JP7437227B2 - D級増幅器 - Google Patents

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本開示は、D級増幅器に関する。
ハーフブリッジ型またはブリッジ型のD級増幅器は、パワーMOSトランジスタを直列接続したプッシュプル型の出力段により構成されている。
従来、この出力段において、直列接続したパワーMOSトランジスタが同時にオンすることを防ぐために、デッドタイムを有する制御信号によりパワーMOSトランジスタを制御することが提案されていた。
しかしながら、デッドタイムを大きくするとLC型のロウパスフィルタを通したアナログ出力の歪率が悪化するという問題が生じるため、デッドタイムをできる限り小さくすることが望まれていた。
特許第5596582号公報 米国特許第8188769号公報 特開2019-169912号公報
ところで、高音質のD級増幅器を実現するためには、より理想的なPWM波形が必要とされるが、このためには、PWM信号の立ち上がりタイミングおよび立下がりタイミングを極力揃えてかつ高速に信号遷移を行わせる必要がある。
しかしながら、上記従来の技術においては、急峻な信号遷移が行われた場合に、オフ状態にあるべきパワーMOSトランジスタが出力端子容量からのフィードバックによってオン状態となるセルフターン現象により大きな貫通電流が流れてしまうという問題点があった。
本技術は、このような状況に鑑みてなされたものであり、高速なスイッチングを実現しつつ、貫通電流を抑制して可能な限り高速なスイッチングが行え、ひずみの少ない増幅信号出力が可能なD級増幅器を提供することを目的としている。
実施形態のD級増幅器は、高電位側電源に一端が接続された第1トランジスタと、第1トランジスタと低電位側電源との間に第1トランジスタに直列に接続され、第1トランジスタの駆動制御と相補的に駆動制御される第2トランジスタと、入力信号に基づいて第1トランジスタ及び前記第2トランジスタの駆動制御を行うとともに、前記第1トランジスタ及び第2トランジスタのうち、いずれか一方のセルフターンオン状態が検出されている場合に、第1トランジスタ及び前記第2トランジスタのうち、いずれか他方の信号遷移速度を制限する制限駆動回路と、を備える。
図1は、実施形態の原理説明図である。 図2は、実施形態の概要動作説明図である。 図3は、第1実施形態のD級増幅器の回路例の説明図である。 図4は、第2実施形態のD級増幅器の回路例の説明図である。 図5は、第2実施形態の概要動作説明図である。 図6は、第1実施形態及び第2実施形態の効果の一例の説明図である。
以下、図面を参照して、実施形態について詳細に説明する。
[1]原理説明
図1は、実施形態の原理説明図である。
実施形態のD級増幅器10は、高電位側電源VDDに一端が接続された第1トランジスタ11と、第1トランジスタ11と低電位側電源VSSとの間に第1トランジスタ11に直列に接続され、第1トランジスタ11の駆動制御と相補的に駆動制御される第2トランジスタ12と、高電位側信号源電源AVDDと低電位側信号源電源AVSSの間で遷移する入力信号Vinに対応する入力信号Vin1及び入力信号Vin2に基づいて第1トランジスタ11及び第2トランジスタ12の駆動制御を行うとともに、第1トランジスタ11及び第2トランジスタ12が同時にオン状態となっているセルフターンオン状態が検出されている場合に第1トランジスタ11及び第2トランジスタ12を流れる電流を制限する制限駆動回路13と、を備えている。
さらにD級増幅器10は、第1トランジスタ11及び第2トランジスタ12の制御入力電圧に基づいて、セルフターンオン状態を検出するセルフターンオン検出回路14と、入力信号Vinに対する処理を行って制限駆動回路13に入力信号Vin1として出力する第1入力信号処理回路15と、入力信号Vinに対する処理を行って制限駆動回路13に入力信号Vin2として出力する第2入力信号処理回路16と、を備えている。
上記構成において、制限駆動回路13は、第2トランジスタ12がオフ状態となるべき制御状態においてオン状態となってしまった場合に、第1トランジスタ11の遷移速度を制限し、第1トランジスタ11に高電位側電源VDDから流れ込む電流を制御する第1制限回路21と、第1トランジスタを駆動する駆動信号D1を生成する第1駆動回路22と、第1トランジスタ11がオフ状態となるべき制御状態においてオン状態となってしまった場合に、第2トランジスタ12の遷移速度を制限し、第2トランジスタ12から低電位側電源VSSに流れ込む電流を制御する第2制限回路23と、第2トランジスタ12を駆動する駆動信号D2を生成する第2駆動回路24と、を備えている。
セルフターンオン検出回路14は、第1トランジスタ11がオフ状態となるべき制御状態において、オン状態となってしまったことを検出する第1検出回路として機能する第1セルフターンオン検出回路31と、第2トランジスタ12がオフ状態となるべき制御状態において、オン状態となってしまったことを検出する第2検出回路として機能する第2セルフターンオン検出回路32と、を備えている。
次にD級増幅器の概要動作を説明する。
第1入力信号処理回路15は、入力信号Vinに対する処理を行って制限駆動回路13の第1駆動回路22に入力信号Vin1として出力する。
これにより、第1駆動回路22は、第1トランジスタ11を駆動する駆動信号D1を生成し、第1トランジスタ11の制御端子に出力する。
同様に第2入力信号処理回路16は、入力信号Vinに対する処理を行って制限駆動回路13の第2駆動回路24に入力信号Vin2として出力する。
これにより、第2駆動回路24は、第2トランジスタ12を駆動する駆動信号D2を生成し、第2トランジスタ12の制御端子に出力する。
この場合において、第1トランジスタ11の駆動制御と第2トランジスタ12の駆動制御とは、相補的に行われるので、原理的には、第1トランジスタ11と、第2トランジスタとは、排他的にオン/オフされるはずである。
しかしながら、実際には、スイッチングを高速に行った場合、状態遷移中に両トランジスタがオン状態となってしまうタイミングが生じたり、あるいは、オン状態からオフ状態に移行したはずのトランジスタにおいて帰還容量を介して電荷がその制御端子(ゲート端子)に注入され、当該トランジスタがオン状態に移行するセルフターンオン状態が生じたりする。
そこで、セルフターンオン検出回路14の第1セルフターンオン検出回路31は、第1検出回路として機能し、第1トランジスタ11がオフ状態となるべき制御状態において、オン状態となってしまったことを検出する。
これにより、制限駆動回路13の第2制限回路23は、第2トランジスタ12を制御する駆動信号D2を生成する第2駆動回路24を介して、第2トランジスタ12がオフ状態からオン状態に遷移する遷移速度を抑制して第2トランジスタ12から低電位側電源VSSに流れ込む電流を制御する。
この結果、第1トランジスタ11が完全にオフ状態に移行するまで、第2トランジスタ12がオン状態に遷移する遷移速度を抑制することで、第1トランジスタ11及び第2トランジスタ12を流れる貫通電流を抑制しつつ、高速に第2トランジスタ12をオン状態に遷移させることができる。
同様に第2セルフターンオン検出回路32は、第2検出回路として機能し、第2トランジスタ12がオフ状態となるべき制御状態において、オン状態となってしまったことを検出する。
これにより、制限駆動回路13の第1制限回路21は、第1トランジスタ11を制御する駆動信号D1を生成する第1駆動回路22を介して、第1トランジスタ11がオフ状態からオン状態に遷移する遷移速度を抑制して第1トランジスタ11に高電位側電源VDDから流れ込む電流を制御する。
この結果、第2トランジスタ12が完全にオフ状態に移行するまで、第1トランジスタ11がオン状態に遷移する遷移速度を抑制することで、第1トランジスタ11及び第2トランジスタ12を流れる貫通電流を抑制しつつ、高速に第1トランジスタ11をオン状態に遷移させることができる。
図2は、実施形態の概要動作説明図である。
図2においては、第1トランジスタ11をオフ状態に遷移させ、第2トランジスタ12をオン状態に遷移させる場合に、第1トランジスタ11においてセルフターンオンが検出された場合を例として説明する。
時刻t1において、入力信号Vinが“H”(=AVDDの電圧)から“L”(=AVSSの電圧)に遷移した場合、第1トランジスタ11の制御端子(ゲート端子)に入力されている第1駆動信号D1は電圧が徐々に低下し、第2トランジスタ12の制御端子(ゲート端子)に入力されている第2駆動信号D2は、徐々に増加する。このとき、出力信号Voutは“H”レベルから“L”レベルへ遷移する。
これと並行して、第1駆動信号D1が減少し、所定の閾値電圧Vth以下となると、第1セルフターンオン検出回路31の出力信号である第1セルフターンオン検出信号ST1は徐々に増加する。そして、第1セルフターンオン検出信号ST1は、時刻t3において、第2駆動信号D2と同一となる。これにより、第2制限回路23は、第2駆動信号D2の減少を開始する。
その後、時刻t4において、第1駆動信号D1がセルフターンオンにより徐々に増加し、再び所定の閾値電圧Vthを超えると、第1セルフターンオン検出回路31の第1セルフターンオン検出信号ST1は減少に転じる。
そして、時刻t5において、第1駆動信号D1が再び高電位側電源VDDの電圧と等しくなると、第2制限回路23は、第2駆動信号D2を徐々に増加させる状態を維持し、第2トランジスタ12の遷移速度を抑制して、第2トランジスタ12を介して第1トランジスタ11から低電位側電源VSSに流れる電流を抑制することとなる。
そして、時刻t6において、第1セルフターンオン検出信号ST1の電圧と第2駆動信号D2の電圧が等しくなり、第1トランジスタ11がセルフターンオン状態からオフ状態に移行可能な状態となるのに十分な時間が経過すると、第2トランジスタ12を通常の遷移速度でオン状態に遷移させることとなる。
以上の説明のように、本実施形態によれば、一方のトランジスタ(上述の例では、第1トランジスタ11)がセルフターンオン状態に移行したことが検出されると、一方のトランジスタのセルフターンオン状態が解消するのに十分な時間が経過するまで、他方のトランジスタ(上述の例では、第2トランジスタ12)の遷移速度を制限し、両トランジスタがオン状態になることによる貫通電流を抑制して徐々に他方のトランジスタをオン状態に遷移させる。
そして、一方のトランジスタのセルフターンオン状態が解消するのに十分な時間が経過すると通常の遷移速度で他方のトランジスタをオン状態に遷移させる。
したがって、双方のトランジスタがオン状態になることによる貫通電流を抑制しつつ、オン状態に遷移させるべき他方のトランジスタの遷移を継続することで、遷移に要する時間を高速化することができる。
したがって、実施形態によれば、D級増幅器において、実効的なデッドタイムを可能な限り短くし、信号遷移時間を高速な状態補保持できるので、忠実度の高いスイッチング波形(PWM波形)を実現することができる。さらには、セルフターンオン現象を制御することで無効な貫通電流を抑制して、消費電力の低減も図れる。
[2]第1実施形態
次に第1実施形態について説明する。
図3は、第1実施形態のD級増幅器の回路例の説明図である。
図3において、図1と同様の部分には、同一の符号を付すものとする。
第1実施形態のD級増幅器10Aは、高電位側電源VDDに一端が接続された第1トランジスタ11として機能するPチャネルDMOSトランジスタMP4と、PチャネルDMOSトランジスタMP4と低電位側電源VSSとの間にPチャネルDMOSトランジスタMP4に直列に接続され、PチャネルDMOSトランジスタMP4の駆動制御と相補的に駆動制御され第2トランジスタ12として機能するNチャネルDMOSトランジスタMN4と、入力信号Vinに対応する入力信号Vin1及び入力信号Vin2に基づいてPチャネルDMOSトランジスタMP4及びNチャネルDMOSトランジスタMN4の駆動制御を行うとともに、PチャネルDMOSトランジスタMP4及びNチャネルDMOSトランジスタMN4が同時にオン状態となっているセルフターンオン状態が検出されている場合にPチャネルDMOSトランジスタMP4及びNチャネルDMOSトランジスタMN4を流れる電流を制限する制限駆動回路13と、を備えている。
制限駆動回路13は、NチャネルDMOSトランジスタMN4がオフ状態となるべき制御状態においてオン状態となってしまった場合に、PチャネルDMOSトランジスタMP4の遷移速度を制限し、PチャネルDMOSトランジスタMP4に高電位側電源VDDから流れ込む電流を制御する第1制限回路21と、第1トランジスタを駆動する駆動信号D1を生成する第1駆動回路22と、PチャネルDMOSトランジスタMP4がオフ状態となるべき制御状態においてオン状態となってしまった場合に、NチャネルDMOSトランジスタMN4の遷移速度を制限し、NチャネルDMOSトランジスタMN4から低電位側電源VSSに流れ込む電流を制御する第2制限回路23と、NチャネルDMOSトランジスタMN4を駆動する駆動信号D2を生成する第2駆動回路24と、を備えている。
上記構成において、第1制限回路21は、ソース端子が中間電位電源VSS1に接続されたNチャネルMOSトランジスタMN2を備えている。この場合において、中間電位電源VSS1の電圧は、低電位側電源VSSより高い電圧に設定されている。
第1駆動回路22は、ソース端子が高電位側電源VDDに接続され、ドレイン端子がPチャネルDMOSトランジスタMP4の制御端子であるゲート端子に接続され、ゲート端子が第1入力信号処理回路15の出力端子に接続されたPチャネルMOSトランジスタMP1と、ドレイン端子がPチャネルMOSトランジスタMP1のソース端子に接続され、ソース端子がNチャネルMOSトランジスタMN2のドレイン端子に接続され、ゲート端子が第1入力信号処理回路15の出力端子に接続されたNチャネルMOSトランジスタMN1と、を備えている。ここで、PチャネルMOSトランジスタMP1と、NチャネルMOSトランジスタMN1とは、相補的に動作して、第1駆動信号D1を生成するCMOSトランジスタを構成している。
第2制限回路23は、ソース端子が中間電位電源VDD1に接続されたPチャネルMOSトランジスタMP2を備えている。この場合において、中間電位電源VDD1の電圧は、高電位側電源VDDより低い電圧に設定されている。
第2駆動回路24は、ソース端子がPチャネルMOSトランジスタMP2のドレイン端子に接続され、ドレイン端子がNチャネルDMOSトランジスタMN4の制御端子であるゲート端子に接続され、ゲート端子が第2入力信号処理回路16の出力端子に接続されたPチャネルMOSトランジスタMP3と、ドレイン端子がPチャネルMOSトランジスタMP3のドレイン端子に接続され、ソース端子が低電位側電源VSSに接続され、ゲート端子が第1入力信号処理回路16の出力端子に接続されたNチャネルMOSトランジスタMN3と、を備えている。ここで、PチャネルMOSトランジスタMP3と、NチャネルMOSトランジスタMN3とは、相補的に動作して、第2駆動信号D2を生成するCMOSトランジスタを構成している。
セルフターンオン検出回路14は、PチャネルDMOSトランジスタMP4がオフ状態となるべき制御状態において、オン状態となるセルフターンオン状態になっていることを検出する第1検出回路として機能する第1セルフターンオン検出回路31と、NチャネルDMOSトランジスタMN4がオフ状態となるべき制御状態において、オン状態となるセルフターンオン状態になっていることを検出する第2検出回路として機能する第2セルフターンオン検出回路32と、を備えている。
第1セルフターンオン検出回路31は、ソース端子が高電位側電源VDDに接続され、ゲート端子がPチャネルDMOSトランジスタMP4のゲート端子に接続されたPチャネルMOSトランジスタMP6と、ソース端子がPチャネルMOSトランジスタMP6のドレイン端子に接続され、ゲート端子が第1入力信号処理回路15の出力端子に接続されたPチャネルMOSトランジスタMP7と、ドレイン端子がPチャネルMOSトランジスタMP7のドレイン端子に接続され、ゲート端子が中間電位電源VDD1に接続されたNチャネルMOSトランジスタMN7と、一端がNチャネルMOSトランジスタMN7のソース端子に接続され、他端が低電位側電源VSSに接続され、第2制限回路23を制御するための電圧を発生する抵抗R2と、を備えている。
第2セルフターンオン検出回路32は、一端が高電位側電源VDDに接続された抵抗R1と、ソース端子が抵抗R1の他端に接続され、ゲート端子が中間電位電源VSS1に接続されたPチャネルMOSトランジスタMP5と、ドレイン端子がPチャネルMOSトランジスタMP5のドレイン端子に接続され、ゲート端子が第2入力信号処理回路16の出力端子に接続されたNチャネルMOSトランジスタMN5と、ドレイン端子がNチャネルMOSトランジスタMN5のソース端子が接続され、ソース端子が低電位側電源VSSに接続され、ゲート端子がNチャネルDMOSトランジスタMN4のゲート端子に接続されたNチャネルMOSトランジスタMN6と、を備えている。
第1入力信号処理回路15は、高電位側信号源電源AVDDの電位と、低電位側信号源電源AVSSの電位との間で遷移する入力信号Vinを、高電位側電源VDDの電位と、中間電位電源VSS1との間で遷移する信号にレベルシフトを行って出力する第1レベルシフト回路LS1と、第1レベルシフト回路LS1の出力信号を反転して、入力信号Vin1として制限駆動回路13に出力する第1NOT回路NT1と、を備えている。
第2入力信号処理回路16は、高電位側信号源電源AVDDの電位と、低電位側信号源電源AVSSの電位との間で遷移する入力信号Vinを、中間電位電源VDD1の電位と、低電位側電源VSSの電位との間で遷移する信号にレベルシフトを行って出力する第2レベルシフト回路LS2と、第2レベルシフト回路LS2の出力信号を反転して、入力信号Vin2として制限駆動回路13に出力する第2NOT回路NT2と、を備えている。
次に第1実施形態の動作を説明する。
まず、第1セルフターンオン検出回路31がPチャネルDMOSトランジスタMP4のセルフターンオンを検出した場合を例として動作を説明する。
PチャネルDMOSトランジスタMP4をオン状態からオフ状態に遷移させる場合には、PチャネルDMOSトランジスタMP4のゲート端子に、第1駆動回路22から、 “H”レベルの第1駆動信号D1が入力される。
これと並行して、NチャネルDMOSトランジスタMN4をオフ状態からオン状態に遷移させるために、NチャネルDMOSトランジスタMN4のゲート端子には、第2駆動回路24から“H”レベルの第2駆動信号D2が入力される。
この結果、第1セルフターンオン検出回路31を構成しているPチャネルMOSトランジスタMP7には、“L”レベルの入力信号Vin1が入力されてオン状態となり、第1セルフターンオン検出回路31が起動状態となる。
このとき、出力信号Voutが“H”レベルから“L”レベルへの遷移が開始されたときに、出力信号Voutの出力端子とPチャネルDMOSトランジスタMP4のゲート端子との間で帰還がかかってしまう場合がある。
この場合には、PチャネルDMOSトランジスタMP4をオフ状態に駆動する第1駆動信号D1にかかわらず、PチャネルDMOSトランジスタMP4のゲート端子にPチャネルDMOSトランジスタMP4をオン状態に遷移する閾値電圧Vthを超える電圧が印加されることがある。
このとき、PチャネルDMOSトランジスタMP4と同じ閾値電圧Vthを有するPチャネルMOSトランジスタMP6は、ゲート端子がPチャネルDMOSトランジスタMP4のゲート端子と共通接続されているため、オン状態に遷移することとなる。
これにより、高電位側電源VDDからPチャネルMOSトランジスタMP6を介してPチャネルMOSトランジスタMP7に電流が供給される。
一方、NチャネルMOSトランジスタMN7は、オン状態であるので、抵抗R2に電流が流れ込み、抵抗R2の両端に抵抗値に比例する電圧が発生する。
この抵抗R2に発生した電圧は、第2制限回路23を構成しているPチャネルMOSトランジスタMP2をオフ状態に遷移させる側に働くこととなる。
したがって、中間電位電源VDD1から第2駆動回路24を構成しているPチャネルMOSトランジスタMP3及びNチャネルMOSトランジスタMN3の実効的なオン抵抗が増大し、NチャネルDMOSトランジスタMN4がオフ状態からオン状態に遷移する遷移速度を抑制し、オン状態への遷移が抑制される。
また、PチャネルDMOSトランジスタMP4と同様に、NチャネルDMOSトランジスタMN4は、NチャネルDMOSトランジスタMN4をオン状態に駆動する第2駆動信号D2にかかわらず、NチャネルDMOSトランジスタMN4のゲート端子にNチャネルDMOSトランジスタMN4をオフ状態に遷移する閾値電圧Vthを下回る電圧が印加されるので、NチャネルDMOSトランジスタMN4はよりオフ状態に近くなる。
したがって、PチャネルDMOSトランジスタMP4がセルフターンオン状態となることによる、PチャネルDMOSトランジスタMP4及びNチャネルDMOSトランジスタMN4が同時にオンすることによって生じる貫通電流を抑制することができる。
その後、PチャネルDMOSトランジスタMP4のセルフターンオン状態が解消し、PチャネルDMOSトランジスタMP4がオフ状態に移行すると、PチャネルMOSトランジスタMP6もオフ状態に移行して、抵抗R2に流れる電流も少なくなって、最終的には流れなくなる。
この結果、中間電位電源VDD1から第2駆動回路24を構成しているPチャネルMOSトランジスタMP3及びNチャネルMOSトランジスタMN3の実効的なオン抵抗が減少し、NチャネルDMOSトランジスタMN4がオフ状態からオン状態に遷移する遷移速度は通常の駆動状態(本来の駆動能力状態)となって、直ちにNチャネルDMOSトランジスタMN4はオン状態へ遷移する。
次に第2セルフターンオン検出回路32がNチャネルDMOSトランジスタMN4のセルフターンオンを検出した場合を例として動作を説明する。
NチャネルDMOSトランジスタMN4をオン状態からオフ状態に遷移させる場合には、NチャネルDMOSトランジスタMN4のゲート端子に、第2駆動回路24から、“L”レベルの第2駆動信号D2が入力される。
これと並行して、PチャネルDMOSトランジスタMP4をオフ状態からオン状態に遷移させるために、PチャネルDMOSトランジスタMP4のゲート端子には、第1駆動回路22から“L”レベルの第1駆動信号D1が入力される。
この結果、第2セルフターンオン検出回路32を構成しているNチャネルMOSトランジスタMN5には、“H”レベルの入力信号Vin2が入力されてオン状態となり、第2セルフターンオン検出回路32が起動状態となる。
このとき、出力信号Voutが“L”レベルから“H”レベルへの遷移が開始されたときに、出力信号Voutの出力端子とNチャネルDMOSトランジスタMN4のゲート端子との間で帰還がかかってしまう場合がある。
この場合には、NチャネルDMOSトランジスタMN4をオフ状態に駆動する第2駆動信号D2にかかわらず、NチャネルDMOSトランジスタMN4のゲート端子にNチャネルDMOSトランジスタMN4をオン状態に遷移する閾値電圧Vthを超える電圧が印加されることがある。
このとき、NチャネルDMOSトランジスタMN4と同じ閾値電圧Vthを有するNチャネルMOSトランジスタMN6は、ゲート端子がNチャネルDMOSトランジスタMN4のゲート端子と共通接続されているため、オン状態に遷移することとなる。
これにより、低電位側電源VSSにNチャネルMOSトランジスタMN6を介してNチャネルMOSトランジスタMN5から電流が引き込まれる。
一方、PチャネルMOSトランジスタMP5は、オン状態であるので、抵抗R1を介して高電位側電源VDDから電流が流れ込み、抵抗R1の両端に抵抗値に比例する電圧が発生する。
この抵抗R1に発生した電圧は、第1制限回路21を構成しているNチャネルMOSトランジスタMN2をオフ状態に遷移させる側に働くこととなる。
したがって、高電位側電源VDDから第1駆動回路22を構成しているPチャネルMOSトランジスタMP1及びNチャネルMOSトランジスタMN1の実効的なオン抵抗が増大し、PチャネルDMOSトランジスタMP4がオフ状態からオン状態に遷移する遷移速度を抑制し、オン状態への遷移が抑制される。
また、NチャネルDMOSトランジスタMN4と同様に、PチャネルDMOSトランジスタMP4は、PチャネルDMOSトランジスタMP4をオン状態に駆動する第1駆動信号D1にかかわらず、PチャネルDMOSトランジスタMP4のゲート端子にPチャネルDMOSトランジスタMP4をオフ状態に遷移する閾値電圧Vthを上回る電圧が印加されるので、PチャネルDMOSトランジスタMP4はよりオフ状態に近くなる。
したがって、NチャネルDMOSトランジスタMN4がセルフターンオン状態となることによる、NチャネルDMOSトランジスタMN4及びPチャネルDMOSトランジスタMP4が同時にオンすることによって生じる貫通電流を抑制することができる。
その後、NチャネルDMOSトランジスタMN4のセルフターンオン状態が解消し、NチャネルDMOSトランジスタMN4がオフ状態に移行すると、NチャネルMOSトランジスタMN6もオフ状態に移行して、抵抗R1に流れる電流も少なくなって、最終的には流れなくなる。
この結果、高電位側電源VDDから第1駆動回路22を構成しているPチャネルMOSトランジスタMP1及びNチャネルMOSトランジスタMN1の実効的なオン抵抗が減少し、PチャネルDMOSトランジスタMP4がオフ状態からオン状態に遷移する遷移速度は通常の駆動状態(本来の駆動能力状態)となって、直ちにPチャネルDMOSトランジスタMP4はオン状態へ遷移する。
以上の説明のように、本第1実施形態によれば、無効な貫通電流を抑制し、かつ、可能な限り高速なスイッチングが行え、入力信号Vinに忠実な波形再現が可能となり、ひずみの少ない増幅信号出力が可能なD級増幅器を提供することが可能となる。
[2]第2実施形態
次に第2実施形態について説明する。
図4は、第2実施形態のD級増幅器の回路例の説明図である。
図4において、図3の第1実施形態と同様の部分には、同一の符号を付すものとする。
本第2実施形態のD級増幅器10Bが第1実施形態と異なる点は、第1セルフターンオン検出回路31の出力した第1セルフターンオン検出信号ST1に基づいて、NチャネルDMOSトランジスタMN4を第1セルフターンオン検出信号ST1の電圧に基づく定電流動作を行わせる第1中間値クランプ回路41及び第2セルフターンオン検出回路32の出力した第2セルフターンオン検出信号ST2に基づいて、PチャネルDMOSトランジスタMP4を第2セルフターンオン検出信号ST2の電圧に基づく定電流動作を行わせる第2中間値クランプ回路42を設けた点である。
第1中間値クランプ回路41は、ゲート端子に第1セルフターンオン検出信号ST1が入力され、ソース端子が低電位側電源VSSに接続され、ドレイン端子が第2駆動回路24の出力端子が接続されたNチャネルMOSトランジスタMN8を備えている。
同様に第2中間値クランプ回路42は、ゲート端子に第2セルフターンオン検出信号ST2が入力され、ドレイン端子が高電位側電源VDDに接続され、ソース端子が第1駆動回路22の出力端子が接続されたPチャネルMOSトランジスタMP8を備えている。
本第2実施形態において、概要動作は第1実施形態と同様であるので、第1中間値クランプ回路41と第2中間値クランプ回路42に関連する概要動作を説明する。
図5は、第2実施形態の概要動作説明図である。
図5においては、理解の容易のため、第1トランジスタ11としてのPチャネルDMOSトランジスタMP4をオフ状態に遷移させ、第2トランジスタ12としてのNチャネルDMOSトランジスタMN4をオン状態に遷移させる場合に、PチャネルDMOSトランジスタMP4においてセルフターンオンが検出された場合を例として説明する。
時刻t1において、入力信号Vinが“H”(=AVDDの電圧)から“L”(=AVSSの電圧)に遷移した場合、PチャネルDMOSトランジスタMP4の制御端子(ゲート端子)に入力されている第1駆動信号D1は電圧が徐々に低下し、NチャネルDMOSトランジスタMN4の制御端子(ゲート端子)に入力されている第2駆動信号D2は、徐々に増加する。このとき、出力信号Voutは“H”レベルから“L”レベルへ遷移する。
これと並行して、第1駆動信号D1が減少し、所定の閾値電圧Vth以下となると、第1セルフターンオン検出回路31の出力信号である第1セルフターンオン検出信号ST1は徐々に増加する。
そして、時刻t3になると、第2制限回路23としてのPチャネルMOSトランジスタMP2のオン抵抗値を増大させるタイミングで第2中間値クランプ回路42として機能するNチャネルMOSトランジスタMN8が徐々にオン状態に遷移することにより、NチャネルDMOSトランジスタMN4のゲート端子は、PチャネルMOSトランジスタMP2及びPチャネルMOSトランジスタMP3を合わせたオン抵抗と、NチャネルMOSトランジスタMN8のオン抵抗でクランプされ、第1セルフターンオン検出回路31の出力した第1セルフターンオン検出信号ST1の検出電圧に従った定電流動作に移行することになる。第1実施形態では、第1制限回路22および第2制限回路23の動作により、PチャネルDMOSトランジスタMP4およびNチャネルDMOSトランジスタMN4の遷移速度を制限していたため、第1制限回路21を構成しているNチャネルMOSトランジスタMN2および第2制限回路23を構成しているPチャネルMOSトランジスタMP2のオン抵抗を適切に設定する必要がある。
これに対し、第2実施形態においては第1中間値クランプ回路41および第2中間値クランプ回路42により、第1制限回路21を構成しているNチャネルMOSトランジスタMN2および第2制限回路23を構成しているPチャネルMOSトランジスタMP2のオン抵抗値を調整することが可能となるため、トランジスタのゲート幅を自由に設定することが可能となる。
したがって、第1実施形態の動作概要を示す図2では時刻t3から時刻t5において第2駆動信号D2の減少が見られたが、第2実施形態の動作概要を示す図5では第2駆動信号D2の減少が見られず、NチャネルDMOSトランジスタMN4がセルフターンオンと逆の現象であるセルフターンオフをしないように第2制限回路23を構成しているPチャネルMOSトランジスタMP2が十分な駆動能力をもつようゲート幅を調整することが可能となる。
したがって、第1セルフターンオン検出信号ST1の検出電圧が徐々に増加するのにしたがって、図5の時刻t3から時刻t5に示すように、第2駆動信号D2は徐々に増加する。
そして、時刻t5に至ると、PチャネルDMOSトランジスタMP4がセルフターンオン状態からオフ状態に移行可能な状態となるのに十分な時間が経過し、NチャネルDMOSトランジスタMN4を通常の遷移速度でオン状態に遷移させることとなる。
この結果、出力信号Voutの出力端子からの帰還に対して、NチャネルDMOSトランジスタMN4のオン抵抗を過度に高くすることなく、無効な貫通電流を抑制し、かつ、可能な限り高速なスイッチングが行え、入力信号Vinに忠実な波形再現が可能となり、ひずみの少ない増幅信号出力が可能なD級増幅器を提供することが可能となる。
[3]第1実施形態及び第2実施形態の効果
図6は、第1実施形態及び第2実施形態の効果の一例の説明図である。
図6には、特許文献1に示されているように、相補的に動作する高電位側電源側のスイッチングトランジスタと低電位側のスイッチングトランジスタとの遷移タイミングにおいて同時に両スイッチングトランジスタをオフにするデッドタイムを設けた場合の信号遷移波形LP1と、特許文献2に示されているように、セルフバイアスにより信号遷移を制限した場合の信号遷移波形LP2と、実施形態の信号遷移波形LEを示している。
信号遷移波形LP1の場合においては、貫通電流は抑制できる(例えば、ピーク電流値0.9A)が、信号遷移速度は遅く(例えば、16ns)、D級増幅器において入力信号に忠実な波形再現はやや困難である。
信号遷移波形LP2の場合においては、信号遷移速度は早く(例えば、4ns)、D級増幅器において入力信号に忠実な波形再現は可能であるが、貫通電流が大きく(例えば、42A)、消費電力の観点からは好ましくない。
これらに対し、本実施形態の信号遷移波形LEの場合においては、信号遷移速度は、信号遷移波形LP2の場合と比較してやや遅いが、十分に高速動作可能でD級増幅器において入力信号に忠実な波形再現は可能であるとともに、貫通電流は、通常のスイッチング動作におけるコイルの充放電においても発生する電流値(例えば、9A)に収まっており、十分に実用的な範囲内であることがわかる。
以上の説明のように本実施形態によれば、無効な貫通電流を抑制し、かつ、可能な限り高速なスイッチングが行え、入力信号に忠実な波形再現が可能となり、ひずみの少ない増幅信号出力が可能なD級増幅器を提供できる。
[4]実施形態の変形例
なお、本技術の実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本技術の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。
例えば、抵抗R1、R2については、順方向接続としたダイオードなど、電流にあわせた電圧を発生する他の素子に置き換えることが可能である。これは各MOSトランジスタの閾値や遷移制約をどのくらいに許容するかに基づいて任意に設定することが可能である。
上記説明においては、高電位側電源VDDの電圧>中間電位電源VSS1、中間電位電源VDD1の電圧>低電位側電源VSSの電圧、高電位側電源VDDの電圧≧中間電位電源VDD1の電圧及び中間電位電源VSS1≧低電位側電源VSSの電圧としていたが、パワートランジスタ(上記説明におけるPチャネルDMOSトランジスタ及びNチャネルDMOSトランジスタ)における電流容量を確保するために、パワートランジスタを並列接続した構成を採る場合には、セルフターンオン検出回路における抵抗(上記説明における抵抗R1及び抵抗R2)を多段型カレントミラー回路に設けるように構成することも可能である。
10、10A、10B D級増幅器
11 第1トランジスタ
12 第2トランジスタ
13 制限駆動回路
14 セルフターンオン検出回路
15 第1入力信号処理回路
16 第2入力信号処理回路
21 第1制限回路
22 第1駆動回路
23 第2制限回路
24 第2駆動回路
31 第1セルフターンオン検出回路
32 第2セルフターンオン検出回路
41 第1中間値クランプ回路
42 第2中間値クランプ回路
D1 第1駆動信号
D1 駆動信号
D2 第2駆動信号
D2 駆動信号
LP1 信号遷移波形
LP2 信号遷移波形
LS1 第1レベルシフト回路
LS2 第2レベルシフト回路
MN1~MN3、MN5~MN8 NチャネルMOSトランジスタ
MN4 NチャネルDMOSトランジスタ
MP1~MP3、MP5~MP8 PチャネルMOSトランジスタ
MP4 PチャネルDMOSトランジスタ
NT1 第1NOT回路
NT2 第2NOT回路
R1、R2 抵抗
ST1 第1セルフターンオン検出信号
ST2 第2セルフターンオン検出信号
VDD1、VSS1 中間電位電源
Vin1、Vin2 入力信号
VDD 高電位側電源
VSS 低電位側電源
AVDD 高電位側信号源電源
AVSS 低電位側信号源電源
Vin 入力信号
Vout 出力信号
Vth 閾値電圧

Claims (7)

  1. 高電位側電源に一端が接続された第1トランジスタと、
    前記第1トランジスタと低電位側電源との間に前記第1トランジスタに直列に接続され、前記第1トランジスタの駆動制御と相補的に駆動制御される第2トランジスタと、
    入力信号に基づいて前記第1トランジスタ及び前記第2トランジスタの駆動制御を行うとともに、前記第1トランジスタ及び前記第2トランジスタのうち、いずれか一方のセルフターンオン状態が検出されている場合に、前記第1トランジスタ及び前記第2トランジスタのうち、いずれか他方の信号遷移速度を制限する制限駆動回路と、
    を備えたD級増幅器。
  2. 前記セルフターンオン状態を検出するセルフターンオン検出回路を備えた、
    請求項1に記載のD級増幅器。
  3. 前記セルフターンオン検出回路は、前記第1トランジスタのセルフターンオン状態を検出する第1検出回路と、
    前記第2トランジスタのセルフターンオン状態を検出する第2検出回路と、
    を備えた請求項2に記載のD級増幅器。
  4. 前記制限駆動回路は、前記第1トランジスタの信号遷移速度を制限する第1制限回路と、
    前記第1トランジスタを駆動する駆動信号を生成する第1駆動回路と、
    前記第2トランジスタの信号遷移速度を制限する第2制限回路と、
    前記第2トランジスタを駆動する駆動信号を生成する第2駆動回路と、
    を備えた請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載のD級増幅器。
  5. 前記第1トランジスタは、PチャネルDMOSトランジスタであり、
    前記第2トランジスタは、NチャネルDMOSトランジスタであり、
    前記第1駆動回路は、第1CMOSインバータ回路として構成され、
    前記第1制限回路は、前記第1CMOSインバータ回路と、前記高電位側電源より低電位かつ前記低電位側電源より高電位の第1中間電位電源と、の間に直列に接続されたNチャネルMOSトランジスタとして構成され、
    前記第2駆動回路は、第2CMOSインバータ回路として構成され、
    前記第2制限回路は、前記第2CMOSインバータ回路と、前記高電位側電源より低電位かつ前記低電位側電源より高電位の第2中間電位電源との間に直列に接続されたチャネルMOSトランジスタとして構成されている、
    請求項4に記載のD級増幅器。
  6. 前記セルフターンオン状態が検出されている場合に前記第1トランジスタあるいは前記第2トランジスタを定電流動作させるクランプ回路を備えた、
    請求項1乃至請求項5のいずれか一項に記載のD級増幅器。
  7. 前記クランプ回路は、前記第1トランジスタの前記セルフターンオン状態が検出されている場合に、前記第2トランジスタを定電流動作させる第1クランプ回路と、
    前記第2トランジスタの前記セルフターンオン状態が検出されている場合に、前記第1トランジスタを定電流動作させる第2クランプ回路と、
    を備えた請求項6に記載のD級増幅器。
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