JP7418993B2 - ケーブルのケーブル先端を検査するための検査装置および検査装置のミラーを洗浄するための方法 - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 88
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 title claims description 31
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 17
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 45
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 45
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 claims description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 5
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 3
- 230000000284 resting effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 14
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 4
- 238000004026 adhesive bonding Methods 0.000 description 3
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 3
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 229930040373 Paraformaldehyde Natural products 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 2
- 238000002788 crimping Methods 0.000 description 2
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 2
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 2
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 229920006324 polyoxymethylene Polymers 0.000 description 2
- -1 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 2
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 2
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 2
- 241000473391 Archosargus rhomboidalis Species 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- 206010047571 Visual impairment Diseases 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000012459 cleaning agent Substances 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 description 1
- 239000003302 ferromagnetic material Substances 0.000 description 1
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910001172 neodymium magnet Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 208000029257 vision disease Diseases 0.000 description 1
- 230000004393 visual impairment Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
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- G02B7/182—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for prisms; for mirrors for mirrors
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/952—Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
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- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B5/00—Cleaning by methods involving the use of air flow or gas flow
- B08B5/02—Cleaning by the force of jets, e.g. blowing-out cavities
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/58—Testing of lines, cables or conductors
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B13/00—Optical objectives specially designed for the purposes specified below
- G02B13/06—Panoramic objectives; So-called "sky lenses" including panoramic objectives having reflecting surfaces
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/0006—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 with means to keep optical surfaces clean, e.g. by preventing or removing dirt, stains, contamination, condensation
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
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- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/10—Beam splitting or combining systems
- G02B27/14—Beam splitting or combining systems operating by reflection only
- G02B27/143—Beam splitting or combining systems operating by reflection only using macroscopically faceted or segmented reflective surfaces
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/08—Mirrors
- G02B5/09—Multifaceted or polygonal mirrors, e.g. polygonal scanning mirrors; Fresnel mirrors
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R43/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors
- H01R43/28—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors for wire processing before connecting to contact members, not provided for in groups H01R43/02 - H01R43/26
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- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
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Description
検査装置は、中心軸を有するミラー装置を備え、ケーブル先端を検査するために、ケーブル先端は、ミラー装置内に中心軸に沿って配置されることができ、ミラー装置は、互いに所定の角度で配置され、中心軸に対して所定の角度で配置された複数のミラー要素を備え、各ミラー要素は、ミラー装置の中心軸に沿って配置されたケーブル先端を異なる角度から見るためのミラーを備え、検査装置は、ミラーによって異なる角度からケーブル先端の画像を生成するためのカメラをさらに備え、本方法は、ミラー装置を検査装置から取り外すステップと、ミラー要素の少なくとも1つとミラー装置との間の磁気的結合を解放し、少なくとも1つのミラー要素をミラー装置から取り外すステップと、少なくとも1つのミラー要素のミラーを洗浄するステップと、洗浄された少なくとも1つのミラー要素をミラー装置内の所定の位置に挿入し、ミラー要素を磁石によってミラー装置に取り付けるステップと、ミラー装置を検査装置に挿入するステップとを備える、方法を提案する。
2 カメラ
3 照明器具
4 ミラーカラー
5 ミラー装置
6 支持面
7、7’ ミラー境界部
8、8’ 凹部
9、9’、9’’、9’’’ 磁石
10、10’ ミラー要素
12 ミラー裏面
13 プレート
14 接着凹部
15 ベース
16 第2のベース側
17、17’ 脚部
18 止め具
19 窓板
20 圧縮空気洗浄装置
21 ケーブルセンタリング
22 カバー
23 ケーブル先端
24 中心軸
30 ケーブル受け入れ開口部
40 ケーブル
45 リングライト
50 止め具の窪み部
60~67 ミラー
Claims (15)
- ケーブル(40)、特に加工ケーブル(40)、好ましくは圧着接続を介して圧着接点に接続されたケーブル(40)のケーブル先端(23)を検査するための検査装置(1)であって、該検査装置(1)は、中心軸(24)を備えたミラー装置(5)を備え、ケーブル先端(23)は、該ケーブル先端(23)を検査するためにミラー装置(5)内に中心軸(24)に沿って配置されることができ、
ミラー装置(5)は、互いに所定の角度で、および中心軸(24)に対して所定の角度で配置された複数のミラー要素(10、10’)を備え、各ミラー要素は、ミラー装置(5)の中心軸(24)に沿って配置されたケーブル先端(23)を異なる角度から見るためのミラー(60~67)を備え、該検査装置(1)が、ミラー(60~67)によって異なる画角からケーブル先端(23)の画像を生成するためのカメラ(2)をさらに備え、
ミラー要素(10、10’)の少なくとも一部が、磁石(9、9’、9’’、9’’’)によってミラー装置(5)内のそれぞれの位置に保持されることを特徴とする、検査装置(1)。 - さらに、ミラー要素(10、10’)がそれぞれ金属プレートを有し、ミラー(60~67)はそれぞれ、接着剤による結合によってプレート(13)に固定して結合され、各プレート(13)は、該プレート(13)が磁石(9、9’、9’’、9’’’)によって吸引されるような材料を備える、請求項1に記載の検査装置(1)。
- 各プレート(13)が、接着剤による結合の接着剤を受け入れるための一つの貫通孔(14)または複数の貫通孔を備える、請求項2に記載の検査装置(1)。
- 各プレート(13)が、ミラー(60~67)から外方を向く側の貫通孔(14)内に、接着剤とプレート(13)との接着の改善のための面取り部を有する、請求項3に記載の検査装置(1)。
- 接着剤と各ミラー(60~67)との接触面のそれぞれの寸法が、プレート(13)の表面に平行に接着剤を受け入れるための各貫通孔(14)の直径に実質的に対応する、請求項3または4に記載の検査装置(1)。
- ミラー装置(5)が、ミラー要素(10、10’)のミラー(60~67)のミラー裏面(12)を載置させるための支持面(6)を備え、該支持面(6)がそれぞれ、各プレート(13)を受け入れるための凹部(8、8’)を有する、請求項2~5のいずれか一項に記載の検査装置(1)。
- 各ミラー要素(10、10’)が、2つの磁石(9、9’、9’’、9’’’)によってミラー装置(5)に締結され、磁石(9、9’、9’’、9’’’)が、前記凹部(8、8’)の窪み部内に配置される、請求項6に記載の検査装置(1)。
- ミラー要素(10、10’)を保持するための、検査装置(1)の中心軸(24)から外方を向くプレート(13)の端部にある止め具(18)が、いずれの場合も、ミラー装置(5)内の所定の位置に配置される、請求項2~7のいずれか一項に記載の検査装置(1)。
- ミラー装置(5)が、複数の横方向ミラー境界部(7、7’)を有し、横方向ミラー境界部(7、7’)は、各ミラー(60~67)を保持するために各ミラー(60~67)の2つの両側の所定の位置にそれぞれ配置される、請求項1から8のいずれか一項に記載の検査装置(1)。
- 検査装置(1)が、ミラー装置(5)が検査装置(1)から取り外され、かつ、検査装置(1)に挿入され得るように設計される、請求項1~9のいずれか一項に記載の検査装置(1)。
- ミラー要素(10、10’)のプレート(13)が、それぞれ磁石(9、9’、9’’、9’’’)から離間されて配置される、請求項2~10のいずれか一項に記載の検査装置(1)。
- 各ミラー(60~67)が、上面図で台形形状を有し、プレート(13)の1つの端部が、ミラー(60~67)の2つの相互に平行な側部の短い方と同一平面にある、請求項2~11のいずれか一項に記載の検査装置(1)。
- ミラー装置(5)が、中心軸(24)に関して鏡面対称である、請求項1~12のいずれか一項に記載の検査装置(1)。
- 請求項1~13のいずれか一項に記載の検査装置(1)であってケーブル(40)のケーブル先端(23)を検査するための当該検査装置(1)のミラー(60~67)を洗浄するための方法であって、
検査デバイス(1)は、中心軸(24)を備えたミラー装置(5)を備え、ケーブル先端(23)は、ケーブル先端(23)を中心軸(24)に沿って検査するためにミラー装置(5)内に配置されることができ、
ミラー装置(5)は、互いに所定の角度で、および中心軸(24)に対して所定の角度で配置された、複数のミラー要素(10、10’)を備え、各ミラー要素は、ミラー装置(5)の中心軸(24)に沿って配置された、ケーブル先端(23)を見るためのミラー(60~67)を備え、
検査装置(1)は、ミラー(60~67)によって異なる角度からケーブル先端(23)の画像を生成するためのカメラ(2)をさらに備え、
該方法は、
ミラー装置(5)を検査装置(1)から取り外すステップと、
ミラー要素(10、10’)の少なくとも1つとミラー装置(5)との間の磁気的結合を解放し、少なくとも1つのミラー要素(10、10’)をミラー装置(5)から取り外すステップと、
少なくとも1つのミラー要素(10、10’)のミラー(60~67)を洗浄するステップと、
洗浄された少なくとも1つのミラー要素(10、10’)をミラー装置(5)内の所定の位置に挿入し、ミラー要素(10、10’)を磁石(9、9’、9’’、9’’’)によってミラー装置(5)に固定するステップと、
ミラー装置(5)を検査装置(1)内に挿入するステップと、
を備える方法。 - ミラー(60~67)を洗浄しながらミラー要素(10、10’)を保持するために、少なくとも1つのミラー要素(10、10’)を磁石(9、9’、9’’、9’’’)によってミラー保持装置に取り付けるステップをさらに含む、請求項14に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP18188622.7A EP3611497A1 (de) | 2018-08-13 | 2018-08-13 | Überprüfungsvorrichtung zum überprüfen einer kabelspitze eines kabels und verfahren zum reinigen der spiegel einer überprüfungsvorrichtung |
EP18188622.7 | 2018-08-13 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020027110A JP2020027110A (ja) | 2020-02-20 |
JP7418993B2 true JP7418993B2 (ja) | 2024-01-22 |
Family
ID=63259432
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019147087A Active JP7418993B2 (ja) | 2018-08-13 | 2019-08-09 | ケーブルのケーブル先端を検査するための検査装置および検査装置のミラーを洗浄するための方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11231559B2 (ja) |
EP (1) | EP3611497A1 (ja) |
JP (1) | JP7418993B2 (ja) |
CN (1) | CN110823900A (ja) |
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2018
- 2018-08-13 EP EP18188622.7A patent/EP3611497A1/de active Pending
-
2019
- 2019-07-15 US US16/511,585 patent/US11231559B2/en active Active
- 2019-08-09 JP JP2019147087A patent/JP7418993B2/ja active Active
- 2019-08-12 CN CN201910742161.0A patent/CN110823900A/zh active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2020027110A (ja) | 2020-02-20 |
US11231559B2 (en) | 2022-01-25 |
US20200049942A1 (en) | 2020-02-13 |
EP3611497A1 (de) | 2020-02-19 |
CN110823900A (zh) | 2020-02-21 |
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