JP7315987B2 - 微細ピッチを有するデバイスのテスト装置 - Google Patents
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Description
21:レール
30:デバイス
32:マーク
40:搬入部
50:真空チャック
51:真空孔
52:Z軸モーター
53:座標認識マーク
54:ローテーター
60:搬入ピッカー
61:X、Y軸
70:搬入ゾーン
80:デバイスアライメント部
81:X軸レール
82:Y軸レール
83:可動体
85:アライメント治具ブロック
85a:通孔
86:アライメント治具
86a:開口部
87:θ軸補正モーター
88:第1のアライメントビジョン
90:テストポジション
100:テスター
101:第2のアライメントビジョン
110:アライメントゾーン
120: 搬出部
140:搬出ピッカー
150:真空チャック姿勢校正手段
151:Y軸補正モーター
152:X軸補正モーター
Claims (8)
- 本体(20)と、
前記本体(20)の一方の側に設けられて、テストすべきデバイス(30)が待機する搬入部(40)と、
前記搬入部(40)の一方の側に設けられて、テストすべきデバイス(30)を順次に吸着して真空チャック(50)の上面に載置する搬入ピッカー(60)と、
前記搬入ピッカー(60)により吸着されて移動されたデバイス(30)の安着個所にそれぞれ真空孔(51)が形成され、レール(21)に沿って移動する真空チャック(50)と、
前記真空チャック(50)にテストすべきデバイス(30)が載置される搬入ゾーン(70)と、
前記搬入ゾーン(70)の上部に、前記真空チャック(50)の上面に平行な座標平面上のX-Y-θ軸に沿って移動可能なように設けられて真空チャック(50)に吸引されたデバイス(30)の位置を確認して制御部に座標値を報知することにより、デバイス(30)をアライメントするデバイスアライメント部(80)と、
前記真空チャック(50)に吸引されたデバイス(30)がアライメントされた状態でレール(21)に沿って移動して待機するテストポジション(90)と、
前記テストポジション(90)に位置している真空チャック(50)が移動して各デバイス(30)のバンプが電気的にコンタクトされることにより、設定された時間の間にデバイスの性能をテストするテスター(100)と、
前記テスター(100)においてデバイス(30)のテストが終わった真空チャック(50)が位置する搬出ゾーン(110)と、
前記搬出ゾーン(110)の一方の側に設けられて、真空チャック(50)からテストが終わったデバイス(30)を吸着して搬出部(120)のトレイ(130)に良品と不良品に選別して搬出する搬出ピッカー(140)と、
を備え、
前記デバイスアライメント部(80)は、
真空チャック(50)に吸引されたデバイス(30)の前記座標平面上の位置を確認して制御部に前記座標平面上の座標値を報知する第1のアライメントビジョン(88)を備えることを特徴とする微細ピッチを有するデバイスのテスト装置。 - 前記デバイスアライメント部(80)は、
前記本体(20)に設けられたX軸レール(81)と、
前記X軸レール(81)に設けられて、X軸レールに沿って移動するY軸レール(82)と、
前記Y軸レール(82)に設けられた可動体(83)と、
前記可動体(83)の昇降ブロック(84)に設けられ、垂直に貫通した通孔(85a)が形成されたアライメント治具ブロック(85)と、
前記アライメント治具ブロック(85)の下部に設けられて、真空チャック(50)に吸引されたデバイス(30)を押して位置を補正するアライメント治具(86)と、
前記アライメント治具ブロック(85)に設けられて、アライメント治具(86)のθ値を補正するθ軸補正モーター(87)と、
をさらに備え、
前記第1のアライメントビジョン(88)は、可動体(83)に設けられて、アライメント治具ブロック(85)の通孔(85a)を通して真空チャック(50)に吸引されたデバイス(30)の前記座標平面上の位置を確認して制御部に前記座標平面上の座標値を報知するものであり、
真空チャック(50)に吸引されたデバイス(30)の位置を第1のアライメントビジョン(88)が確認して制御部に報知すれば、デバイス(30)の座標値に基づいてアライメント治具(86)が下降してデバイス(30)をX-Y-θ方向に移動させてアライメントすることを特徴とする請求項1に記載の微細ピッチを有するデバイスのテスト装置。 - 前記テストポジション(90)から真空チャック(50)をテスター(100)に向かって上昇させるZ軸モーター(52)を真空チャック(50)の下部に設け、前記真空チャック(50)の上部にはオーバーヘッドタイプのテスター(100)を設けて、前記真空チャック(50)がテストポジション(90)に達することにより、Z軸モーター(52)が真空チャック(50)を上昇させて真空孔(51)に吸引されたデバイス(30)をテスター(100)の端子と電気的にコンタクトさせることを特徴とする請求項1に記載の微細ピッチを有するデバイスのテスト装置。
- 前記テストポジション(90)から真空チャック(50)を180°回転させるローテーター(54)及び真空チャック(50)をテスター(100)に向かって下降させるZ軸モーター(52)を真空チャック(50)の下部に設け、前記テストポジション(90)の下部には水平タイプのテスター(100)を設けて、前記真空チャック(50)がテストポジション(90)に達することにより、ローテーター(54)が真空チャック(50)を180°回転させた状態でZ軸モーター(52)が真空チャック(50)をテスター(100)に向かって移動させて真空孔(51)に吸引されたデバイス(30)をテスター(100)の端子と電気的にコンタクトさせることを特徴とする請求項1に記載の微細ピッチを有するデバイスのテスト装置。
- 前記テストポジション(90)から真空チャック(50)を90°回転させるローテーター(54)及び真空チャック(50)をテスター(100)に向かって水平方向に移動させるZ軸モーター(52)を真空チャック(50)の水平方向に設け、前記テストポジション(90)の水平方向には垂直タイプのテスター(100)を設けて、前記真空チャック(50)がテストポジション(90)に達することにより、ローテーター(54)が真空チャック(50)を90°回転させた状態でZ軸モーター(52)が真空チャック(50)をテスター(100)に向かって移動させて真空孔(51)に吸引されたデバイス(30)をテスター(100)の端子と電気的にコンタクトさせることを特徴とする請求項1に記載の微細ピッチを有するデバイスのテスト装置。
- 前記真空チャック(50)に座標認識マーク(53)を標示し、テスター(100)には座標認識マーク(53)の位置を確認する第2のアライメントビジョン(101)を設け、真空チャック(50)の下部には真空チャック姿勢校正手段(150)を設けて、テストポジション(90)から真空チャック(50)をテスター(100)に向かって移動させる前に第2のアライメントビジョン(101)が真空チャック(50)の座標認識マーク(53)のX-Y値を確認して制御部に報知することにより、真空チャック姿勢校正手段(150)が真空チャック(50)の姿勢を校正するようになっていることを特徴とする請求項3乃至請求項5のいずれか一項に記載の微細ピッチを有するデバイスのテスト装置。
- 前記真空チャック姿勢校正手段(150)は、
前記真空チャック(50)の底面にY軸値を補正するY軸補正モーター(151)を設け、前記Y軸補正モーター(151)の底面にはX軸値を補正するX軸補正モーター(152)を設け、前記X軸補正モーター(152)は、レール(21)に沿って移動するスライダー(153)に固設したことを特徴とする請求項6に記載の微細ピッチを有するデバイスのテスト装置。 - 前記真空チャック(50)の内部にヒーター及び冷却パイプを設けてなることを特徴とする請求項1に記載の微細ピッチを有するデバイスのテスト装置。
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