JP7347314B2 - センサ及びセンサシステム - Google Patents
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Description
センサに係る実施形態について説明する。実施形態に係るセンサは、観測波としてのビーム(光、電磁波等)の出射方向を所定角度ずつ変えながら、該ビームを走査方向に沿って走査させる出射手段を備える。ここで「ビーム」は、指向性が比較的高い観測波を意味する。「ビーム」の具体例としては、光ビーム(即ち、レーザビーム)、ペンシルビーム等が挙げられる。尚、所定角度は、一定の角度であってもよいし、走査方向毎に異なっていてもよい(例えば、水平走査時の所定角度と、垂直走査時の所定角度とが異なっていてもよい)。
センサシステムに係る実施形態について説明する。実施形態に係るセンサシステムは、第1センサと、該第1センサより角度分解能の高い第2センサとを備える。ここで、第2センサは、第1センサより角度分解能が高い限りにおいて、第1センサと同一種別のセンサであってもよいし、第1センサとは異なる種別のセンサであってもよい。尚、第1センサは、一つに限らず複数であってよい。第2センサも、一つに限らず複数であってよい。
Claims (2)
- 観測波としてのビームの出射方向を所定角度ずつ変えながら、前記ビームを走査方向に沿って走査させる出射手段と、
前記ビームの前記走査方向の広がりを示す指標であるビーム幅が、前記所定角度より大きくなるように前記出射手段を制御する制御手段と、
物体において前記ビームが反射されることにより生じる反射波を受信することにより、前記ビームが反射された点である観測点を取得する取得手段と、
目標物体に照射された複数の前記ビームに夫々対応する複数の観測点から、前記目標物体に係る代表点を推定する推定手段と、
を備え、
前記複数の観測点には、前記目標物体において前記ビームの少なくとも一部が反射されることにより生じる反射波に起因する、第1反射強度の第1種観測点と、前記出射手段から見て前記目標物体よりも奥に存在する物体において前記ビームの他の部分が反射されることにより生じる反射波に起因する、前記第1反射強度よりも弱い第2反射強度の第2種観測点とが含まれており、
前記推定手段は、前記代表点を推定することに加えて、前記第1種観測点の前記第1反射強度と前記第2種観測点の前記第2反射強度との差分から、前記目標物体の形状を推定する
ことを特徴とするセンサ。 - 第1センサと、
前記第1センサより角度分解能の高い第2センサと、
備え、
前記第2センサは、
観測波としてのビームの出射方向を所定角度ずつ変えながら、前記ビームを走査方向に沿って走査させる出射手段と、
前記ビームの前記走査方向の広がりを示す指標であるビーム幅が、前記所定角度より大きくなるように前記出射手段を制御する制御手段と、
物体において前記ビームが反射されることにより生じる反射波を受信することにより、前記ビームが反射された点である観測点を取得する取得手段と、
目標物体に照射された複数の前記ビームに夫々対応する複数の観測点から、前記目標物体に係る代表点を推定する推定手段と、
を有し、
前記複数の観測点には、前記目標物体において前記ビームの少なくとも一部が反射されることにより生じる反射波に起因する、第1反射強度の第1種観測点と、前記出射手段から見て前記目標物体よりも奥に存在する物体において前記ビームの他の部分が反射されることにより生じる反射波に起因する、前記第1反射強度よりも弱い第2反射強度の第2種観測点とが含まれており、
前記推定手段は、前記代表点を推定することに加えて、前記第1種観測点の前記第1反射強度と前記第2種観測点の前記第2反射強度との差分から、前記目標物体の形状を推定する
ことを特徴とするセンサシステム。
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