JP7319997B2 - 測定装置および測定方法 - Google Patents
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Description
(一実施形態)
以下、図面を適宜に用いて、本発明の一実施形態に係る測定装置1について説明する。
U÷(z-x)=V ・・・(式2)
また、上記の実施形態では、検量データの作成と検体の測定とを同一のフローで行なうことができるが、本発明はこの場合に限られない。例えば、検量データは、検体の測定を開始する前に記憶部33に記憶されていればよい。したがって、検量データの作成と記憶は、必ずしも検体の測定と同一のフローで行わなくてもよく、計算部32は、記憶部33に予め記憶した検量データを用いて第1物質の濃度の算出を行なうことができる。
なお、上記の測定装置1において実行される各工程は、測定方法の発明として解釈されてもよい。
2 センサ
21 外部端子
22 基板
23 検出部
24 参照部
25a 第1IDT電極
25b 第2IDT電極
26 流路部材
27 供給口
28 排出口
3 制御装置
30 凹部
31 接続端子
32 計算部
33 記憶部
Claims (18)
- 特定の物質を検出するセンサと、
前記物質の測定値とセンサの出力との関係を示す検量データを記憶した記憶部と、
前記センサの出力に基づいて、前記検量データから前記物質の測定値を算出する計算部と、を備え、
前記計算部は、前記物質の検出に用いた前記センサの出力の時間的変化を示す複数の第1出力を正規化した第1波形および前記検量データに含まれる前記測定値ごとのセンサの出力の時間的変化を示す複数の第2出力を正規化した複数の第2波形を生成し、所定の測定時間における前記第1波形を構成する値および前記第2波形を構成する値の差または商に基づいて、複数の前記第2波形のうち前記第1波形に類似する第2波形を選択し、選択した第2波形に基づいて、前記物質の測定値を算出する、測定装置。 - 特定の物質を検出するセンサと、
前記物質の測定値とセンサの出力との関係を示す検量データを記憶した記憶部と、
前記センサの出力に基づいて、前記検量データから前記物質の測定値を算出する計算部と、を備え、
前記計算部は、前記物質の検出に用いた前記センサの出力の時間的変化を示す複数の第1出力を正規化した第1波形および前記検量データに含まれる前記測定値ごとのセンサの出力の時間的変化を示す複数の第2出力を正規化した複数の第2波形を生成し、所定の測定時間内における、前記第1波形を構成する複数の値の和および前記第2波形を構成する複数の値の和に基づいて、複数の前記第2波形のうち前記第1波形に類似する第2波形を選択し、選択した第2波形に基づいて、前記物質の測定値を算出する、測定装置。 - 請求項1または2に記載の測定装置において、
前記計算部は、所定の測定時間内における、前記第1波形の接線の傾きおよび複数前記第2波形の接線の傾きに基づいて、複数の前記第2波形のうち前記第1波形に類似する第2波形を選択し、選択した第2波形に基づいて、前記物質の測定値を算出する、測定装置。 - 請求項1から3のいずれか一項に記載の測定装置において、
前記計算部は、所定の測定時間内における、前記第1波形の接線の傾きと複数の前記第2波形の接線の傾きとの差または商を算出し、前記差または商が所定の誤差範囲内に入る前記第2波形を選択し、前記第2波形の前記測定値を前記物質の測定値として出力する、測定装置。 - 請求項1に記載の測定装置において、
前記計算部は、所定の測定時間における前記第1波形を構成する値および前記第2波形を構成する値の差または商を算出し、前記差または商が所定の誤差範囲内に入る前記第2波形を選択し、前記第2波形の前記測定値を前記物質の測定値を算出する、測定装置。 - 請求項2に記載の測定装置において、
前記計算部は、所定の測定時間内における、前記第1波形を構成する複数の値の和および前記第2波形を構成する複数の値の和の差または商を算出し、前記差または商が所定の誤差範囲内に入る前記第2波形を選択し、前記第2波形の前記測定値を前記物質の測定値を算出する、測定装置。 - 請求項1~6のいずれか一項に記載の測定装置において、
前記第1波形は、前記センサの前記複数の第1出力の値を所定の値で割ることによって生成する、測定装置。 - 請求項7に記載の測定装置において、
前記所定の値は、前記複数の第1出力のうちの最大値である、測定装置。 - 請求項7に記載の測定装置において、
前記所定の値は、前記複数の第1出力のうちの中央値である、測定装置。 - 特定の物質を検出可能なセンサを準備する工程と、
前記物質の測定値と前記センサの出力との関係を示した検量データを準備する工程と、
前記センサによって前記物質を検出する工程と、
前記物質の検出に用いた前記センサの出力の時間的変化を示す複数の第1出力を正規化した第1波形を生成する工程と、
前記検量データに含まれる前記測定値ごとの前記センサの出力の時間的変化を示す複数の第2出力を正規化して複数の第2波形を生成する工程と、
複数の前記第2波形のうち前記第1波形に類似する第2波形を選択し、選択した第2波形に基づいて、前記物質の測定値を算出する工程と、を備え、
前記物質の測定値を算出する工程において、所定の測定時間における、前記第1波形および前記第2波形のそれぞれの値に基づいて、複数の前記第2波形のうち前記第1波形に類似する第2波形を選択し、選択した第2波形に基づいて、前記物質の測定値を算出する測定方法。 - 特定の物質を検出可能なセンサを準備する工程と、
前記物質の測定値と前記センサの出力との関係を示した検量データを準備する工程と、
前記センサによって前記物質を検出する工程と、
前記物質の検出に用いた前記センサの出力の時間的変化を示す複数の第1出力を正規化した第1波形を生成する工程と、
前記検量データに含まれる前記測定値ごとの前記センサの出力の時間的変化を示す複数の第2出力を正規化して複数の第2波形を生成する工程と、
複数の前記第2波形のうち前記第1波形に類似する第2波形を選択し、選択した第2波形に基づいて、前記物質の測定値を算出する工程と、を備え、
前記物質の測定値を算出する工程において、複数の所定の測定時間における、前記第1波形を構成する複数の値の和および前記第2波形を構成する複数の値の和に基づいて、複数の前記第2波形のうち前記第1波形に類似する第2波形を選択し、選択した第2波形に基づいて、前記物質の測定値を算出する、測定方法。 - 請求項10または11に記載の測定方法において、
前記物質の測定値を算出する工程において、所定の測定時間における、前記第1波形および前記第2波形の各接線の傾きに基づいて、複数の前記第2波形のうち前記第1波形に類似する第2波形を選択し、選択した第2波形に基づいて、前記物質の測定値を算出する、測定方法。 - 請求項12に記載の測定方法において、
前記物質の測定値を算出する工程において、所定の測定時間における、前記第1波形の接線の傾きと複数の前記第2波形の接線の傾きとの差または商を算出し、前記差または商が所定の誤差範囲内に入る前記第2波形を選択し、前記第2波形の前記測定値を前記物質の測定値として出力する、測定方法。 - 請求項10に記載の測定方法であって、
前記物質の測定値を算出する工程において、所定の測定時間における前記第1波形を構成する値および前記第2波形を構成する値の差または商を算出し、前記差または商が所定の誤差範囲内に入る前記第2波形を選択し、前記第2波形の前記測定値を前記物質の測定値を算出する、測定方法。 - 請求項11に記載の測定方法であって、
前記物質の測定値を算出する工程において、複数の所定の測定時間における、前記第1波形を構成する複数の値の和および前記第2波形を構成する複数の値の和の差または商を算出し、前記差または商が所定の誤差範囲内に入る前記第2波形を選択し、前記第2波形の前記測定値を前記物質の測定値を算出する、測定方法。 - 請求項10~15のいずれか一項に記載の測定方法において、
前記第1波形は、前記出力の値を所定の値で割ることによって生成する、測定方法。 - 請求項16に記載の測定方法において、
前記所定の値は、前記第1波形の最大値である、測定方法。 - 請求項16に記載の測定方法において、
前記所定の値は、第1波形の中央値である、測定方法。
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