JP7481201B2 - プラント制御装置及びプラント制御方法 - Google Patents

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Description

本開示は、プラント制御装置及びプラント制御方法に関する。
被圧延材の圧延によって薄い金属材料を生産するためのプラントである圧延機では、被圧延材に硬度ムラがあると、その硬度ムラによって、被圧延材の板厚が位置に応じて異なる板厚変動(板厚不良)が生じることがある。硬度ムラとは、被圧延材の硬さが一様でないことである。被圧延材の硬さは、圧延される際の変形抵抗となるため、圧延の際に被圧延材を搬送する圧延方向に硬度ムラがあると、被圧延材の潰れ方が位置に応じて異なることとなり、圧延された後の板厚が位置に応じて変化してしまい、板厚変動が発生する。
また、圧延による金属材料の生産では、一般的に、被圧延材の板厚を元の原板厚から所望の製品厚まで加工するために、被圧延材が圧延機に複数回投入される。このため、被圧延材に硬度ムラがあると、圧延機に投入されるごとに板厚変動が発生してしまう。
特許文献1~3には、複数の圧延機を含むタンデム圧延機にて生じる板厚変動を抑制することが可能な技術が開示されている。特許文献1~3に記載の技術では、前段の圧延機によって発生した板厚変動を検出し、その板厚変動に基づいて後段の圧延機を制御するフィードフォワード制御を行うことで、板厚変動を抑制している。このようなフィードフォワード制御では、前段の圧延機による板厚変動に応じて、フィードフォワード制御の制御ゲインが調整される。また、特許文献3に記載の技術は、板厚のような状態量と目標値との偏差が大きい場合、制御ゲインに加えて、制御出力タイミングを調整することが行われている。
特許3384330号 特許5581964号 特許6404195号
一般的に制御対象プラントを制御するプラント制御装置では、板厚変動のような変動周期の短い状態量変動を抑制するためのフィードフォワード制御とは別に、長期的に状態量に生じるオフセット誤差(状態量と指令値との差)を抑制するためのフィードバック制御が行われることがある。
しかしながら、フィードフォワード制御に加えてフィードバック制御を行っても、制御出力を開始及び終了するタイミングによっては、一時的にオフセット誤差が発生することがある。
また、フィードバック制御は、状態量を積分した制御出力を用いた積分制御を含むが、積分制御では、状態量変動と制御出力との間に90度の位相ズレが発生する。このため、フィードフォワード制御とフィードバック制御との両方が行われると、フィードバック制御による位相ズレの影響で、フィードフォワード制御の制御出力タイミングが適切な値からずれてしまい、フィードフォワード制御の制御効果が低減してしまうことがある。
このようにフィードバック制御を使用しても、オフセット誤差が低減できないことがあるばかりか、かえってフィードフォワード制御の制御効果を低減させてしまうこともある。このため、フィードバック制御を使用せずにオフセット誤差を抑制する技術が望まれている。
特許文献1~3には、フィードバック制御を使用せずにオフセット誤差を抑制することについては何ら開示していない。
本開示の課題は、フィードバック制御を使用せずにオフセット誤差を抑制することが可能なプラント制御装置及びプラント制御方法を提供することにある。
本開示の一態様に従うプラント制御装置は、制御対象に関する状態量を変動させる変動要因に関する要因値に基づいて、前記制御対象が行う処理の制御を実施するプラント制御装置であって、前記要因値に応じた制御出力を用いて、前記処理のフィードフォワード制御を実施する第1の制御部と、前記状態量に基づいて、前記第1の制御部が前記フィードフォワード制御を行うタイミングを調整する決定部と、を有する。
本発明によれば、フィードバック制御を使用せずにオフセット誤差を抑制することが可能になる。
本開示の実施例に係るプラント制御装置を適用することが可能なプラントシステムの一例を示す図である。 圧延機によって被圧延材に生じる圧延現象を説明するための図である。 図2で説明した圧延現象を表すモデルを示す図である。 板厚制御の一例を説明するための図である。 張力制御の一例を説明するための図である。 従来のプラント制御システムの概要を示す図である。 本開示の実施例1のプラント制御装置を示す図である。 FF制御装置の一例を示す図である。 ON/OFFタイミング決定装置の一例を示す図である。 プラント制御装置の制御結果の一例を示す図である。 プラント制御装置の制御結果の他の例を示す図である。 プラント制御装置の制御結果の他の例を示す図である。 本開示の実施例2のプラント制御装置を示す図である。
以下、本開示の実施例について図面を参照して説明する。
図1は、本開示の実施例1に係るプラント制御装置(図7参照)を適用することが可能なプラントシステムの一例を示す図である。図1では、制御対象プラントとして、被圧延材200を圧延する複数の圧延機を備えるタンデム圧延機100が示されている。図1に示すタンデム圧延機100は、4台の圧延機11~14を直列に並べた4スタンドのタンデム圧延機であるが、圧延機は4台に限定されない。
各圧延機11~14は、被圧延材200を挟む複数のロールを備え、それらのロールを用いて被圧延材200を圧延する圧延処理を行う。図の例では、各圧延機11~14は、ロールとして被圧延材200を直接挟む1対の作業ロール1と、各作業ロール1の外側に配置される1対の中間ロール2と、各中間ロール2の外側に配置される1対のバックアップロール3を有する。また、被圧延材200は、圧延機11、圧延機12、圧延機13、圧延機14の順に搬送される。以下では、圧延機11を#1スタンド圧延機11、圧延機12を#2スタンド圧延機12、圧延機13を#3スタンド圧延機13、圧延機14を#4スタンド圧延機14と呼ぶこともある。
図2は、各圧延機11~14によって被圧延材200に生じる圧延現象を説明するための図である。図2に示すように被圧延材200の圧延は、被圧延材200を挟む1対の作業ロール1によって被圧延材200を潰すことで実施される。このとき、被圧延材200には、被圧延材200の搬送方向である圧延方向に対して、作業ロール1よりも前段側に向かう入側張力Tと、作業ロール1よりも後段側に向かう出側張力Tとが加わる。また、被圧延材200には、垂直方向に対して、作業ロール1間の距離であるロールギャップSに応じて決定される圧延荷重Pが印加される。これにより、被圧延材200は圧延され、被圧延材200の板厚が入側板厚Hから出側板厚hまで変化する。この圧延現象による先進率をf、後進率をbとすると、被圧延材200の入側速度V及び出側速度Vは、作業ロール1の回転速度である作業ロール速度がVの場合、V=V(1+b)、V=V(1+f)となる。
図3は、図2で説明した圧延現象を表すモデルを示す図である。圧延機において被圧延材200に印加される入側張力T及び出側張力Tは、自圧延機及びその前後の圧延機の入側速度V及び出側速度Vに応じて変化する。また、張力が変化すると、圧延荷重P、出側板厚h、入側速度V及び出側速度Vが変化する。したがって、圧延現象は、入側板厚H、作業ロール速度V及びロールギャップSを入力、入側張力T、出側張力T及び出側板厚hを出力とする複雑な現象であり、さらには、張力を介して前後の圧延機における圧延現象とも関連するため、非常に複雑である。
図1の説明に戻る。各圧延機11~14には、作業ロールを駆動するための駆動装置21~24と、作業ロール1のロールギャップを制御するロールギャップ制御装置31~34とが設けられる。駆動装置21~24は、例えば、作業ロール1を駆動する電動機(図示せず)と、電動機を操作して作業ロール速度を制御する電動機速度制御装置(図示せず)とを含む。
また、各圧延機11~14の出側には、被圧延材200の板厚を測定する板厚計41~44と、被圧延材200に印加されている張力を測定する張力計51~54とが設置されている。なお、被圧延材200の板厚は、被圧延材200の圧延により生産する製品の品質の観点から重要である。また、被圧延材200に印加される張力は、圧延操業の安定性のために重要であり、板厚の精度にも関わる。
また、圧延機14の出側には、圧延機14の出側張力を発生させる出側ブライドルロール15が設けられている。出側ブライドルロール15には、駆動装置25が設けられている。駆動装置25は、例えば、出側ブライドルロール15を駆動する電動機(図示せず)と、電動機を操作して出側ブライドルロール15の回転速度を制御する電動機速度制御装置(図示せず)とを含む。
また、各圧延機11~14には、圧延処理を制御するためのプラント制御装置として、板厚制御装置61~64と、張力制御装置71~74とが設けられている。
圧延機11に対応する板厚制御装置61は、ロールギャップ制御装置31を用いて圧延機11のロールギャップを制御することで、圧延機11の出側板厚を制御する。圧延機12~14に対応する板厚制御装置62~64は、前段の圧延機11~13の駆動装置21~23を用いて、前段の圧延機11~13の作業ロール速度である前段スタンド速度を制御して、各圧延機12~14の出側板厚を制御する。
板厚制御装置62~64は、対応する圧延機12~14の入側の板厚計(前段の圧延機11~13の出側の板厚計)41~43の検出結果を用いたフィードフォワード制御と、対応する圧延機12~14の出側の板厚計42~44の検出結果を用いたフィードバック制御とを実行する。例えば、板厚制御装置62の場合、板厚計41の検出結果を用いたフィードフォワード制御と、出側の板厚計42の検出結果を用いたフィードバック制御とが実施される。
また、張力制御装置71~73は、対応する圧延機11~13の出側の張力計51~53の検出結果に基づいて、後段の圧延機12~14のロールギャップ制御装置32~34を用いて後段の圧延機12~14のロールギャップを制御して、対応する圧延機11~13の出側張力を制御する。例えば、張力制御装置71の場合、圧延機11の出側の張力計51の検出結果に基づいて、圧延機12のロールギャップを制御する。また、張力制御装置74は、対応する圧延機14の出側の張力計54の検出結果に基づいて、駆動装置25を用いて出側ブライドルロール15の回転速度を制御することにより、圧延機14の出側張力を制御する。
次に板厚制御装置61~64が行う板厚制御についてより詳細に説明する。なお、板厚制御においては、板厚が変化する圧延機と板厚を検出する板厚計が物理的に離れた位置にある。そのため、被圧延材200の入側板厚の偏差を検出してから、その箇所が実際の制御操作を実施する圧延機に到達するまでには無駄時間が存在する。また、圧延機にて変化した板厚を出側の板厚計で検出するまでにも無駄時間が存在する。
図4は、板厚制御の一例を説明するための図であり、#4スタンド圧延機14に対応する板厚制御装置64の構成例を示している。図4の例では、板厚計43は、#3スタンド圧延機13の出側板厚と目標値との偏差を入側板厚偏差ΔHとして計測して出力し、板厚計44は、圧延機14の出側板厚と目標値との偏差を出側板厚偏差Δhとして計測して出力する。各目標値は予め定められている。
板厚制御装置64は、入側の板厚計から圧延機までの無駄時間を補正する移送時間補償部201と、フィードフォワード制御部202と、比例回路203と、積分回路204とを有する。
移送時間補償部201は、#3スタンド圧延機13の出側の板厚計43から出力された入側板厚偏差ΔHを、位相シフト量TFFだけ位相シフトさせる移送処理を行う。位相シフト量TFFは、移送時間TX3D-4とフィードフォワード制御用制御出力タイミングシフト量(以下、タイミングシフト量と略す)ΔTFFとを用いて、TFF=TX3D-4-ΔTFFで表される。移送時間TX3D-4は、被圧延材200における入側板厚偏差ΔHを有する箇所が板厚計43から圧延機14の作業ロール1の直下まで移動するのにかかる時間である。タイミングシフト量ΔTFFは、入側板厚偏差ΔHに応じた制御出力230が駆動装置23に到達するまでの無駄時間及び制御出力230が駆動装置23に入力されてから応答するまでの応答時間などに応じて定められる。
フィードフォワード制御部202は、移送時間補償部201にて移送処理が行われた入側板厚偏差ΔHに制御ゲインGFFを乗算してフィードフォワード制御出力210を生成する。
比例回路203及び積分回路204は、フィードバック制御を行うフィードバック制御部を構成する。比例回路203は、圧延機14の出側の板厚計44で計測された出側板厚偏差Δhに制御ゲインGFBを乗算して出力する。積分回路204は、比例回路203の出力に対して積分処理を行ってフィードバック制御出力220を生成する。ここで、制御ゲインGFBは、圧延機から出側の板厚計までの無駄時間を考慮して決定される。
フィードフォワード制御出力210とフィードバック制御出力220とは互いに加算されて、板厚制御装置64の制御出力230として圧延機13の駆動装置23に入力される。
次に張力制御装置71~74による張力制御についてより詳細に説明する。張力計は、被圧延材にかかる張力を直接検出するため、無駄時間を考慮する必要が無い。そのため、基本的にはフィードバック制御のみ実施する。図5は、張力制御の一例を説明するための図であり、#3スタンド圧延機13に対応する張力制御装置73の構成例を示している。
図5の例では、張力制御装置73は、比例積分部301を有する。比例積分部301は、圧延機13の出側に配置された張力計53にて計測された張力である張力実績値T34FBと、外部から入力される張力指令値T34REFとの偏差ΔT34を用いて、圧延機14の比例積分制御を行う。具体的には、比例積分部301は、偏差ΔT34に対して比例積分処理を行って、張力制御装置73の制御出力310を生成して、圧延機14のロールギャップ制御装置34に入力する。なお、比例積分制御は、比例制御と積分制御とを組み合わせた制御であり、ここでは、比例制御の比例ゲインをC、積分制御の積分ゲインをCとしている。
以上のように従来のタンデム圧延機100で行われる板厚制御は、比例制御であるフィードフォワード制御と、積分制御であるフィードバック制御とを組み合わせたものである。また、張力制御は比例積分制御を用いたフィードバック制御として構成される。
一般的に制御対象に関する状態量である制御状態量に対する積分制御では、制御出力の位相が制御状態量の位相に対して90度ずれるため、その結果、積分制御により得られる制御結果の位相が元の制御状態量の位相からずれるという問題がある。例えば、タンデム圧延機100では、制御結果である圧延機14の出側板厚(板厚偏差)の位相が元の変形抵抗(硬度)の位相からずれてしまう。その結果、変形抵抗に応じた適切な制御が行うことができず、フィードフォワード制御の制御効果が低減してしまう。
そのため、フィードフォワード制御を実施する場合、図4に示したようにフィードフォワード制御における制御ゲインGFFと位相シフト量TFF(具体的には、タイミングシフト量ΔTFF)とを適切な値に調整して、制御状態量の位相と振幅とに合わせたフィードフォワード制御出力を生成することで、制御効果を高くすることが行われている。これらの適切な値は、制御対象に関するパラメータ、及び、制御対象に対して実施される他の制御などに応じて変わる。タンデム圧延機100の場合、制御対象に関するパラメータとしては、被圧延材200を圧延する圧延速度が挙げられる。なお、圧延速度が変化すると、板厚偏差の変動周波数が変わり、制御出力による制御操作端である駆動装置23の応答時間などが変化する。また、他の制御としては、他の圧延機に対して実施される板厚制御などが挙げられる。
しかしながら、タンデム圧延機100のように、フィードフォワード制御及びフィードバック制御の両方が実施される場合、積分制御であるフィードバック制御によって制御状態量の位相が変化するため、フィードフォワード制御における制御ゲインと位相シフト量とを適切な値に調整することが難しい。
以下、フィードフォワード制御及びフィードバック制御の両方を実施する従来のプラント制御システムの課題についてより詳細に説明する。
図6は、従来のプラント制御システムの概要を示す図である。図6(a)に示す従来のプラント制御システムは、制御対象プラント500を制御する制御装置501と、制御対象プラント500から出力された制御対象に関する状態量である状態量実績xFBを検出無駄時間分だけ位相シフトさせる位相シフト要因502とを有する。また、制御装置501は、状態量実績xFBと外部から入力される状態量の指令値である状態量指令値xREFとの偏差に基づいて、制御対象プラント500に対して比例積分制御を実施するPI制御装置511を備える。
なお、状態量実績xFBは、制御対象プラント500のモデル化誤差及び外乱などの影響により、オフセット誤差を有する。PI制御装置511による比例積分制御に含まれる積分制御は、状態量実績xFBのオフセット誤差を補正して、状態量実績xFBを状態量指令値xREFに維持するための制御である。
図6(b)に示す従来のプラント制御システムでは、図6(a)の例と比較して、制御装置501が、PI制御装置511の代わりに、制御対象プラント500に対して積分制御(フィードバック制御)を実施するI制御装置521と、制御対象プラント500に対してフィードフォワード制御を実施するFF制御装置522を備えている点で異なる。
図6(b)に示すプラント制御システムは、圧延機における板厚制御と対応する。図4と比較すると、制御外乱源550は圧延機の入側板厚偏差に対応し、それを入側板厚計43にて検出して制御外乱dACTとする。FF制御装置522は移送時間補償部201とフィードフォワード制御部202とに対応し、I制御装置521は比例回路203と積分回路204とに対応する。
図6(b)の例では、制御外乱源550にて発生する制御対象プラント500に対する外乱である制御外乱dACTが既知である。このように制御外乱dACTが既知の場合、FF制御装置522は、制御外乱dACTと制御外乱dACTに対する外乱指令値dREFとの偏差に基づいて、制御対象プラント500に対してフィードフォワード制御を実施する。また、I制御装置521は、状態量実績xFBと状態量指令値xREFとの偏差に基づいて、制御対象プラント500に対して積分制御を実施する。
なお、上記の検出無駄時間は、制御対象プラント500が材料に対して加工を実施した場所と、その加工の結果を検出する場所が物理的に離れているために発生するものである。タンデム圧延機100の場合、図2に示したように、圧延により被圧延材200が加工される圧延機11~14と、被圧延材200の板厚を検出する板厚計41~44とが物理的に離れており、被圧延材200が圧延機11~14から板厚計41~44まで移送されて被圧延材200の加工結果(板厚)が検出される。この被圧延材200の移送に要する時間が検出無駄時間となる。
このように従来のプラント制御システムでは、オフセット誤差の除去のために積分制御を含むフィードバック制御が実施される。この積分制御は、制御出力が制御状態量からの90度の位相遅れと、検出無駄時間による位相遅れとの和の位相遅れを生じさせる制御であり、制御出力が大きくなると、フィードフォワード制御の制御出力と干渉し、フィードフォワード制御の位相シフト量が設定値からずれてしまう。その結果、フィードフォワード制御の制御効果が低減する。
また、従来のプラント制御システムでは、図6(b)に示すように、フィードフォワード制御の制御出力の開始と終了とを切り替える切替タイミングは、フィードフォワード制御を行う制御装置を起動するためのモードスイッチ531のON/OFFを切り替えるタイミングと同時であり、そのタイミングによっては、フィードバック制御を使用してもオフセット誤差が発生してしまうことがある。以下で説明する本実施例のプラント制御装置では、これらの問題を解決することが可能となる。なお、モードスイッチ531は、例えば、制御対象プラント500の現場に設置された現場操作盤532に設けられ、制御対象プラント500の作業員又は管理者などによって操作される。
図7は、本開示の実施例1のプラント制御装置を示す図である。図7では、プラント制御装置として、制御対象プラント600を制御する制御装置601が示されている。
制御対象プラント600は、制御装置601による制御対象であり、例えば、材料のような加工対象に対して加工を行う加工処理を実施するプラントである。制御対象プラント600は、制御対象に関する状態量である状態量実績xFBを出力する。なお、制御対象プラント600は、例えば、被圧延材を圧延により加工する圧延機11~14を含むタンデム圧延機である。この場合、状態量実績xFBは、例えば、被圧延材の板厚及び被圧延材に加わる張力の少なくとも一方であり、加工処理は、例えば、被圧延材を圧延する圧延処理である。
状態量実績xFBには、位相シフト要因602によって位相シフトが発生する。位相シフト要因602は、例えば、制御対象プラント600が材料に対して加工を実施した場所と、その加工の結果である状態量実績xFBを検出する場所が物理的に離れていることなどである。図7では、位相シフト要因602は、制御対象プラント600の外部に存在としているが、制御対象プラント600の内部に存在してもよい。
また、制御対象プラント600は、制御外乱源603にて発生する制御対象プラント500に対する外乱である制御外乱dACTの影響を受ける。このため、制御外乱dACTは、状態量実績xFBを変動させる変動要因となる。制御外乱dACTは既知である。より具体的には、少なくとも、制御外乱dACTの平均値のような統計値が既知である。
制御装置601は、FF制御装置611と、ON/OFFタイミング決定装置612とを有する。
FF制御装置611は、制御外乱dACTと外乱指令値dREFとの偏差である外乱偏差に応じた制御出力であるフィードフォワード制御出力を用いて、制御対象プラント600が行う加工処理(例えば、圧延機11~14による圧延処理)のフィードフォワード制御を実施する第1の制御部である。FF制御装置611がフィードフォワード制御を開始及び終了するタイミングは、ON/OFFタイミング決定装置612にて調整される。なお、外乱偏差は、状態量実績xFBを変動させる変動要因である制御外乱dACTに関する要因値である。
ON/OFFタイミング決定装置612は、状態量実績xFBに基づいて、FF制御装置611がフィードフォワード制御を開始及び終了するタイミングを決定する決定部である。本実施形態では、ON/OFFタイミング決定装置612は、FF制御装置611を起動するためのモードスイッチ621のON/OFFが切り替えられると、状態量実績xFBに基づいて、フィードフォワード制御の開始及び終了のタイミングを決定する。モードスイッチ621は、例えば、制御対象プラント600の現場に設置された現場操作盤532に設けられ。制御対象プラント600の作業員又は管理者などによって操作される。
図8は、FF制御装置611の一例と、その比較例である従来のプラント制御システムのFF制御装置522とを示す図である。具体的には、図8(a)は、FF制御装置611の一例を示し、図8(b)は、FF制御装置522を示す。
図8(a)に示すFF制御装置611は、差分回路701と、乗算器702と、積分回路703とを有する。
差分回路701は、制御外乱dACTと外乱指令値dREFとの偏差である外乱偏差の差分を出力する。差分回路701は、具体的には、外乱偏差を単位時間(例えば、制御外乱dACTが周期的に変化する場合、その周期)だけ遅延させる遅延回路711を有し、遅延回路711で遅延させた信号を元の外乱偏差から引いた値を外乱偏差の差分として出力する。
乗算器702は、差分回路701からの出力信号に制御ゲインGFFを乗算して出力する。積分回路703は、乗算器702からの出力信号を積分してフィードフォワード制御出力SFFNEWとして出力する。
以上の構成においてFF制御装置611がフィードフォワード制御を開始及び終了するタイミング、つまり、FF制御装置611の制御出力であるフィードフォワード制御出力SFFNEWのON/OFFを切り替える切替タイミングは、モードスイッチ621のON/OFFの切り替えに応じて、ON/OFFタイミング決定装置612にて決定される。本実施形態では、ON/OFFタイミング決定装置612は、フィードフォワード制御出力SFFNEWをONにする場合、乗算器702による制御ゲインGFFを1とし、フィードフォワード制御出力SFFNEWをOFFにする場合、乗算器702による制御ゲインGFFを0とすることで、フィードフォワード制御出力SFFNEWの切替タイミングを制御する。
後述するようにフィードフォワード制御出力SFFNEWの切替タイミングを適切に設定することで、状態量に生じるオフセット誤差を補正することが可能になる。なお、フィードフォワード制御出力SFFNEWの切替タイミングを適切に調整することが可能であれば、ON/OFFタイミング決定装置612によるフィードフォワード制御出力SFFNEWの切替タイミングの制御方法は、上記の例に限らない。
また、図8(b)に示すFF制御装置522は、差分回路701aと、乗算器702aと、積分回路703aとを有する。差分回路701aは、遅延回路711aを有する。差分回路701a、乗算器702a、積分回路703a及び遅延回路711aは、図8(a)に示した差分回路701、乗算器702、積分回路703及び遅延回路711と同等な機能を有する。ただし、FF制御装置522には、図8(a)に示したON/OFFタイミング決定装置612に相当する構成がなく、FF制御装置522のフィードフォワード制御出力SFFNEWのON/OFFを切り替える切替タイミングは、モードスイッチ531のON/OFFを切り替えるタイミングと同じである。つまり、モードスイッチ531がONになると、乗算器702による制御ゲインGFFが1となり、モードスイッチ531がOFFになると、乗算器702による制御ゲインGFFが0となる。
図9は、ON/OFFタイミング決定装置612の一例を示す図である。図9に示すON/OFFタイミング決定装置612は、状態量オフセット測定装置801と、ON/OFFタイミング演算装置802とを有する。
状態量オフセット測定装置801は、一定期間(例えば、制御外乱dACTの一周期)における、状態量実績xFBと目標値である状態量指令値xREFとの偏差の正のピーク値である最大値xと、負のピーク値である最小値xとを求める。状態量オフセット測定装置801は、その最大値x及び最小値xに基づいて、状態量実績xFBの中央値(最大値x及び最小値xの中点)の基準値からの偏りΔxDIFFと、振幅ΔxACT=x-xを算出する。基準値は、本実施形態では、0であり、偏りΔxDIFFはΔxDIFF=(x+x)/2である。なお、偏りΔxDIFFは、状態量実績xFBのオフセット誤差の誤差量を表す。
ON/OFFタイミング演算装置802は、状態量オフセット測定装置801にて算出された中央値の偏りΔxDIFF及び振幅ΔxACTと、制御外乱dACTの振幅ΔdACTとに基づいて、FF制御装置611のフィードフォワード制御出力SFFNEWの切替タイミングを算出する。
具体的には、先ず、ON/OFFタイミング演算装置802は、状態量実績xFBの振幅ΔxACTに対する中央値の偏りΔxDIFFの割合αを、α=ΔxDIFF/ΔxACTから算出する。
続いて、ON/OFFタイミング演算装置802は、割合αに基づいて、FF制御装置611のフィードフォワード制御出力SFFNEWの切替タイミングを決定する。具体的には、ON/OFFタイミング演算装置802は、フィードフォワード制御出力SFFNEWをONにするタイミングを、制御外乱dACTの偏差dがd=(-α)・ΔdACTを満たすタイミングに決定し、フィードフォワード制御出力SFFNEWをOFFにするタイミングを、制御外乱dACTの偏差dがd=α・ΔdACTを満たすタイミングに決定する。なお、フィードフォワード制御は、既知の制御外乱dACTに対する制御であるため、制御外乱dACTの振幅ΔdACTを予め算出しておき、例えば、ON/OFFタイミング演算装置802に保持させておくことは可能である。
この場合、状態量実績xFBの振幅ΔxACTに対する中央値の偏りΔxDIFFが正の場合、フィードフォワード制御を開始するタイミングにおける制御外乱dACTの偏差dは負となり、フィードフォワード制御を停止するタイミングにおける制御外乱dACTの偏差dは正となる。
一方、状態量実績xFBの振幅ΔxACTに対する中央値の偏りΔxDIFFが負の場合、フィードフォワード制御を開始するタイミングにおける制御外乱dACTの偏差dは正となり、フィードフォワード制御を停止するタイミングにおける制御外乱dACTの偏差dは負となる。
FF制御装置611のモードスイッチ621がONになると、ON/OFFタイミング演算装置802は、制御外乱dACTを監視して、制御外乱dACTの偏差dが決定した切替タイミングになるまで待機してから、FF制御装置611の乗算器702による制御ゲインGFFを1にして、FF制御装置611のフィードフォワード制御出力SFFNEWをONにする。また、FF制御装置611のモードスイッチ621がOFFになると、ON/OFFタイミング演算装置802は、制御外乱dACTを監視して、制御外乱dACTの偏差dが決定した切替タイミングになるまで待機してから、FF制御装置611の乗算器702による制御ゲインGFFを0にして、FF制御装置611のフィードフォワード制御出力SFFNEWをOFFにする。
図10~図12は、シミュレーションによる制御装置601の制御結果の一例を説明するための図である。図10~図12では、制御外乱dACTと状態量実績xFB(具体的には、状態量実績xFBと状態量指令値xREFとの偏差)とを示している。横軸は任意の時点からの経過時間(秒)である。
図10は、図6(b)に示した従来の制御装置501において、矢印で示した6秒の時点でフィードフォワード制御を開始した場合における制御外乱dACTと状態量実績xFBとを示す図である。図10(a)では、フィードフォワード制御を開始した6秒の時点で制御外乱dACTと状態量実績xFBとが正であり、図10(b)では、フィードフォワード制御を開始した6秒の時点で制御外乱dACTと状態量実績xFBとは共に0である。
図10(a)の場合、状態量実績xFBは、6秒以前ではオフセット誤差がほぼない状態であったが、6秒以降では正側にオフセットしている。図10(b)の場合、状態量実績xFBは、6秒以前でも6秒以降でもオフセット誤差がほぼない状態である。
図11は、図6(b)に示した従来の制御装置501において、矢印で示した6秒の時点でフィードフォワード制御を終了した場合における制御外乱dACTと状態量実績xFBとを示す。また、図11(a)では、フィードフォワード制御を終了した6秒の時点で制御外乱dACTと状態量実績xFBとが負であり、図11(b)では、フィードフォワード制御を終了した6秒の時点で制御外乱dACTと状態量実績xFBとは共に0である。
図11(a)の場合、状態量実績xFBは、6秒以前ではオフセット誤差がほぼない状態であったが、6秒以降では正側にオフセットしている。図11(b)の場合、状態量実績xFBは、6秒以前でも6秒以降でもオフセット誤差がほぼない状態である。
図10及び図11に示されたように、状態量実績xFBのオフセットが0付近の場合、制御外乱dACTが0付近のタイミングでフィードフォワード制御のON/OFFが切り替えられると、状態量実績xFBのオフセットは0付近のままであるが、それ以外のタイミングでフィードフォワード制御のON/OFFが切り替えられると、状態量実績xFBにオフセット誤差が生じる。
図12は、図7に示した本実施例の制御装置601と図6(b)に示した従来の制御装置501とにおいて、フィードフォワード制御を開始した場合における制御外乱dACTと状態量実績xFBとを示す図である。なお、図12(a)は、本実施例の制御装置601における制御外乱dACTと状態量実績xFBとを示し、図12(b)は、従来の制御装置501における制御外乱dACTと状態量実績xFBとを示す。また、フィードフォワード制御の開始前の状態では、状態量実績xFBは、負側にオフセットしている。また、モードスイッチ531及び621(図12では、単にモードスイッチと表記)は制御外乱dACT及び状態量実績xFBがピークとなる4秒~6秒の間のタイミングでON(Hレベル)となる。
図12(b)に示す従来の制御装置501では、モードスイッチ531がONになったタイミングで乗算器702の制御ゲインGFFが1となるため、状態量実績xFが正側にオフセットしてしまう。
これに対して図12(a)に示す本実施例の制御装置601では、ON/OFFタイミング決定装置612が制御外乱dACTと状態量実績xFBとに応じて上述の切替タイミングに対応する6秒のタイミングでフィードフォワード制御を開始している。この場合、状態量実績xFBの振幅及びオフセット誤差が減少する。
以上説明したように本実施例によれば、FF制御装置611は、外乱偏差に応じた制御出力を用いて、制御対象プラント600のフィードフォワード制御を行う。ON/OFFタイミング決定装置612は、制御対象プラント600に関する状態量実績xFBに基づいて、FF制御装置611がフィードフォワード制御を行うタイミングを調整する。したがって、オフセット誤差が抑制されるタイミングでフィードフォワード制御を行うことができるため、フィードバック制御を使用せずにオフセット誤差を抑制することが可能になる。
また、本実施例では、ON/OFFタイミング決定装置612は、状態量実績xFBと状態量指令値xREFとの偏差の中央値の基準値からの偏りΔxDIFFに基づいて、FF制御装置611がフィードフォワード制御を行うタイミングを調整する。偏りΔxDIFFがオフセット誤差を表すため、オフセット誤差に応じて適切にフィードフォワード制御を行うタイミングを調整することが可能となるため、オフセット誤差をより適切に抑制することが可能になる。
特に、本実施例では、基準値が零であり、ON/OFFタイミング決定装置612は、偏りΔxDIFFが正の場合、外乱偏差が負のタイミングでフィードフォワード制御を開始し、偏りΔxDIFFが負の場合、外乱偏差が正のタイミングでフィードフォワード制御を開始する。また、ON/OFFタイミング決定装置612は、偏りΔxDIFFが正の場合、外乱偏差が正のタイミングでフィードフォワード制御を終了し、偏りΔxDIFFが負の場合、外乱偏差が負のタイミングでフィードフォワード制御を終了する。したがって、オフセット誤差を反映した適切なタイミングでフィードフォワード制御を開始及び終了することが可能になるため、オフセット誤差をより適切に抑制することが可能になる。
実施例1では、FF制御装置611のモードスイッチのON/OFFの切り替えに応じて、FF制御装置611がフィードフォワード制御を行うタイミングを調整する例を説明した。しかしながら、フィードフォワード制御を行うタイミングは、モードスイッチのON/OFFの切り替え時に限らない。例えば、フィードフォワード制御に用いる外乱検出器及び制御操作端の状態(正常又は異常など)などの外的要因に応じて、フィードフォワード制御を行うことがある。この場合、特に外乱検出器又は制御操作端に異常が発生した場合には、制御対象プラント500などの誤作動を抑制するために、出来るだけ早くフィードフォワード制御のON/OFFを切り替えることが望ましい。本実施例では、本課題に対応した制御装置について主に説明する。
図13は、本開示の実施例2のプラント制御装置を示す図である。図13に示すプラント制御装置900は、図7に示した制御装置601と、制御装置901と、選択装置902とを有する。
制御装置901は、図6(b)に示した従来の制御装置501と同様な機能を有する第2の制御部である。具体的には、制御装置901は、外乱偏差に制御ゲインを乗算した制御出力を用いて制御対象プラント600が行う加工処理のフィードフォワード制御を実施し、かつ、状態量実績xFBと状態量指令値xREFとの偏差を積分した制御出力を用いて制御対象プラント600が行う加工処理の積分制御を実施する。
選択装置902は、所定の外的要因に基づいて、制御対象プラント600が行う加工処理の制御を、制御装置601及び901のいずれかに実行させる。所定の外的要因は、例えば、制御対象プラント600及びプラント制御装置900などで使用される1つ又は複数の所定の装置(検出器及び操作端など)の状態である。
例えば、選択装置902は、所定の装置の全てが正常である通常操業時には、制御装置601を実行させ、所定の装置のいずれかが異常である異常発生時には、出来るだけ早く制御出力のON/OFFを切り替えるために制御装置901を実行させる
以上説明したように本実施例では、適切な制御装置を用いて制御対象プラント600を制御することが可能となる。
上述した本開示の実施形態は、本開示の説明のための例示であり、本開示の範囲をそれらの実施形態にのみ限定する趣旨ではない。当業者は、本発明の範囲を逸脱することなしに、他の様々な態様で本発明を実施することができる。
なお、本開示は、実施例にしたタンデム圧延機100に適用できる。また、本開示は、タンデム圧延機100以外の、特に制御外乱が大きく、フィードフォワード制御が必要とされるプラントに対して適用することができる。例えば、本開示は、熱間圧延機における板厚制御、鉄鋼ラインにおける張力制御などの他のプラントにも適用することができる。
上述した本開示の各実施例は、本開示の説明のための例示であり、本開示の範囲をそれらの実施形態にのみ限定する趣旨ではない。当業者は、本開示の範囲を逸脱することなしに、他の様々な態様で本開示を実施することができる。
11~14:圧延機 21~24:駆動装置 31~34:ロールギャップ制御装置 41~44:板厚計 51~54:張力計 61~64:板厚制御装置 71~74:張力制御装置 100:タンデム圧延機 600:制御対象プラント 601:制御装置 602:位相シフト要因 603:制御外乱源 611:FF制御装置 612:ON/OFFタイミング決定装置 701:差分回路 702:乗算器 703:積分回路 711:遅延回路 801:状態量オフセット測定装置 802:ON/OFFタイミング演算装置 901:制御装置 902:選択装置

Claims (7)

  1. 制御対象に関する状態量を変動させる変動要因に関する要因値に基づいて、前記制御対象が行う処理の制御を実施するプラント制御装置であって、
    前記要因値に応じた制御出力を用いて、前記処理のフィードフォワード制御を実施する第1の制御部と、
    前記状態量に基づいて、前記第1の制御部が前記フィードフォワード制御を行うタイミングを調整する決定部と、を有し、
    前記決定部は、前記状態量と目標値との偏差の中央値の基準値である零からの偏りに基づいて、前記タイミングを調整し、
    前記決定部は、前記偏りが正の場合、前記要因値が負のタイミングで前記フィードフォワード制御を開始し、前記偏りが負の場合、前記要因値が正のタイミングで前記フィードフォワード制御を開始する、プラント制御装置。
  2. 制御対象に関する状態量を変動させる変動要因に関する要因値に基づいて、前記制御対象が行う処理の制御を実施するプラント制御装置であって、
    前記要因値に応じた制御出力を用いて、前記処理のフィードフォワード制御を実施する第1の制御部と、
    前記状態量に基づいて、前記第1の制御部が前記フィードフォワード制御を行うタイミングを調整する決定部と、を有し、
    前記決定部は、前記状態量と目標値との偏差の中央値の基準値である零からの偏りに基づいて、前記タイミングを調整し、
    前記決定部は、前記偏りが正の場合、前記要因値が正のタイミングで前記フィードフォワード制御を終了し、前記偏りが負の場合、前記要因値が負のタイミングで前記フィードフォワード制御を終了する、プラント制御装置。
  3. 制御対象に関する状態量を変動させる変動要因に関する要因値に基づいて、前記制御対象が行う処理の制御を実施するプラント制御装置であって、
    前記要因値に応じた制御出力を用いて、前記処理のフィードフォワード制御を実施する第1の制御部と、
    前記状態量に基づいて、前記第1の制御部が前記フィードフォワード制御を行うタイミングを調整する決定部と、
    前記要因値に対してタイミングが決定された制御出力を用いて前記処理のフィードフォワード制御を実施し、かつ、前記状態量と目標値との偏差を積分した制御出力を用いて前記処理の積分制御を実施する第2の制御部と、
    所定の外的要因に基づいて、前記処理の制御を、前記第1の制御部及び前記第2の制御部のいずれかに実行させる選択部と、を有するプラント制御装置。
  4. 前記制御対象は、被圧延材を圧延により加工する圧延機であり、
    前記状態量は、前記被圧延材の板厚及び前記被圧延材に加わる張力の少なくとも一方であり、
    前記処理は、前記被圧延材を圧延する圧延処理である、請求項1乃至3のいずれか1項に記載のプラント制御装置。
  5. 制御対象に関する状態量を変動させる変動要因に関する要因値に基づいて、前記制御対象が行う処理の制御を実施するプラント制御装置によるプラント制御方法であって、
    前記要因値に応じた制御出力を用いて、前記処理のフィードフォワード制御を実施し、
    前記状態量に基づいて、前記フィードフォワード制御を行うタイミングを調整し、
    前記タイミングの調整では、前記状態量と目標値との偏差の中央値の基準値である零からの偏りに基づいて、前記タイミングを調整し、
    前記偏りに基づく前記タイミングを調整では、前記偏りが正の場合、前記要因値が負のタイミングで前記フィードフォワード制御を開始し、前記偏りが負の場合、前記要因値が正のタイミングで前記フィードフォワード制御を開始する、プラント制御方法。
  6. 制御対象に関する状態量を変動させる変動要因に関する要因値に基づいて、前記制御対象が行う処理の制御を実施するプラント制御装置によるプラント制御方法であって、
    前記要因値に応じた制御出力を用いて、前記処理のフィードフォワード制御を実施し、
    前記状態量に基づいて、前記フィードフォワード制御を行うタイミングを調整し、
    前記タイミングの調整では、前記状態量と目標値との偏差の中央値の基準値である零からの偏りに基づいて、前記タイミングを調整し、
    前記偏りに基づく前記タイミングを調整では、前記偏りが正の場合、前記要因値が正のタイミングで前記フィードフォワード制御を終了し、前記偏りが負の場合、前記要因値が負のタイミングで前記フィードフォワード制御を終了する、プラント制御方法。
  7. 制御対象に関する状態量を変動させる変動要因に関する要因値に基づいて、前記制御対象が行う処理の制御を実施するプラント制御装置によるプラント制御方法であって、
    前記要因値に応じた制御出力を用いて、前記処理のフィードフォワード制御を実施する第1の制御処理と、
    前記状態量に基づいて、前記フィードフォワード制御を行うタイミングを調整する処理と、
    前記要因値に対してタイミングが決定された制御出力を用いて前記処理のフィードフォワード制御を実施し、かつ、前記状態量と目標値との偏差を積分した制御出力を用いて前記処理の積分制御を実施する第2の制御処理と、を含み、
    所定の外的要因に基づいて、前記処理の制御を、前記第1の制御処理及び前記第2の制御処理のいずれかで実行させる、プラント制御方法。
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