JP7403328B2 - 測量装置 - Google Patents
測量装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7403328B2 JP7403328B2 JP2020008415A JP2020008415A JP7403328B2 JP 7403328 B2 JP7403328 B2 JP 7403328B2 JP 2020008415 A JP2020008415 A JP 2020008415A JP 2020008415 A JP2020008415 A JP 2020008415A JP 7403328 B2 JP7403328 B2 JP 7403328B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- section
- light
- imaging
- vertical rotation
- distance measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 108
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 83
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 40
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 2
- 238000004040 coloring Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Description
3 測量装置本体
15 走査プリズム
17 演算制御部
19 距離測定部
21 撮像部
30 外光
32 凹レンズ
34 測距光
35 反射測距光
42 凹レンズ群
45 凹レンズ
46 凹レンズ
47 走査プリズム
48 ミラー
49 ガラス板
51 第1撮像部
52 第2撮像部
56 ビームスプリッタ
Claims (13)
- 測距光を測定対象物に照射し、該測定対象物からの反射測距光に基づき前記測定対象物迄の距離を測定する距離測定部と、前記測距光を偏向し回転照射する鉛直回転部と、該鉛直回転部に固着され該鉛直回転部と一体に回転する中空の鉛直回転軸と、前記鉛直回転部を挟んで前記距離測定部と対向して設けられ、外光を受光する撮像部とを具備し、該撮像部は外光を集光しつつ前記鉛直回転部に入射させ、該鉛直回転部と一体に回転する広角光学部材を有し、前記鉛直回転部で反射された前記外光が前記鉛直回転軸内を通過する様構成された測量装置。
- 前記撮像部は、前記距離測定部と同軸又は略同軸で画像を取得する様構成された請求項1に記載の測量装置。
- 前記広角光学部材は、前記鉛直回転部の入射面に隣接して設けられた凹レンズである請求項1又は請求項2に記載の測量装置。
- 前記広角光学部材は、前記鉛直回転部の入射面に隣接して設けられた凹レンズを含む複数のレンズから構成された凹レンズ群である請求項1又は請求項2に記載の測量装置。
- 前記広角光学部材は、前記外光の入射面に凹曲面が形成された凹レンズであり、前記凹曲面と対向する面が前記鉛直回転部に貼付けられ一体化された請求項1又は請求項2に記載の測量装置。
- 前記広角光学部材は、前記鉛直回転部の前記外光の入射面に形成された凹曲面である請求項1又は請求項2に記載の測量装置。
- 前記鉛直回転部は、反射面に反射膜が設けられた三角プリズムである請求項1~請求項6のうちのいずれか1項に記載の測量装置。
- 前記鉛直回転部は、2つの三角プリズムを貼り合せた四角プリズムであり、前記2つの三角プリズムの境界面に反射膜が設けられた請求項1~請求項6のうちのいずれか1項に記載の測量装置。
- 前記鉛直回転部は、所定の板厚を有するミラーであり、該ミラーの両面にそれぞれ反射面が形成された請求項1に記載の測量装置。
- 前記鉛直回転部は、所定の板厚を有するガラス板であり、該ガラス板の一方の面に反射膜が設けられた請求項1~請求項6のうちのいずれか1項に記載の測量装置。
- 前記鉛直回転部は、前記測距光の光軸に対して僅かに傾斜して配置された請求項7又は請求項8に記載の測量装置。
- 前記撮像部は、該撮像部の光軸に沿って移動可能なズームレンズを有する請求項1~請求項11のうちのいずれか1項に記載の測量装置。
- 前記撮像部は、画角の小さい第1撮像部と画角の大きい第2撮像部とを有し、前記第1撮像部の光軸上に分岐部材が設けられ、該分岐部材は前記外光の一部を前記第2撮像部の光軸上に偏向する様構成された請求項1~請求項12のうちのいずれか1項に記載の測量装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020008415A JP7403328B2 (ja) | 2020-01-22 | 2020-01-22 | 測量装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020008415A JP7403328B2 (ja) | 2020-01-22 | 2020-01-22 | 測量装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021117013A JP2021117013A (ja) | 2021-08-10 |
JP7403328B2 true JP7403328B2 (ja) | 2023-12-22 |
Family
ID=77174517
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020008415A Active JP7403328B2 (ja) | 2020-01-22 | 2020-01-22 | 測量装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7403328B2 (ja) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001221954A (ja) | 2000-02-09 | 2001-08-17 | Fuji Photo Optical Co Ltd | ビームスプリッタの配置方法および光学計測装置 |
WO2011013518A1 (ja) | 2009-07-30 | 2011-02-03 | オリンパスメディカルシステムズ株式会社 | 内視鏡用光学系および内視鏡 |
WO2014162991A1 (ja) | 2013-04-02 | 2014-10-09 | 株式会社ニコン・トリンブル | 測距装置 |
US20190011257A1 (en) | 2017-07-04 | 2019-01-10 | Hexagon Technology Center Gmbh | Surveying instrument for scanning an object and image acquistion of the object |
JP7151521B2 (ja) | 2019-02-04 | 2022-10-12 | トヨタ紡織株式会社 | 平ミシン |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3326645B2 (ja) * | 1993-11-29 | 2002-09-24 | 株式会社ニコン | 検出ヘッド浮上量測定装置および測定方法 |
JP3937154B2 (ja) * | 2002-06-28 | 2007-06-27 | 株式会社トプコン | 位置検出装置 |
JP7084705B2 (ja) * | 2017-09-13 | 2022-06-15 | 株式会社トプコン | 測量装置 |
-
2020
- 2020-01-22 JP JP2020008415A patent/JP7403328B2/ja active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001221954A (ja) | 2000-02-09 | 2001-08-17 | Fuji Photo Optical Co Ltd | ビームスプリッタの配置方法および光学計測装置 |
WO2011013518A1 (ja) | 2009-07-30 | 2011-02-03 | オリンパスメディカルシステムズ株式会社 | 内視鏡用光学系および内視鏡 |
WO2014162991A1 (ja) | 2013-04-02 | 2014-10-09 | 株式会社ニコン・トリンブル | 測距装置 |
US20190011257A1 (en) | 2017-07-04 | 2019-01-10 | Hexagon Technology Center Gmbh | Surveying instrument for scanning an object and image acquistion of the object |
JP7151521B2 (ja) | 2019-02-04 | 2022-10-12 | トヨタ紡織株式会社 | 平ミシン |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2021117013A (ja) | 2021-08-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11536567B2 (en) | Surveying instrument | |
JP6616077B2 (ja) | 測定装置及び3次元カメラ | |
CN109798879B (zh) | 测量装置以及测量装置系统 | |
US7301617B2 (en) | Surveying apparatus | |
JP2016151423A (ja) | 姿勢検出装置及びデータ取得装置 | |
JP7360298B2 (ja) | 測量装置 | |
US11668567B2 (en) | Surveying instrument | |
US11629959B2 (en) | Surveying instrument | |
JP7536666B2 (ja) | 測量装置 | |
JP2020051818A (ja) | 測量装置及び測量装置システム | |
JP7421438B2 (ja) | 測量装置 | |
JP7403328B2 (ja) | 測量装置 | |
JP3120885B2 (ja) | 鏡面の測定装置 | |
JP2023020552A (ja) | 測量装置 | |
WO2024214689A1 (ja) | 測量装置 | |
WO2024210090A1 (ja) | 測量装置 | |
WO2024195540A1 (ja) | 測量装置 | |
JP2024151569A (ja) | 測量装置 | |
US20230280160A1 (en) | Surveying instrument | |
WO2024070999A1 (ja) | 測量装置 | |
JP2024148128A (ja) | 測量装置 | |
JP2021063678A (ja) | 測量装置 | |
JP2023127742A (ja) | 測量装置 | |
JP2024050408A (ja) | 測量装置 | |
JPH06160086A (ja) | 射撃用測距装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20230110 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20230810 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230905 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230921 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20231205 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20231212 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7403328 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |