JP2010107485A - 比誘電率・導電率測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】比誘電・導電率測定装置40は、入力電極12と出力電極14との間に電気的に短絡した短絡伝搬路16を有する第1弾性表面波素子10と、入力電極22と出力電極24との間に凸部分が電気的に分離した格子状の凹凸構造29が形成された格子状伝搬路26を有する第2弾性表面波素子20と、入力電極32と出力電極34との間に電気的に開放した開放伝搬路36を有する第3弾性表面波素子30とを備え、第1弾性表面波素子10と第2弾性表面波素子20と第3弾性表面波素子30とは互いに並列に配されている。この比誘電率測定装置40を用いることにより、被測定物46の比誘電率、導電率を正確に測定することできる。
【選択図】図1
Description
εt=εrε0−jσ/ω…(1)
となる。ここで、標準液では導電率σ=0であるために、式(1)は、
εt=εrε0…(2)
となる。
εt'=εr'ε0−jσ'/ω…(3)
ΔV/V=−Ks 2/2・[(σ'/ω)2+ε0(εr'−εr)(εr'ε0+εp T)]/[(σ'/ω)2+(εr'ε0+εp T)2]…(4)
Δα/k=Ks 2/2・[(σ'/ω)(εrε0+εp T)]/[(σ'/ω)2+(εr'ε0+εp T)2]…(5)
ΔV/V=Δφ/kL…(6)
Δα/k=ln(Δamp)/kL…(7)
14、24、34…出力電極 16…短絡伝搬路
20…第2弾性表面波素子 26…格子状伝搬路
27…凸部 28…凹部
29…凹凸構造 30…第3弾性表面波素子
36…開放伝搬路 38…開放領域
40、40A…比誘電率・導電率測定装置 42…圧電基板
44…金属膜 46…被測定物
48…発振器 50…分配器
52、54…切替器 56…振幅比位相差検出器
60…振幅・位相検出器 62…メモリ
64…温度センサ
Claims (4)
- 入力電極と出力電極との間に電気的に短絡した短絡伝搬路を有する第1弾性表面波素子と、
入力電極と出力電極との間に凸部分が電気的に分離した格子状の凹凸構造が形成された格子状伝搬路を有する第2弾性表面波素子とを備え、
前記短絡伝搬路及び前記格子状伝搬路に液体状の被測定物を負荷した状態において、
前記各入力電極から同一の信号を入力し、前記各出力電極から出力された各出力信号の振幅比及び位相差から、前記被測定物の比誘電率又は導電率の少なくとも一方を求める
ことを特徴とする比誘電率・導電率測定装置。 - 入力電極と出力電極との間に電気的に短絡した短絡伝搬路を有する第1弾性表面波素子と、
入力電極と出力電極との間に凸部分が電気的に分離した格子状の凹凸構造が形成された格子状伝搬路を有する第2弾性表面波素子と、
入力電極と出力電極との間に電気的に開放した開放伝搬路を有する第3弾性表面波素子とを備え、
前記短絡伝搬路と前記格子状伝搬路と前記開放伝搬路に液体状の被測定物を負荷した状態において、
前記第1弾性表面波素子と前記第2弾性表面波素子の前記各入力電極に同一の信号を入力し、前記第1弾性表面波素子と前記第2弾性表面波素子の前記各出力電極から出力された各出力信号の振幅比及び位相差から、
又は、前記第1弾性表面波素子と前記第3弾性表面波素子の前記各入力電極に同一の信号を入力し、前記第1弾性表面波素子と前記第3弾性表面波素子の前記各出力電極から出力された各出力信号の振幅比及び位相差から、前記被測定物の比誘電率又は導電率の少なくとも一方を求める
ことを特徴とする比誘電率・導電率測定装置。 - 入力電極と出力電極との間に凸部分が電気的に分離した格子状の凹凸構造が形成された格子状伝搬路を有する弾性表面波素子とを備え、
前記格子状伝搬路に液体状の被測定物を負荷した状態において、
前記入力電極に信号を入力し、前記出力電極から出力された出力信号の振幅及び位相から、前記被測定物の比誘電率又は導電率の少なくとも一方を求める
ことを特徴とする比誘電率・導電率測定装置。 - 請求項1〜3のいずれか1項に記載の比誘電率・導電率測定装置において、
前記各弾性表面波素子が形成されている圧電基板の厚さが、前記圧電基板上を伝搬する弾性表面波の波長をλとして4λ以下である
ことを特徴とする比誘電率・導電率測定装置。
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JP2008282540A JP2010107485A (ja) | 2008-10-31 | 2008-10-31 | 比誘電率・導電率測定装置 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2013094531A1 (ja) * | 2011-12-22 | 2013-06-27 | 日本無線株式会社 | 被測定物特性測定装置 |
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-
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- 2008-10-31 JP JP2008282540A patent/JP2010107485A/ja active Pending
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