JP7461984B2 - リングキャリヤー及び基板処理システム - Google Patents

リングキャリヤー及び基板処理システム Download PDF

Info

Publication number
JP7461984B2
JP7461984B2 JP2022077504A JP2022077504A JP7461984B2 JP 7461984 B2 JP7461984 B2 JP 7461984B2 JP 2022077504 A JP2022077504 A JP 2022077504A JP 2022077504 A JP2022077504 A JP 2022077504A JP 7461984 B2 JP7461984 B2 JP 7461984B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ring
substrate
ring member
ring carrier
guide protrusion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2022077504A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2022176902A (ja
Inventor
ギ チョン,ムン
ヒュン ソン,ダク
Original Assignee
セメス カンパニー,リミテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by セメス カンパニー,リミテッド filed Critical セメス カンパニー,リミテッド
Publication of JP2022176902A publication Critical patent/JP2022176902A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7461984B2 publication Critical patent/JP7461984B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/6732Vertical carrier comprising wall type elements whereby the substrates are horizontally supported, e.g. comprising sidewalls
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/32623Mechanical discharge control means
    • H01J37/32642Focus rings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/32715Workpiece holder
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/32798Further details of plasma apparatus not provided for in groups H01J37/3244 - H01J37/32788; special provisions for cleaning or maintenance of the apparatus
    • H01J37/32899Multiple chambers, e.g. cluster tools
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67063Apparatus for fluid treatment for etching
    • H01L21/67069Apparatus for fluid treatment for etching for drying etching
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • H01L21/67161Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers
    • H01L21/67167Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers surrounding a central transfer chamber
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • H01L21/67201Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the construction of the load-lock chamber
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
    • H01L21/681Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment using optical controlling means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/32Processing objects by plasma generation
    • H01J2237/33Processing objects by plasma generation characterised by the type of processing
    • H01J2237/334Etching
    • H01J2237/3342Resist stripping

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

本発明はリングキャリヤー及び基板処理システムに関する。
プラズマはイオンやラジカル、及び電子等から成されたイオン化されたガス状態を言う。プラズマは非常に高い温度や、強い電界、或いは高周波電磁界(RF Electromagnetic Fields)によって生成される。半導体素子製造工程はプラズマを利用してウエハ等の基板上に形成された薄膜を除去するエッチング工程を含むことができる。エッチング工程はプラズマのイオン及び/又はラジカルが基板の上の薄膜と衝突するか、又は薄膜と反応されることによって遂行される。
プラズマを利用して基板を処理する装置は工程チャンバー、工程チャンバー内で基板を支持し、RF電源と連結される支持チャック(例えば、ESC)と、支持チャックに安着された基板の外周を囲むフォーカスリングと、を含む。フォーカスリングは基板表面上でプラズマを均一性高く分布させるたために設置され、プラズマによって基板と共にエッチングされる。基板に対するエッチングが反復的に遂行されれば、フォーカスリングも共にエッチングされることにつれ、フォーカスリングの形状はだんだん変化される。このようなフォーカスリングの形状変化に応じてイオン及び/又はラジカルが基板に入射する方向が変化されて基板に対するエッチング特性が変化される。したがって、基板に対するエッチング処理が所定の枚数以上に遂行される場合、又はフォーカスリングの形状が変化されて許容範囲外にある場合にはフォーカスリングに対する交替が必要である。
一般的に、フォーカスリングの交替は作業者が工程チャンバーをオープンし、オープンされた工程チャンバーで使用されたフォーカスリングを取り出し、未使用フォーカスリングを工程チャンバーに裝着することによって行われる。しかし、このような交替方式は作業時間が多くかかるだけでなく、工程チャンバー内にパーティクル(Particle)が流入される可能性が高い。したがって、最近には基板処理装置の搬送ロボットが使用されたフォーカスリングを工程チャンバーから搬出してリングポッド(Ring Pod)に搬入し、その後、搬送ロボットがリングポッドから新規フォーカスリングを搬出して工程チャンバーに搬入する交替方式を使用する。
一方、フォーカスリングの搬送は、基板を搬送する搬送ロボットが遂行する。しかし、フォーカスリングと基板はその形状及びサイズが互いに異なる。したがって、搬送ロボットのフォーカスリングと基板を全て搬送するためには搬送ハンドがフォーカスリングと基板を全て支持することができる構造を有しなければならない。フォーカスリングは基板より相対的に大きい直径を有するので、搬送ハンドがフォーカスリングと基板を全て支持することができる構造を有するためには、搬送ハンドのサイズもまた共に大きくなければならない。
しかし、搬送ハンドのサイズが大きくなる場合、搬送ハンドの位置が変動されながら、搬送ハンドが基板処理装置の他の構成と衝突する危険が大きくなる。また、搬送ハンドのサイズが大きくなる場合、搬送ハンドが相対的に小さい体積を有するリングポッド内に進入することが難しくなる。
また、搬送ハンドを利用してフォーカスリングを搬送する場合、フォーカスリングを安定的に搬送することが重要である。搬送ハンドがフォーカスリングを搬送する際に、フォーカスリングに滑りが発生する場合、フォーカスリングが工程チャンバーに搬送される位置が変わる。これは工程チャンバー内のフォーカスリングの裝着位置に誤差を発生させて処理された基板に不良を発生させることができる。これと類似に、搬送ハンドがフォーカスリングを搬送する際に、フォーカスリングにずれが発生する場合、フォーカスリングが工程チャンバーに適切に装着できないことがあり得る。フォーカスリングはフォーカスリングの裝着方向を一定にするためのフラットゾーン(Flat-Zone)を有するが、上述したずれによってフラットジョンの位置が変わられてフォーカスリングが工程チャンバーに適切に装着できないことがあり得る。
韓国特許公開第10-2017-0054248号公報
本発明の一目的はリング部材を効果的に搬送することができるリングキャリヤー及び基板処理システムを提供することにある。
また、本発明の一目的は搬送ハンドの構造変更無しでも、リング部材の搬送を可能になるようにするリングキャリヤー及び基板処理システムを提供することにある。
また、本発明の一目的はリング部材を搬送する時、リング部材にスライディング及びずれが発生することを最小化することができるリングキャリヤー及び基板処理システムを提供することにある。
本発明の目的はここに制限されなく、言及されないその他の目的は下の記載から通常の技術者が明確に理解理解されるべきである。
本発明はリング部材を搬送するのに使用されるリングキャリヤーを提供する。リングキャリヤーは、板形状を有する本体、及び前記リング部材の内周と対向するように前記本体の上面から突出されて形成されるガイド部を含み、前記本体には、前記リングキャリヤーを整列する時に使用されるアラインメントホールが前記本体を貫通して形成されることができる。
一実施形態によれば、前記ガイド部は、前記リング部材が有するフラットゾーン(Flat Zone)の内周と対向する位置に形成されることができる。
一実施形態によれば、前記本体は、中央領域がブロッキングプレート(Blocking Plate)である円板形状を有することができる。
一実施形態によれば、前記ガイド部は、第1ガイド部、及び前記第1ガイド部と離隔されて形成される第2ガイド部を含み、前記アラインメントホールは、前記第1ガイド部、そして前記第2ガイド部の間に形成されることができる。
一実施形態によれば、前記本体の縁領域には、少なくとも1つ以上の開口が前記本体を貫通して形成されることができる。
一実施形態によれば、前記開口は、前記本体の外周を含む前記本体の縁領域に形成されることができる。
一実施形態によれば、前記リングキャリヤーは、前記本体の下面に提供される少なくとも1つ以上の滑り防止パッドを含むことができる。
一実施形態によれば、前記リングキャリヤーは、前記本体の下面から下方向に突出される滑り防止ピンを含むことができる。
また、本発明は基板を処理するシステムを提供する。基板処理システムは、搬送ハンドを有する搬送ロボットが提供される第1チャンバーと、前記第1チャンバーと連結される第2チャンバーと、前記第1チャンバー、そして前記第2チャンバーの間でリング部材を搬送する間に前記リング部材を支持するリングキャリヤーと、前記リングキャリヤーを整列する整列ユニットと、を含み、前記リングキャリヤーは、円板形状を有する本体、及び前記本体に置かれる前記リング部材のスライディングを防止するガイド突起を含み、前記本体には、前記整列ユニットが前記リングキャリヤーを整列する時に使用されるアラインメントホールが前記本体を貫通して形成されることができる。
一実施形態によれば、前記アラインメントホールは、前記基板に形成されたノッチと重畳される位置に形成されることができる。
一実施形態によれば、前記ガイド突起は、前記リング部材が有するフラットゾーン(Flat Zone)の内周と対向する位置に形成されることができる。
一実施形態によれば、前記ガイド突起は、前記フラットゾーンの内周と対応するフラット部、及び前記フラット部から曲がって延長され、前記リング部材が有するラウンドゾーン(Round-Zone)の内周と対応するラウンド部を含むことができる。
一実施形態によれば、前記ラウンド部の外周と前記ラウンドゾーンの内周は互いに同一の曲率半径を有することができる。
一実施形態によれば、前記ガイド突起は、第1ガイド突起、及び前記第1ガイド突起と離隔されて形成され、前記第1ガイド突起と対称された形状を有する第2ガイド突起を含むことができる。
一実施形態によれば、前記本体の縁領域には、複数の開口が前記本体を貫通して形成され、前記開口は、上部から見る時、前記第2チャンバーに提供される支持シェルフと重畳される位置に形成されることができる。
一実施形態によれば、前記開口は、前記本体の外周を含む前記本体の縁領域に形成されることができる。
一実施形態によれば、前記整列ユニットは、前記リングキャリヤーを支持及び回転させるチャック、前記チャックに支持された前記リングキャリヤーの前記アラインメントホールに向かって光を照射する照射部、及び前記アラインメントホールを通過した前記光を受光する受光部を含むことができる。
また、本発明は基板を処理するシステムを提供する。基板処理システムは、内部が大気圧雰囲気に維持され、搬送ロボットが提供されるインデックスチャンバーと、プラズマを利用して基板を処理する工程チャンバーと、前記インデックスチャンバー、そして前記工程チャンバーの間に配置され、内部が大気圧雰囲気、そして真空圧雰囲気の間で転換されるロードロックチャンバーと、前記ロードロックチャンバー、そして前記インデックスチャンバーの間に前記工程チャンバーに提供されるリング部材を搬送するのに使用されるリングキャリヤーと、制御器と、を含み、前記制御器は、前記搬送ロボットのハンドが前記リング部材が置かれる前記リングキャリヤーを前記ロードロックチャンバー、そして前記インデックスチャンバーの間に搬送するように前記搬送ロボットを制御し、前記リングキャリヤーは、円板形状を有する本体、及び前記リング部材が有するフラットゾーン(Flat Zone)の内周と対向するように前記本体の上面から突出されて形成されるガイド部を含み、前記本体には、前記リングキャリヤーを整列する時に使用されるアラインメントホールが前記本体を貫通して形成されることができる。
一実施形態によれば、前記装置は、前記基板に形成されたノッチ又は前記リングキャリヤーに形成された前記アラインメントホールの方向を整列する整列ユニットをさらに含み、前記アラインメントホールは、上部から見る時、前記ノッチと重畳される位置に形成されることができる。
一実施形態によれば、前記ロードロックチャンバーは、前記基板又は前記リング部材を支持する複数の支持シェルフを有し、前記本体の縁領域には、複数の開口が前記本体を貫通して形成され、前記開口は、上部から見る時、各々前記支持シェルフと重畳される位置に形成されることができる。
本発明の一実施形態によれば、リング部材を効果的に搬送することができる。
また、本発明の一実施形態によれば、搬送ハンドの構造変更無しでも、リング部材の搬送を可能にする。
また、本発明の一実施形態によれば、リング部材を搬送する時、リング部材にスライディング及びずれが発生することを最小化することができる。
本発明の効果が上述した効果によって限定されることではなく、言及されない効果は本明細書及び添付された図面から本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者に明確に理解されるべきである。
本発明の一実施形態による基板処理システムを概略的に示す平面図である。 図1の第1容器の形状を示す斜視図である。 図2の第1容器に収納される基板の形状を示す図面である。 図1の第2容器の形状を示す平断面図である。 図4の支持スロットの形状を示す図面である。 図4の第2容器に収納されるリング部材の形状を示す図面である。 リング部材を搬送するのに使用されるリングキャリヤーの一例を示す斜視図である。 図7のリングキャリヤーの平面図である。 図8のリングキャリヤーの一部分を拡大して示す図面である。 図1の第1搬送ハンドの形状を概略的に示す図面である。 図10の第1搬送ハンドに基板が置かれる形状を示す図面である。 図10の第1搬送ハンドにリング部材及びリングキャリアーが置かれる形状を示す図面である。 図1の整列チャンバーに提供される整列ユニットの形状を示す図面である。 図13の整列ユニットがリングキャリヤーを整列する形状を示す図面である。 図13の整列ユニットがリングキャリヤーを整列する形状を示す図面である。 図1のロードロックチャンバーの形状を示す平断面図である。 図16の支持シェルフに基板が置かれる形状を示す図面である。 図16の支持シェルフにリング部材が置かれる形状を示す図面である。 図18のリングキャリアーがロードロックチャンバーから搬出される形状を示す図面である。 図1の第2搬送ハンドの形状を示す図面である。 図20の第2搬送ハンドに基板が置かれる形状を示す図面である。 図20の第2搬送ハンドにリング部材が置かれる形状を示す図面である。 図1の工程チャンバーに提供される基板処理装置の形状を示す図面である。 本発明の他の実施形態によるリングキャリヤーの形状を示す図面である。 本発明の他の実施形態によるリングキャリヤーの形状を示す図面である。
以下では添付した図面を参考として本発明の実施形態に対して本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者が容易に実施できるように詳細に説明する。しかし、本発明は様々な異なる形態に具現されることができ、ここで説明する実施形態に限定されない。また、本発明の望ましい実施形態を詳細に説明することにおいて、関連された公知機能又は構成に対する具体的な説明が本発明の要旨を不必要に曖昧にすることができていると判断される場合にはその詳細な説明を省略する。また、類似な機能及び作用をする部分に対しては図面の全体に亘って同一な符号を使用する。
ある構成要素を‘含む’ということは、特別に反対になる記載がない限り、他の構成要素を除外することではなく、他の構成要素をさらに含むことができることを意味する。具体的に、“含む”又は“有する”等の用語は明細書上に記載された特徴、数字、段階、動作、構成要素、部品、又はこれらを組み合わせたものが存在することを指定しようとすることがであり、1つ又はそれ以上の他の特徴や数字、段階、動作、構成要素、部品、又はこれらを組み合わせたものの存在又は付加可能性を予め排除しないことと理解されなければならない。
単数の表現は文脈の上に明確に異なりに表現しない限り、複数の表現を含む。また、図面で要素の形状及びサイズ等はより明確な説明のために誇張されることができる。
第1、第2等の用語は多様な構成要素を説明するために使用されることができるが、前記構成要素は前記用語によって限定されてはならない。前記用語は1つの構成要素を他の構成要素から区別する目的として使用されることができる。例えば、本発明の権利範囲から離脱されないまま、第1構成要素は第2構成要素と称されることができ、類似に第2構成要素も第1構成要素と称されることができる。
ある構成要素が他の構成要素に“連結されて”あるか、或いは“接続されて”いると言及された時には、その他の構成要素に直接的に連結されているか、又は接続されているが、中間に他の構成要素が存在することもあると理解されるべきである。反面に、ある構成要素が他の構成要素に“直接連結されて”いるか、或いは“直接接続されて”いると言及された時には、中間に他の構成要素が存在しないことと理解されるべきである。構成要素間の関係を説明する他の表現、即ち“~間に”と“すぐ~間に”又は“~に隣接する”と“~に直接隣接する“等も同様に解析されなければならない。
異なりに定義されない限り、技術的であるか、或いは科学的な用語を含んで、ここで使用されるすべての用語は本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者によって一般的に理解されることと同一な意味である。一般的に使用される事前に定義されていることと同一の用語は関連技術の文脈の上に有する意味と一致する意味であることと解析されるべきであり、本出願で明確に定義しない限り、理想的であるか、或いは過度に形式的な意味として解釈されない。
以下では、図1乃至図25を参照して本発明の実施形態に対して説明する。
図1は本発明の一実施形態による基板処理システムを概略的に示す図面である。図1を参照すれば、本発明の一実施形態による基板処理システムは、基板処理装置10、容器20、そしてリングキャリヤー30を含むことができる。
本発明の一実施形態による容器20は基板処理装置10が有するロードポート110に置かれることがきる。容器20は基板処理装置10が有するロードポート110に天井移送装置(Overhead Transport apparatus、OHT)によって基板処理装置10が有するロードポート110に置かれることがきる。容器20内には様々な物品が収納されることができる。容器20は収納される物品の種類に応じて多様な種類の容器を含むことができる。容器20はFOUP又はPODと称されることもあり得る。
例えば、図2に図示されたように容器20の中でいずれか1つである第1容器21内には、基板処理装置10で処理される被処理物が収納されることができる。被処理物は図3に図示されたウエハのような基板Wであり得る。また、基板Wにはノッチ(Notch、N)が形成されることができる。基板Wが基板処理装置10で適切に処理されるためには、基板Wを基板処理装置10の望む位置に正確に搬送することが必要である。基板Wに形成されたノッチNは基板Wの正確な搬送のための基板Wの整列に使用される。基板Wの整列は後述するように整列ユニット200を通じて行われることができる。
また、図4に図示されたように容器20の中で他の1つである第2容器22内には、基板処理装置10に裝着され、交替が必要である消耗性部品が収納されることができる。消耗性部品はフォーカスリング、誘電体リングのようなリング部材Rであり得る。リング部材Rの外周直径は、基板Wの外周直径より大きい直径を有することができる。したがって、第2容器22内の空間は第1容器21内の空間より若干大きい体積を有することができる。また、第2容器22内でリング部材Rを支持するための支持スロット22a、22cは、上部から見る時、互いに異なる位置に複数が提供されることができる。また、支持スロット22a、22cは後述するリングキャリヤー30に形成された開口32と対応する位置に配置されることができる。これはリングキャリヤー30を利用して第2容器22からリング部材Rを搬出する時、リングキャリヤー30が支持スロット22a、22cと干渉されることを防止するためである。
また、支持スロット22a、22cの中で少なくとも1つ以上(例えば、複数)の支持スロット22aには図5に図示されたように整列ピン22bが形成されることができる。このような整列ピン22bは図6に図示されたリング部材Rの下面に形成される整列溝Gに挿入されることができる。リング部材Rが基板処理装置10の望む位置に適切に装着されるためには、リング部材Rを正確な位置に搬送することが重要である。リング部材Rを正確な位置に搬送するためには、後述するリング部材Rが後述する第1搬送ハンド152の同一な位置に置かれることが重要である。整列ピン22bはリング部材Rの側方向の位置変更を制限してリング部材Rが第1搬送ハンド152に同一位置に置かれるようにすることがきる。
また、作業者(Operator)はリング部材Rの下面に形成された整列溝Gを整列ピン22bに差し込むだけでリング部材Rを第2容器22内に正確な位置に収納させることができる。作業者の熟練度にしたがってリング部材Rが第2容器22内に収納される位置は変わることがあるが、整列ピン22bはこのような問題を最小化することができる。また、整列ピン22bによって整列されるリング部材Rの方向は全て同一方向に整列されることができる。例えば、整列ピン22bによって整列されるリング部材Rのフラットゾーン(Flat-Zone)は全て同一方向に整列されることができる。要するに、整列ピン22bによってリング部材Rが全て同一方向に整列されるので、リング部材Rをリングキャリヤー30に安着させるためのリング部材Rの方向整列は別に必要ではないことがあり得る。
本発明の一実施形態によるリングキャリヤー30はリング部材Rを搬送するのに使用されることができる。例えば、リングキャリヤー30は後述するインデックスチャンバー130、整列チャンバー170、そしてロードロックチャンバー310の間でリング部材Rを搬送するのに使用されることができる。リングキャリヤー30は上述した容器20内に収納されることができる。例えば、リングキャリヤー30は上述した第2容器22内に収納されることができる。リングキャリヤー30は第2容器22内に収納されるリング部材Rより下に収納されることができる。第2容器22内に収納されるリングキャリヤー30はその方向が整列された状態に第2容器22内に収納されることができる。リングキャリヤー30は後述する第1搬送ロボット150がリング部材Rを搬送するのに使用することができる。
図7はリング部材を搬送するのに使用されるリングキャリヤーの一例を示す斜視図であり、図8は図7のリングキャリヤーの平面図であり、図9は図8のリングキャリヤーの一部分を拡大して示す図面である。図7乃至図9を参照すれば、本発明の一実施形態によるリングキャリヤー30は本体31、そしてガイド部34を含むことができる。
本体31はリング部材Rが置かれる案着面を有することができる。本体31の上面にはリング部材Rが置かれることがきる。本体31は板形状を有することができる。本体31は円板形状を有することができる。本体31が円板形状を有することは、整列ユニット200によるリングキャリヤー30の方向整列動作を基板Wの方向整列動作と同様にするか、又は少なくとも類似にするためである。
本体31の中央領域はホールが形成されないブロッキングプレート(Blocking Plate)で提供されることができる。また、本体31の縁領域には少なくとも1つ以上の開口32が形成されることができる。開口32は本体31の縁領域に複数が形成されることができる。開口32は本体31の上面から下面まで延長されて形成されることができる。即ち、開口32は本体31を貫通して形成されることができる。開口32は本体31の縁領域に形成され、本体31の外周を含む本体31の縁領域に形成されることができる。即ち、開口32は本体31の外周まで延長されて形成されることができる。また、開口32は、上部から見る時、ロードロックチャンバー310に提供される支持シェルフ320と重畳される位置に形成されることができる。また、開口32は、上部から見る時、第2容器22の支持スロット22a、22cと重畳される位置に形成されることができる。これはリングキャリヤー30を利用してリング部材Rを搬送する時、リングキャリヤー30が支持シェルフ320又は支持スロット22a、22cと重畳されることを防止するためである。
本体31にはアラインメントホール33が形成されることができる。アラインメントホール33は、上部から見る時後述する第1ガイド部35、そして第2ガイド部36の間に形成されることができる。アラインメントホール33はリングキャリヤー30を後述する整列ユニット200が整列される時に使用されるホールであり得る。アラインメントホール33は本体31の上面から下面まで延長して形成されることができる。即ち、アラインメントホール33は本体31を貫通して形成されることができる。また、アラインメントホール33が形成される位置は、基板Wに形成されたノッチNと重畳される位置に形成されることができる。例えば、本体31の中心からアラインメントホール33の中心までの距離は、基板Wの中心からノッチNの中心までの距離と同一であり得る。これは整列ユニット200によるリングキャリヤー30の方向整列動作を基板Wの方向整列動作と同様にするか、又は少なくとも類似にするようにするためである。
リング部材Rがリングキャリヤー30に安着され、リングキャリヤー30が第1搬送ハンド152によって搬送される場合、リング部材Rは第1搬送ハンド152の直線運動によってスライディングされるか、或いは第1搬送ハンド152の回転運動によって安着された位置がずれることができる。ガイド部34はこのようなリング部材Rのスライディング又はずれを防止することができる。ガイド部34はガイド突起と称されることもあり得る。
ガイド部34は本体31の上面から突出されて形成されることができる。ガイド部34は本体31の上面から上方向に突出されて形成されることができる。リングキャリヤー30に置かれるリング部材Rの内周は、フラットゾーンFZ(Flat Zone)及びラウンドゾーンRZ(Round Zone)を有することができ、ガイド部34はリング部材RのフラットゾーンFZの内周と対向する位置に形成されることができる。ガイド部34はリング部材Rの内周と対応する形状を有することができる。ガイド部34はフラットゾーンFZを含むリング部材Rの内周と対応する形状を有することができる。
ガイド部34は第1ガイド部35(第1ガイド突起)、そして第2ガイド部36(第2ガイド突起)を含むことができる。第1ガイド部35と第2ガイド部36は互いに対称される形状を有することができる。例えば、第1ガイド部35と第2ガイド部36はその間に形成されるアラインメントホール33を基準に互いに対称される形状を有することができる。
第1ガイド部35は第1フラット部35Fと第1ラウンド部35Zを含むことができる。第2ガイド部36は第2フラット部36Fと第2ラウンド部36Zを含むことができる。第1フラット部35FはフラットゾーンFZの内周と対応する形状を有することができる。第1ラウンド部35Zは第1フラット部35Fから曲がって延長され、リング部材Rが有するラウンドゾーンRZの内周と対応する形状を有することができる。
第1フラット部35Fと第1ラウンド部35Zは各々第2フラット部36Fと第2ラウンド部36Zと対称される形状を有し、繰り返される説明は省略する。
ガイド部34はリング部材RのフラットゾーンFZがリングキャリヤー30上で一定の方向に整列されるように助ける。また、第1ガイド部34と第2ガイド部35との間にはアラインメントホール33が形成される。したがって、後述する整列ユニット200を利用してリングキャリヤー30を整列すれば、リングキャリヤー30に置かれるリング部材RのフラットゾーンFZの方向もまた望む方向に整列されることができる。また、第1ラウンド部35Z及び第2ラウンド部36Zの外周と、ラウンドゾーンRZの内周は互いに同一の曲率半径を有することができる。また、第1ラウンド部35Z及び第2ラウンド部36Zの外周と、基板Wの外周は互いに同一の曲率半径を有することができる。
再び、図1を参照すれば、本発明の一実施形態による基板処理装置10はインデックス部100、工程処理部300、そして制御器700を含むことができる。インデックス部100と工程処理部300は、上部から見る時、第1の方向Xに沿って配列されることができる。以下では、上部から見る時、第1の方向Xと垂直になる方向を第2方向Yとして定義する。また、第1の方向X及び第2方向Yと垂直になる方向を第3方向Zとして定義する。ここで、第3方向Zは地面に対して垂直になる方向を意味することができる。
インデックス部100はロードポート110、インデックスチャンバー130、第1搬送ロボット150、そして整列チャンバー170を含むことができる。
ロードポート110には容器20が安着されることができる。容器20は上述したようにOHTによってロードポート110に搬送されてロードポート110にローディング(Loading)されるか、或いはロードポート110からアンローディング(Unloading)されて搬送されることができる。しかし、これに限定されることではなく、容器20を搬送する様々な装置によって搬送されることができる。また、作業者が容器20を直接ロードポート110にローディングさせるか、或いはロードポート110に安着された容器20をロードポート110からアンローディングさせることができる。
ロードポート110と工程処理部300との間にはインデックスチャンバー130が提供されることができる。即ち、インデックスチャンバー130にはロードポート110が接続されることができる。インデックスチャンバー130は内部が大気圧雰囲気に維持されることができる。
また、インデックスチャンバー130には第1搬送ロボット150が提供されることができる。第1搬送ロボット150はロードポート110に安着された容器200、後述するロードロックチャンバー310、そして整列チャンバー170の間で基板W、そしてリング部材Rを搬送することができる。また、第1搬送ロボット150は第1搬送ハンド152を有することができる。第1搬送ハンド152の上面には図10に図示されたように複数の第1支持パッド153が提供されることができる。例えば、第1支持パッド153は3つが提供されて、第1搬送ハンド152に置かれる搬送対象物を3点支持することができる。第1支持パッド153は第1搬送ハンド152に置かれる基板W又はリングキャリヤー30の滑りを防止することができる。第1支持パッド153は、上部から見る時、一半径を有する仮想の円の円周方向に沿って配列されることができる。また、第1搬送ハンド152は上述した容器20に進入することが容易である大きさで提供されることができる。また、第1搬送ハンド152上には図11に図示されたように基板Wが置かれることがき、図12に図示されたようにリング部材Rを支持するリングキャリヤー30が置かれることがきる。
インデックスチャンバー130の一側及び/又は他側には後述する整列ユニット200が提供される整列チャンバー170が設置されることができる。整列チャンバー170は基板W又はリングキャリヤー30を整列することができる。図13は図1の整列チャンバーに提供される整列ユニットの形状を示す図面である。図13を参照すれば、整列チャンバー170に提供される整列ユニット200は基板Wに対する整列を遂行することができる。例えば、整列ユニット200は基板Wに形成されたノッチNの方向を整列することができる。また、整列ユニット200はリングキャリヤー30に形成されたアラインメントホール33の方向を整列することができる。
整列ユニット200はチャック210、支持器具220、照射部230、そして受光部240を含むことができる。チャック210は基板Wの中央領域を支持することができる。チャック210は真空吸着方式に基板Wを支持することができる。これと異なりにチャック210の上面には支持対象物の滑りを防止するパッドが提供されてもよい。チャック210は基板Wを回転させることができる。
支持器具220は照射部230、そして受光部240を支持することができる。照射部230はチャック210に支持された基板Wの上方から下に向かう方向に光Lを照射することができる。光Lは一定の幅を有するレーザーであり得る。受光部240は照射部230と対向するように配置されることができる。例えば、受光部240は照射部230から照射される光Lの照射経路上に配置されることができる。チャック210は照射部230から照射する光Lが基板Wに形成されたノッチNを通じて受光部240に至る時まで、基板Wを回転させることができる。受光部240に光Lが受光されれば、チャック210は基板Wの回転を止まり、基板Wの整列を完了することができる。
図14に図示されたように整列ユニット200は上述した基板W整列方式と類似に、リングキャリヤー30に対する整列を遂行することができる。リングキャリヤー30には上述したようにアラインメントホール33が形成されている。リングキャリヤー30がチャック210に置かれれば、チャック210は照射部230から照射する光Lがリングキャリヤー30に形成されたアラインメントホール33を通じて受光部240に至る時まで、基板Wを回転させることができる。受光部240に光Lが受光されれば、チャック210はリングキャリヤー30の回転を止まり、リングキャリヤー30の整列を完了することができる。上述したようにアラインメントホール33が形成される位置は、基板WにノッチNが形成された位置と互いに重畳されることができるので、同一の整列ユニット200を利用してリングキャリヤー30及び基板Wに対する整列を遂行することができるようになる。
図14ではリングキャリヤー30上にリング部材Rが置かれた状態でリングキャリヤー30の整列が遂行されることを例として説明したが、これに限定されることではない。必要によって、図15に図示されたようにリングキャリヤー30上にリング部材Rが置かれない状態でリングキャリヤー30の整列が遂行されてもよい。
再び、図1を参照すれば、工程処理部300はロードロックチャンバー310、搬送チャンバー330、第2搬送ロボット350、そして工程チャンバー370を含むことができる。
ロードロックチャンバー310はインデックスチャンバー130、そして搬送チャンバー330の間に配置されることができる。インデックスチャンバー130は上述したように内部雰囲気が大気圧雰囲気に維持されることができる。搬送チャンバー330は後述するように内部雰囲気が真空圧雰囲気に維持されることができる。ロードロックチャンバー310はインデックスチャンバー130、そして搬送チャンバー330の間に配置されて、その内部雰囲気が大気圧雰囲気と真空圧雰囲気との間で転換されることができる。
図16は図1のロードロックチャンバーの形状を示す平断面図である。図16を参照すれば、ロードロックチャンバー310はハウジング311、そして支持シェルフ320を含むことができる。
ハウジング311は内部空間312を有することができる。ハウジング311は基板W又はリング部材Rが安着される内部空間312を有することができる。ハウジング311は上述したインデックスチャンバー130、そして搬送チャンバー330の間に配置されることができる。また、ハウジング311には開口が形成されることができる。ハウジング311に形成された開口は複数に提供されることができる。例えば、開口の中で第1開口311aはゲートバルブ(図示せず)によってインデックスチャンバー130と選択的に連通されることができる。また、開口の中で第2開口311bはゲートバルブ(図示せず)によって搬送チャンバー330と選択的に連通されることができる。
また、ハウジング311にはハウジング311の内部空間312にベントガス(Bent Gas)を供給するベントホール313が形成されることができる。また、ハウジング311にはハウジング311の内部空間312を減圧する減圧ホールが形成されることができる。ベントガスは不活性ガスであり得る。例えば、ベントガスは窒素、アルゴン等を含むガスであり得る。しかし、これに限定されることではなく、ベントガスは公知された不活性ガスで多様に変形されることができる。また、減圧ホール314は減圧部材(図示せず)と連結されることができる。減圧部材はポンプであり得る。しかし、これに限定されることではなく、減圧部材は内部空間312を減圧させる公知された装置で多様に変形されることができる。ハウジング311にベントホール313及び減圧ホール314が形成されることに応じて、ハウジング311の内部空間の圧力は大気圧、そして真空圧の間で自由に変形されることができる。
内部空間312には支持シェルフ320が提供されることができる。支持シェルフ320は内部空間312で基板W又はリング部材Rを支持することができる。また、リング部材Rが有する直径は、基板Wの直径より大きいことができる。
支持シェルフ320は少なくとも1つ以上が提供されることができる。例えば、支持シェルフ320は複数に提供されることができる。支持シェルフ320は3つが提供されることができる。支持シェルフ320は、上部から見る時、互いに離隔されて提供されることができる。支持シェルフ320は、上部から見る時、上述したリングキャリヤー30に形成された開口32と重畳される位置に配置されることができる。例えば、支持シェルフ320は、上部から見る時、整列ユニット200によって方向が整列されたリングキャリヤー30に形成された開口32と重畳される位置に配置されることができる。また、支持シェルフ320はその断面から見る時、大体に‘ㄱ’形状を有することができる。
また、支持シェルフ320は第1パッド324、そして第2パッド326を含むことができる。第1パッド324、そして第2パッド326は基板W又はリング部材Rに対して耐摩擦性を有する材質で提供されることができる。例えば、第1パッド324、そして第2パッド326は炭素充填されたPEEK(PolyEtherEtherKetone)のような材質で提供されることができる。しかし、第1パッド324、そして第2パッド326の材質で炭素充填されたPEEKが利用されることは一例に過ぎなく、これと類似な性質を有する公知された他の材質で多様に変形されることができる。
第1パッド324は、上部から見る時、大体に弧形状を有することができる。第1パッド324は第2パッド326より減圧ホール314に隣接するように配置されることができる。第1パッド324は、上部から見る時、基板Wの外周より内側に配置されることができる。即ち、第1パッド324は図17に図示されたように基板Wとリング部材Rの中で基板Wを支持することができる。
第2パッド326は、上部から見る時、大体に弧形状を有することができる。第2パッド326は第1パッド324より減圧ホール314から遠く配置されることができる。第2パッド326は、上部から見る時、基板Wの外周及びリング部材Rの内周より外側に配置され、リング部材Rの外周よりは内側に配置されることができる。即ち、第2パッド326は基板Wとリング部材Rの中でリング部材Rを支持することができる。
また、支持シェルフ320は、上部から見る時、リングキャリヤー30に形成された開口32と重畳される位置に配置される。したがって、図18に図示されたように第1搬送ハンド152がリング部材Rが置かれたリングキャリヤー30をロードロックチャンバー310内に搬入し、第1搬送ハンド152が下方向に移動されれば、リング部材Rは支持シェルフ320に置かれ、リングキャリヤー30は第1搬送ハンド152に置かれた状態に下方向に移動されることができる。その後、図19に図示されたように第1搬送ハンド152が後退すれば、リングキャリヤー30はリング部材Rと分離されてロードロックチャンバー310から搬出されることができる。
再び、図1を参照すれば、搬送チャンバー330はロードロックチャンバー310、そして工程チャンバー370の間に配置されることができる。搬送チャンバー330は内部雰囲気が真空圧雰囲気に維持されることができる。搬送チャンバー330には第2搬送ロボット350が提供されることができる。第2搬送ロボット350はロードロックチャンバー310と工程チャンバー370との間で基板W又はリング部材Rを搬送することができる。また、第2搬送ロボット350は第2搬送ハンド352を有することができる。
図20は図1の第2搬送ハンドの形状を示す図面である。図20を参照すれば、第2搬送ロボット350が有する第2搬送ハンド352は第1搬送ハンド152より相対的に大きいサイズを有することができる。第2搬送ハンド352上には一対の第1搬送パッド353、一対の第2搬送パッド354、一対の第3搬送パッド355、そして一対の第4搬送パッド356が提供されることができる。第2搬送パッド354及び第3搬送パッド355は第1搬送パッド353及び第4搬送パッド356の間に配置されることができる。第2搬送パッド354及び第3搬送パッド355は、上部から見る時、基板Wの外周より内側に配置されることができる。即ち、第2搬送パッド354及び第3搬送パッド355は図21に図示されたように基板Wとリング部材Rの中で基板Wを支持することができる。第1搬送パッド353及び第4搬送パッド356は、上部から見る時、基板Wの外周及びリング部材Rの内周より外側に配置され、リング部材Rの外周よりは内側に配置されることができる。即ち、第2パッド326は基板Wとリング部材Rの中でリング部材Rを支持することができる。
再び、図1を参照すれば、搬送チャンバー330には少なくとも1つ以上の工程チャンバー370が接続されることができる。工程チャンバー370は基板Wに対して工程を遂行するチャンバーであり得る。工程チャンバー370は基板Wに処理液を供給して基板Wを処理する液処理チャンバーであり得る。また、工程チャンバー370はプラズマを利用して基板Wを処理するプラズマチャンバーであり得る。また、工程チャンバー370の中でいずれかの一部は基板Wに処理液を供給して基板Wを処理する液処理チャンバーであり、工程チャンバー370の中で他の一部はプラズマを利用して基板Wを処理するプラズマチャンバーであり得る。しかし、これに限定されることではなく、工程チャンバー370で遂行する基板W処理工程は公知された基板W処理工程で多様に変形されることができる。また、工程チャンバー370がプラズマを利用して基板Wを処理するプラズマチャンバーである場合、プラズマチャンバーはプラズマを利用して基板W上の薄膜を除去するエッチング又はアッシング工程を遂行するチャンバーであり得る。しかし、これに限定されることではなく、工程チャンバー370で遂行するプラズマ処理工程は公知されたプラズマ処理工程で多様に変形されることができる。
図23は図1の工程チャンバーに提供される基板処理装置の形状を示す図面である。図23を参照して、工程チャンバー370に提供される基板処理装置500に対して詳細に説明する。基板処理装置500は基板Wにプラズマを伝達して基板Wを処理することができる。
基板処理装置500は処理容器510、ゲートバルブ520、排気ライン530、電源ユニット540、支持ユニット550、第1リフトピンモジュール560、第2リフトピンモジュール570、バッフル板580、そしてガス供給ユニット590を含むことができる。
処理容器510は処理空間を有することができる。処理容器510は接地されることができる。処理容器510は基板Wが処理される処理空間を提供することができる。処理容器510の処理空間は、基板Wを処理する時、大体に真空雰囲気に維持されることができる。処理容器510の一側には基板W及びリング部材Rが搬入/搬出される搬入口512が形成されることができる。ゲートバルブ520は搬入口512を選択的に開閉させることができる。
処理容器510の底面には排気ホール514が形成されることができる。排気ホール514には排気ライン530が連結されることができる。排気ライン530は排気ホール514を通じて処理容器510の処理空間に供給された工程ガス、工程副産物等を処理容器510の外部に排気させることができる。また、排気ホール514の上部には処理空間に対する排気がより均一になるようにする排気板532が提供されることができる。排気板532は、上部から見る時、大体にリング形状を有することができる。また、排気板532には少なくとも1つ以上の排気ホールが形成されることができる。作業者は様々な形状、サイズ等に提供される多数の排気板532の中で、処理空間を均一に排気することができる排気板532を選択して排気ホール514の上部に設置することができる。
また、処理容器510は支持部材516をさらに含むことができる。支持部材516は後述する支持ユニット550が有する記載の中で少なくとも一部を支持することができる。例えば、支持部材516は支持ユニット550が有する絶縁板554の下部を支持できるように構成されることができる。
電源ユニット540は後述するガス供給ユニット590が供給する工程ガスをプラズマ状態に励起させるRFパワーを発生させることができる。電源ユニット540は電源542、そして整合器544を含むことができる。電源542、そして整合器544は電力伝達ライン上に設置されることができる。また、電力伝達ラインはチャック552と連結されることができる。
支持ユニット550は処理容器510の処理空間で基板Wを支持することができる。支持ユニット550はチャック552、絶縁板554、そしてクォーツリング556を含むことができる。
チャック552は基板Wを支持する支持面を有することができる。チャック552は基板Wを支持し、支持された基板Wをチャッキングすることができる。例えば、チャック552内には静電プレート(図示せず)が提供されて、基板Wを静電気力をチャッキングする静電チャックであり得る。例えば、チャック552はESC(Electrode Static Chuck)であり得る。しかし、これに限定されることではなく、チャック552は真空吸着方式に基板Wをチャッキングしてもよい。
絶縁板554は、上部から見る時、円板形状を有することができる。絶縁板554上には上述したチャック552、そして後述するクォーツリング556が置かれることがきる。絶縁板554は誘電体で提供されることができる。例えば、絶縁板554はセラミックを含む材質で提供されることができる。
クォーツリング556はクォーツ(Quartz、石英)を含む材質で提供されることができる。クォーツリング556は、上部から見る時、リング形状を有することができる。クォーツリング556は、上部から見る時、チャック552を囲む形状を有することができる。クォーツリング556は、上部から見る時、チャック552に支持された基板Wを囲む形状に提供されることができる。また、クォーツリング556の内側上面にはリング部材R(例えば、フォーカスリング)が置かれることがきる。
クォーツリング556の上面に置かれるリング部材Rは、上部から見る時、リング形状を有することができる。リング部材Rは内側上面の高さが外側上面の高さよりさらに低い形状を有することができる。リング部材Rの内側上面には基板Wの縁領域の下面が置かれることがきる。また、リング部材Rは内側上面と外側上面との間に基板Wの中心で基板Wの外側に向かう方向に上向傾いた傾斜面を有することができる。したがって、基板Wがリング部材Rの内側上面に置かれる時、置かれる位置が若干不正確であっても、基板Wがリング部材Rの傾斜面に沿ってスライディングされながら、基板Wはリング部材Rの内側上面に適切に置かれることがきる。
第1リフトピンモジュール560はクォーツリング556の上面に置かれるリング部材Rを昇降させることができる。第1リフトピンモジュール560は第1リフトピン562、そして第1ピン駆動部564を含むことができる。第1リフトピン562は複数に提供されることができ、各々の第1リフトピン562を上下方向に移動させる第1ピン駆動部564も複数に提供されることができる。また、第1リフトピン562は、上部から見る時、チャック552と重畳されないように配置されることができる。リフトピン562は絶縁板554及び/又はクォーツリング556に形成されたピンホールに沿って上下方向に移動されることができる。また、ピン駆動部564は空圧又は油圧を利用したシリンダーであるか、或いはモーターであり得る。
第2リフトピンモジュール570は基板Wを昇降させることができる。第2リフトピンモジュール570は第2リフトピン572、昇降プレート574、そして第2ピン駆動部576を含むことができる。第2リフトピン572は昇降プレート574に結合されることができる。昇降プレート574は第2ピン駆動部576によって上下方向に移動されることができる。
バッフル板580は支持ユニット550の上部に提供されることができる。バッフル板580は電極材質で提供されることができる。バッフル板580には少なくとも1つ以上のバッフルホール582が形成されることができる。例えば、バッフルホール582は複数に形成され、上部から見る時、バッフル板580の全領域に均一に形成されることができる。バッフル板580は後述するガス供給ユニット590が供給する工程ガスを基板Wに均一に伝達されることができるようにする。
ガス供給ユニット590は処理容器510の処理空間に工程ガスを供給することができる。工程ガスは上述した電源ユニット540によってプラズマ状態に励起されるガスであり得る。ガス供給ユニット590はガス供給源592、そしてガス供給ライン594を含むことができる。ガス供給ライン594の一端はガス供給源592と連結され、ガス供給ライン594の他端は処理容器510の上部と連結されることができる。したがって、ガス供給源592が伝達する工程ガスはガス供給ライン594を通じてバッフル板580の上部領域に供給されることができる。バッフル板580の上部領域に供給された工程ガスはバッフルホール582を通じて処理容器510の処理空間に流入されることができる。
再び図1を参照すれば、制御器700は基板処理装置10を制御することができる。制御器700はインデックス部100、そして工程処理部300を制御することができる。制御器700は第1搬送ロボット150、第2搬送ロボット350を制御することができる。制御器700は工程チャンバー370でプラズマを利用して基板Wを処理できるように工程チャンバー370に提供される基板処理装置500を制御することができる。また、制御器700は以下では説明するリング部材Rを搬送する搬送方法を基板処理装置10が遂行できるように基板処理装置10が有する構成を制御することができる。
また、制御器700は基板処理装置10の制御を実行するマイクロプロセッサー(コンピュータ)で成されるプロセスコントローラと、オペレータが基板処理装置10を管理するためにコマンド入力操作等を行うキーボードや、基板処理装置10の稼動状況を可視化して表示するディスプレー等で成されるユーザインターフェイスと、基板処理装置10で実行される処理をプロセスコントローラの制御で実行するための制御プログラムや、各種データ及び処理条件に応じて各構成部に処理を実行させるためのプログラム、即ち処理レシピが格納された格納部を具備することができる。また、ユーザインターフェイス及び格納部はプロセスコントローラに接続されていることができる。処理レシピは格納部の中で記憶媒体に記憶されていることができ、記憶媒体は、ハードディスクであってもよく、CD-ROM、DVD等の可搬性ディスクや、フラッシュメモリ等の半導体メモリであってもよい。
以下では、本発明の一実施形態によるリング部材R搬送方法に対して説明する。具体的に、未使用リング部材Rを工程チャンバー370に搬送する搬送シーケンスに対して説明する。
工程チャンバー370に装着されたリング部材Rの交替時期に至ると、OHTはロードポート110に第2容器22を搬送することができる。第2容器22がロードポート110に搬送されれば、第1搬送ロボット150は第1搬送ハンド152を利用して第2容器22内に収納されたリングキャリヤー30を第2容器22から搬出することができる。この時、リングキャリヤー30の方向は整列された状態に第2容器22内に収納されていることができる。仮に、リングキャリヤー30の方向整列が必要である場合には第1搬送ロボット150はリングキャリヤー30を整列チャンバー170に搬送し、搬送ユニット200はリング部材Rが置かれていない状態のリングキャリヤー30を整列してもよい。
その後、第1搬送ハンド152はリングキャリヤー30を支持した状態に第2容器22内に進入することができる。第1搬送ハンド152が第2容器22内への進入が完了されれば、第1搬送ハンド152は上方向に移動して第2容器22内に収納された未使用リング部材Rをリングキャリヤー30上に安着させることができる。この時、リング部材Rは第2容器22内で整列ピン22bによって方向が整列された状態であり得る。したがって、リング部材Rはその方向が整列された状態にリングキャリヤー30上に安着されることができる。
リング部材Rがリングキャリヤー30上に安着されれば、リングキャリヤー30は整列チャンバー170に搬送され、整列ユニット200によって方向が整列されることができる。整列ユニット200によってリング部材Rが置かれる状態のリングキャリヤー30の方向が整列された後、第1搬送ロボット150はリング部材Rが置かれる状態のリングキャリヤー30をロードロックチャンバー310に搬送することができる。
ロードロックチャンバー310内に第1搬送ハンド152の進入が完了されれば、第1搬送ハンド152は下方向に移動されることができる。したがって、リングキャリヤー30上のリング部材Rは支持シェルフ320上に安着され、リングキャリヤー30はリング部材Rと分離されることができる。リングキャリヤー30がリング部材Rと分離されれば、ロードロックチャンバー310から搬出されることができる。ロードロックチャンバー310の支持シェルフ320上に安着されたリング部材Rは第2搬送ロボット350の第2搬送ハンド352によって搬出されて工程チャンバー370内に搬送されることができる。
工程チャンバー370で使用されたリング部材Rの搬出は、上述した未使用リング部材Rの搬入シーケンスの逆順に遂行されるので、繰り返される説明は省略する。
上述した例では第1容器21に基板Wが収納され、第2容器22にリング部材Rが収納されることを例として説明したが、これに限定されることではない。例えば、基板Wとリング部材Rは同一容器20内に収納されることができる。
上述した例ではリングキャリヤー30が第2容器22に収納されることができることを例として説明したが、これに限定されることではない。例えば、リングキャリヤー30は基板処理装置10が有する別のバッファ空間(図示せず)内に収納され、第1搬送ロボット150がバッファ空間からリングキャリヤー30を搬出してリング部材Rを搬送するのに使用することができる。
上述した例では、リングキャリヤー30が第1搬送ハンド152の上面に提供される第1支持パッド153と接触されて支持されることを例として説明したが、これに限定されることではない。例えば、図24に図示されたようにリングキャリヤー30の本体31の下面には、少なくとも1つ以上(例えば、複数)の滑り防止パッド37が提供されることができる。滑り防止パッド37の上下厚さは第1支持パッド153の上下厚さより厚く提供されることができる。即ち、リングキャリヤー30が滑り防止パッド37を有する場合、本体31の下面は第1支持パッド153と離隔されることができる。したがって、リングキャリヤー30の搬送で第1支持パッド153が汚染される問題をより最小化することができる。これと類似に、図25に図示されたようにリングキャリヤー30は、本体31の下面から下方向に突出される少なくとも1つ以上(例えば、複数)の滑り防止ピン38を含むことができる。滑り防止ピン38の一端は第1搬送ハンド153の上面に形成されるグルーブ154に挿入され、本体31の下面を第1支持パッド153から離隔させることができる。
以上の詳細な説明は本発明を例示するものである。また、前述した内容は本発明の好ましい実施形態を例として説明することであり、本発明は多様な他の組合、変更、及び環境で使用することができる。即ち、本明細書に開示された発明の概念の範囲、前述した開示内容と均等な範囲、及び/又は当業界の技術又は知識の範囲内で変更又は修正が可能である。前述した実施形態は本発明の技術的思想を具現するための最善の状態を説明することであり、本発明の具体的な適用分野及び用途で要求される様々な変更も可能である。したがって、以上の発明の詳細な説明は開示された実施状態に本発明を制限しようとする意図ではない。添付された請求の範囲は他の実施状態も含むことと解析されなければならない。
10 基板処理装置
20 容器
21 第1容器
22 第2容器
W 基板
N ノッチ
R リング部材
FZ フラットゾーン
RZ ラウンドゾーン
G アラインメント溝
30 リングキャリヤー
31 本体
32 開口
33 アラインメントホール
34 ガイド突起
35 第1ガイド突起
35F 第1フラット部
35R 第1ラウンド部
36 第2ガイド突起
36F 第2フラット部
36R 第2ラウンド部
200 整列ユニット
210 チャック
220 照射部
230 受光部
310 ロードロックチャンバー
311 ハウジング
312 内部空間
313 ベントホール
314 減圧ホール
320 支持シェルフ
510 処理容器
511 処理空間
512 搬入口
514 排気ホール
520 ゲートバルブ
530 排気ライン
540 電源ユニット
542 電源
544 整合器
550 支持ユニット
552 チャック
554 絶縁板
556 クォーツリング
R リング部材
560 第1リフトピンモジュール
570 第2リフトピンモジュール
580 バッフル板
582 バッフルホール
590 ガス供給ユニット
592 ガス供給源
594 ガス供給ライン
700 制御器

Claims (16)

  1. 基板処理装置の基板搬送ロボットがリング部材を搬送するのに使用されるリングキャリヤーにおいて、
    板形状を有する本体と、
    前記リング部材の内周と対向するように前記本体の上面から突出されて形成されるガイド突起と、を含み、
    前記本体には、
    前記リングキャリヤーを整列する時に使用されるアラインメントホールが前記本体を貫通して形成され、
    前記ガイド突起は、
    前記リング部材が有するフラットゾーン(Flat Zone)の内周と対向する位置に形成され、
    前記フラットゾーンの内周と対応するフラット部と、
    前記フラット部から曲がって延長され、前記リング部材が有するラウンドゾーン(Round-Zone)の内周と対応するラウンド部を含み、
    前記ガイド突起は、
    第1ガイド突起と、
    前記第1ガイド突起と離隔されて形成され、前記第1ガイド突起と対称な形状を有する第2ガイド突起と、を含む
    リングキャリヤー。
  2. 前記本体は、
    中央領域がブロッキングプレート(Blocking Plate)である円板形状を有する請求項1に記載のリングキャリヤー。
  3. 前記アラインメントホールは、
    前記第1ガイド突起、そして前記第2ガイド突起の間に形成される請求項1乃至請求項2中のいずれか一項に記載のリングキャリヤー。
  4. 前記本体の縁領域には、
    少なくとも1つ以上の開口が前記本体を貫通して形成される請求項1乃至請求項2中のいずれか一項に記載のリングキャリヤー。
  5. 前記開口は、
    前記本体の外周を含む前記本体の縁領域に形成される請求項4に記載のリングキャリヤー。
  6. 前記リングキャリヤーは、
    前記本体の下面に提供される少なくとも1つ以上の滑り防止パッドを含む請求項1乃至請求項2中のいずれか一項に記載のリングキャリヤー。
  7. 前記リングキャリヤーは、
    前記本体の下面から下方向に突出される滑り防止ピンを含む請求項1乃至請求項2中のいずれか一項に記載のリングキャリヤー。
  8. 基板を処理するシステムにおいて、
    搬送ハンドを有する搬送ロボットが提供されるインデックスチャンバーと、
    前記インデックスチャンバーと連結されるロードロックチャンバーと、
    前記インデックスチャンバー、そして前記ロードロックチャンバーの間でリング部材を搬送する間に前記リング部材を支持するリングキャリヤーと、
    前記リングキャリヤーを整列する整列ユニットと、を含み、
    前記リングキャリヤーは、
    円板形状を有する本体と、
    前記本体に置かれる前記リング部材のスライディングを防止するガイド突起と、を含み、
    前記本体には、
    前記整列ユニットが前記リングキャリヤーを整列する時に使用されるアラインメントホールが前記本体を貫通して形成され、
    前記ガイド突起は、
    前記リング部材が有するフラットゾーン(Flat Zone)の内周と対向する位置に形成され、
    前記フラットゾーンの内周と対応するフラット部と、
    前記フラット部から曲がって延長され、前記リング部材が有するラウンドゾーン(Round-Zone)の内周と対応するラウンド部を含み、
    前記ガイド突起は、
    第1ガイド突起と、
    前記第1ガイド突起と離隔されて形成され、前記第1ガイド突起と対称な形状を有する第2ガイド突起と、を含む
    基板処理システム。
  9. 前記アラインメントホールは、
    前記基板に形成されたノッチと対応する位置に形成され、
    前記ノッチは、前記整列ユニットが前記基板を整列する時に使用される
    請求項8に記載の基板処理システム。
  10. 前記ラウンド部の外周と前記ラウンドゾーンの内周は、互いに同一の曲率半径を有する請求項8に記載の基板処理システム。
  11. 前記本体の縁領域には、
    複数の開口が前記本体を貫通して形成され、
    前記開口は、
    上部から見る時、前記ロードロックチャンバーに提供される支持シェルフと重畳される位置に形成される請求項8乃至請求項10中のいずれか一項に記載の基板処理システム。
  12. 前記開口は、
    前記本体の外周を含む前記本体の縁領域に形成される請求項11に記載の基板処理システム。
  13. 前記整列ユニットは、
    前記リングキャリヤーを支持及び回転させるチャックと、
    前記チャックに支持された前記リングキャリヤーの前記アラインメントホールに向かって光を照射する照射部と、
    前記アラインメントホールを通過した前記光を受光する受光部と、を含む請求項8乃至請求項10中のいずれか一項に記載の基板処理システム。
  14. 基板を処理するシステムにおいて、
    内部が大気圧雰囲気に維持され、搬送ロボットが提供されるインデックスチャンバーと、
    プラズマを利用して基板を処理する工程チャンバーと、
    前記インデックスチャンバー、そして前記工程チャンバーの間に配置され、内部が大気圧雰囲気、そして真空圧雰囲気の間で転換されるロードロックチャンバーと、
    前記ロードロックチャンバー、そして前記インデックスチャンバーの間に前記工程チャンバーに提供されるリング部材を搬送するのに使用されるリングキャリヤーと、
    制御器と、を含み、
    前記制御器は、
    前記搬送ロボットのハンドが前記リング部材が置かれる前記リングキャリヤーを前記ロードロックチャンバー、そして前記インデックスチャンバーの間に搬送するように前記搬送ロボットを制御し、
    前記リングキャリヤーは、
    円板形状を有する本体と、
    前記リング部材が有するフラットゾーン(Flat Zone)の内周と対向するように前記本体の上面から突出されて形成されるガイド突起と、を含み、
    前記本体には、
    前記リングキャリヤーを整列する時に使用されるアラインメントホールが前記本体を貫通して形成され、
    前記ガイド突起は、
    前記フラットゾーンの内周と対応するフラット部と、
    前記フラット部から曲がって延長され、前記リング部材が有するラウンドゾーン(Round-Zone)の内周と対応するラウンド部を含み、
    前記ガイド突起は、
    第1ガイド突起と、
    前記第1ガイド突起と離隔されて形成され、前記第1ガイド突起と対称な形状を有する第2ガイド突起と、を含む
    基板処理システム。
  15. 前記基板に形成されたノッチ又は前記リングキャリヤーに形成された前記アラインメントホールの方向に基づいて前記基板又は前記リングキャリヤーを整列する整列ユニットをさらに含み、
    前記アラインメントホールは、
    前記ノッチと対応する位置に形成される請求項14に記載の基板処理システム。
  16. 前記ロードロックチャンバーは、
    前記基板又は前記リング部材を支持する複数の支持シェルフを有し、
    前記本体の縁領域には、
    複数の開口が前記本体を貫通して形成され、
    前記開口は、
    上部から見る時、各々前記支持シェルフと重畳される位置に形成される請求項14又は請求項15に記載の基板処理システム。
JP2022077504A 2021-05-17 2022-05-10 リングキャリヤー及び基板処理システム Active JP7461984B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2021-0063450 2021-05-17
KR1020210063450A KR20220156138A (ko) 2021-05-17 2021-05-17 링 캐리어 및 기판 처리 시스템

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2022176902A JP2022176902A (ja) 2022-11-30
JP7461984B2 true JP7461984B2 (ja) 2024-04-04

Family

ID=83998920

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022077504A Active JP7461984B2 (ja) 2021-05-17 2022-05-10 リングキャリヤー及び基板処理システム

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20220367155A1 (ja)
JP (1) JP7461984B2 (ja)
KR (2) KR20220156138A (ja)
CN (1) CN115360074A (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102652834B1 (ko) * 2020-08-07 2024-04-02 세메스 주식회사 용기 및 기판 처리 장치
US20240190026A1 (en) * 2022-12-12 2024-06-13 Applied Materials, Inc. Carrier with rotation prevention feature

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004200219A (ja) 2002-12-16 2004-07-15 Tokyo Electron Ltd 処理装置及び処理方法
JP2013258260A (ja) 2012-06-12 2013-12-26 Tokyo Electron Ltd 基板搬送方法及び基板搬送装置
JP2017098540A (ja) 2015-10-22 2017-06-01 ラム リサーチ コーポレーションLam Research Corporation 正面開口式リングポッド
US20200373194A1 (en) 2019-05-20 2020-11-26 Applied Materials, Inc. Process kit ring adaptor
JP2021034390A (ja) 2019-08-13 2021-03-01 東京エレクトロン株式会社 基板処理システムにおける搬送方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10062599B2 (en) * 2015-10-22 2018-08-28 Lam Research Corporation Automated replacement of consumable parts using interfacing chambers
US10124492B2 (en) * 2015-10-22 2018-11-13 Lam Research Corporation Automated replacement of consumable parts using end effectors interfacing with plasma processing system
US11043400B2 (en) * 2017-12-21 2021-06-22 Applied Materials, Inc. Movable and removable process kit
US10651097B2 (en) * 2018-08-30 2020-05-12 Lam Research Corporation Using identifiers to map edge ring part numbers onto slot numbers
US11211269B2 (en) * 2019-07-19 2021-12-28 Applied Materials, Inc. Multi-object capable loadlock system
KR102523365B1 (ko) * 2020-09-23 2023-04-21 세메스 주식회사 기판 처리 장치
KR20220095644A (ko) * 2020-12-30 2022-07-07 세메스 주식회사 기판 처리 장치 및 그 방법
WO2022172827A1 (ja) * 2021-02-09 2022-08-18 東京エレクトロン株式会社 基板処理システム及び搬送方法
KR102650610B1 (ko) * 2021-05-31 2024-03-26 세메스 주식회사 기판 처리 장치 및 기판 처리 시스템
KR102594075B1 (ko) * 2021-05-31 2023-10-24 세메스 주식회사 용기 및 기판 처리 시스템

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004200219A (ja) 2002-12-16 2004-07-15 Tokyo Electron Ltd 処理装置及び処理方法
JP2013258260A (ja) 2012-06-12 2013-12-26 Tokyo Electron Ltd 基板搬送方法及び基板搬送装置
JP2017098540A (ja) 2015-10-22 2017-06-01 ラム リサーチ コーポレーションLam Research Corporation 正面開口式リングポッド
US20200373194A1 (en) 2019-05-20 2020-11-26 Applied Materials, Inc. Process kit ring adaptor
JP2021034390A (ja) 2019-08-13 2021-03-01 東京エレクトロン株式会社 基板処理システムにおける搬送方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR20240018556A (ko) 2024-02-13
US20220367155A1 (en) 2022-11-17
KR20220156138A (ko) 2022-11-25
JP2022176902A (ja) 2022-11-30
CN115360074A (zh) 2022-11-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7461984B2 (ja) リングキャリヤー及び基板処理システム
KR102650610B1 (ko) 기판 처리 장치 및 기판 처리 시스템
JP7492551B2 (ja) 容器及び基板処理システム
US20220093374A1 (en) Apparatus for treating substrate
KR102363678B1 (ko) 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
KR102523364B1 (ko) 기판 처리 장치
KR102635383B1 (ko) 기판 처리 장치
KR20220062186A (ko) 기판 처리 장치 및 반송 로봇 티칭 방법
KR102585286B1 (ko) 기판 처리 장치 및 소모성 부품의 마모도 측정 방법
KR102491002B1 (ko) 링 부재 및 이를 가지는 기판 처리 장치
KR20210107292A (ko) 정렬 장치, 그리고 이를 포함하는 기판 처리 장치
US20230317434A1 (en) Carrier for end effector, transportation apparatus including the same and the substrate processing apparatus
US20220415679A1 (en) Transfer assembly and apparatus for treating a substrate with the transfer assembly
KR102649714B1 (ko) 기판 처리 장치 및 기판 반송 방법
KR102728371B1 (ko) 엔드 이펙터용 캐리어, 이를 포함하는 운반 장치 및 기판 처리 장치
KR20220016325A (ko) 로드락 챔버, 이를 가지는 기판 처리 장치
KR20220065415A (ko) 포커스 링 및 기판 처리 장치
KR20230031676A (ko) 기판 지지 유닛과 이를 가지는 기판 처리 장치 및 링 반송 방법
KR20240067698A (ko) 기판 지지 유닛과 이를 가지는 기판 처리 장치 및 링 반송 방법
KR20230034673A (ko) 기판 지지 유닛과 이를 가지는 기판 처리 장치 및 링 반송 방법
CN117637425A (zh) 用于处理基板的设备

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20220510

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20230615

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230801

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20231031

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20231121

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20240221

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20240305

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20240325

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7461984

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150