JP5431687B2 - 被測定物特性測定装置 - Google Patents

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Description

本発明は、圧電基板上に形成された弾性表面波を励振させるための櫛形電極と、前記櫛形電極と前記圧電基板の端部との間に被測定物が負荷される反応場とが形成された弾性表面波素子を備えた被測定物特性測定装置に関する。
一般に、弾性表面波素子は、圧電基板と、前記圧電基板上に設けられた櫛歯状電極指からなる入力電極及び出力電極を備えている。弾性表面波素子では、入力電極に電気信号が入力されると、電極指間に電界が発生し、圧電効果により弾性表面波が励振され、圧電基板上を伝搬していく。この弾性表面波のうち、伝搬方向と直交する方向に変位するすべり弾性表面波(SH-SAW:Shear horizontal Surface Acoustic Wave)を利用する弾性表面波素子を用いた各種物質の検出や物性値等の測定を行うための弾性波センサが研究されている(特許文献1)。
弾性波センサでは、圧電基板上に負荷された被測定物の領域が電気的に開放されている場合と、短絡されている場合とでは、出力電極から出力される出力信号の特性に差異があることを利用して被測定物の物理的特性として誘電率、導電率を求めることができる。また、弾性表面波素子の入力電極と出力電極の間の伝搬路上に凹凸構造を形成し、その凹部に被測定物を負荷すると、負荷された被測定物は擬似的に膜を形成する。この膜は圧電基板とともに励振し、膜の質量に基づいて共振周波数が変化する質量負荷効果を利用して、被測定物の密度を求めることができる(特許文献2)。
また、特許文献1、2の弾性波センサは、一対の入力電極及び出力電極が圧電基板上に形成されているが、一の電極で端面反射を利用した弾性波センサが知られている(非特許文献1参照)。
特許第3481298号公報 特許第3248683号公報 宮崎徹他2名「端面反射SH−SAWを用いたセンサの特性」、信学技報、電子情報通信学会、2000年7月
非特許文献1では、SAWセンサ自体を被測定物である液体に浸漬して被測定物の特性を測定しているが、浸漬した際の電極への被測定物の付着が考慮されていない。従って、測定の際に電極に被測定物が付着し、測定精度が低下するおそれがある。
本発明は、上記の課題を考慮してなされたものであって、被測定物の物性を測定する際に電極に被測定物が付着するのを防ぎ、測定精度の低下を防止することができる被測定物特性測定装置を提供することを目的とする。
本発明に係る被測定物特性測定装置は、圧電基板上に形成された弾性表面波を励振させるための櫛形電極と、前記櫛形電極と前記圧電基板の端部との間に被測定物が負荷される反応場とが形成された弾性表面波素子を備える。被測定物特性測定装置では、前記反応場と、前記櫛形電極との間に壁が形成され、前記櫛形電極から前記反応場を伝搬し、前記端部で反射されて、前記櫛形電極で受信された前記弾性表面波に基づいて前記被測定物の特性を求める。これにより、前記壁が形成されることにより、前記被測定物の前記櫛形電極への付着を防ぐことができる。また、前記櫛形電極の封止構造を簡素化することができる。
また、被測定物特性測定装置では、前記端部に反射部が形成され、前記櫛形電極から前記反応場を伝搬し、前記反射部で反射されて、前記櫛形電極で受信された前記弾性表面波に基づいて前記被測定物の特性を求めることができる。このように前記端部に反射部を設けることにより、弾性表面波の反射を適切に行うことにより前記端部に入力される信号が高周波であっても、被測定物の物理的特性の測定精度を向上することができる。
さらに、本発明に係る他の被測定物特性測定装置は、圧電基板上に形成された弾性表面波を励振させるための第1櫛形電極と、前記第1櫛形電極と前記圧電基板の端部との間に被測定物が負荷される第1反応場とが形成された第1弾性表面波素子と、前記圧電基板上に形成された弾性表面波を励振させるための第2櫛形電極と、前記第1反応場と異なる振幅・位相特性であって、前記第2櫛形電極と前記端部との間に被測定物が負荷される第2反応場とが形成された第2弾性表面波素子と、を備える。
被測定物特性測定装置では、前記第1櫛形電極と前記第1反応場との間に形成された壁と、前記第2櫛形電極と前記第2反応場との間に形成された壁とが連続し、前記第1櫛形電極から前記第1反応場を伝搬し、前記端部で反射されて、前記第1櫛形電極で受信された前記弾性表面波と、前記第2櫛形電極から前記第2反応場を伝搬し、前記端部で反射されて、前記第2櫛形電極で受信された前記弾性表面波とに基づいて前記被測定物の特性を求めることができる。
また、被測定物特性測定装置では、前記端部に反射部が形成され、前記第1櫛形電極から前記第1反応場を伝搬し、前記反射部で反射されて、前記第1櫛形電極で受信された前記弾性表面波と、前記第2櫛形電極から前記第2反応場を伝搬し、前記反射部で反射されて、前記第2櫛形電極で受信された前記弾性表面波とに基づいて前記被測定物の特性を求めることができる。
さらに、被測定物特性測定装置では、前記壁は、前記圧電基板上に形成された金属膜と、前記金属膜上に形成された絶縁膜とから構成され、又は、前記圧電基板上に形成された前記弾性表面波の伝搬方向と平行な方向に凹凸構造が形成され電気的に短絡した金属膜と、前記金属膜を被覆する絶縁膜とから構成することにより、前記壁を伝搬する弾性表面波は、前記金属膜の上面にエネルギーが集中するので、伝搬時の弾性表面波の減衰を防ぎ、前記被測定物の測定精度を高めることができる。
また、前記金属膜を凹凸構造とすると、前記絶縁膜が前記金属膜の凹部に入り込み前記圧電基板と密着することにより、前記凹凸構造の金属膜と絶縁膜との間の密着性を補い、前記凹凸構造の金属膜の絶縁膜からの剥離を防ぐことができる。
さらに、前記壁の外壁は絶縁材で形成され、前記壁内に閉空間が形成されてよく、さらに、前記壁内の前記圧電基板上には金属膜が形成されてよく、さらにまた、前記金属膜は、前記弾性表面波の伝搬方向と平行な方向な凹凸構造としてもよい。前記上面から離れた閉空間内を伝搬する弾性表面波の一部の減衰を防ぐことができる。
さらにまた、被測定物特性測定装置では、前記被測定物の特性の測定は、前記圧電基板の端部から前記壁まで前記被測定物で浸漬して行うことにより、負荷される被測定物と前記反応場との接触面積を一定にし、負荷変動による前記被測定物の測定結果のばらつきを抑えることができる。
本発明によれば、前記反応場と、前記櫛形電極との間に壁が形成され、前記櫛形電極から前記反応場を伝搬し、前記端部で反射されて、前記櫛形電極で受信された前記弾性表面波に基づいて前記被測定物の特性を求める。これにより、前記壁が形成されることにより、前記被測定物の前記櫛形電極への付着を防ぐことができる。また、前記櫛形電極の封止構造を簡素化することができる。
また、前記端部に反射部を設けることにより、弾性表面波の反射を適切に行うことにより前記端部に入力される信号が高周波であっても、被測定物の物理的特性の測定精度を向上することができる。
さらに、前記壁は、前記圧電基板上に形成された金属膜と、前記金属膜上に形成された絶縁膜とから構成され、または、前記圧電基板上に形成された前記弾性表面波の伝搬方向と平行な方向に凹凸構造が形成され電気的に短絡した金属膜と、前記金属膜を被覆する絶縁膜とから構成することにより、前記壁を伝搬する弾性表面波は、前記金属膜の上面にエネルギーが集中するので、伝搬時の弾性表面波の減衰を防ぎ、前記被測定物の測定精度を高めることができる。
また、前記金属膜を凹凸構造とすると、前記絶縁膜が前記金属膜の凹部に入り込み前記圧電基板と密着することにより、前記凹凸構造の金属膜と絶縁膜との間の密着性を補い、前記凹凸構造の金属膜の絶縁膜からの剥離を防ぐことができる。
さらに、前記壁の外壁は絶縁材で形成され、前記壁内に閉空間が形成されてよく、さらに、前記壁内の前記圧電基板上には金属膜が形成されてよく、さらにまた、前記金属膜は、前記弾性表面波の伝搬方向と平行な方向な凹凸構造としてもよい。前記上面から離れた閉空間内を伝搬する弾性表面波の一部の減衰を防ぐことができる。
また、前記被測定物の特性の測定は、前記圧電基板の端部から前記壁まで前記被測定物で浸漬して行うことにより、負荷される被測定物と前記反応場との接触面積を一定にし負荷変動による前記被測定物の測定結果のばらつきを抑えることができる。
以下、本発明の第1実施形態について図面を参照して説明する。図1は、本発明の第1実施形態に係る被測定物特性測定装置10の概略全体構成図であり、図2Aは、被測定物特性測定装置10の弾性表面波素子12の平面図であり、図2Bは、図2AのIIB−IIBの部分端面図である。
図1に示すように、被測定物特性測定装置10は、弾性表面波素子12と、発振器14と分配器16と弾性波検出器18とから構成される測定部20と、パソコン等で構成される処理部22とを備える。弾性表面波素子12は、容器24内の被測定物特性測定装置10の測定対象である被測定物26に浸漬されている。
弾性表面波素子12は、圧電基板28と、この圧電基板28上に形成された櫛形電極30と、櫛形電極30から励振される弾性表面波の進行方向(図2中矢印X方向)であって圧電基板28の端部32と櫛形電極30との間に形成され、被測定物26が負荷される反応場34と、櫛形電極30と反応場34との間に形成され、金属膜36と絶縁膜37とから構成される壁35とを備える。
圧電基板28は、すべり弾性表面波を伝搬することができれば、特に限られないが、36度Y板X伝搬LiTaO3であることが好ましい。
櫛形電極30は、発振器14から入力された電気信号に基づいて励振された弾性表面波を反応場34に伝搬させるとともに、端部32で反射して戻ってきた弾性表面波を受信する。
反応場34は、圧電基板28上に蒸着された金属膜38で形成され、金属膜38は電気的に短絡された短絡伝搬路である。金属膜38の材料は特に限られないが、被測定物26に対して、化学的に安定している金で形成することが好ましい。
壁35は、圧電基板28上に蒸着された金属膜36と、金属膜36上に絶縁材料、例えば、SiO2や樹脂で形成される絶縁膜37から構成され、圧電基板28上で幅方向に延在する。
被測定物特性測定装置10による被測定物26の物理的特性の測定は、次のように行われる。すなわち、測定対象である被測定物26を容器24に入れた状態で、端部32が下になる方向で弾性表面波素子12を被測定物26内に浸漬させる。圧電基板28には、金属膜36が形成されているために被測定物26が櫛形電極30に付着するのを防ぐことができる。なお、弾性表面波素子12の浸漬は、図1に示すように被測定物26が壁35の位置に来るまで行う。
次いで、発振器14からバースト的に信号が分配器16で分配されて弾性波検出器18及び櫛形電極30に同一信号が入力される。櫛形電極30では、入力された信号に基づいて弾性表面波が励振され、反応場34上を伝搬して端部32に到達する。端部32では、弾性表面波が端部32の端面40で反射され、再度反応場34上を伝搬した後に、櫛形電極30で受信される。
弾性波検出器18では、発振器14から分配器16を介した出力信号と、櫛形電極30で受信されて弾性波検出器18に出力された信号との振幅比、位相差及び伝搬遅延差が検出され、当該検出された振幅比、位相差に基づく信号が処理部22に出力されて、処理部22で被測定物26の物理的特性が求められる。
なお、被測定物特性測定装置10では、各種の波を含む弾性表面波のうち、伝搬方向と直交する方向(図2中矢印Y方向)に変位するすべり弾性表面波(SH-SAW)を主として利用している。
以上説明したように、被測定物特性測定装置10は、圧電基板28上に形成された弾性表面波を励振させるための櫛形電極30と、櫛形電極30と前記圧電基板28の端部32との間に被測定物26が負荷される反応場34とが形成された弾性表面波素子12を備える。被測定物特性測定装置10では、反応場34と、櫛形電極30との間に壁35が形成され、櫛形電極30から反応場34上を伝搬し、端部32で反射されて、櫛形電極30で受信された前記弾性表面波に基づいて被測定物26の特性を求める。また、壁35が形成されることにより、被測定物26の櫛形電極30への付着を防ぐことができる。また、櫛形電極30の封止構造を簡素化することができる。
さらに、壁35は、圧電基板28上に形成された金属膜36と、金属膜36上に形成された絶縁膜37とから構成されることにより、壁35を伝搬する弾性表面波は、金属膜36の上面にエネルギーが集中するので、伝搬時の弾性表面波の減衰を防ぎ、被測定物26の測定精度を高めることができる。
さらにまた、被測定物26の特性の測定は、圧電基板28の端部32から壁35まで被測定物26で浸漬して行う。負荷される被測定物26と反応場34との接触面積を一定にし、負荷変動による被測定物26の測定結果のばらつきを抑えることができる。
次に、本発明の第2実施形態に係る被測定物特性測定装置10Aについて説明する。図3Aは、本発明の第2実施形態に係る被測定物特性測定装置10Aの平面図であり、図3Bは、図3AのIIIB−IIIBの部分端面図である。なお、第1実施形態と同一の構成要素には同一の参照符号を付し、その詳細な説明を省略する。
被測定物特性測定装置10Aの弾性表面波素子12aでは、被測定物特性測定装置10の弾性表面波素子12に対して、圧電基板28の端部32に反射部42が形成される。反射部42は、圧電基板28上に櫛形電極30から出力される弾性表面波の伝搬方向に対して垂直な方向(図3A中矢印Y方向)に延在するように金属膜を蒸着して形成した複数の凸部44で構成され、前記凸部44はX方向に等間隔で配置される。弾性表面波の波長λとすると、隣接する凸部44同士の間隔はλ/4であることが好ましい。
また、被測定物特性測定装置10Aによる被測定物26の物理的特性の測定は、第1実施形態に係る発明と同様に弾性表面波素子12aを被測定物26内に浸漬させた後に、発振器14から弾性波検出器18及び櫛形電極30にバースト的に信号が入力される。櫛形電極30からは入力された信号に基づいて弾性表面波が励振され、反応場34上を伝搬して反射部42で反射され、再度反応場34上を伝搬した後に、櫛形電極30で受信される。そして、第1実施形態と同様な方法により処理部22で被測定物26の物理的特性が測定される。
第2実施形態に係る被測定物特性測定装置10Aは、端部32に反射部42が形成され、櫛形電極30から反応場34aを伝搬し、反射部42で反射されて、櫛形電極30で受信された弾性表面波に基づいて被測定物26の特性を求めている。
弾性表面波素子12を用いた被測定物26の物理的特性の測定は、被測定物特性測定装置10のように、端部32に反射部42を設けずに測定することが可能であるが、櫛形電極30に入力される信号が高周波になると、端部32の端面40の処理が均一でない場合には、弾性表面波の反射に影響を与えて被測定物26の物理的特性が測定精度が低下する場合がある。そこで、被測定物特性測定装置10Aのように端部32に反射部42を設け、弾性表面波の反射を適切に行うことにより櫛形電極30に入力される信号が高周波であっても、被測定物26の物理的特性の測定精度を向上することができる。
次に、本発明の第3実施形態に係る被測定物特性測定装置100について説明する。図4は、本発明の第3実施形態に係る被測定物特性測定装置100の平面図である。なお、第1実施形態と同一の構成要素には同一の参照符号を付し、その詳細な説明を省略する。
図4に示すように、被測定物特性測定装置100は、第1弾性表面波素子112と、第2弾性表面波素子142と、発振器14と、分配器16と、弾性波検出器18とを備える。また、第1弾性表面波素子112及び第2弾性表面波素子142は、圧電基板128上に並列に配置されている。
第1弾性表面波素子112は、圧電基板128と、この圧電基板128上に形成された第1櫛形電極130と、圧電基板128の端部132と第1櫛形電極130との間に形成され、被測定物26が負荷される第1反応場134とを備える。また、第2弾性表面波素子142は、圧電基板128上に形成された第2櫛形電極144と、端部132と第2櫛形電極144との間に形成され、被測定物26が負荷される第2反応場146とを備える。第1反応場134は、圧電基板128上に蒸着された金属膜138で形成され、金属膜138は電気的に短絡される。第2反応場146は、金属膜の一部が剥離され、圧電基板128が露出するように金属膜148が形成される。従って、圧電基板128が露出している部分は電気的に開放状態となっている。
また、圧電基板128上には、第1櫛形電極130と第1反応場134との間に形成された壁135と、第2櫛形電極144と第2反応場146との間に形成された壁135とが連続し幅方向に延在し、被測定物26が第1櫛形電極130、第2櫛形電極144に付着するのを防ぐことができる。なお、圧電基板128は図1に示す圧電基板28と同様であり、第1櫛形電極130、第2櫛形電極144は、櫛形電極30と同様に形成され、金属膜138、金属膜148は金属膜38と同様に形成されている。
被測定物特性測定装置100による被測定物26の物理的特性の測定は、次のように行われる。まず、測定対象である被測定物26を容器24に入れた状態で、端部132が下になる方向で圧電基板128を被測定物26内に浸漬させる。
次いで、発振器14から分配器16にバースト的に信号が入力されて、分配器16で分配されて、第1櫛形電極130及び第2櫛形電極144に同一信号が入力されるとともに、弾性波検出器18にも前記信号が入力される。第1櫛形電極130で入力された信号に基づいて弾性表面波が励振され、第1反応場134上を伝搬して、端部132に到達する。端部132では、弾性表面波が端部132の端面140で反射され、再度第1反応場134上を伝搬した後に、第1櫛形電極130で受信される。同様に、第2櫛形電極144で入力された信号に基づいて弾性表面波が励振され、第2反応場146上を伝搬して端部132に到達し、端面140で反射され、再度第2反応場146上を伝搬した後に、第2櫛形電極144で受信される。第1櫛形電極130と第2反応場146で受信された弾性表面波から取り出された両出力信号が弾性波検出器18で比較され振幅比及び位相差に基づく信号が処理部22に出力されて、処理部22で被測定物26の物理的特性が求められる。
以上説明したように、第3実施形態に係る被測定物特性測定装置100は、圧電基板128に形成された弾性表面波を励振させるための第1櫛形電極130と、第1櫛形電極130と圧電基板128の端部132との間に被測定物26が負荷される第1反応場134とが形成された第1弾性表面波素子112と、弾性表面波を励振させるための第2櫛形電極144と、第1反応場134と異なる振幅・位相特性であって、第2櫛形電極144と端部132との間に被測定物26が負荷される第2反応場146とが形成された第2弾性表面波素子142と、を備える。
被測定物特性測定装置100では、第1櫛形電極130と第1反応場134との間に形成された壁135と、第2櫛形電極144と第2反応場146との間に形成された壁135とが連続し、第1櫛形電極130から第1反応場134を伝搬し、端部132で反射されて、第1櫛形電極130で受信された前記弾性表面波と、第2櫛形電極144から第2反応場146を伝搬し、端部132で反射されて、第2櫛形電極144で受信された前記弾性表面波とに基づいて被測定物26の特性を求めることができる。
次に、本発明の第4実施形態に係る被測定物特性測定装置100Aについて説明する。図5は、本発明の第4実施形態に係る被測定物特性測定装置100Aの平面図である。なお、第1〜第3実施形態と同一の構成要素には同一の参照符号を付し、その詳細な説明を省略する。
被測定物特性測定装置100Aの第1弾性表面波素子112a、第2弾性表面波素子142aでは、被測定物特性測定装置100の第1弾性表面波素子112、第2弾性表面波素子142に対して、圧電基板128の端部132に反射部152が形成される。反射部152は、圧電基板128上に第1櫛形電極130から出力される弾性表面波の伝搬方向に対して垂直な方向(矢印Y方向)に延在するように金属膜を蒸着して形成した複数の凸部154で構成され、前記凸部154はX方向に等間隔で配置される。隣接する凸部154同士の間隔はλ/4であることが好ましい。
また、被測定物特性測定装置100Aによる被測定物26の物理的特性の測定は、第3実施形態に係る発明と同様に第1弾性表面波素子112aを被測定物26内に浸漬させた後に、発振器14から分配器16にバースト的に信号が入力されて、分配器16で分配されて、第1櫛形電極130及び第2櫛形電極144に同一信号が入力されるとともに、弾性波検出器18にも前記信号が入力される。第1櫛形電極130で入力された信号に基づいて弾性表面波が励振され、第1反応場134上を伝搬して反射部152で反射され、再度第1反応場134上を伝搬した後に、第1櫛形電極130で受信される。同様に、第2櫛形電極144で入力された信号に基づいて弾性表面波が励振され、第1反応場134上を伝搬して反射部152で反射され、再度第1反応場134上を伝搬した後に、第2櫛形電極144で受信される。第1櫛形電極130と第2反応場146で受信された弾性表面波から取り出された両出力信号が弾性波検出器18で比較され振幅比及び位相差に基づく信号が処理部22に出力されて、処理部22で被測定物26の物理的特性が求められる。
第4実施形態に係る被測定物特性測定装置10Aでは、端部132に反射部152が形成され、第1櫛形電極130から第1反応場134を伝搬し、反射部152で反射されて、第1櫛形電極130で受信された弾性表面波と、第2櫛形電極144から第2反応場146を伝搬し、反射部152で反射されて、第2櫛形電極144で受信された前記弾性表面波とに基づいて被測定物26の特性を求めている。
なお、被測定物特性測定装置10Aの反射部42は、圧電基板28上に金属膜を蒸着して形成されているが、これに限定されるものではなく、図6A、図6Bに示すように圧電基板28に複数の凹部46を形成して、隣接する凹部46同士の間隔をλ/4としてよい。また、図7A、図7Bに示すように凹部46よりもX方向に幅が広い凹部46aによって反射部42を構成してもよい。さらに、図8A、図8Bに示すように反射部42として、圧電基板28からの高さが凸部44よりも高い凸部44aによって反射部42を構成してもよい。さらにまた、被測定物特性測定装置100Aの反射部152を図6A、図6Bに示すように複数の凹部46で構成してもよく、図7A、図7Bに示すように凹部46aで構成してもよく、図8A、図8Bに示すように凸部44で構成してもよい。
図9Aは、被測定物特性測定装置10の他の変形例の平面図であり、図9Bは、図9AのIXB−IXBの部分端面図であり、図9Cは、壁35の周辺を拡大した端面図である。
被測定物特性測定装置10、10Aの壁35を構成する金属膜36を図9A〜9Cに示すように圧電基板28上に形成された弾性表面波の伝搬方向と平行な方向に凹凸構造が形成され電気的に短絡した金属膜36aとし、壁35を構成する絶縁膜37を、金属膜36aを被膜する絶縁膜37aとしてもよい。かかる場合に、絶縁膜37は金属膜36aの凹部に入り込み圧電基板28と密着することにより、金属膜36aと絶縁膜37との間の密着性を補い、金属膜36aが絶縁膜37から剥離するのを防ぐことができる。
また、図10に示すように壁35の外壁48を樹脂で形成し、内部に閉空間50を形成してもよい。外壁48が中実の場合には弾性表面波の減衰が生じるが、壁35の内部に閉空間50を形成することにより弾性表面波の減衰を防ぐことができる。さらに、図11に示すように、壁35内の圧電基板28上に金属膜36を形成してもよく、さらにまた、図12に示すように圧電基板28上に金属膜36aを形成してもよい。壁35内に閉空間50を形成した場合には、伝搬するすべり弾性表面波(SH-SAW)のエネルギーの大半は金属膜36、36aの上面に集中し、伝搬の際の減衰を防ぐことができる。
なお、櫛形電極30と壁35との距離、壁35と金属膜38との距離はそれぞれすべり弾性表面波の1波長以下であることが好ましい。
また、被測定物特性測定装置100、100Aの壁135を図9C、図10〜図12に示すような壁35で構成してもよい。
さらに、被測定物特性測定装置10、10Aの反応場34を開放伝搬路又は格子状伝搬路で構成してもよい。
さらにまた、被測定物としては、特に限定されるものではなく、少なくとも液体が含まれていればよい。また、純液、混合液のいずれであってもよく、メタノール、エタノール等のアルコールの物理的特性を測定する場合に特に有効である。さらにまた、被測定物に抗原、抗体、バクテリア等が含まれる状態においても、物理的特性を測定できることは言うまでもない。
この場合、例えば、被測定物の中に帯電しているバクテリアが含まれている場合には、被測定物の導電率を測定することにより、バクテリアの含有率を測定することができる。また、異なる極性で帯電しているバクテリアが含まれている場合には、被測定物の導電率を測定することにより、被測定物に最も多く含まれるバクテリアの種類を特定することもできる。さらに、被測定物が負荷された伝搬路にバクテリアが付着している場合には、被測定物の密度、粘性を測定することにより、付着したバクテリアの増減量を検知することができる。
また、本発明は、上述の実施の形態に限らず、本発明の要旨を逸脱することなく、種々の構成を採り得ることはもちろんである。
本発明の第1実施形態に係る被測定物特性測定装置の平面図である。 図2Aは、第1実施形態に係る被測定物特性測定装置の平面図であり、図2Bは、図2AのIIB−IIBの部分端面図である。 図3Aは、第2実施形態に係る被測定物特性測定装置の平面図であり、図2Bは、図3AのIIIB−IIIBの部分端面図である。 第3実施形態に係る被測定物特性測定装置の平面図である。 第4実施形態に係る被測定物特性測定装置の平面図である。 図6Aは、第2実施形態に係る被測定物特性測定装置の変形例の平面図であり、図6Bは、図6AのVIB−VIBの部分端面図である。 図7Aは、第2実施形態に係る被測定物特性測定装置の他の変形例の平面図であり、図7Bは、図7AのVIIB−VIIBの部分端面図である。 図8Aは、第2実施形態に係る被測定物特性測定装置の他の変形例の平面図であり、図8Bは、図8AのVIIIB−VIIIBの部分端面図である。 図9Aは、本発明の第1実施形態に係る被測定物特性測定装置の他の変形例の平面図であり、図9Bは、図9AのIXB−IXBの部分端面図であり、図9Cは、壁の周辺を拡大した端面図である。 壁の周辺を拡大した端面図である。 変形例の壁の周辺を拡大した端面図である。 他の変形例の壁の周辺を拡大した端面図である。
符号の説明
10、10A、100、100A…被測定物特性測定装置
12、12a、112、112a、142、142a…弾性表面波素子
14…発振器 16…分配器
18…弾性波検出器 20…測定部
22…処理部 24…容器
26…被測定物 28、128…圧電基板
30…櫛形電極 32、132…端部
34、34a…反応場 35、135…壁
36、36a、38、138、148…金属膜 37、37a…絶縁膜
40、140…端面 42、152…反射部
44、44a、154…凸部 46、46a…凹部
48…外壁 50…閉空間
130…第1櫛形電極 134…第1反応場
144…第2櫛形電極 146…第2反応場

Claims (8)

  1. 圧電基板上に形成された弾性表面波を励振させるための櫛形電極と、前記櫛形電極と前記圧電基板の端部との間に被測定物が負荷される反応場とが形成された弾性表面波素子を備え、
    前記反応場と、前記櫛形電極との間に壁が形成され、
    前記壁の外壁は絶縁材で形成され、前記壁内に閉空間が形成され、
    前記壁内の前記圧電基板上には金属膜が形成され、
    前記櫛形電極から前記反応場を伝搬し、前記端部で反射されて、前記櫛形電極で受信された前記弾性表面波に基づいて前記被測定物の特性を求める
    ことを特徴とする被測定物特性測定装置。
  2. 圧電基板上に形成された弾性表面波を励振させるための櫛形電極と、前記櫛形電極と前記圧電基板の端部との間に被測定物が負荷される反応場とが形成された弾性表面波素子を備え、
    前記反応場と、前記櫛形電極との間に壁が形成され、
    前記壁は、前記壁内の前記圧電基板上に形成され、前記弾性表面波の伝搬方向と平行な方向に凹凸構造が形成され電気的に短絡した金属膜と、前記壁の外壁を形成し、前記金属膜を被覆する絶縁膜とから構成され、
    前記櫛形電極から前記反応場を伝搬し、前記端部で反射されて、前記櫛形電極で受信された前記弾性表面波に基づいて前記被測定物の特性を求める
    ことを特徴とする被測定物特性測定装置。
  3. 請求項1又は2記載の被測定物特性測定装置において、
    前記端部に反射部が形成され、
    前記櫛形電極から前記反応場を伝搬し、前記反射部で反射されて、前記櫛形電極で受信された前記弾性表面波に基づいて前記被測定物の特性を求める
    ことを特徴とする被測定物特性測定装置。
  4. 圧電基板上に形成された弾性表面波を励振させるための第1櫛形電極と、前記第1櫛形電極と前記圧電基板の端部との間に被測定物が負荷される第1反応場とが形成された第1弾性表面波素子と、
    前記圧電基板上に形成された弾性表面波を励振させるための第2櫛形電極と、前記第1反応場と異なる振幅・位相特性であって、前記第2櫛形電極と前記端部との間に被測定物が負荷される第2反応場とが形成された第2弾性表面波素子と、
    を備え、
    前記第1櫛形電極と前記第1反応場との間に形成された壁と、前記第2櫛形電極と前記第2反応場との間に形成された壁とが連続し、
    前記壁の外壁は絶縁材で形成され、前記壁内に閉空間が形成され、
    前記壁内の前記圧電基板上には金属膜が形成され、
    前記第1櫛形電極から前記第1反応場を伝搬し、前記端部で反射されて、前記第1櫛形電極で受信された前記弾性表面波と、前記第2櫛形電極から前記第2反応場を伝搬し、前記端部で反射されて、前記第2櫛形電極で受信された前記弾性表面波とに基づいて前記被測定物の特性を求める
    ことを特徴とする被測定物特性測定装置。
  5. 圧電基板上に形成された弾性表面波を励振させるための第1櫛形電極と、前記第1櫛形電極と前記圧電基板の端部との間に被測定物が負荷される第1反応場とが形成された第1弾性表面波素子と、
    前記圧電基板上に形成された弾性表面波を励振させるための第2櫛形電極と、前記第1反応場と異なる振幅・位相特性であって、前記第2櫛形電極と前記端部との間に被測定物が負荷される第2反応場とが形成された第2弾性表面波素子と、
    を備え、
    前記第1櫛形電極と前記第1反応場との間に形成された壁と、前記第2櫛形電極と前記第2反応場との間に形成された壁とが連続し、
    前記壁は、前記壁内の前記圧電基板上に形成され、前記弾性表面波の伝搬方向と平行な方向に凹凸構造が形成され電気的に短絡した金属膜と、前記壁の外壁を形成し、前記金属膜を被覆する絶縁膜とから構成され、
    前記第1櫛形電極から前記第1反応場を伝搬し、前記端部で反射されて、前記第1櫛形電極で受信された前記弾性表面波と、前記第2櫛形電極から前記第2反応場を伝搬し、前記端部で反射されて、前記第2櫛形電極で受信された前記弾性表面波とに基づいて前記被測定物の特性を求める
    ことを特徴とする被測定物特性測定装置。
  6. 請求項4又は5記載の被測定物特性測定装置において、
    前記端部に反射部が形成され、
    前記第1櫛形電極から前記第1反応場を伝搬し、前記反射部で反射されて、前記第1櫛形電極で受信された前記弾性表面波と、前記第2櫛形電極から前記第2反応場を伝搬し、前記反射部で反射されて、前記第2櫛形電極で受信された前記弾性表面波とに基づいて前記被測定物の特性を求める
    ことを特徴とする被測定物特性測定装置。
  7. 請求項1又は4記載の被測定物特性測定装置において、
    前記金属膜は、前記弾性表面波の伝搬方向と平行な方向な凹凸構造である
    ことを特徴とする被測定物特性測定装置。
  8. 請求項1〜のいずれか1項に記載の被測定物特性測定装置において、
    前記被測定物の特性の測定は、前記圧電基板の端部から前記壁まで前記被測定物で浸漬して行う
    ことを特徴とする被測定物特性測定装置。
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