JP7320426B2 - 力率改善回路の制御装置、並びに 力率改善回路、電源装置及び半導体装置 - Google Patents

力率改善回路の制御装置、並びに 力率改善回路、電源装置及び半導体装置 Download PDF

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Description

本発明は、力率改善回路の制御装置、並びに 力率改善回路、電源装置及び半導体装置に関する。
図20に、力率改善機能を備えた電源装置901の全体構成を示す。電源装置901は、交流電源から供給される交流電圧Vacに基づき直流の出力電圧Voを生成するAC/DCコンバータである。
電源装置901は、交流電圧Vacのノイズを低減するフィルタ部910と、ノイズ低減後の交流電圧Vacを全波整流する全波整流回路920と、全波整流回路920から出力される全波整流電圧Vhを受けて出力電圧Voを生成するPFC回路(力率改善回路)930と、を備える。PFC回路930は、インダクタ931と、トランジスタ932と、還流ダイオード933と、平滑コンデンサ934と、分圧抵抗935及び936と、センス抵抗937と、PFC制御部938と、を備える。分圧抵抗935及び936から、出力電圧Voに応じた帰還電圧がPFC制御部938に提供される。センス抵抗937を用いてインダクタ931に流れる電流(インダクタ電流)Ipが検出される。
インダクタ931、トランジスタ932及び還流ダイオード933により昇圧回路が形成され、PFC制御部938はトランジスタ932のオン/オフを通じてインダクタ電流Ipを制御する。この際、PFC制御部938は、全波整流回路920を経た全波整流電圧Vhを元にインダクタ電流Ipが決定されるよう、定オン幅制御やピーク電流制御を行う。
特開2010-114993号公報
全波整流電圧Vhが理想的な脈流電圧(正弦波電圧を正確に絶対値化した脈流電圧)であれば、その理想的な脈流電圧に沿った電流波形をインダクタ電流Ipにもたせることで電源装置901の力率は限りなく“1”に近づく。
しかしながら、全波整流電圧Vhは、フィルタ部910による電圧歪みや、全波整流後のコンデンサ951による電圧歪みの影響を受け、上記理想的な脈流電圧から乖離する。図21に正弦波電圧としての交流電圧Vacの波形と共に全波整流電圧Vhの波形の例を概略的に示す。全波整流電圧Vhは、0Vまで電位が下がりきらない、高調波歪みを含んだ脈流電圧となる。
交流電圧Vacの瞬時値が0Vとなる近辺ではインダクタ電流Ipもゼロ近辺にすることが力率の改善につながるが、歪みの影響により全波整流電圧Vhが0Vの電位まで下がりきらないと、交流電圧Vacの瞬時値が0Vとなる近辺においても一定値以上のインダクタ電流Ipが流れるようPFC制御部938が動作することになる。つまり電流の波形が歪むこととなる。電流波形の歪みの増大は電源装置901の力率の低下を意味する。このような歪みは、特に照明機器など、高調波電流に対する規制が厳しい分野において致命的となりうる。
本発明は、良好な力率改善作用の実現に寄与する力率改善回路の制御装置、並びに、力率改善回路、電源装置及び半導体装置を提供することを目的とする。
本発明に係る力率改善回路の制御装置は、電源端子対に加わる交流電圧から直流の出力電圧を生成する電源装置に設けられる力率改善回路の制御装置であって、前記力率改善回路は、前記交流電圧を全波整流することで全波整流電圧を生成する全波整流回路と、平滑コンデンサが接続されて前記出力電圧が加わる出力配線と、の間に設けられ、前記全波整流回路と前記出力配線との間に挿入されるインダクタと、前記インダクタに流れるインダクタ電流を制御するためのスイッチング素子と、を含み、前記制御装置は、前記電源端子対及び前記全波整流回路間の電圧を整流することで得た脈流電圧と、前記出力電圧に応じた帰還電圧と、に基づいて、前記スイッチング素子の状態を制御する構成(第1の構成)である。
上記第1の構成に係る力率改善回路の制御装置において、前記スイッチング素子のオン区間では前記インダクタ電流が前記スイッチング素子を通じて流れ、前記力率改善回路には、前記スイッチング素子のオフ区間における前記インダクタ電流を前記出力配線に導くための還流素子が設けられる構成(第2の構成)であっても良い。
上記第1又は第2の構成に係る力率改善回路の制御装置において、前記全波整流回路とは別に前記電源端子対及び前記全波整流回路間の前記交流電圧が全波整流され、その全波整流の結果が分圧されることで前記脈流電圧が生成され、前記制御装置は、前記脈流電圧の極小値を検出する極小値検出部と、前記帰還電圧と所定の基準電圧とに基づく誤差電圧を生成するエラーアンプと、検出された極小値に基づき前記脈流電圧を負側にシフトする処理を通じて得た制御用脈流電圧と、前記誤差電圧と、に基づいて、前記スイッチング素子の状態を制御するスイッチング制御部と、を備える構成(第3の構成)であっても良い。
上記第3の構成に係る力率改善回路の制御装置において、前記制御装置は、前記脈流電圧の振幅を検出する振幅検出部と、検出された極小値に基づき前記脈流電圧を負側にシフトすることで補正脈流電圧を生成する脈流電圧補正部と、前記振幅検出部による検出振幅に基づき前記補正脈流電圧の振幅を補正することで前記制御用脈流電圧を生成する制御用脈流電圧生成部と、を備える構成(第4の構成)であっても良い。
上記第1又は第2の構成に係る力率改善回路の制御装置において、前記電源端子対は第1電源端子及び第2電源端子から成り、前記脈流電圧は、前記第1電源端子に加わる電圧を半波整流して得られる第1脈流電圧と、前記第2電源端子に加わる電圧を半波整流して得られる第2脈流電圧と、を含み、前記制御装置は、前記第1脈流電圧及び第2脈流電圧に基づいて前記交流電圧のゼロクロスタイミングを検出するゼロクロスタイミング検出部と、前記ゼロクロスタイミング検出部の検出結果に基づいて前記交流電圧の半周期を検出する周期検出部と、前記交流電圧の半周期を周期として有し、且つ、前記ゼロクロスタイミング検出部による検出ゼロクロスタイミングにて極小値をとる制御用脈流電圧を生成する制御用脈流電圧生成部と、前記帰還電圧と所定の基準電圧とに基づく誤差電圧を生成するエラーアンプと、前記制御用脈流電圧と前記誤差電圧に基づいて前記スイッチング素子の状態を制御するスイッチング制御部と、を備える構成(第5の構成)であっても良い。
上記第5の構成に係る力率改善回路の制御装置において、前記制御用脈流電圧生成部は、前記周期検出部による検出周期及び前記ゼロクロスタイミング検出部による検出ゼロクロスタイミングと所定の正弦波データとに基づき、正弦波を全波整流した波形を持つデジタル信号を生成するデジタル信号生成部と、前記デジタル信号をD/A変換することで前記制御脈電流電圧を生成するD/Aコンバータと、を備える構成(第6の構成)であっても良い。
上記第1又は第2の構成に係る力率改善回路の制御装置において、前記全波整流回路とは別に前記電源端子対及び前記全波整流回路間の前記交流電圧が全波整流され、その全波整流の結果が分圧されることで前記脈流電圧が生成され、前記制御装置は、前記脈流電圧のピークタイミングを検出するピークタイミング検出部と、前記ピークタイミング検出部の検出結果に基づいて前記交流電圧の半周期を検出する周期検出部と、前記交流電圧の半周期を周期として有し、且つ、前記ピークタイミング検出部による検出ピークタイミングにて極大値を持つ制御用脈流電圧を生成する制御用脈流電圧生成部と、前記帰還電圧と所定の基準電圧とに基づく誤差電圧を生成するエラーアンプと、前記制御用脈流電圧と前記誤差電圧に基づいて前記スイッチング素子の状態を制御するスイッチング制御部と、を備える構成(第7の構成)であっても良い。
上記第7の構成に係る力率改善回路の制御装置において、前記制御用脈流電圧生成部は、前記周期検出部による検出周期及び前記ピークタイミング検出部による検出ピークタイミングと所定の正弦波データとに基づき、正弦波を全波整流した波形を持つデジタル信号を生成するデジタル信号生成部と、前記デジタル信号をD/A変換することで前記制御脈電流電圧を生成するD/Aコンバータと、を備える構成(第8の構成)であっても良い。
上記第3~第8の構成の何れかに係る力率改善回路の制御装置において、前記スイッチング制御部は、前記スイッチング素子を所定のPWM周波数で交互にオン、オフするPWM制御を実行し、この際、前記制御用脈流電圧及び前記誤差電圧に基づき前記スイッチング素子のオンデューティを制御する構成(第9の構成)であっても良い。
上記第1~第9の構成の何れかに係る力率改善回路の制御装置において、前記電源端子対と前記全波整流回路との間にコモンモードフィルタが設けられ、前記脈流電圧は、前記電源端子対と前記コモンモードフィルタとの間の配線から抽出される構成(第10の構成)であっても良い。
本発明に係る力率改善回路は、電源端子対に加わる交流電圧から直流の出力電圧を生成する電源装置に設けられる力率改善回路であって、前記力率改善回路は、前記交流電圧を全波整流することで全波整流電圧を生成する全波整流回路と、平滑コンデンサが接続されて前記出力電圧が加わる出力配線と、の間に設けられ、前記全波整流回路と前記出力配線との間に挿入されるインダクタと、前記インダクタに流れるインダクタ電流を制御するためのスイッチング素子と、上記第1~第10の構成の何れかに係る制御装置と、を備えた構成(第11の構成)である。
本発明に係る電源装置は、電源端子対に加わる交流電圧から直流の出力電圧を生成する電源装置であって、前記交流電圧を全波整流することで全波整流電圧を生成する全波整流回路と、平滑コンデンサが接続されて前記出力電圧が加わる出力配線と、前記全波整流回路及び前記出力配線間に設けられる、上記第11の構成に係る力率改善回路と、を備えた構成(第12の構成)である。
本発明に係る半導体装置は、上記第5又は第6の構成に係る制御装置を1以上の半導体基板に集積化した半導体装置であって、前記1以上の半導体基板を収容する筐体と、前記筐体から露出した複数の外部端子と、を備え、前記複数の外部端子は、前記第1電源端子に加わる電圧の半波整流電圧を受ける第1外部端子と、前記第2電源端子に加わる電圧の半波整流電圧を受ける第2外部端子と、複数の第3外部端子と、を含み、前記第1外部端子及び前記第2外部端子間の距離は、前記複数の第3外部端子間の内、互いに隣接する2つの第3外部端子間の距離と比べて、大きい構成(第13の構成)である。
上記第13の構成に係る半導体装置において、前記複数の第3外部端子の内、前記第2外部端子に隣接する第3外部端子と、前記第2外部端子との距離は、互いに隣接する2つの第3外部端子間の距離と比べて、大きい構成(第14の構成)であっても良い。
上記第14の構成に係る半導体装置において、前記制御装置は、前記第1外部端子における半波整流電圧を分圧することで前記第1脈流電圧を生成する第1分圧回路と、前記第2外部端子における半波整流電圧を分圧することで前記第2脈流電圧を生成する第2分圧回路と、を備え、前記1以上の半導体基板は、前記第1分圧回路及び前記第2分圧回路が形成される第1半導体基板と、前記第1半導体基板とは別の第2半導体基板と、を含み、前記第1半導体基板は、前記第2外部端子に隣接する第3外部端子よりも、前記第1外部端子の近くに配置される構成(第15の構成)であっても良い。
本発明に係る半導体装置は、上記第5又は第6の構成に係る制御装置を1以上の半導体基板に集積化した半導体装置であって、前記1以上の半導体基板を収容する筐体と、前記筐体から露出した複数の外部端子と、を備え、前記複数の外部端子は、前記第1電源端子に加わる電圧の半波整流電圧を受ける第1外部端子と、前記第2電源端子に加わる電圧の半波整流電圧を受ける第2外部端子と、前記1以上の半導体基板の何れかに接続される複数の第3外部端子と、前記1以上の半導体基板の何れに対しても非接続とされる第4外部端子と、を含み、前記第1外部端子と前記第2外部端子との間に1以上の第4外部端子が配置される構成(第16の構成)であっても良い。
上記第16の構成に係る半導体装置において、前記複数の第3外部端子の内、前記第2外部端子に対して最も近い第3外部端子と、前記第2外部端子との間に、他の1以上の第4外部端子が配置される構成(第17の構成)であっても良い。
上記第17の構成に係る半導体装置において、前記制御装置は、前記第1外部端子における半波整流電圧を分圧することで前記第1脈流電圧を生成する第1分圧回路と、前記第2外部端子における半波整流電圧を分圧することで前記第2脈流電圧を生成する第2分圧回路と、を備え、前記1以上の半導体基板は、前記第1分圧回路及び前記第2分圧回路が形成される第1半導体基板と、前記第1半導体基板とは別の第2半導体基板と、を含み、前記第1半導体基板は、前記第2外部端子に対して最も近い第3外部端子よりも、前記第1外部端子の近くに配置される構成(第18の構成)であっても良い。
本発明によれば、良好な力率改善作用の実現に寄与する力率改善回路の制御装置、並びに、力率改善回路、電源装置及び半導体装置を提供することが可能となる。
本発明の第1実施形態に係る電源装置の全体構成図である。 本発明の第1実施形態に係るPFC制御部の外観斜視図である。 本発明の第1実施形態に係り、電源端子対とフィルタ部との接続配線の説明図である。 本発明の第1実施形態に係り、連続モード(Continuous-Conduction Mode)における交流電圧及びインダクタ電流の波形図である。 本発明の第1実施形態に属する実施例EX1_1に係り、電源装置の一部構成図である。 本発明の第1実施形態に属する実施例EX1_1に係り、電源装置における幾つかの電圧波形及び電流波形を示す図である。 本発明の第1実施形態に属する実施例EX1_1に係り、振幅検出部の構成図である。 本発明の第1実施形態に属する実施例EX1_1に係り、スイッチング制御部の構成及び信号波形を示す図である。 本発明の第1実施形態に属する実施例EX1_2に係り、電源装置の一部構成図である。 本発明の第1実施形態に属する実施例EX1_2に係り、電源装置における幾つかの電圧波形及び電流波形を示す図である。 本発明の第1実施形態に属する実施例EX1_2に係り、正弦波データの波形を示す図である。 本発明の第1実施形態に属する実施例EX1_2に係り、制御単位区間が複数の要素区間に分割される様子を示す図である。 本発明の第1実施形態に属する実施例EX1_3に係り、電源装置の一部構成図である。 本発明の第1実施形態に属する実施例EX1_3に係り、電源装置における幾つかの電圧波形及び電流波形を示す図である。 本発明の第1実施形態に属する実施例EX1_3に係り、制御単位区間が複数の要素区間に分割される様子を示す図である。 本発明の第2実施形態に係り、PFC制御部における外部端子の基本配列構造を示す図である。 本発明の第2実施形態に係り、PFC制御部を構成する2つの半導体基板を示す図である。 本発明の第2実施形態に属する実施例EX2_1に係り、PFC制御部における外部端子の配列を示す図である。 本発明の第2実施形態に属する実施例EX2_2に係り、PFC制御部における外部端子の配列を示す図である。 参考構成に係り、力率改善機能を有する電源装置の全体構成図である。 図20の電源装置に関わる交流電圧及び全波整流電圧の波形図である。
以下、本発明の実施形態の例を、図面を参照して具体的に説明する。参照される各図において、同一の部分には同一の符号を付し、同一の部分に関する重複する説明を原則として省略する。尚、本明細書では、記述の簡略化上、情報、信号、物理量、素子又は部位等を参照する記号又は符号を記すことによって、該記号又は符号に対応する情報、信号、物理量、素子又は部位等の名称を省略又は略記することがある。例えば、後述の“220”によって参照されるゼロクロスタイミング検出部は(図9参照)、ゼロクロスタイミング検出部220と表記されることもあるし、検出部220と略記されることもあり得るが、それらは全て同じものを指す。
まず、本発明の実施形態の記述にて用いられる幾つかの用語について説明を設ける。レベルとは電位のレベルを指し、任意の信号又は電圧についてハイレベルはローレベルよりも高い電位を有する。任意の信号又は電圧について、信号又は電圧がハイレベルにあるとは信号又は電圧のレベルがハイレベルにあることを意味し、信号又は電圧がローレベルにあるとは信号又は電圧のレベルがローレベルにあることを意味する。信号についてのレベルは信号レベルと表現されることがあり、電圧についてのレベルは電圧レベルと表現されることがある。
MOSFETを含むFET(電界効果トランジスタ)として構成された任意のトランジスタについて、オン状態とは、当該トランジスタのドレイン及びソース間が導通状態となっていることを指し、オフ状態とは、当該トランジスタのドレイン及びソース間が非導通状態(遮断状態)となっていることを指す。FETに分類されないトランジスタについても同様である。MOSFETは“metal-oxide-semiconductor field-effect transistor”の略称である。また、任意のトランジスタについて、トランジスタがオン状態となっている区間をオン区間と称することがあり、トランジスタがオフ状態となっている区間をオフ区間と称することがある。以下、任意のトランジスタについて、オン状態、オフ状態を、単に、オン、オフと表現することもある。
<<第1実施形態>>
本発明の第1実施形態を説明する。図1に本発明の第1実施形態に係る電源装置1の全体構成を示す。電源装置1は、交流電源2から供給される交流電圧Vacに基づき直流の出力電圧Voutを生成するAC/DCコンバータである。交流電圧Vacは商用交流電圧であって良く、交流電圧Vacの実効値は例えば100Vや200Vである。
電源装置1は、電源端子対を形成する電源端子IN1及びIN2と、出力端子対を形成する出力端子OUT1及びOUT2と、フィルタ部10と、全波整流回路20と、力率改善回路30(以下、PFC回路30と称されうる)と、脈流生成部40と、コンデンサ51と、各素子を接続するための配線(後述の配線AL1、BL1、AL2、BL2、PL1、PL2、PL3及びNLを含む)と、を備える。
電源端子対に交流電源2からの交流電圧Vacが供給される。即ち、電源端子IN1及びIN2間に交流電源2からの交流電圧Vacが加わる。交流電源2から電源装置1に入力される交流電流を記号“Iac”にて参照する。交流電流Iacは電源端子対を通じて流れる。
フィルタ部10は、電源端子対と全波整流回路20との間に配置され、交流電圧Vacに重畳されるノイズを低減する。具体的には、フィルタ部10は、交流電圧Vacに重畳されるコモンモードノイズを低減するためのコモンモードフィルタ11と、交流電圧Vacに重畳されるノーマルモードノイズを低減するためのアクロスザラインコンデンサ12及び13と、を備える。コンデンサ12はコモンモードフィルタ11と電源端子対との間に設けられ、コンデンサ13はコモンモードフィルタ11と全波整流回路20との間に設けられる。
電源端子IN1とコモンモードフィルタ11とを接続する配線を配線AL1と称し、電源端子IN2とコモンモードフィルタ11とを接続する配線を配線BL1と称する。フィルタ部10によるノイズ低減後の交流電圧Vacは配線AL2及びBL2間に加わる。コモンモードフィルタ11は第1及び第2インダクタから成り、第1インダクタが配線AL1及びAL2間に挿入され、第2インダクタが配線BL1及びBL2間に挿入される。尚、図1には特に示していないが、電源端子対とコンデンサ12との間にヒューズやサージ保護素子が設けられていても良い。
全波整流回路20は、フィルタ部10によるノイズ低減後の交流電圧Vacを全波整流することで全波整流電圧VHaを生成する。全波整流回路20は、4つのダイオード21~24から成るダイオードブリッジ回路である。具体的には、ダイオード21のアノード及びダイオード23のカソードが配線AL2に共通接続され、ダイオード22のアノード及びダイオード24のカソードが配線BL2に共通接続され、ダイオード21及び22の各カソードが配線PL1に共通接続され、ダイオード23及び24の各アノードが配線NLに共通接続される。
全波整流電圧VHaは配線NL及びPL1間に加わる。この際、配線NLに負側の電位が加わり、配線PL1に正側の電位が加わる。配線PL1及びNLにコンデンサ51が接続される。
PFC回路30は、全波整流電圧VHaから出力電圧Voutを生成する昇圧型のコンバータであり、交流電圧Vacの位相と交流電流Iacの位相が一致するよう動作することで電源装置1の力率を改善する。PFC回路30は、インダクタ31と、Nチャネル型のMOSFET(metal-oxide-semiconductor field-effect transistor)として構成されたスイッチング素子であるトランジスタ32と、還流ダイオード33と、平滑コンデンサ34と、分圧抵抗35及び36と、センス抵抗37と、PFC制御部100と、を備える。
インダクタ31の一端は配線PL1に接続され、配線PL1を通じてダイオード21及び22の各カソードに接続される。インダクタ31の他端は配線PL2に接続され、配線PL2を通じてトランジスタ32のドレインと還流ダイオード33のアノードに共通接続される。トランジスタ32のソースはグランドGNDに接続される。グランドGNDとは、所定のグランド電位を有する導電部を指す。本実施形態において、特に基準を設けずに示される電圧(但し交流電圧Vacを除く)は、グランドGNDから見た電位を表す。本実施形態ではグランド電位を0Vと定義する。
還流ダイオード33のカソードは配線PL3に接続される。配線PL3は出力電圧Voutが加わる出力配線である。出力電圧Voutはグランド電位から見た電圧であって、グランド電位よりも高い電位を持つ。平滑コンデンサ34の一端は出力配線PL3に接続され、平滑コンデンサ34の他端はグランドGNDに接続される。分圧抵抗35及び36から成る分圧回路は、出力電圧Voutを分圧することで帰還電圧Vfbを生成する。具体的には、分圧抵抗35の一端は出力配線PL3に接続され、分圧抵抗35の他端は分圧抵抗36を介してグランドGNDに接続される。分圧抵抗35及び36間の接続ノードに帰還電圧Vfbが生じる。出力端子OUT1は出力配線PL3に接続され、出力端子OUT2はグランドGNDに接続される。
センス抵抗37は、トランジスタ32のソースと配線NLとの間に挿入され、トランジスタ32のソースと配線NLとの間に流れる電流に応じた電圧降下を発生させる。ダイオード23及び24の各アノードが配線NLを通じて出力端子OUT2に接続され、配線NL上にセンス抵抗37が直列に挿入される、と考えることもできる。センス抵抗37は、トランジスタ32のソースとグランドGNDとの間に挿入されても良い。
PFC制御部100は、PFC回路30の制御装置に相当する。PFC制御部100は、図2に示すような、半導体集積回路を樹脂にて構成された筐体(パッケージ)内に封入することで形成された電子部品(半導体装置)である。PFC制御部100の筐体に複数の外部端子が露出して設けられており、その複数の外部端子には図1に示される端子101~107が含まれ、それ以外の端子も上記複数の外部端子に含まれうる。尚、図2に示されるPFC制御部100の外部端子の数及びPFC制御部100の外観は例示に過ぎない。
端子101には所定の電源電圧が供給される。PFC制御部100は、端子101に供給される電源電圧に基づいて駆動する。端子102はグランドGNDに接続される。端子103はトランジスタ32のゲートに接続される。端子104には帰還電圧Vfbが印加される。端子105には脈流生成部40から出力される脈流電圧が印加される(詳細は後述)。端子105は2つの外部端子から形成されることもある(詳細は後述)。端子106は配線NLに接続され、センス抵抗37で生じた電圧降下が端子106に加わる。PFC制御部100は、端子106での電圧を参照し、センス抵抗37の電圧降下に基づいて過電流保護動作(例えばトランジスタ32を通じて流れる電流が所定値以上となるとトランジスタ32をオフとする動作)を行うことができる。端子107には後述のエラーアンプの出力信号の帯域を制限するための部品(不図示)が外付け接続される。
脈流生成部40は配線AL1及びBL1に接続される。図3に示す如く、配線AL1は配線AL1a及びAL1bから成る。配線AL1aは、電源端子IN1とノードND1との間の配線である。配線AL1bは、ノードND1とコモンモードフィルタ11の第1インダクタと、の間の配線である。配線BL1aは、電源端子IN2とノードND2との間の配線である。配線BL1bは、ノードND2とコモンモードフィルタ11の第2インダクタと、の間の配線である。コンデンサ12の一端はノードND1に接続され、コンデンサ12の他端はノードND2に接続される。図1の例では、配線AL1b及びBL1bに対して脈流生成部40が接続されているが、配線AL1a及びBL1aに対して脈流生成部40を接続するようにしても良い。
脈流生成部40は、配線AL1及びBL1における電圧を整流することで脈流電圧を生成し、生成した脈流電圧をPFC制御部100に供給する。詳細は後述されるが、脈流生成部40は、配線AL1及びBL1間に加わる交流電圧Vacを全波整流することで1つの脈流電圧を生成しても良いし、配線AL1に加わる電圧及び配線BL1に加わる電圧を個別に半波整流することで2つの脈流電圧を生成しても良い。
PFC制御部100は、帰還電圧Vfbと脈流生成部40から供給される脈流電圧とに基づき、出力電圧Voutを所定の目標電圧Vtgに安定化させる出力安定化制御と、インダクタ31に流れる電流の調整を通じて電源装置1の力率を高める力率改善制御と、を実行する。以下、インダクタ31に流れる電流を記号“IL”により参照し、電流IL又はインダクタ電流ILと称する。インダクタ電流ILは配線PL1から配線PL2へ向かう向きに流れる。インダクタ電流ILはPFC回路30への入力電流に相当する。
出力安定化制御及び力率改善制御は、帰還電圧Vfbと脈流生成部40から供給される脈流電圧とに基づいてトランジスタ32の状態(オン/オフ状態)を制御することにより実現される。PFC制御部100は、端子103を通じてトランジスタ32にゲート信号Vgateを供給し、ゲート信号Vgateをハイレベル及びローレベル間で切り替えることでトランジスタ32をスイッチングさせる。ゲート信号Vgateがハイレベルであるときトランジスタ32はオン状態となり、ゲート信号Vgateがローレベルであるときトランジスタ32はオフ状態となる。
トランジスタ32がオン状態となるトランジスタ32のオン区間において、インダクタ電流ILはトランジスタ32を介して配線NLへと流れる。トランジスタ32がオフ状態となるトランジスタ32のオフ区間においてインダクタ電流ILが流れるとき(インダクタ31にエネルギが蓄積されているとき)、インダクタ電流ILは還流ダイオード33を介して出力配線PL3へと流れる。
図4に、連続モード(Continuous-Conduction Mode)でのインダクタ電流ILの波形を概略的に、交流電圧Vacの波形と共に示す。ここでは特に図示しないが、PFC回路30は臨界モード(Boundary-Conduction Mode)でも動作可能である。臨界モードは不連続モードと称されることもある。連続モードであっても、臨界モードであっても、トランジスタ32のオン区間においてインダクタ電流ILは時間経過と共に上昇し、その後のトランジスタ32のオフ区間においてインダクタ電流ILは時間経過と共に減少する。但し、インダクタ電流ILの下限はゼロである。
このため、トランジスタ32のオン/オフによりインダクタ電流ILが制御され、この制御を通じてインダクタ電流ILの波形を目標インタクタ電流ILtgの波形に近づけることができる。ここで、目標インタクタ電流ILtgとは、“ILtg=|Vac|×Kiv”で表わされる脈流を指す。Kivは“アンペア/ボルト”を単位とする係数である。目標インタクタ電流ILtgは、交流電圧Vacの2倍の周波数を持ち且つ交流電圧Vacに同期した位相を持つ。PFC制御部100は、力率改善制御において、インダクタ電流ILの波形が目標インタクタ電流ILtgの波形に近づくようにトランジスタ32のオン/オフを制御することで電源装置1の力率を“1”に近づける。
尚、還流ダイオード33はトランジスタ32のオフ区間におけるインダクタ電流ILを出力配線PL3に導く還流素子として機能する。PFC回路30において、還流ダイオード33の代わりに同期整流トランジスタを還流素子として用いても良い。この場合、PFC制御部100の制御の下、トランジスタ32がオン状態であるときに同期整流トランジスタをオフ状態とし、トランジスタ32がオフ状態であるときに同期整流トランジスタをオン状態とすれば良い。
第1実施形態は、以下の実施例EX1_1~EX1_3を含む。実施例EX1_1~EX1_3にて、PFC制御部100の詳細な構成例及び動作例、並びに、応用技術等を説明する。本実施形態にて上述した事項は、特に記述無き限り且つ矛盾無き限り、以下の実施例EX1_1~EX1_3に適用され、各実施例において、上述した事項と矛盾する事項については各実施例での記載が優先されて良い。また矛盾無き限り、実施例EX1_1~EX1_3の内、任意の実施例に記載した事項を、他の任意の実施例に適用することもできる(即ち複数の実施例の内の任意の2以上の実施例を組み合わせることも可能である)。
[実施例EX1_1]
実施例EX1_1を説明する。図5は実施例EX1_1に係る電源装置1の一部構成図である。実施例EX1_1では、脈流生成部40として脈流生成部40aが用いられると共にPFC制御部100としてPFC制御部100aが用いられる。実施例EX1_1において、図1の端子105は単一の外部端子105Sである。図6に、実施例EX1_1の電源装置1における幾つかの電圧波形及び電流波形を示す。尚、図6では、図示の便宜上、互いに異なるスケールにて複数の電圧波形を示している(後述の図10及び図14においても同様)。例えば、図6では、図示の便宜上、後述の脈流電圧VH及びVH’が同程度の振幅を持つかのように、それらの波形が示されているが、脈流電圧VHと脈流電圧VH’とでは振幅が大きく異なる(例えば100倍程度異なる)。
脈流生成部40aは、整流ダイオードであるダイオード41及び42と、雷サージ保護用の抵抗43とを備える。ダイオード41のアノードは配線AL1に接続され、ダイオード42のアノードは配線BL1に接続される。より詳細には(図3参照)、ダイオード41のアノードは配線AL1bに接続され、ダイオード42のアノードは配線BL1bに接続される。但し、ダイオード41のアノードを配線AL1aに接続し、ダイオード42のアノードを配線BL1aに接続するようにしても良い。
ダイオード41及び42のカソード同士は抵抗43の一端に共通接続され、抵抗43の他端は端子105Sに接続される。このため、脈流生成部40aにおいて、ダイオード41及び42により配線AL1及びBL1間の交流電圧Vacが全波整流され、全波整流された交流電圧Vacが脈流電圧として生成される。脈流生成部40aにて生成される脈流電圧を脈流電圧VHと称する。脈流電圧VHは抵抗43と端子105Sとの間の配線に生じ、端子105Sにて脈流生成部40aからの脈流電圧VHを受ける。
PFC制御部100aは、分圧回路110と、極小値検出部120(ゼロ相当電圧検出部)と、脈流電圧補正部130(ゼロ補正部)と、振幅検出部140と、除算回路150と、エラーアンプ160と、スイッチング制御部170と、を備える。
分圧回路110は、分圧抵抗111及び112から成り、端子105Sにおける脈流電圧VHを分圧して、分圧された脈流電圧VHを脈流電圧VH’として出力する。より具体的には、分圧抵抗111の一端が端子105Sに接続され、分圧抵抗111の他端は分圧抵抗112を介してグランドGNDに接続される。分圧抵抗111及び112間の接続ノードに脈流電圧VH’が生じる。分圧回路110での分圧比は任意であるが、例えば、数10分の1~数100分の1程度の分圧比が採用される。
脈流電圧VH及びVH’は、交流電圧Vacに同期し且つ交流電圧Vacの周波数の2倍の周波数を持つ(図6参照)。交流電圧Vacのゼロクロスタイミングにおいて脈流電圧VH及びVH’は極小値をとり、その極小値は、理想的にはゼロとなる。しかしながら、ダイオード41及び42の存在や端子105Sに至るまでの波形歪みにより、それらの極小値はゼロとならないことも多い(図6参照)。尚、交流電圧Vacのゼロクロスとは電源端子IN1及びIN2間の電位差がゼロとなることを指し、交流電圧Vacのゼロクロスタイミングとは、電源端子IN1及びIN2間の電位差がゼロとなるタイミング(換言すれば、交流電圧Vacの極性が負から正に切り替わるタイミング、又は、交流電圧Vacの極性が正から負に切り替わるタイミング)を指す。
極小値検出部120は、脈流電圧VH’に基づき脈流電圧VH’の極小値を検出する。検出された極小値を記号“Vmin”にて参照し、極小値Vmin、検出極小値Vim又は検出値Vminなどと称する(図6参照)。検出値Vminは、交流電圧Vacのゼロクロスタイミングでの脈流電圧VH’の値に相当する。このため、極小値検出部120は、脈流電圧VH’に基づいて脈流電圧VH’が極小値をとるタイミングを交流電圧Vacのゼロクロスタイミングとして検出し、交流電圧Vacのゼロクロスタイミングでの脈流電圧VH’の値を検出値Vminとして導出する回路である、と言える。
脈流電圧補正部130は、分圧回路110からの脈流電圧VH’と極小値検出部120による検出値Vminとを受け、検出値Vminに基づき脈流電圧VH’を負側にシフトすることで補正脈流電圧VHpを生成する(図6参照)。補正脈流電圧VHpは、脈流電圧VH’の極小値がゼロとなるように脈流電圧VH’を補正したものに相当する。このため、“VHp=VH’-Vmin”であると考えて良い。
ここで、便宜上、交流電圧Vacにおける隣接する2つのゼロクロスタイミングに挟まれた区間を、フレームと称する(図6参照)。時間の進行につれて、第1フレーム、第2フレーム、第3フレーム、・・・が順次訪れる。任意の自然数iに関し、第(i-1)及び第iフレーム間の境界タイミングにて交流電圧Vacのゼロクロスが発生し、第i及び第(i+1)フレーム間の境界タイミングにて交流電圧Vacの次のゼロクロスが発生する。
極小値検出部120は、各フレームにおいて極小値Vminを検出することができる。ここでは、任意の自然数iに関し、第(i-1)及び第iフレーム間の境界タイミングにおける極小値Vminが、第(i-1)フレームにて検出される極小値Vminであると考える。そうすると、脈流電圧補正部130は、第iフレームの脈流電圧VH’を、第(i-1)フレームにて検出された極小値Vminだけ負側にシフトすることで第iフレームの補正脈流電圧VHpを生成して良い。或いは、脈流電圧補正部130は、第iフレームよりも前の複数のフレームにて検出された複数の極小値Vminに基づく量(例えば第(i-2)及び第(i-1)フレームにて検出された2つの極小値Vminの平均)だけ、第iフレームの脈流電圧VH’を負側にシフトすることで第iフレームの補正脈流電圧VHpを生成しても良い。更に或いは、フレーム間における極小値Vminの変動は少ないとみなし、第iフレームで極小値Vminが検出された後、脈流電圧補正部130は、それ以後の全フレームにおいて、第iフレームで検出された極小値Vminを用いて、補正脈流電圧VHpを生成するようにしても良い。
振幅検出部140は、脈流電圧VH’に基づいて脈流電圧VH’の振幅を検出し、脈流電圧VH’の振幅を表す電圧Vampを出力する。電圧Vampは、脈流電圧VH’の振幅に比例する電圧値を持ち、当該振幅の増大につれて増大し且つ当該振幅の減少につれて減少する。図7に、振幅検出部140の構成例を示す。図7の振幅検出部140は、オペアンプ141、ダイオード142及びコンデンサ143を備える。オペアンプ141の非反転入力端子に脈流電圧VH’が入力される。オペアンプ141の出力端子はダイオード142のアノードに接続される。ダイオード142のカソードは、オペアンプ141の反転入力端子に接続されると共に、コンデンサ143を介してグランドGNDに接続される。ダイオード142のカソードとコンデンサ143との接続ノードに電圧Vampが現れる。
除算回路150は、補正脈流電圧VHpを電圧Vampにて除算することで制御用脈流電圧VHqを生成する(図6参照)。このため、“VHq=VHp/Vamp”で表される。制御用脈流電圧VHqは補正脈流電圧VHpと振幅だけ異なり、振幅を除き、電圧VHp及びVHqの波形は互いに同じである。除算回路150は、振幅検出部140にて検出された振幅に基づき補正脈流電圧VHpの振幅を補正することで制御用脈流電圧VHqを生成する制御用脈流電圧生成部として機能する。
エラーアンプ160は、所定の基準電圧Vrefと端子104に加わる帰還電圧Vfbとの誤差に応じた誤差電圧Verrを生成する。エラーアンプ160を例えばトランスコンダクタンスアンプにて構成することができる。基準電圧Vrefは、PFC制御部100a内の図示されない基準電圧生成部にて生成され、正の所定直流電圧値を持つ。帰還電圧Vfbが基準電圧Vrefと一致するとき出力電圧Voutは所定の目標電圧Vtgと一致する。ここでは、誤差電圧Verrは0V以上の電圧を有し、“Vfb<Vref”であるときに誤差電圧Verrが増大するように且つ“Vfb>Vref”であるときに誤差電圧Verrが0Vを下限に低下するように、エラーアンプ160が構成されているものとする。尚、エラーアンプ160の出力端子は端子107に接続される。端子107には、エラーアンプ160の出力信号の高周波成分を低減するための部品(コンデンサや、抵抗及びコンデンサの直列回路:不図示)が、PFC制御部100aの外側において接続されて良い。
スイッチング制御部170は、制御用脈流電圧VHq及び誤差電圧Verrに基づき、トランジスタ32を所定のPWM周波数にて交互にオン、オフするPWM制御を実行する。PWMは“pulse width modulation”の略称である。
この際、スイッチング制御部170は、誤差電圧Verrが高くなるほどトランジスタ32のオンデューティを増大させ、誤差電圧Verrが低くなるほどトランジスタ32のオンデューティを減少させる。これにより出力電圧Voutは所定の目標電圧Vtgに安定化することになる。トランジスタ32のオンデューティとは、トランジスタ32のオン区間とトランジスタ32のオフ区間との和に対するトランジスタ32のオン区間の割合を指す。
一方で、スイッチング制御部170は、制御用脈流電圧VHqの値が相対的に高いタイミングにおいて、制御用脈流電圧VHqの値が相対的に低いタイミングよりも、トランジスタ32のオンデューティを大きくする。これは、配線AL1及びBL1から抽出した脈流電圧(VH、VH’、VHp又はVHq)の位相に応じてインダクタ電流ILの位相を制御することに相当し、インダクタ電流ILの位相(インダクタ電流ILの平均電流の位相)が脈流電圧(VH、VH’、VHp又はVHq)の位相と一致することになる。結果、インダクタ電流ILの波形が上述の目標インタクタ電流ILtgに近づいて(図4参照)電源装置1の力率が“1”に近づくことになる。
制御用脈流電圧VHq及び誤差電圧Verrの双方を加味してトランジスタ32のオンデューティを制御すべく、スイッチング制御部170では乗算回路が利用される。図8(a)にスイッチング制御部170の構成例を示す。図8(b)にスイッチング制御部170に関わる複数の信号波形を示す。スイッチング制御部170は、乗算回路171と、ランプ電圧生成部172と、PWMコンパレータ173と、オシレータ174と、RS型フリップフロップであるFF175と、ドライバ176と、を備える。
乗算回路171は、制御用脈流電圧VHqと誤差電圧Verrを乗算し、乗算結果を示す電圧Vcmpを出力する。電圧Vcmpは、制御用脈流電圧VHqが高いほど高くなり且つ誤差電圧Verrが高いほど高くなる。
ランプ電圧生成部172は、鋸波又は三角波状のランプ電圧Vrampを生成する。図8(b)の例では、ランプ電圧Vrampは鋸波状の波形を持ち、ランプ電圧Vrampの値は所定の下限電圧値を起点に線型的に増大して所定の上限電圧値に達すると下限電圧値に急峻に戻る。ランプ電圧Vrampの下限電圧値及び上限電圧値間の変動は所定のPWM周期にて繰り返し発生する。PWM周期はPWM周波数の逆数である。
PWMコンパレータ173の非反転入力端子には、ランプ電圧Vrampが入力され、PWMコンパレータ173の反転入力端子には、乗算回路171からの電圧Vcmpが対比電圧として入力される。PWMコンパレータ173は、ランプ電圧Vramp及び対比電圧Vcmpを比較し、比較結果を示すPWM信号である信号Spwmを出力する。信号Spwmは、“Vramp>Vcmp”の成立区間においてハイレベルとなり、それ以外の区間ではローレベルとなる。
オシレータ174は、所定のPWM周波数を有するセット信号Ssetを生成する。図8(b)の例において、セット信号Ssetは微小時間だけハイレベルとなるパルスの列を含み、セット信号Ssetにおいて隣接する任意の2つのパルスの間隔はPWM周期と一致する。ランプ電圧生成部172はオシレータ174に同期して動作しており、セット信号Ssetでのパルスの発生に同期してランプ電圧Vrampを下限電圧値に戻す。
FF175は、セット信号Ssetを受けるセット端子と、信号Spwmを受けるリセット端子と、出力端子と、を備えるRS型フリップフロップである。FF175の出力端子から駆動信号DRVが出力される。このため、各PWM周期において、駆動信号DRVは“Vramp>Vcmp”の成立区間においてローレベルとなり、それ以外の区間においてハイレベルとなる。
ドライバ176は駆動信号DRVに基づくゲート信号Vgateを出力する。ゲート信号Vgateは端子103を通じてトランジスタ32のゲートに供給される(図1参照)。ハーフブリッジ回路等にてドライバ176を構成することができる。駆動信号DRVがハイレベルであるときにゲート信号Vgateもハイレベルとなってトランジスタ32がオン状態となり、駆動信号DRVがローレベルであるときにゲート信号Vgateもローレベルとなってトランジスタ32がオフ状態となる。
上述の構成により、帰還電圧Vfb及び制御用脈流電圧VHqに応じてトランジスタ32が交互にオン、オフされ、上記の出力安定化制御及び力率改善制御が実現される。この際、フィルタ部10やコンデンサ51による歪みの影響を受けていない電圧を配線AL1及びBL1から取り込む構成を採用することにより、高い力率改善効果(高調波電流の高い抑制効果)が得られる。
また、極小値検出部120(ゼロ相当電圧検出部)を利用し、0Vまで低下する脈流電圧(VHp、VHq)を用いてインダクタ電流ILを制御することで、高調波電流の発生が強力に抑制される。つまり、参照される脈流電圧(VHp、VHq)が0V近辺まで低下しているタイミングではインダクタ電流ILも0A近辺まで低下させることができ、これにより電流の歪みが効果的に低減される。
図6には、連続モードで動作するときのインダクタ電流ILの波形が概略的に示されているが、PFC回路30は臨界モード(不連続モード)でも動作可能である。つまり、本実施形態の構成は連続モード及び臨界モードの何れにも対応できるため、利便性が高い。
また、振幅検出部140及び除算回路150を用いることで、交流電圧Vacの振幅に依存することなく、制御用脈流電圧VHqの振幅を一定にすることができる。このため、交流電圧Vacが様々な振幅を持ちうることを考慮することなく乗算回路150を設計することができ、乗算回路150のダイナミックレンジの設計を含む設計の容易化が期待される。
但し、PFC制御部100aから振幅検出部140及び除算回路150を削除し、補正脈流電圧VHpそのものを制御用脈流電圧VHqとしてスイッチング制御部170に入力することも可能ではある。
[実施例EX1_2]
実施例EX1_2を説明する。図9は実施例EX1_2に係る電源装置1の一部構成図である。実施例EX1_2では、脈流生成部40として脈流生成部40bが用いられると共にPFC制御部100としてPFC制御部100bが用いられる。実施例EX1_2において、図1の端子105は2つの外部端子105A及び105Bから成る。図10に、実施例EX1_2の電源装置1における幾つかの電圧波形及び電流波形を示す。
脈流生成部40bは、整流ダイオードであるダイオード44及び45と、雷サージ保護用の抵抗46及び47とを備える。ダイオード44のアノードは配線AL1に接続され、ダイオード45のアノードは配線BL1に接続される。より詳細には(図3参照)、ダイオード44のアノードは配線AL1bに接続され、ダイオード45のアノードは配線BL1bに接続される。但し、ダイオード44のアノードを配線AL1aに接続し、ダイオード45のアノードを配線BL1aに接続するようにしても良い。
ダイオード44のカソードは抵抗46を介して端子105Aに接続される一方、ダイオード45のカソードは抵抗47を介して端子105Bに接続される。このため、脈流生成部40bにおいて、ダイオード44により配線AL1における電圧が半波整流され、配線AL1での電圧を半波整流した電圧VH1が端子105Aに加わる。一方、ダイオード45により配線BL1における電圧が半波整流され、配線BL1での電圧を半波整流した電圧VH2が端子105Bに加わる。電圧VH1及びVH2は、互いに位相がずれた脈流電圧となる(図10参照)。
PFC制御部100bは、分圧回路210A及び210Bと、ゼロクロスタイミング検出部220と、周期検出部230と、正弦波データレジスタ240と、デコーダ250と、D/Aコンバータ(デジタル/アナログ変換器)であるDAC260と、エラーアンプ160と、スイッチング制御部170と、を備える。
分圧回路210Aは、分圧抵抗211及212から成り、端子105Aにおける脈流電圧VH1を分圧して、分圧された脈流電圧VH1を脈流電圧VH1’として出力する。より具体的には、分圧抵抗211の一端が端子105Aに接続され、分圧抵抗211の他端は分圧抵抗212を介してグランドGNDに接続される。分圧抵抗211及び212間の接続ノードに脈流電圧VH1’が生じる。
分圧回路210Bは、分圧抵抗213及214から成り、端子105Bにおける脈流電圧VH2を分圧して、分圧された脈流電圧VH2を脈流電圧VH2’として出力する。より具体的には、分圧抵抗213の一端が端子105Bに接続され、分圧抵抗213の他端は分圧抵抗214を介してグランドGNDに接続される。分圧抵抗213及び214間の接続ノードに脈流電圧VH2’が生じる。
分圧回路210A及び210Bでの分圧比は任意であるが、例えば、数10分の1~数100分の1程度の分圧比が採用される。但し、分圧回路210A及び210Bでの分圧比は互いに同じに設定されると良い。
脈流電圧VH1又はVH1’は第1脈流電圧に相当し、脈流電圧VH2又はVH2’は第2脈流電圧に相当する。交流電圧Vacのゼロクロスタイミング(即ち電源端子IN1及びIN2間の電位差がゼロとなるタイミング)において、第1及び第2脈流電圧間の電位差はゼロとなる。
ゼロクロスタイミング検出部220は、第1脈流電圧及び第2脈流電圧に基づき交流電圧Vacのゼロクロスタイミングを検出し(換言すれば推定し)、その検出結果を示すゼロクロス検出信号Szxを出力する。具体的には、検出部220は、脈流電圧VH1’及びVH2’を受け、脈流電圧VH1’が脈流電圧VH2’よりも高い状態から脈流電圧VH1’が脈流電圧VH2’よりも低い状態へ遷移する第1遷移タイミング、及び、脈流電圧VH1’が脈流電圧VH2’よりも低い状態から脈流電圧VH1’が脈流電圧VH2’よりも高い状態へ遷移する第2遷移タイミングの夫々を交流電圧Vacのゼロクロスタイミングとして検出し、検出した各ゼロクロスタイミングにおいて微小時間だけハイレベルとなるパルスをゼロクロス検出信号Szxに発生させる。信号Szxにおいて、交流電圧Vacの周期の1/2の周期でパルスが発生することになる。脈流電圧VH1’及びVH2’を比較するコンパレータと、当該コンパレータの出力信号変化に同期してパルスを発生させる1ショットパルス生成回路とで、検出部220を構成することができる。
周期検出部230は、ゼロクロス検出信号Szxにおける互いに隣接するパルスの間隔を計測することで、交流電圧Vacの半周期を検出する(即ち、交流電圧Vacの半周期の長さを検出する)。交流電圧Vacの半周期は交流電圧Vacの周期の半分を指す。例えば、交流電圧Vacの周波数が50Hzであれば、交流電圧Vacの半周期は1/100秒となる。
そして、正弦波データレジスタ240、デコーダ250及びDAC260から成る制御用脈流電圧生成部は、交流電圧Vacの半周期を自身の周期として有し、且つ、検出部230による検出ゼロクロスタイミングにて極小値(例えばゼロ)をとる制御用脈流電圧VHxを生成する(図10参照)。この際、制御用脈流電圧VHxが正弦波を全波整流した電圧値を持つよう制御用脈流電圧VHxの生成が行われる。
制御用脈流電圧VHzの生成方法を詳細に説明する。正弦波データレジスタ240は所定の正弦波データを保持するデータ保持部である。正弦波データは、正弦波信号の信号値を量子化して表したデータである。1周期分の正弦波信号の信号値がレジスタ240にて保持されていても良いが、図11に示すような、0°~90°の位相範囲における正弦波信号の信号値を表す正弦波データD_sinがレジスタ240に保持されていれば足る。図11では、正弦波データD_sinが滑らかな曲線にて表現されているが、正弦波データD_sinは量子化されたデータであるため、位相に応じた離散値を有する。正弦波データD_sinは、所定の最小値Dminから所定の最大値Dmaxまでの信号値を有する。“0=Dmin<Dmax”である。
図12を参照し、ゼロクロス検出信号Szxにおける互いに隣接するパルスの間隔をTp1で表す。周期検出部230は、間隔Tp1分の長さを有する区間、即ち交流電圧Vacにおける隣接する2つのゼロクロスタイミングに挟まれた区間を、制御単位区間に設定する。周期検出部230にて設定される制御単位区間は実施例EX1_1で述べたフレームに相当する(図6参照)。制御単位区間は交流電圧Vacの周波数の2倍の周波数で順次且つ繰り返し訪れる。周期検出部230は、各制御単位区間を(2×m)個に等分割する。この等分割により形成される1つの1つの区間を要素区間と称する。各制御単位区間は計(2×m)個の要素区間から成る。或る制御単位区間における要素区間の長さは、過去の1以上の制御単位区間の長さに基づいて決定されれば良い。デコーダ250は、周期検出部230の制御の下で、レジスタ240に保持された正弦波データD_sinから必要なデジタル値を抽出し、抽出したデジタル値を持つデジタル信号DACxをDAC260に入力する。DAC260は、入力されたデジタル信号DACxをアナログの電圧信号に変換することで制御用脈流電圧VHxを生成及び出力する。
デコーダ250は、周期検出部230の制御の下、各制御単位区間の第i番目の要素区間において、デジタル信号DACxが、“K×sin((π/2)×(i/m))”に一致又は近似したデジタル値を持つように、正弦波データD_sinから必要なデジタル値を抽出すれば良い(但し、第1番目及び第m番目の要素区間におけるデジタル信号DACxの値はゼロとされても良い)。Kは所定の係数である。これにより、正弦波を全波整流した波形を持つデジタル信号DACxを生成することができる(図10参照)。デジタル信号DACxは、交流電圧Vacの半周期を自身の周期として有し、且つ、検出部320によるゼロクロスタイミングにて極小値(例えばゼロ)をとる信号波形を持つ。正弦波データレジスタ240及びデコーダ250によりデジタル信号DACxを生成するデジタル信号生成部が形成される。
制御用脈流電圧VHxはデジタル信号DACxをアナログ電圧に変換したものであるため(電圧VHxの値は信号DACxの値に比例するため)、制御用脈流電圧VHxは正弦波を全波整流した波形を持つことになる。そして、制御用脈流電圧VHxの周期は交流電圧Vacの半周期と一致すると共に、制御用脈流電圧VHxは検出部320によるゼロクロスタイミングにて極小値をとる。制御用脈流電圧VHxの極小値はゼロとされるが、ゼロよりも若干大きな値であり得ても良い。制御用脈流電圧VHxの振幅は交流電圧Vacの振幅に依存せず一定となる。
PFC制御部100bに設けられるエラーアンプ160及びスイッチング制御部170は、実施例EX1_1のPFC制御部100aに設けられるエラーアンプ160及びスイッチング制御部170と同じものであり、それらの動作及び構成について実施例EX1_1の記載が実施例EX1_2に適用される。但し、PFC制御部100bにおけるスイッチング制御部170では、制御用脈流電圧としてDAC260からの制御用脈流電圧VHxを用いてゲート信号Vgateを生成するものとする。故に、実施例EX1_2においてスイッチング制御部170は、制御用脈流電圧VHx及び誤差電圧Verrに基づき、トランジスタ32を所定のPWM周波数にて交互にオン、オフするPWM制御を実行することになる。実施例EX1_1の記載を実施例EX1_2に適用する際、実施例EX1_1中の符号“100a”及び“VHq”は夫々実施例EX1_2において符号“100b”及び“VHx”に読み替えられる。
実施例EX1_2によっても実施例EX1_1と同様の作用及び効果を得ることができる。ところで、特に工場などでは、電源端子IN1及びIN2における電圧が既に歪んでいることも多い。但し、そのような場合であっても、交流電圧Vacのゼロクロスタイミングは第1及び第2脈流電圧(VH1及びVH2、又は、VH1’及びVH2’)の交差タイミングと一致している。このため、実施例EX1_2では、第1及び第2脈流電圧の交差タイミングから交流電圧Vacのゼロクロスタイミングを検出して歪みの無い制御用脈流電圧VHxを交流電圧Vacの理想的な全波整流電圧として再現し、歪みの無い制御用脈流電圧VHxを用いてインダクタ電流ILを制御する構成を採用している。このため、電源端子IN1及びIN2における電圧が歪みを含んでいるような状況においても、優れた高調波抑制効果を得ることが可能となる。
[実施例EX1_3]
実施例EX1_3を説明する。図13は実施例EX1_3に係る電源装置1の一部構成図である。実施例EX1_3では、脈流生成部40として脈流生成部40cが用いられると共にPFC制御部100としてPFC制御部100cが用いられる。実施例EX1_3において、図1の端子105は単一の外部端子105Sから成る。図14に、実施例EX1_3の電源装置1における幾つかの電圧波形及び電流波形を示す。
実施例EX1_3における脈流生成部40cは、第1実施例における脈流生成部40aと同じものであり、整流ダイオードであるダイオード41及び42と、雷サージ保護用の抵抗43とを備える。実施例EX1_3において、ダイオード41及び42、抵抗43、配線AL1及びBL1並びに端子105S間の接続方法は、第1実施例で述べた通りである。このため、脈流生成部40cにおいて、ダイオード41及び42により配線AL1及びBL1間の交流電圧Vacが全波整流され、全波整流された交流電圧Vacが脈流電圧VHとして生成される。端子105Sにて脈流生成部40cからの脈流電圧VHを受ける。
PFC制御部100cは、分圧回路310と、ピークタイミング検出部320と、周期検出部330と、正弦波データレジスタ340と、デコーダ350と、D/Aコンバータ(デジタル/アナログ変換器)であるDAC360と、エラーアンプ160と、スイッチング制御部170と、を備える。
分圧回路310は、第1実施例の分圧回路110(図5参照)と同じ構成及び機能を持つ。即ち、分圧回路310は、分圧抵抗311及び312から成り、端子105Sにおける脈流電圧VHを分圧して、分圧された脈流電圧VHを脈流電圧VH’として出力する。以下、実施例EX1_3で述べられる脈流電圧VH’は、分圧回路310から出力されるものであるとする。より具体的には、分圧抵抗311の一端が端子105Sに接続され、分圧抵抗311の他端は分圧抵抗312を介してグランドGNDに接続される。分圧抵抗311及び312間の接続ノードに脈流電圧VH’が生じる。分圧回路310での分圧比は任意であるが、例えば、数10分の1~数100分の1程度の分圧比が採用される。
ピークタイミング検出部320は、分圧回路310から入力される脈流電圧VH’に基づき脈流電圧VH’のピークタイミングを検出し、その検出結果を示すピーク検出信号Spkを出力する。脈流電圧VH’のピークタイミングとは、脈流電圧VH’が極大値をとるタイミングであり、交流電圧Vacの瞬時値の絶対値が極大となるタイミング(即ち、電源端子IN1及びIN2間の電位差の大きさが極大値をとるタイミング)に相当する。具体的には、検出部320は、脈流電圧VH’の値が上昇から下降に転じるタイミングを脈流電圧VH’のピークタイミングとして検出し、検出した各ピークスタイミングにおいて微小時間だけハイレベルとなるパルスをピーク検出信号Spkに発生させる。信号Spkにおいて、交流電圧Vacの周期の1/2の周期でパルスが発生することになる(図14参照)。
周期検出部330は、ピーク検出信号Spkにおける互いに隣接するパルスの間隔を計測することで、交流電圧Vacの半周期を検出する(即ち、交流電圧Vacの半周期の長さを検出する)。交流電圧Vacの半周期は交流電圧Vacの周期の半分を指す。例えば、交流電圧Vacの周波数が50Hzであれば、交流電圧Vacの半周期は1/100秒となる。
そして、正弦波データレジスタ340、デコーダ350及びDAC360から成る制御用脈流電圧生成部は、交流電圧Vacの半周期を自身の周期として有し、且つ、検出部330による検出ピークタイミングにて極大値をとる制御用脈流電圧VHyを生成する(図14参照)。この際、制御用脈流電圧VHyが正弦波を全波整流した電圧値を持つよう制御用脈流電圧VHyの生成が行われる。
制御用脈流電圧VHzの生成方法を詳細に説明する。正弦波データレジスタ340は、図9の正弦波データレジスタ240と同じものであり、所定の正弦波データを保持するデータ保持部である。上述したように、正弦波データは、正弦波信号の信号値を量子化して表したデータである。1周期分の正弦波信号の信号値がレジスタ340にて保持されていても良いが、図11に示すような、0°~90°の位相範囲における正弦波信号の信号値を表す正弦波データD_sinがレジスタ340に保持されていれば足る。
図15を参照し、ピーク検出信号Spkにおける互いに隣接するパルスの間隔をTp2で表す。周期検出部330は、間隔Tp2分の長さを有する区間、即ち交流電圧Vacにおける隣接する2つのピークタイミングに挟まれた区間を、制御単位区間に設定する。制御単位区間は交流電圧Vacの周波数の2倍の周波数で順次且つ繰り返し訪れる。周期検出部330は、各制御単位区間を(2×m)個に等分割する。この等分割により形成される1つの1つの区間を要素区間と称する。各制御単位区間は計(2×m)個の要素区間から成る。或る制御単位区間における要素区間の長さは、過去の1以上の制御単位区間の長さに基づいて決定されれば良い。デコーダ350は、周期検出部330の制御の下で、レジスタ340に保持された正弦波データD_sinから必要なデジタル値を抽出し、抽出したデジタル値を持つデジタル信号DACyをDAC360に入力する。DAC360は、入力されたデジタル信号DACyをアナログの電圧信号に変換することで制御用脈流電圧VHyを生成及び出力する。
デコーダ350は、周期検出部330の制御の下、各制御単位区間の第i番目の要素区間において、デジタル信号DACyが、“K×sin(π/2+(π/2)×(i/m))”に一致又は近似したデジタル値を持つように、正弦波データD_sinから必要なデジタル値を抽出すれば良い。Kは所定の係数である。これにより、正弦波を全波整流した波形を持つデジタル信号DACyを生成することができる(図14参照)。デジタル信号DACyは、交流電圧Vacの半周期を自身の周期として有し、且つ、検出部320によるピークタイミングにて極大値をとる信号波形を持つ。正弦波データレジスタ340及びデコーダ350によりデジタル信号DACyを生成するデジタル信号生成部が形成される。
制御用脈流電圧VHyはデジタル信号DACyをアナログ電圧に変換したものであるため(電圧VHyの値は信号DACyの値に比例するため)、制御用脈流電圧VHyは正弦波を全波整流した波形を持つことになる。そして、制御用脈流電圧VHyの周期は交流電圧Vacの半周期と一致すると共に、制御用脈流電圧VHyは検出部320によるピークタイミングにて極大値をとる。制御用脈流電圧VHyの振幅は交流電圧Vacの振幅に依存せず一定となる。
PFC制御部100cに設けられるエラーアンプ160及びスイッチング制御部170は、実施例EX1_1のPFC制御部100aに設けられるエラーアンプ160及びスイッチング制御部170と同じものであり、それらの動作及び構成について実施例EX1_1の記載が実施例EX1_3に適用される。但し、PFC制御部100cにおけるスイッチング制御部170では、制御用脈流電圧としてDAC360からの制御用脈流電圧VHyを用いてゲート信号Vgateを生成するものとする。故に、実施例EX1_3においてスイッチング制御部170は、制御用脈流電圧VHy及び誤差電圧Verrに基づき、トランジスタ32を所定のPWM周波数にて交互にオン、オフするPWM制御を実行することになる。実施例EX1_1の記載を実施例EX1_3に適用する際、実施例EX1_1中の符号“100a”及び“VHq”は夫々実施例EX1_3において符号“100c”及び“VHy”に読み替えられる。
実施例EX1_3によっても実施例EX1_1と同様の作用及び効果を得ることができる。
ピークタイミング検出部320は、交流電圧Vacの瞬時値の絶対値が極大となるタイミングを検出することを目的としている。即ち、検出部320にて検出される脈流電圧VH’のピークタイミングは、交流電圧Vacの瞬時値の絶対値が極大となるタイミングを推定したものに相当する。この推定が正確であれば力率改善効果が最適化される。しかしながら、脈流電圧VH’のピークタイミングは、電源端子IN1及びIN2における電圧の歪みの影響を受けやすく、上記推定には誤差が含まれるおそれがある。この点に鑑みれば、実施例EX1_3の構成よりも実施例EX1_2の構成の方が好ましい。
<<第2実施形態>>
本発明の第2実施形態を説明する。第2実施形態は第1実施形態を基礎とする実施形態であり、第2実施形態において特に述べない事項に関しては、矛盾の無い限り、第1実施形態の記載が第2実施形態にも適用される。第2実施形態の記載を解釈するにあたり、第1及び第2実施形態間で矛盾する事項については第2実施形態の記載が優先されて良い。
図16にPFC制御部100における外部端子の基本配列構造を示す。PFC制御部100を構成する1以上の半導体基板が樹脂にて構成された筐体(パッケージ)内に封入される。各半導体基板には半導体集積回路が形成される。
PFC制御部100の筐体は概略直方体形状を有する。基本配列構造に係るPFC制御部100において、当該筐体の第1面から第1方向に向けて外部端子PIN1~PIN7が突出して設けられ、当該筐体の第2面から第2方向に向けて外部端子PIN8~PIN14が突出して設けられる。全ての外部端子PIN1~PIN14はPFC制御部100の筐体から露出している。第1面及び第2面は互いに対向する面であり、第2方向は第1方向とは逆の方向である。第3方向は、第1面及び第2面に平行であって且つ第1方向及び第2方向に直交する方向である。基本配列構造の第1面では、第3方向に沿って外部端子PIN1、PIN2、PIN3、PIN4、PIN5、PIN6、PIN7が、この順番で配列され、且つ、基本配列構造の第2面では、第3方向に沿って外部端子PIN8、PIN9、PIN10、PIN11、PIN12、PIN13、PIN14が、この順番で配列される。外部端子PIN1は第1面の端部に配置され、外部端子PIN7は第1面の他の端部に配置される。外部端子PIN8は第2面の端部に配置され、外部端子PIN14は第2面の他の端部に配置される。
基本配列構造において、第1面では外部端子PIN1~PIN7が等間隔で配置され、第2面では外部端子PIN8~PIN14が等間隔で配置される。基本配列構造において、互いに隣接する2つの外部端子の間隔は一定であって距離dを持つ。
尚、ここでは、PFC制御部100の外部端子の本数が14本であると仮定しているが(後述の実施例EX2_1では12本であると仮定しているが;図18参照)、PFC制御部100の外部端子の本数は任意に変更可能である。
第2実施形態では特にPFC制御部100として実施例EX1_2に係るPFC制御部100b(図9参照)に注目する。そしてここでは、PFC制御部100bは、互いに分離された2つの半導体基板SUB1及びSUB2(図17参照)にて構成されるものとする。但し、PFC制御部100bは、1つの半導体基板のみ又は3以上の半導体基板を用いて構成されていても良い。
半導体基板SUB1には分圧回路210A及び210Bが集積化されている。分圧回路210A及び210Bを、高い耐圧を持つポリシリコン抵抗を用いて(例えば400V以上の耐圧を持つポリシリコン抵抗を用いて)形成すると良い。半導体基板SUB2には、PFC制御部100bを構成する回路の内、分圧回路210A及び210B以外の回路(図9に示されるゼロクロスタイミング検出部220、周期検出部230、正弦波データレジスタ240、デコーダ250、DAC260、エラーアンプ160及びスイッチング制御部170を含む)が集積化されている。半導体基板SUB1及びSUB2はワイヤボンディングを用いて接続される。即ち例えば、半導体基板SUB1上の分圧回路210A及び210Bにて生じる脈流電圧VH1’及びVH2’は、ワイヤボンディングを用いて、半導体基板SUB2上のゼロクロスタイミング検出部220に伝達される。
第2実施形態は、以下の実施例EX2_1~EX2_3を含む。実施例EX2_1~EX2_3にて、外部端子の配列に関する具体例を説明する。本実施形態にて上述した事項は、特に記述無き限り且つ矛盾無き限り、以下の実施例EX2_1~EX2_3に適用され、各実施例において、上述した事項と矛盾する事項については各実施例での記載が優先されて良い。また矛盾無き限り、実施例EX2_1~EX2_3の内、任意の実施例に記載した事項を、他の任意の実施例に適用することもできる(即ち複数の実施例の内の任意の2以上の実施例を組み合わせることも可能である)。
[実施例EX2_1]
実施例EX2_1を説明する。実施例EX2_1並びに後述の実施例EX2_2~EX2_3では、図9に対応する実施例EX1_2のPFC制御部100bの外部端子の配列構成を説明する。図18は、実施例EX2_1に係るPFC制御部100bの外部端子の配列構成を示している。
実施例EX2_1では、図16の基本配列構造を基準に外部端子PIN2及びPIN4が削除される。その上で、外部端子PIN1を図9の端子105Aとして用い、外部端子PIN3を図9の端子105Bとして用いる。外部端子PIN1、PIN3は、夫々、第1、第2外部端子として機能する。上述の説明から理解されるよう、端子105Aは電源端子IN1に加わる電圧の半波整流電圧(VH1)を受ける第1外部端子であり、端子105Bは電源端子IN2に加わる電圧の半波整流電圧(VH2)を受ける第2外部端子である。
実施例EX2_1において、外部端子PIN2の削除に伴い、外部端子PIN1(第1外部端子)及び外部端子PIN3(第2外部端子)は互いに隣接しあう2つの外部端子となり、外部端子PIN1及びPIN3間の距離は距離dとなる。距離dは上述の距離dよりも大きい。距離dは、上述の説明から明らかなように、外部端子PIN5~PIN14(複数の第3外部端子)の内、互いに隣接する任意の2つの外部端子間の距離(例えば外部端子PIN5及びPIN6間の距離)である。
また、外部端子PIN4が削除されているので、外部端子PIN5~PIN14(複数の第3外部端子)の内、外部端子PIN3(端子105B)に隣接する外部端子(第3外部端子)は外部端子PIN5となり、外部端子PIN3及びPIN5間の距離も距離dであって、距離dより大きくなる。
実施例EX2_1において、外部端子PIN5~PIN14に対して図1の端子101~104、106及び107の機能又は他の機能が割り当てられる。例えば、外部端子PIN5、PIN6を、夫々、端子106、102として用いても良い。外部端子PIN5~PIN14の内、1以上の外部端子は、PFC制御部100(ここでは100b)を形成する何れの半導体基板にも接続されない外部端子(以下、NC端子と称する)であっても良い。図1に示されていない外部端子が存在していても良く、図1に示されていない外部端子の機能が外部端子PIN5~PIN14の何れかに割り当てられても良い。
端子105A及び105Bとして用いられる外部端子PIN1及びPIN3には、他の外部端子と比べ、大きな電圧が加わる。実施例EX2_1の配列構造によれば、絶縁に関わる必要な沿面距離を確保しやすくなる。
また、図18には2つの破線枠で囲まれた領域510及び520が図示されている。領域510及び520は、PFC制御部100bの筐体内における互いに離間した2つの領域である。半導体基板SUB1は領域510内に配置され、半導体基板SUB2は領域520内に配置される。外部端子PIN1及びPIN3はワイヤボンディングを用いて半導体基板SUB1に接続される。外部端子PIN5~PIN14の全部又は一部はワイヤボンディングを用いて半導体基板SUB2に接続される。
ここで、領域510内に配置される半導体基板SUB1は、外部端子PIN3(第2外部端子)に隣接する外部端子PIN5(第3外部端子)よりも、外部端子PIN1(第1外部端子)の近くに配置されると良い。換言すれば、半導体基板SUB1及び外部端子PIN1間の最短距離は、半導体基板SUB1及び外部端子PIN5間の最短距離よりも短いと良い。また、領域510(従って半導体基板SUB1)は第2面よりも第1面の近くに位置していると良い。
また、領域520内に配置される半導体基板SUB2は、外部端子PIN1(第1外部端子)よりも、外部端子PIN5(第3外部端子)の近くに配置されると良い。換言すれば、半導体基板SUB2及び外部端子PIN5間の最短距離は、半導体基板SUB2及び外部端子PIN1間の最短距離よりも短いと良い。
これらにより、ワイヤボンディングにおけるワイヤの引き回しの適正化等が図られる。
[実施例EX2_2]
実施例EX2_2を説明する。図19は、実施例EX2_2に係るPFC制御部100bの外部端子の配列構成を示している。
実施例EX2_2では、図16の基本配列構造がそのまま採用される。その上で、外部端子PIN1を図9の端子105Aとして用い、外部端子PIN3を図9の端子105Bとして用いる。外部端子PIN1、PIN3は、夫々、第1、第2外部端子として機能する。更に、外部端子PIN2及びPIN4の夫々をNC端子とする。即ち、実施例EX2_2において、外部端子PIN2及びPIN4は、PFC制御部100bを形成する何れの半導体基板にも接続されない(半導体基板SUB1及びSUB2の何れにも接続されない)。
実施例EX2_2において、外部端子PIN5~PIN14に対して図1の端子101~104、106及び107の機能又は他の機能が割り当てられる。例えば、外部端子PIN5、PIN6を、夫々、端子106、102として用いても良い。外部端子PIN5~PIN14の内、1以上の外部端子はNC端子であっても良い。図1に示されていない外部端子が存在していても良く、図1に示されていない外部端子の機能が外部端子PIN5~PIN14の何れかに割り当てられても良い。
端子105A及び105Bとして用いられる外部端子PIN1及びPIN3には、他の外部端子と比べ、大きな電圧が加わる。実施例EX2_2の配列構造によっても、絶縁に関わる必要な沿面距離を確保しやすくなる。
尚、図19の例では、外部端子PIN1(第1外部端子)と外部端子PIN3(第2外部端子)との間にNC端子(第4外部端子)が1つだけ存在しているが、外部端子PIN1及びPIN3間に2以上のNC端子(第4外部端子)を配置するようにしても良い。
また、外部端子PIN5~PIN14の内、半導体基板SUB2に接続される外部端子を第3外部端子と称する。第3外部端子は複数存在する。外部端子PIN5は第3外部端子に属していて良く、この場合、外部端子PIN5は、複数の第3外部端子の内、外部端子PIN3(第2外部端子)に対して最も近い第3外部端子となる。図19の例では、その外部端子PIN5(第3外部端子)と外部端子PIN3(第2外部端子)との間にNC端子(第4外部端子)が1つだけ存在しているが、外部端子PIN5及びPIN3間に2以上のNC端子(第4外部端子)を配置するようにしても良い。
図19には、2つの破線枠で囲まれた領域510及び520が図示されている。領域510及び520は、PFC制御部100bの筐体内における互いに離間した2つの領域である。半導体基板SUB1は領域510内に配置され、半導体基板SUB2は領域520内に配置される。外部端子PIN1及びPIN3はワイヤボンディングを用いて半導体基板SUB1に接続される。外部端子PIN5~PIN14の全部又は一部はワイヤボンディングを用いて半導体基板SUB2に接続される。上述したように、外部端子PIN2及びPIN4を含むNC端子は半導体基板SUB1及びSUB2の何れにも接続されない。
領域510内に配置される半導体基板SUB1は、複数の第3外部端子の内、外部端子PIN3(第2外部端子)に対して最も近い第3外部端子(PIN5)よりも、外部端子PIN1(第1外部端子)の近くに配置されると良い。換言すれば、半導体基板SUB1及び外部端子PIN1間の最短距離は、半導体基板SUB1及び外部端子PIN5間の最短距離よりも短いと良い。また、領域510(従って半導体基板SUB1)は第2面よりも第1面の近くに位置していると良い。
また、領域520内に配置される半導体基板SUB2は、外部端子PIN1(第1外部端子)よりも、外部端子PIN5(第3外部端子)の近くに配置されると良い。換言すれば、半導体基板SUB2及び外部端子PIN5間の最短距離は、半導体基板SUB2及び外部端子PIN1間の最短距離よりも短いと良い。
これらにより、ワイヤボンディングにおけるワイヤの引き回しの適正化等が図られる。
[実施例EX2_3]
実施例EX2_3を説明する。外部端子の配列方法は様々に変形可能である。
例えば、図16の基本配列構造を基準に外部端子PIN2及びPIN9を削除した上で、外部端子PIN1を図9の端子105Aとして用い、外部端子PIN8を図9の端子105Bとして用いても良い。この場合、外部端子PIN1及びPIN8はワイヤボンディングを用いて外部端子PIN1及びPIN8間の中間位置付近に配置された半導体基板SUB1に接続され、外部端子PIN3~PIN7及びPIN10~PIN14の全部又は一部はワイヤボンディングを用いて外部端子PIN3~PIN7及びPIN10~PIN14間の中間位置付近に配置された半導体基板SUB2に接続される。
或いは例えば、図16の基本配列構造そのものを採用した上で、外部端子PIN1を図9の端子105Aとして用い且つ外部端子PIN8を図9の端子105Bとして用いると共に、外部端子PIN2及びPIN9をNC端子としても良い。この場合も、外部端子PIN1及びPIN8はワイヤボンディングを用いて外部端子PIN1及びPIN8間の中間位置付近に配置された半導体基板SUB1に接続され、外部端子PIN3~PIN7及びPIN10~PIN14の全部又は一部はワイヤボンディングを用いて外部端子PIN3~PIN7及びPIN10~PIN14間の中間位置付近に配置された半導体基板SUB2に接続される。
<<変形等>>
第1及び第2実施形態に対する幾つかの変形技術を説明する。
図5の構成において、分圧回路110は、PFC制御部100aの外部に設けられて、PFC制御部100aに対し外部接続されるようにしても良い。この場合、脈流電圧VHの代わりに脈流電圧VH’を端子105Sに供給すると良い。
図9の構成において、分圧回路210A及び210Bは、PFC制御部100bの外部に設けられて、PFC制御部100bに対し外部接続されるようにしても良い。この場合、脈流電圧VH1の代わりに脈流電圧VH1’を端子105Aに供給し且つ脈流電圧VH2の代わりに脈流電圧VH2’を端子105Bに供給すると良い。
図13の構成において、分圧回路310は、PFC制御部100cの外部に設けられて、PFC制御部100cに対し外部接続されるようにしても良い。この場合、脈流電圧VHの代わりに脈流電圧VH’を端子105Sに供給すると良い。
任意の信号又は電圧に関して、上述の主旨を損なわない形で、それらのハイレベルとローレベルの関係を逆にしても良い。
直流の出力電圧Voutを他の直流電圧に変換するDC/DCコンバータ(不図示)が電源装置1の後段に設けられて良い。出力電圧Vout又は他の直流電圧は、任意の負荷装置(不図示)に供給される。
電源装置1と、直流の出力電圧Voutを他の直流電圧に変換するDC/DCコンバータと、他の直流電圧を用いて駆動する負荷装置と、を備えた任意の電気機器を構成しても良い(電源装置1を除き不図示)。電気機器は、照明機器、テレビ受信機等の家電機器であっても良いし、産業用機器であっても良い。
スイッチング素子としてのトランジスタ32を、接合型FET、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)又はバイポーラトランジスタにて形成することも可能である。
本発明の実施形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。以上の実施形態は、あくまでも、本発明の実施形態の例であって、本発明ないし各構成要件の用語の意義は、以上の実施形態に記載されたものに制限されるものではない。上述の説明文中に示した具体的な数値は、単なる例示であって、当然の如く、それらを様々な数値に変更することができる。
1 電源装置
10 フィルタ部
20 全波整流回路
30 PFC回路
31 インダクタ
32 トランジスタ(スイッチング素子)
33 還流ダイオード
34 平滑コンデンサ
40、40a、40b、40c 脈流生成部
100、100a、100b、100c PFC制御部

Claims (18)

  1. 電源端子対に加わる交流電圧から直流の出力電圧を生成する電源装置に設けられる力率改善回路の制御装置であって、
    前記力率改善回路は、前記交流電圧を全波整流することで全波整流電圧を生成する全波整流回路と、平滑コンデンサが接続されて前記出力電圧が加わる出力配線と、の間に設けられ、前記全波整流回路と前記出力配線との間に挿入されるインダクタと、前記インダクタに流れるインダクタ電流を制御するためのスイッチング素子と、を含み、
    前記制御装置は、前記電源端子対及び前記全波整流回路間の電圧を整流することで得た脈流電圧と、前記出力電圧に応じた帰還電圧と、に基づいて、前記スイッチング素子の状態を制御し、
    前記全波整流回路とは別に前記電源端子対及び前記全波整流回路間の前記交流電圧が全波整流され、その全波整流の結果が分圧されることで前記脈流電圧が生成され、
    前記制御装置は、
    前記脈流電圧の極小値を検出する極小値検出部と、
    前記帰還電圧と所定の基準電圧とに基づく誤差電圧を生成するエラーアンプと、
    検出された極小値に基づき前記脈流電圧を負側にシフトする処理を通じて得た制御用脈流電圧と、前記誤差電圧と、に基づいて、前記スイッチング素子の状態を制御するスイッチング制御部と、を備える
    力率改善回路の制御装置。
  2. 前記制御装置は、
    前記脈流電圧の振幅を検出する振幅検出部と、
    検出された極小値に基づき前記脈流電圧を負側にシフトすることで補正脈流電圧を生成する脈流電圧補正部と、
    前記振幅検出部による検出振幅に基づき前記補正脈流電圧の振幅を補正することで前記制御用脈流電圧を生成する制御用脈流電圧生成部と、を備える
    請求項1に記載の力率改善回路の制御装置。
  3. 電源端子対に加わる交流電圧から直流の出力電圧を生成する電源装置に設けられる力率改善回路の制御装置であって、
    前記力率改善回路は、前記交流電圧を全波整流することで全波整流電圧を生成する全波整流回路と、平滑コンデンサが接続されて前記出力電圧が加わる出力配線と、の間に設けられ、前記全波整流回路と前記出力配線との間に挿入されるインダクタと、前記インダクタに流れるインダクタ電流を制御するためのスイッチング素子と、を含み、
    前記制御装置は、前記電源端子対及び前記全波整流回路間の電圧を整流することで得た脈流電圧と、前記出力電圧に応じた帰還電圧と、に基づいて、前記スイッチング素子の状態を制御し、
    前記電源端子対は第1電源端子及び第2電源端子から成り、
    前記脈流電圧は、前記第1電源端子に加わる電圧を半波整流して得られる第1脈流電圧と、前記第2電源端子に加わる電圧を半波整流して得られる第2脈流電圧と、を含み、
    前記制御装置は、
    前記第1脈流電圧及び第2脈流電圧に基づいて前記交流電圧のゼロクロスタイミングを検出するゼロクロスタイミング検出部と、
    前記ゼロクロスタイミング検出部の検出結果に基づいて前記交流電圧の半周期を検出する周期検出部と、
    前記交流電圧の半周期を周期として有し、且つ、前記ゼロクロスタイミング検出部による検出ゼロクロスタイミングにて極小値をとる制御用脈流電圧を生成する制御用脈流電圧生成部と、
    前記帰還電圧と所定の基準電圧とに基づく誤差電圧を生成するエラーアンプと、
    前記制御用脈流電圧と前記誤差電圧に基づいて前記スイッチング素子の状態を制御するスイッチング制御部と、を備える
    力率改善回路の制御装置。
  4. 前記制御用脈流電圧生成部は、前記周期検出部による検出周期及び前記ゼロクロスタイミング検出部による検出ゼロクロスタイミングと所定の正弦波データとに基づき、正弦波を全波整流した波形を持つデジタル信号を生成するデジタル信号生成部と、前記デジタル信号をD/A変換することで前記制御脈電流電圧を生成するD/Aコンバータと、を備える
    請求項3に記載の力率改善回路の制御装置。
  5. 電源端子対に加わる交流電圧から直流の出力電圧を生成する電源装置に設けられる力率改善回路の制御装置であって、
    前記力率改善回路は、前記交流電圧を全波整流することで全波整流電圧を生成する全波整流回路と、平滑コンデンサが接続されて前記出力電圧が加わる出力配線と、の間に設けられ、前記全波整流回路と前記出力配線との間に挿入されるインダクタと、前記インダクタに流れるインダクタ電流を制御するためのスイッチング素子と、を含み、
    前記制御装置は、前記電源端子対及び前記全波整流回路間の電圧を整流することで得た脈流電圧と、前記出力電圧に応じた帰還電圧と、に基づいて、前記スイッチング素子の状態を制御し、
    前記全波整流回路とは別に前記電源端子対及び前記全波整流回路間の前記交流電圧が全波整流され、その全波整流の結果が分圧されることで前記脈流電圧が生成され、
    前記制御装置は、前記脈流電圧のピークタイミングを検出するピークタイミング検出部と、
    前記ピークタイミング検出部の検出結果に基づいて前記交流電圧の半周期を検出する周期検出部と、
    前記交流電圧の半周期を周期として有し、且つ、前記ピークタイミング検出部による検出ピークタイミングにて極大値を持つ制御用脈流電圧を生成する制御用脈流電圧生成部と、
    前記帰還電圧と所定の基準電圧とに基づく誤差電圧を生成するエラーアンプと、
    前記制御用脈流電圧と前記誤差電圧に基づいて前記スイッチング素子の状態を制御するスイッチング制御部と、を備える
    力率改善回路の制御装置。
  6. 前記制御用脈流電圧生成部は、前記周期検出部による検出周期及び前記ピークタイミング検出部による検出ピークタイミングと所定の正弦波データとに基づき、正弦波を全波整流した波形を持つデジタル信号を生成するデジタル信号生成部と、前記デジタル信号をD/A変換することで前記制御脈電流電圧を生成するD/Aコンバータと、を備える
    、請求項5に記載の力率改善回路の制御装置。
  7. 前記スイッチング制御部は、前記スイッチング素子を所定のPWM周波数で交互にオン、オフするPWM制御を実行し、この際、前記制御用脈流電圧及び前記誤差電圧に基づき前記スイッチング素子のオンデューティを制御する
    、請求項1~6の何れかに記載の力率改善回路の制御装置。
  8. 前記電源端子対と前記全波整流回路との間にコモンモードフィルタが設けられ、
    前記脈流電圧は、前記電源端子対と前記コモンモードフィルタとの間の配線から抽出される
    、請求項1~7の何れかに記載の力率改善回路の制御装置。
  9. 電源端子対に加わる交流電圧から直流の出力電圧を生成する電源装置に設けられる力率改善回路の制御装置であって、
    前記力率改善回路は、前記交流電圧を全波整流することで全波整流電圧を生成する全波整流回路と、平滑コンデンサが接続されて前記出力電圧が加わる出力配線と、の間に設けられ、前記全波整流回路と前記出力配線との間に挿入されるインダクタと、前記インダクタに流れるインダクタ電流を制御するためのスイッチング素子と、を含み、
    前記制御装置は、前記電源端子対及び前記全波整流回路間の電圧を整流することで得た脈流電圧と、前記出力電圧に応じた帰還電圧と、に基づいて、前記スイッチング素子の状態を制御し、
    前記電源端子対と前記全波整流回路との間にコモンモードフィルタが設けられ、
    前記脈流電圧は、前記電源端子対と前記コモンモードフィルタとの間の配線から抽出される
    力率改善回路の制御装置。
  10. 前記スイッチング素子のオン区間では前記インダクタ電流が前記スイッチング素子を通じて流れ、
    前記力率改善回路には、前記スイッチング素子のオフ区間における前記インダクタ電流を前記出力配線に導くための還流素子が設けられる
    請求項1~9の何れかに記載の力率改善回路の制御装置。
  11. 電源端子対に加わる交流電圧から直流の出力電圧を生成する電源装置に設けられる力率改善回路であって、
    前記力率改善回路は、前記交流電圧を全波整流することで全波整流電圧を生成する全波整流回路と、平滑コンデンサが接続されて前記出力電圧が加わる出力配線と、の間に設けられ、前記全波整流回路と前記出力配線との間に挿入されるインダクタと、前記インダクタに流れるインダクタ電流を制御するためのスイッチング素子と、請求項1~10の何れかに記載の制御装置と、を備えた
    力率改善回路。
  12. 電源端子対に加わる交流電圧から直流の出力電圧を生成する電源装置であって、
    前記交流電圧を全波整流することで全波整流電圧を生成する全波整流回路と、
    平滑コンデンサが接続されて前記出力電圧が加わる出力配線と、
    前記全波整流回路及び前記出力配線間に設けられる、請求項11に記載の力率改善回路と、を備えた
    電源装置。
  13. 請求項3又は4に記載の制御装置を1以上の半導体基板に集積化した半導体装置であって、
    前記1以上の半導体基板を収容する筐体と、
    前記筐体から露出した複数の外部端子と、を備え、
    前記複数の外部端子は、前記第1電源端子に加わる電圧の半波整流電圧を受ける第1外部端子と、前記第2電源端子に加わる電圧の半波整流電圧を受ける第2外部端子と、複数の第3外部端子と、を含み、
    前記第1外部端子及び前記第2外部端子間の距離は、前記複数の第3外部端子間の内、互いに隣接する2つの第3外部端子間の距離と比べて、大きい
    半導体装置。
  14. 前記複数の第3外部端子の内、前記第2外部端子に隣接する第3外部端子と、前記第2外部端子との距離は、
    互いに隣接する2つの第3外部端子間の距離と比べて、大きい
    請求項13に記載の半導体装置。
  15. 前記制御装置は、前記第1外部端子における半波整流電圧を分圧することで前記第1脈流電圧を生成する第1分圧回路と、前記第2外部端子における半波整流電圧を分圧することで前記第2脈流電圧を生成する第2分圧回路と、を備え、
    前記1以上の半導体基板は、前記第1分圧回路及び前記第2分圧回路が形成される第1半導体基板と、前記第1半導体基板とは別の第2半導体基板と、を含み、
    前記第1半導体基板は、前記第2外部端子に隣接する第3外部端子よりも、前記第1外部端子の近くに配置される
    請求項14に記載の半導体装置。
  16. 請求項3又は4に記載の制御装置を1以上の半導体基板に集積化した半導体装置であって、
    前記1以上の半導体基板を収容する筐体と、
    前記筐体から露出した複数の外部端子と、を備え、
    前記複数の外部端子は、前記第1電源端子に加わる電圧の半波整流電圧を受ける第1外部端子と、前記第2電源端子に加わる電圧の半波整流電圧を受ける第2外部端子と、前記1以上の半導体基板の何れかに接続される複数の第3外部端子と、前記1以上の半導体基板の何れに対しても非接続とされる第4外部端子と、を含み、
    前記第1外部端子と前記第2外部端子との間に1以上の第4外部端子が配置される
    半導体装置。
  17. 前記複数の第3外部端子の内、前記第2外部端子に対して最も近い第3外部端子と、前記第2外部端子との間に、他の1以上の第4外部端子が配置される
    請求項16に記載の半導体装置。
  18. 前記制御装置は、前記第1外部端子における半波整流電圧を分圧することで前記第1脈流電圧を生成する第1分圧回路と、前記第2外部端子における半波整流電圧を分圧することで前記第2脈流電圧を生成する第2分圧回路と、を備え、
    前記1以上の半導体基板は、前記第1分圧回路及び前記第2分圧回路が形成される第1半導体基板と、前記第1半導体基板とは別の第2半導体基板と、を含み、
    前記第1半導体基板は、前記第2外部端子に対して最も近い第3外部端子よりも、前記第1外部端子の近くに配置される
    請求項17に記載の半導体装置。
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017204941A (ja) 2016-05-12 2017-11-16 株式会社富士通ゼネラル 電力変換装置
JP2018157735A (ja) 2017-03-21 2018-10-04 三菱重工サーマルシステムズ株式会社 三相倍電圧整流回路、インバータ装置、空気調和機、三相倍電圧整流回路の制御方法及びプログラム
JP2018198500A (ja) 2017-05-24 2018-12-13 株式会社ノーリツ 電源装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5638265A (en) * 1993-08-24 1997-06-10 Gabor; George Low line harmonic AC to DC power supply
US6944034B1 (en) * 2003-06-30 2005-09-13 Iwatt Inc. System and method for input current shaping in a power converter
US9337744B1 (en) * 2015-04-30 2016-05-10 Ixys Corporation Efficient inrush current control in power factor corrected AC-to-DC converter

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017204941A (ja) 2016-05-12 2017-11-16 株式会社富士通ゼネラル 電力変換装置
JP2018157735A (ja) 2017-03-21 2018-10-04 三菱重工サーマルシステムズ株式会社 三相倍電圧整流回路、インバータ装置、空気調和機、三相倍電圧整流回路の制御方法及びプログラム
JP2018198500A (ja) 2017-05-24 2018-12-13 株式会社ノーリツ 電源装置

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