JP2016212088A - ワイヤセグメントを検査する装置及び方法 - Google Patents
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Abstract
Description
前記案内管周囲に位置決めされたミラーアレイであって、前記ミラーアレイにおけるワイヤセグメントの反射像により、ワイヤセグメントの少なくとも一部の周縁像が形成され、また各ミラーからの反射像が単一視点からの視野内にあるように、前記アレイの各ミラーが配向されたミラーアレイと
単一視点に位置決めされた視覚画像化装置であって、ワイヤセグメントの反射像の少なくとも1つの画像をキャプチャするように構成された前記視覚画像化装置とを備えるシステム。
が成り立つ。このため、図12を参照すると、反射面602は、主軸604が中央線216からほぼ半径方向に延在し、視点202から見た時に、ほぼ正方形の輪郭を有するように見える。
Claims (15)
- ワイヤセグメントの検査に使用する装置であって、前記装置は、
前記ワイヤセグメントを受け入れるようにサイズ設定された案内管と、
前記案内管周囲に位置決めされたミラーアレイであって、前記ミラーアレイにおける前記ワイヤセグメントの反射像により、前記ワイヤセグメントの少なくとも一部の周縁像が形成され、また各ミラーからの反射像が単一視点からの視野内にあるように、前記アレイの各ミラーが配向された前記ミラーアレイと
を備える装置。 - 前記ミラーアレイは、前記案内管周囲に一定の間隔をおいて配置された少なくとも3つのミラーを含む、請求項1に記載の装置。
- 前記ミラーアレイは、前記反射像の中に前記ワイヤセグメントの第1の検査ゾーンと第2の検査ゾーンの画像が含まれるように配向されており、前記検査ゾーンは、前記ワイヤセグメントに沿う異なる長さに画定される、請求項1又は2に記載の装置。
- 前記アレイの各ミラーは、前記単一視点から見た時に、単一のミラーからの前記反射像が前記第1の検査ゾーンと前記第2の検査ゾーンの画像を含むような長さを有する、請求項3に記載の装置。
- 前記ミラーアレイが、
前記単一視点から見た時に、前記第1の検査ゾーンの前記画像が前記第1の複数のミラーからの第1の反射像内にあるように配向された第1の複数のミラーと、
前記単一視点から見た時に、前記第2の検査ゾーンの前記画像が前記第2の複数のミラーからの第2の反射像内にあるように配向された第2の複数のミラーとを備え、前記第1の複数のミラーは、前記単一視点に対して前記第2の複数のミラーからオフセットされている、請求項3又は4に記載の装置。 - 前記第1の複数のミラーが、前記第2の複数のミラーよりも前記単一視点から短い距離に位置決めされており、前記第1の複数のミラーは、前記案内管周囲に一定の間隔を置いて配置された複数のグループのミラーを含み、各グループのミラーは、前記第1の検査ゾーンから前記単一視点までの第1の光学経路の長さが、前記第2の検査ゾーンから前記単一視点までの第2の光学経路の長さとほぼ同様の長さになるように配向されている、請求項5に記載の装置。
- 前記単一視点から見た時に、前記第1の複数の隣接するミラーの間で前記第2の複数のミラーからの前記第2の反射像が可視となるように、前記第1の複数のミラーの各ミラーが面取りされたひし形の輪郭を有する反射面を含む、請求項5又は6に記載の装置。
- 前記第1の複数のミラーは、前記第1の検査ゾーンから前記単一視点までの第1の光学経路が、前記案内管の中央線に対して少なくとも部分的に螺旋軌道を有するように配向されている、請求項5から7のいずれか一項に記載の装置。
- 前記第1の複数のミラーと前記第2の複数のミラーはそれぞれ、前記案内管周囲に一定の間隔をおいて配置された4つのミラーを含む、請求項5から8のいずれか一項に記載の装置。
- ワイヤセグメントを検査する方法であって、前記方法は、
案内管内にワイヤセグメントを位置決めすることと、
ミラーアレイの各ミラーからの前記ワイヤセグメントの反射像により、前記ワイヤセグメントの少なくとも一部の周縁像が形成されるように、また各ミラーからの前記反射像が単一視点からの視野内にあるように、前記案内管周囲に位置決めされた前記ミラーアレイのミラーを配向させることと、
前記ワイヤセグメントの少なくとも一部の前記反射像から前記ワイヤセグメントの欠陥を判定することと
を含む方法。 - 前記ワイヤセグメントの前記反射像の少なくとも1つの画像をキャプチャすることを更に含み、前記少なくとも1つの画像は、前記単一視点からキャプチャされる、請求項10に記載の方法。
- 前記ミラーアレイを前記案内管の挿入部に隣接するように位置決めすることを更に含み、前記ワイヤセグメントが前記案内管を通して挿入されると、前記反射像の前記ワイヤセグメントの複数の画像が、異なる時間間隔でキャプチャされる、請求項11に記載の方法。
- 前記アレイのミラーを配向させることは、前記反射像の中に前記ワイヤセグメントの第1の検査ゾーンと第2の検査ゾーンの画像が含まれるように前記ミラーを配向させることを含み、各検査ゾーンは、前記ワイヤセグメントに沿う異なる長さに画定される、請求項10から12のいずれか一項に記載の方法。
- 前記アレイのミラーを配向させることは、
前記単一視点から見た時に、前記第1の検査ゾーンの前記画像が第1の複数のミラーからの第1の反射像内にあるように、前記第1の複数のミラーを配向させることと、
前記単一視点から見た時に、前記第2の検査ゾーンの前記画像が第2の複数のミラーからの第2の反射像内にあるように、前記第2の複数のミラーを配向させることとを含み、前記第1の複数のミラーが、前記単一視点に対して、前記第2の複数のミラーからオフセットされている、請求項13に記載の方法。 - 前記案内管周囲に一定の間隔を置いて配置された複数のグループのミラーを含む前記第1の複数のミラーを、前記第2の複数のミラーよりも前記単一視点から短い距離に位置決めすることと、
前記第1の検査ゾーンから前記単一視点までの第1の光学経路の長さが、前記第2の検査ゾーンから前記単一視点までの第2の光学経路の長さとほぼ同様の長さになるように、各グループのミラーを配向させることとを更に含む、
請求項14に記載の方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020027110A (ja) * | 2018-08-13 | 2020-02-20 | コマツクス・ホールデイング・アー・ゲー | ケーブルのケーブル先端を検査するための検査装置および検査装置のミラーを洗浄するための方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102021111517A1 (de) * | 2021-05-04 | 2022-11-10 | H & T Marsberg Gmbh & Co. Kg | Inspektionsvorrichtung zur Inspektion von zylindrischen Metallformteilen |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5895911A (ja) * | 1981-12-01 | 1983-06-07 | 新明和工業株式会社 | ワイヤ端末処理装置 |
JPH09119818A (ja) * | 1995-10-24 | 1997-05-06 | Ckd Corp | 外観検査装置 |
US5936725A (en) * | 1997-10-28 | 1999-08-10 | Materials Technologies Corp. | Apparatus and method for viewing and inspecting a circumferential surface area of a test object |
JPH11311610A (ja) * | 1998-02-23 | 1999-11-09 | G D Spa | 実質的に円筒形の物品の側方表面全体を走査するための電気/光学ユニット |
JP2014055921A (ja) * | 2012-09-14 | 2014-03-27 | Ricoh Elemex Corp | 検査装置 |
Family Cites Families (44)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CH615516A5 (ja) * | 1977-01-26 | 1980-01-31 | Idf Co Ltd | |
US4358202A (en) * | 1980-07-28 | 1982-11-09 | Essex Group, Inc. | Apparatus and method for monitoring the surface character of circular objects |
US4649621A (en) * | 1986-02-21 | 1987-03-17 | Artos Engineering Company | Wire processing apparatus having control means |
DE3729819A1 (de) * | 1987-09-05 | 1989-03-16 | Spectrospin Ag | Magnetanordnung fuer nmr-spektrometer |
US4988875A (en) * | 1988-12-13 | 1991-01-29 | At&T Bell Laboratories | Near infrared polyethylene inspection system and method |
US5050093A (en) | 1989-10-19 | 1991-09-17 | The Boeing Company | Method and apparatus for inspecting electrical wire |
US7257878B2 (en) * | 1995-11-06 | 2007-08-21 | Beat Locher | Continuous cable processing apparatus |
US6088609A (en) * | 1998-06-30 | 2000-07-11 | Larison, Ii; Wayne A. | Apparatus and method for monitoring a fetus |
US6217006B1 (en) * | 1998-07-15 | 2001-04-17 | James J. Muller | Closed ended tubular safety device and method |
JP3488100B2 (ja) * | 1998-10-13 | 2004-01-19 | 矢崎総業株式会社 | 自動切断圧着装置 |
US6169600B1 (en) * | 1998-11-20 | 2001-01-02 | Acuity Imaging, Llc | Cylindrical object surface inspection system |
US6512536B1 (en) * | 1999-02-09 | 2003-01-28 | The United States Of America As Represented By The United States National Aeronautics And Space Administration | Cable and line inspection mechanism |
JP4361156B2 (ja) * | 1999-02-22 | 2009-11-11 | 三菱重工食品包装機械株式会社 | 物品の外観検査装置 |
US6213128B1 (en) * | 1999-06-04 | 2001-04-10 | Philip Morris Incorporated | Apparatus and method for making and inspecting multi-component wrapped article |
FI111101B (fi) | 1999-09-29 | 2003-05-30 | Nextrom Holding Sa | Menetelmä pitkänomaisen elementin urien geometrian mittaamiseksi |
US6728453B2 (en) * | 2001-06-27 | 2004-04-27 | Pirelli Communications Cables And Systems Usa, Llc | Method of determining lay length of S-Z stranded buffer tubes in optical fiber cable during manufacturing |
JP2003215081A (ja) * | 2002-01-24 | 2003-07-30 | Central Glass Co Ltd | 板ガラスに形成された導電線の断線検査方法およびその装置 |
AU2003253235A1 (en) * | 2002-08-19 | 2004-03-03 | Green Vision Systems Ltd. | Electro-optically inspecting a longitudinally moving rod of material |
US20050117211A1 (en) | 2003-12-02 | 2005-06-02 | Cotterill John S. | Method of marking a piece of material |
EP1612325B1 (de) * | 2004-06-29 | 2010-10-13 | SGL Carbon SE | Rotorbügel für Drahtverlitzungs- oder Drahtverseilmaschinen |
WO2006027855A1 (ja) * | 2004-09-10 | 2006-03-16 | Hitachi, Ltd. | 表示装置及び撮像装置 |
WO2009007447A2 (en) * | 2007-07-11 | 2009-01-15 | Universite Libre De Bruxelles | Deformable mirror |
WO2009074161A1 (en) * | 2007-12-10 | 2009-06-18 | Carl Zeiss Surgical Gmbh | Head-mountable loupe |
US20090208053A1 (en) * | 2008-02-19 | 2009-08-20 | Benjamin Kent | Automatic identification and removal of objects in an image, such as wires in a frame of video |
FR2928898B1 (fr) * | 2008-03-21 | 2010-04-16 | Saipem Sa | Support flottant comprenant un touret equipe d'une bouee d'amarrage de conduites de liaison fond/surface deconnectable |
KR101442314B1 (ko) * | 2008-05-23 | 2014-09-24 | 마틴 씨. 틸레이 | 케이블 이동 시스템 |
FR2935679B1 (fr) * | 2008-09-05 | 2010-09-24 | Saipem Sa | Support flottant comprenant un touret equipe de deux bouees d'amarrage de lignes d'ancrage et de conduites de liaison fond/surface |
WO2010092619A1 (en) | 2009-02-12 | 2010-08-19 | Otis Elevator Company | Elevator tension member image inspection device |
GB0917688D0 (en) * | 2009-10-09 | 2009-11-25 | Ucl Business Plc | Tomosynthesis apparatus and method |
DE102011003140A1 (de) * | 2011-01-25 | 2012-07-26 | Hamilton Bonaduz Ag | Optisches Analyseverfahren für Flüssigkeit in einem Probenbehälter und Analyseeinrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
AT510849B1 (de) | 2011-06-28 | 2012-07-15 | Medek & Schoerner Gmbh | Vorrichtung zur optischen erfassung von objekten |
WO2013164682A1 (en) * | 2012-05-03 | 2013-11-07 | St. Jude Medical Systems Ab | Tube and sensor guide wire comprising tube |
JP5739503B2 (ja) * | 2012-11-19 | 2015-06-24 | 日本特殊陶業株式会社 | スパークプラグの検査方法及びスパークプラグの製造方法 |
CN104995808B (zh) * | 2013-02-23 | 2017-09-12 | 古河电气工业株式会社 | 连接结构体的制造方法和连接结构体的制造装置 |
US9665932B2 (en) * | 2013-09-03 | 2017-05-30 | Thales Transport & Security, Inc. | Camera based cable inspection system |
US9437401B2 (en) * | 2013-12-20 | 2016-09-06 | Plasmology4, Inc. | System and method for plasma treatment using directional dielectric barrier discharge energy system |
JP6398060B2 (ja) * | 2013-12-27 | 2018-10-03 | アドバンストマテリアルテクノロジーズ株式会社 | 熱ポーリング方法、圧電体膜の製造方法、及び圧電特性の検査方法 |
KR101617772B1 (ko) * | 2014-02-21 | 2016-05-03 | 선문대학교 산학협력단 | 검사 장치 |
JP5823650B1 (ja) * | 2014-03-05 | 2015-11-25 | 中国電力株式会社 | 内視観察装置のケーブルを誘導するガイド管及びケーブルの誘導方法 |
EP3118321B1 (en) * | 2014-03-12 | 2021-09-29 | Livestock Improvement Association of Japan, Inc. | Sperm inspection method and device |
US10389215B2 (en) * | 2014-03-31 | 2019-08-20 | Mitsubishi Electric Corporation | Motor, blower, and compressor |
US20150336767A1 (en) * | 2014-05-21 | 2015-11-26 | Tyco Electronics Corporation | Wire guidance system |
US9461013B2 (en) * | 2014-11-21 | 2016-10-04 | Asm Technology Singapore Pte Ltd | Wire spool system for a wire bonding apparatus |
US9749013B2 (en) * | 2015-03-17 | 2017-08-29 | At&T Intellectual Property I, L.P. | Method and apparatus for reducing attenuation of electromagnetic waves guided by a transmission medium |
-
2015
- 2015-04-07 US US14/680,293 patent/US11333613B2/en active Active
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2022
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5895911A (ja) * | 1981-12-01 | 1983-06-07 | 新明和工業株式会社 | ワイヤ端末処理装置 |
JPH09119818A (ja) * | 1995-10-24 | 1997-05-06 | Ckd Corp | 外観検査装置 |
US5936725A (en) * | 1997-10-28 | 1999-08-10 | Materials Technologies Corp. | Apparatus and method for viewing and inspecting a circumferential surface area of a test object |
JPH11311610A (ja) * | 1998-02-23 | 1999-11-09 | G D Spa | 実質的に円筒形の物品の側方表面全体を走査するための電気/光学ユニット |
JP2014055921A (ja) * | 2012-09-14 | 2014-03-27 | Ricoh Elemex Corp | 検査装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020027110A (ja) * | 2018-08-13 | 2020-02-20 | コマツクス・ホールデイング・アー・ゲー | ケーブルのケーブル先端を検査するための検査装置および検査装置のミラーを洗浄するための方法 |
JP7418993B2 (ja) | 2018-08-13 | 2024-01-22 | コマツクス・ホールデイング・アー・ゲー | ケーブルのケーブル先端を検査するための検査装置および検査装置のミラーを洗浄するための方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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