JPH0726783U - 自動テストハンドラー用ピック・プレース装置 - Google Patents
自動テストハンドラー用ピック・プレース装置Info
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- JPH0726783U JPH0726783U JP6184493U JP6184493U JPH0726783U JP H0726783 U JPH0726783 U JP H0726783U JP 6184493 U JP6184493 U JP 6184493U JP 6184493 U JP6184493 U JP 6184493U JP H0726783 U JPH0726783 U JP H0726783U
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- JP
- Japan
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- dut
- test
- pick
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
る吸引力によってDUTをピックし移動し別の位置にプ
レースするピック・プレース装置において、ピックする
ときDUTの有無を確実に判定し、テスト終了時にはテ
ストハンドラー内にDUTを1つも残さないピック・プ
レース装置を提供する。 【構成】 テストする際にDUT10を定置するテスト
トレイあるいはキャリアーモジュール41およびプリサ
イサーの底部で、吸引パッド45が接触する範囲内に貫
通穴を設けて、真空センサーの判定をDUT10がある
ときは有り、直接底部に接触しているときは無しと判定
できる。
Description
る。
Claims (1)
- 【請求項】 自動テストハンドラー(20)内で、真空
によって生じる吸引力により被測定物(10)をピック
し、移動させ、別の位置にプレースするピック・プレー
ス装置において、被測定物(10)を定置するテストト
レイ(40)あるいはテストトレイ(40)上に定置し
たキャリアーモジュール(41)の底部(42)および
プリサイサー(55)の底部(57)に、吸引パッド
(45)の吸引部の範囲内に空気の流通する貫通穴(4
3)を具備することを特徴とする自動テストハンドラー
用ピック・プレース装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1993061844U JP2607752Y2 (ja) | 1993-10-22 | 1993-10-22 | 自動テストハンドラー用ピック・プレース装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1993061844U JP2607752Y2 (ja) | 1993-10-22 | 1993-10-22 | 自動テストハンドラー用ピック・プレース装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0726783U true JPH0726783U (ja) | 1995-05-19 |
JP2607752Y2 JP2607752Y2 (ja) | 2002-07-08 |
Family
ID=13182808
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1993061844U Expired - Lifetime JP2607752Y2 (ja) | 1993-10-22 | 1993-10-22 | 自動テストハンドラー用ピック・プレース装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2607752Y2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008142744A1 (ja) * | 2007-05-09 | 2008-11-27 | Advantest Corporation | 部品搬送装置、電子部品試験装置および部品搬送装置の最適距離の認識方法 |
-
1993
- 1993-10-22 JP JP1993061844U patent/JP2607752Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008142744A1 (ja) * | 2007-05-09 | 2008-11-27 | Advantest Corporation | 部品搬送装置、電子部品試験装置および部品搬送装置の最適距離の認識方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2607752Y2 (ja) | 2002-07-08 |
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