JP7420198B1 - 硫化物系固体電解質の製造方法および硫化物系固体電解質の製造装置 - Google Patents
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Abstract
Description
特許文献2に記載の製造装置は、構造が複雑であり安定して均質な硫化物系固体電解質を得ることは難しく、また、大量生産にも適していない。
1.加熱炉の槽に硫化物系固体電解質原料を供給し、硫黄元素を含むガス雰囲気下で前記硫化物系固体電解質原料を加熱溶融する硫化物系固体電解質の製造方法であって、前記加熱溶融により融液を得て、前記槽内において、前記融液の底部側の温度を前記融液の液面側の温度より高くすることを含む、硫化物系固体電解質の製造方法。
2.前記槽に前記硫化物系固体電解質原料を供給すること及び前記融液を前記加熱炉外へ排出することを連続的に行う、前記1に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。
3.前記槽における前記融液の深さは50mm以上である、前記1に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。
4.前記槽内において、前記融液の前記底部側の温度は700℃以上である、前記1に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。
5.前記槽内において、前記融液の前記底部側の温度は前記融液の前記液面側の温度より10℃以上高い、前記1に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。
6.硫黄元素を含むガスを前記加熱炉に供給することで前記硫黄元素を含むガス雰囲気を得る、前記1に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。
7.硫黄元素を含む固体を前記加熱炉に供給することで前記硫黄元素を含むガス雰囲気を得る、前記1に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。
8.前記加熱炉は、前記硫化物系固体電解質原料が供給される前記槽と、この前記槽で加熱溶融された前記硫化物系固体電解質原料の融液が供給される追加槽とを有し、
前記槽に前記硫化物系固体電解質原料を供給すること及び前記融液を前記追加槽から前記加熱炉外に排出することを連続的に行い、前記追加槽内の前記融液の温度を前記槽内の前記融液の最低温度よりも高くなるように制御する、前記1~7のいずれか1に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。
9.硫化物系固体電解質原料を硫黄元素を含むガス雰囲気下で加熱溶融するための槽及び加熱部を備えた加熱炉と、
前記加熱溶融により得られる融液の底部側の温度を前記融液の液面側の温度より高くするように前記加熱部の発熱量を制御する制御部とを備える、硫化物系固体電解質の製造装置。
10.前記加熱炉は、前記硫化物系固体電解質原料が供給される前記槽と、この前記槽で加熱溶融された前記硫化物系固体電解質原料の融液が供給される追加槽と、前記槽内の前記硫化物系固体電解質原料を加熱溶融するための前記加熱部と、前記追加槽内の前記融液を加熱するための追加加熱部とを有し、
前記制御部は、前記追加槽内の前記融液の温度を前記槽内の前記融液の最低温度よりも高くするように前記加熱部の発熱量及び前記追加加熱部の発熱量を制御する、前記9に記載の硫化物系固体電解質の製造装置。
本発明の実施形態に係る硫化物系固体電解質の製造方法(以下、本製造方法ともいう)は、加熱炉の槽(第1槽)に硫化物系固体電解質原料を供給し、硫黄元素を含むガス雰囲気下で前記硫化物系固体電解質原料を加熱溶融する硫化物系固体電解質の製造方法であって、前記加熱溶融により融液を得て、前記槽(第1槽)内において、前記融液の底部側の温度を前記融液の液面側の温度より高くすることを含む。
制御部は、追加槽(第2槽)内の融液の温度を槽内の融液の最低温度よりも高くするように加熱部(第1加熱部)の発熱量及び追加加熱部(第2加熱部)の発熱量を制御することが好ましい。
本製造方法において、硫化物系固体電解質原料(以下、本原料と呼ぶことがある)としては種々の原料を使用できる。
本製造方法において、加熱炉の第1槽に硫化物系固体電解質原料を供給し、硫黄元素を含むガス雰囲気下で硫化物系固体電解質原料を加熱溶融する。原料の供給は、例えば所定の化学量論比で混合した上述の硫化物系固体電解質原料を、例えば第1槽に設けられた原料供給部から供給することで行える。加熱溶融を連続的に行う場合、硫化物系固体電解質原料の連続的な供給は、定量供給であるのが好ましい。定量供給の方法としては、特に制限されないが、例えば、スクリューフィーダー、テーブルフィーダー、気流搬送等を用いる方法が挙げられる。
本製造方法は、加熱溶融により得られた融液を冷却して固体を得る工程をさらに含むことが好ましい。冷却は公知の方法で行えばよく、その方法は特に限定されない。加熱溶融工程の後、加熱炉で引き続き冷却を行ってもよいし、加熱炉から融液を取り出して冷却を行ってもよい。加熱炉から融液を取り出して冷却を行う場合、例えば上述の排出部から融液を排出する。
ここで硫化物系固体電解質に含有される結晶とは、好ましくはイオン伝導性結晶である。イオン伝導性結晶とは、具体的には、リチウムイオン伝導率が10-4S/cmより大きく、より好ましくは10-3S/cmより大きい結晶である。
本製造方法は、融液の冷却において得られた固体が非晶質の硫化物系固体電解質または非晶質相を含む硫化物系固体電解質である場合、当該固体電解質を再加熱処理する工程をさらに含んでもよい。また、硫化物系固体電解質結晶を含む硫化物系固体電解質を再加熱することで、結晶構造内のイオンを再配列させ、リチウムイオン伝導率を高めることもできる。なお、再加熱処理とは、冷却して得られた粉末を結晶化のために加熱処理すること、および結晶構造内のイオンを再配列させることの少なくとも一方をいう。
得られた硫化物系固体電解質に対して、さらに粉砕を行い、更なる微粒化を行ってもよい。粉砕の方法としては、例えば湿式粉砕法が挙げられる。湿式粉砕法の場合、使用する溶媒の種類は特に制限されないが、硫化物系固体電解質は水分と反応して劣化しやすい性質を有することから、非水系有機溶媒を用いるのが好ましい。非水系有機溶媒の種類は特に限定されないが、炭化水素系溶媒、ヒドロキシ基を含有した有機溶媒、エーテル基を含有した有機溶媒、カルボニル基を含有した有機溶媒、エステル基を含有した有機溶媒、アミノ基を含有した有機溶媒、ホルミル基を含有した有機溶媒、カルボキシ基を含有した有機溶媒、アミド基を含有した有機溶媒、ベンゼン環を含有した有機溶媒、メルカプト基を含有した有機溶媒、チオエーテル基を含有した有機溶媒、チオエステル基を含有した有機溶媒、ジスルフィド基を含有した有機溶媒、ハロゲン化アルキル等が挙げられる。炭化水素系溶媒としては、例えば、シクロヘキサン、ヘプタン、オクタン、トルエンが挙げられ、飽和水分濃度が低い観点から、シクロヘキサン、ヘプタン、オクタンが好ましい。また、水分濃度を調整する観点から、これら炭化水素系溶媒を、トルエンやジブチルエーテル等と混ぜた混合溶媒とすることも好ましい。硫化物系固体電解質の粉砕時に、硫化物系固体電解質が水と反応してリチウムイオン伝導率が低下することを防ぐ観点から、上記非水系有機溶媒の水分濃度は低い方が好ましい。上記非水系有機溶媒の水分濃度は、例えば、170質量ppm以下であってよく、150質量ppm以下であってよく、120質量ppm以下であってよく、100質量ppm以下であってよい。
本製造方法で得られる硫化物系固体電解質としては、リチウム元素を含む硫化物系固体電解質が挙げられる。本製造方法で得られる硫化物系固体電解質としては、例えばLi10GeP2S12等のLGPS型結晶構造を有する硫化物系固体電解質、Li6PS5Cl、Li5.4PS4.4Cl1.6およびLi5.4PS4.4Cl0.8Br0.8等のアルジロダイト型結晶構造を有する硫化物系固体電解質、Li-P-S-Ha系(Haはハロゲン元素から選ばれる少なくとも一つの元素を表す)の結晶化ガラス、ならびにLi7P3S11等のLPS結晶化ガラス等が挙げられる。
硫黄元素を含むガス雰囲気下で硫化物系固体電解質原料を加熱溶融する場合を仮定し、各例で融液の液面側の温度及び融液の底部側の温度を表1に示す通り設定した以外は以下の条件及び方法にて、例1-1~例1-5のシミュレーションを行った。このシミュレーションにより、硫黄元素を含むガス雰囲気から融液中に導入される硫黄元素の量を見積もった。なお、以下のシミュレーションでは硫化物系固体電解質の代表的な物性値を使用して条件を設定しており、種々の組成の硫化物系固体電解質において同様の結果が得られると考えられる。
(1)加熱炉の槽(第1槽)において融液が直径100mm×高さ100mmの円柱領域を占めると仮定して、図6に示すような半円柱形状のモデル(1/2対称モデル)を用い、下記条件及び解析方法にて融液をモデル化した。図6における面Aの温度を融液の液面側の温度(上部温度)として設定し、面Bの温度を融液の底部側の温度(下部温度)として設定した。
(2)融液の液面(面A)に対し以下の反応を計算した。
(硫黄添加前電解質)+S→(硫黄添加電解質)
反応速度:1×硫黄添加前モル濃度=硫黄添加電解質生成モル濃度kmol/m2/秒
(3)120秒間の反応計算を行い、反応した融液の濃度に対し以下式から融液に硫黄が添加された量(wt%、平均硫黄添加濃度)を算出した。結果を表1に示す。
0.3×32/266×硫黄添加電解質モル濃度
ここで、硫黄添加電解質モル濃度とは、添加前の電解質に対し、添加後の状態となった電解質が占めるモル濃度を意味する。つまり、融液全体に硫黄が十分に入った飽和状態の硫黄添加電解質モル濃度は1となる。硫黄が添加され飽和状態となると硫黄のモル濃度は0.3増加すると仮定し、添加された硫黄の重量パーセント濃度を計算した式が上記となる。また、硫黄の分子量を32とし、硫化物系固体電解質の分子量を266として計算した。
・融液の粘性:0.01Pa・s
・融液の比重:以下の式により求められる値とした。
密度(kg/m3)=-0.5812×温度(℃)+2236.874699
・融液の熱伝導率:0.620271W/m・K
・反応融液の未反応部への拡散係数:4E-9m2/秒
・解析ソフト:starCCM ver2022.1
・乱流モデル:K-ε乱流
・陰解法非定常解析:時間ステップ0.005秒、計算物理時間120秒
なお、「反応融液の未反応部への拡散係数」とは、硫黄成分が添加された融液が、硫黄成分の添加されていない融液中を拡散していく際の速度係数を意味する。
Li2S(Sigma社製、純度99.98%)、P2S5(Sigma社製、純度99%)、LiCl(Sigma社製、純度99.99%)の各粉末をそれぞれ、1.9:0.5:1.6(mol比)になるように調合した混合原料に対し、表2で示す量の硫黄(Sigma社製、純度99.998%)を加え、750℃にて0.5時間加熱溶融し、例2-1~2-5のアルジロダイト型の結晶を含む硫化物系固体電解質を製造した。得られた硫化物系固体電解質について次の方法でリチウムイオン伝導率を測定した。結果を表2に示す。
(リチウムイオン伝導率評価)
各例の硫化物系固体電解質を粉砕し、平均粒子径10μmの硫化物系固体電解質粉末を得た。この硫化物系固体電解質粉末を380MPaの圧力で圧粉体として測定サンプルとし、交流インピーダンス測定装置(Bio-Logic Sciences Instruments社製、ポテンショスタット/ガルバノスタット VSP)を用いて測定した。測定条件は、測定周波数:100Hz~1MHz、測定電圧:100mV、測定温度:25℃とした。
また、表2の結果から、硫化物系固体電解質においては、硫黄の添加濃度が大きくなるのに伴ってリチウムイオン伝導率が大きくなる傾向があることがわかる。したがって、本製造方法により融液中に均一に硫黄成分を導入することで、リチウムイオン伝導率を低下させ得る硫黄成分の不足を抑制でき、得られる硫化物系固体電解質の品質を安定させられる。
1.加熱炉の槽に硫化物系固体電解質原料を供給し、硫黄元素を含むガス雰囲気下で前記硫化物系固体電解質原料を加熱溶融する硫化物系固体電解質の製造方法であって、前記加熱溶融により融液を得て、前記槽内において、前記融液の底部側の温度を前記融液の液面側の温度より高くすることを含む、硫化物系固体電解質の製造方法。
2.前記槽に前記硫化物系固体電解質原料を供給すること及び前記融液を前記加熱炉外へ排出することを連続的に行う、前記1に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。
3.前記槽における前記融液の深さは50mm以上である、前記1又は2に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。
4.前記槽内において、前記融液の前記底部側の温度は700℃以上である、前記1~3のいずれか1に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。
5.前記槽内において、前記融液の前記底部側の温度は前記融液の前記液面側の温度より10℃以上高い、前記1~4のいずれか1に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。
6.硫黄元素を含むガスを前記加熱炉に供給することで前記硫黄元素を含むガス雰囲気を得る、前記1~5のいずれか1に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。
7.硫黄元素を含む固体を前記加熱炉に供給することで前記硫黄元素を含むガス雰囲気を得る、前記1~6のいずれか1に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。
8.前記加熱炉は、前記硫化物系固体電解質原料が供給される前記槽と、この前記槽で加熱溶融された前記硫化物系固体電解質原料の融液が供給される追加槽とを有し、
前記槽に前記硫化物系固体電解質原料を供給すること及び前記融液を前記追加槽から前記加熱炉外に排出することを連続的に行い、前記追加槽内の前記融液の温度を前記槽内の前記融液の最低温度よりも高くなるように制御する、前記1~7のいずれか1に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。
9.硫化物系固体電解質原料を硫黄元素を含むガス雰囲気下で加熱溶融するための槽及び加熱部を備えた加熱炉と、
前記加熱溶融により得られる融液の底部側の温度を前記融液の液面側の温度より高くするように前記加熱部の発熱量を制御する制御部とを備える、硫化物系固体電解質の製造装置。
10.前記加熱炉は、前記硫化物系固体電解質原料が供給される前記槽と、この前記槽で加熱溶融された前記硫化物系固体電解質原料の融液が供給される追加槽と、前記槽内の前記硫化物系固体電解質原料を加熱溶融するための前記加熱部と、前記追加槽内の前記融液を加熱するための追加加熱部とを有し、
前記制御部は、前記追加槽内の前記融液の温度を前記槽内の前記融液の最低温度よりも高くするように前記加熱部の発熱量及び前記追加加熱部の発熱量を制御する、前記9に記載の硫化物系固体電解質の製造装置。
1 加熱炉
10 第1槽(槽)
20 第2槽(追加槽)
11 融液
12 気体雰囲気部
5a、5b、5c 第1加熱部(加熱部)
6a、6b 第2加熱部(追加加熱部)
7 通過部
21 原料供給部
23 硫黄源供給部
25 排出部
CTL 制御部
Claims (10)
- 加熱炉の槽に硫化物系固体電解質原料を供給し、硫黄元素を含むガス雰囲気下で前記硫化物系固体電解質原料を加熱溶融する硫化物系固体電解質の製造方法であって、前記加熱溶融により融液を得て、前記槽内において、前記融液の底部側の温度を前記融液の液面側の温度より高くすることを含む、硫化物系固体電解質の製造方法。
- 前記槽に前記硫化物系固体電解質原料を供給すること及び前記融液を前記加熱炉外へ排出することを連続的に行う、請求項1に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。
- 前記槽における前記融液の深さは50mm以上である、請求項1に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。
- 前記槽内において、前記融液の前記底部側の温度は700℃以上である、請求項1に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。
- 前記槽内において、前記融液の前記底部側の温度は前記融液の前記液面側の温度より10℃以上高い、請求項1に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。
- 硫黄元素を含むガスを前記加熱炉に供給することで前記硫黄元素を含むガス雰囲気を得る、請求項1に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。
- 硫黄元素を含む固体を前記加熱炉に供給することで前記硫黄元素を含むガス雰囲気を得る、請求項1に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。
- 前記加熱炉は、前記硫化物系固体電解質原料が供給される前記槽と、この前記槽で加熱溶融された前記硫化物系固体電解質原料の融液が供給される追加槽とを有し、
前記槽に前記硫化物系固体電解質原料を供給すること及び前記融液を前記追加槽から前記加熱炉外に排出することを連続的に行い、前記追加槽内の前記融液の温度を前記槽内の前記融液の最低温度よりも高くなるように制御する、請求項1~7のいずれか1に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。 - 硫化物系固体電解質原料を硫黄元素を含むガス雰囲気下で加熱溶融するための槽及び加熱部を備えた加熱炉と、
前記加熱溶融により得られる融液の底部側の温度を前記融液の液面側の温度より高くするように前記加熱部の発熱量を制御する制御部とを備える、硫化物系固体電解質の製造装置。 - 前記加熱炉は、前記硫化物系固体電解質原料が供給される前記槽と、この前記槽で加熱溶融された前記硫化物系固体電解質原料の融液が供給される追加槽と、前記槽内の前記硫化物系固体電解質原料を加熱溶融するための前記加熱部と、前記追加槽内の前記融液を加熱するための追加加熱部とを有し、
前記制御部は、前記追加槽内の前記融液の温度を前記槽内の前記融液の最低温度よりも高くするように前記加熱部の発熱量及び前記追加加熱部の発熱量を制御する、請求項9に記載の硫化物系固体電解質の製造装置。
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