル(183)が第2回転位置にあるとき、先に図13~図16を参照して説明された蓋アセンブリー(100a)でと同様に、ロック構造体(170)はアンロック位置に位置し得る。
操作ハンドル(183)が第2回転位置にあるとき、先に図13~図16を参照して説明された蓋アセンブリー(100a)でと同様に、第1圧力制御装置(140b)の第1上部流路(143P)の流出口及び第2圧力制御装置(150a)の第2上部流路(153P)の流出口はピン-アップ位置に上昇したリフトピン(181)により開放され得る。また、操作ハンドル(183)が第2回転位置に位置したとき、制御器はシャッター構造体(320)に第1制御信号及び第3制御信号を印加して第1シャッターロッド(323)及び第2シャッターロッド(324)を開放位置に位置させることができる。この場合、調理が進められる間、内釜(210)の収容空間に発生した蒸気は第1圧力制御装置(140b)及び第2圧力制御装置(150a)を通じて外部に抜け出るので、内釜(210)の収容空間の圧力は無圧(例えば、大気圧またはこれに近接した圧力)で維持されることができる。
操作ハンドル(183)が第4回転位置にあるとき、先に図13~図16を参照して説明された蓋アセンブリー(100a)でと同様に、ロック構造体(170)はロック位置に位置し得る。
操作ハンドル(183)が第4回転位置にあるとき、先に図13~図16を参照して説明された蓋アセンブリー(100a)でと同様に、リフトピン(181)はピン-ダウン位置に下降し、内釜(210)の収容空間の蒸気圧は第1圧力制御装置(140b)及び/又は第2圧力制御装置(150a)により調節され得る。
操作ハンドル(183)が第4回転位置に位置したとき、感知手段で感知された情報に基づいて、制御器は第1シャッターロッド(323)に第1制御信号及び第2制御信号のうちいずれか1つを印加し、第2シャッターロッド(324)に第3制御信号及び第4制御信号のうちいずれか1つを印加することができる。例えば、制御器は予め定められた調理レシピにより、第1シャッターロッド(323)に第1制御信号及び第2制御信号のうちいずれか1つを印加し、第2シャッターロッド(324)に第3制御信号及び第4制御信号のうちいずれか1つを印加することができる。例えば、制御器は予め定められた調理レシピによる調理時間に応じてシャッター構造体(320)に印加される制御信号を調節し、内釜(210)の収容空間の蒸気圧を調節することができる。
もし、操作ハンドル(183)が第4回転位置に位置したとき、第1シャッターロッド(323)に第1制御信号が印加され第2シャッターロッド(324)に第3制御信号が印加される場合、図19Aに示された通り第1シャッターロッド(323)及び第2シャッターロッド(324)はそれぞれ開放位置に位置し得る。この場合、第1圧力制御装置(140b)は第2圧力制御装置(150a)より低いレベルで内釜(210)の収容空間の蒸気圧を維持するように構成されるので、内釜(210)内で発生した蒸気は概ね第1圧力制御装置(140b)を通じて排出され得る。これにより、内釜(210)の収容空間の蒸気圧は第1圧力及びこれに近接した水準に維持されることができる。
もし、操作ハンドル(183)が第4回転位置に位置したとき、第1シャッターロッド(323)に第1制御信号が印加され第2シャッターロッド(324)に第4制御信号が印加される場合、図19Bに示された通り第1シャッターロッド(323)は開放位置に位置し、第2シャッターロッド(324)は閉鎖位置に位置し得る。この場合、第2圧力制御装置(150a)を通じた蒸気排出は不能状態になり、内釜(210)内で発生した蒸気は第1圧力制御装置(140b)を通じて排出され得る。これにより、内釜(210)の収容空間の蒸気圧は第1圧力及びこれに近接した水準に維持されることができる。
もし、操作ハンドル(183)が第4回転位置に位置したとき、第1シャッターロッド(323)に第2制御信号が印加され第2シャッターロッド(324)に第3制御信号が印加される場合、図19Cに示された通り第1シャッターロッド(323)は閉鎖位置に位置し、第2シャッターロッド(324)は開放位置に位置し得る。この場合、第1圧力制御装置(140b)を通じた蒸気排出は不能状態になり、内釜(210)内で発生した蒸気は第2圧力制御装置(150a)を通じて排出され得る。これにより、内釜(210)の収容空間の蒸気圧は第2圧力及びこれに近接した水準に維持されることができる。
以上の通り図面と明細書で例示的な実施例が開示された。本明細書において特定の用語を使用して実施例を説明したが、これは単に本開示の技術的思想を説明する目的で使用されたものであって、意味の限定や請求の範囲に記載された本開示の範囲を制限するために使用されたものではない。従って、本技術分野の通常の知識を有する者であれば、これより多様な変形及び均等な他の実施例が可能であるという点が分かるものである。従って、本開示の真の技術的保護範囲は添付の請求の範囲の技術的思想によって定められるべきである。