JP7307241B1 - 基板自動搬送装置 - Google Patents

基板自動搬送装置 Download PDF

Info

Publication number
JP7307241B1
JP7307241B1 JP2022106722A JP2022106722A JP7307241B1 JP 7307241 B1 JP7307241 B1 JP 7307241B1 JP 2022106722 A JP2022106722 A JP 2022106722A JP 2022106722 A JP2022106722 A JP 2022106722A JP 7307241 B1 JP7307241 B1 JP 7307241B1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chamber
wafer
transfer
load lock
gate valve
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2022106722A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2024006122A (ja
Inventor
長田厚
大木敬介
任潮群
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Suzhou Xinhuilian Semiconductor Technology Co Ltd
Original Assignee
Suzhou Xinhuilian Semiconductor Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Suzhou Xinhuilian Semiconductor Technology Co Ltd filed Critical Suzhou Xinhuilian Semiconductor Technology Co Ltd
Priority to JP2022106722A priority Critical patent/JP7307241B1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7307241B1 publication Critical patent/JP7307241B1/ja
Publication of JP2024006122A publication Critical patent/JP2024006122A/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

【課題】本発明は、ウエーハを空気中の酸素に触れることなく、フープに収容できる基板自動搬送装置を提供する。【解決手段】ロードロックチャンバ40とフープ58との間でウエーハを移管可能な基板自動搬送装置34であって、フープ58が載置されるロードポート38と、ロードロックチャンバ40からウエーハを取り出しフープ58に収容する第2ウエーハ搬送装置46と、を備え、第2ウエーハ搬送装置46は、内部が不活性ガスでパージされ得るチャンバ構造である。【選択図】 図1

Description

本発明は、例えば、プラズマアッシング装置、エッチング装置、CVD装置などに用いる真空ウエーハ搬送システム(クラスターツール)との間でウエーハの受け渡しが可能な基板自動搬送装置に関する。
図2に示すように、従来の基板自動搬送装置(EFEM)500は、真空ウエーハ搬送システム530と共に設置される。基板自動搬送装置500には、ウエーハを把持するとともに所定の方向に移動可能なロボットハンド502と、例えば4個のロードポート504と、が設けられている。各ロードポート504には、ウエーハ移載ロボット506が配置されている。ウエーハ移載ロボット506は、ウエーハを収容するフープ508を開閉するための装置である。フープ508は、ロードポート504上に搭載される。
基板自動搬送装置500の近傍には、ロードロックチャンバ510が配置されている。ロードロックチャンバ510とトランスファーチャンバ534との間には、には、ゲートバルブ512が設けられている。ゲートバルブ512の開閉動作により、ロードロックチャンバ510の内部を大気に開放したり、また大気から遮断することができる。ロードロックチャンバ510は、大気への開放と真空引きが繰り返される部屋である。
真空ウエーハ搬送システム530には、プロセスチャンバ532と、トランスファーチャンバ534と、が設けられている。プロセスチャンバ532とトランスファーチャンバ534との間には、ゲートバルブ536が設けられている。具体的には、トランスファーチャンバ534が平面視において多角形状に形成されており、その側面にはゲートバルブ536を介して4個のプロセスチャンバ532が配置されている。トランスファーチャンバ534の内部には、ウエーハを搬送するための搬送装置538が配置されている。
ロードポート504上のフープ508に収容されている未処理のウエーハは、基板自動搬送装置500のロボットハンド502により把持され、ロードロックチャンバ510の内部に移管される。ロードロックチャンバ510の内部に移管されたウエーハは、トランスファーチャンバ534の搬送装置538によりプロセスチャンバ532の内部に移管される。プロセスチャンバ532の内部でプロセス(例えば、プラズマ処理など)が実行される。プロセス(例えば、プラズマ処理など)を経たウエーハは、トランスファーチャンバ534の搬送装置538によりプロセスチャンバ532から取り出され、ロードロックチャンバ510の内部に移管される。その後、ロードロックチャンバ510の内部のウエーハは、基板自動搬送装置500のロボットハンド502により把持され、ロードポート504上のフープ508に収容される。
JP2016-81936A(特開2016-81936号公報)
ところで、プロセス後のウエーハの表面がプラズマにより活性化された状態になっているため、ウエーハが大気に暴露されると、残留ガスによりコロージョン(再結合)等が発生し、ウエーハの表面に変質層が形成されて劣化する技術課題がある。このため、ウエーハをロードロックチャンバからフープに収容する工程において、ウエーハが大気に暴露しない対策が求められている。
しかしながら、従来の基板自動搬送装置では、ウエーハは、ケミカルフィルタ等を通した環境で搬送されているに過ぎないため、空気中の酸素に触れてしまう技術的課題を有していた。
そこで、本発明は、上記問題に鑑み、ウエーハを空気中の酸素に触れることなく、フープに収容できる基板自動搬送装置を提供することを目的とする。
本発明は、真空環境下においてウエーハに対して所定の物理的処理又は化学的処理を実行するプロセスチャンバと、真空環境下において前記ウエーハを収容可能なバッファーチャンバと、前記ウエーハを前記プロセスチャンバに送り出し又は前記プロセスチャンバから前記ウエーハを取り出すウエーハ搬送装置と前記ウエーハが通過するゲートバルブとを有するトランスファーチャンバと、を含む真空ウエーハ搬送システムに組付けられる基板自動搬送装置であって、前記真空ウエーハ搬送システムは、前記バッファーチャンバと前記トランスファーチャンバとが第一の直線方向に沿って連通可能となるように配置され、前記バッファーチャンバと前記トランスファーチャンバが一体的に駆動する駆動モジュールを構成し、複数の前記プロセスチャンバが前記第一の直線方向に沿って増設可能であり、複数の前記プロセスチャンバが前記第一の直線方向に沿って配置されてなるプロセスチャンバ群を複数群設け、前記各プロセスチャンバ群同士の間には、所定の離間領域が設けられ、前記駆動モジュールが前記離間領域に配置され、前記基板自動搬送装置は、フープが載置されるロードポートと、ロードロックチャンバから前記ウエーハを取り出し前記フープに収容し、内部が不活性ガスでパージされ得る第2ウエーハ搬送装置と、を備え、前記第2ウエーハ搬送装置は、搬送チャンバと、前記搬送チャンバの内部に収容されたウエーハ把持部と、前記搬送チャンバの内部に前記不活性ガスを供給して当該不活性ガスでパージするガス供給部と、を有し、さらに、前記第2ウエーハ搬送装置を前記ロードポート近傍に移動させるための走行部を有する。
本発明によれば、ウエーハを空気中の酸素に触れることなく、フープに収容できる。
本発明の真空ウエーハ搬送システムに組み付けられた基板自動搬送装置の例示的な構成図である。 従来の真空ウエーハ搬送システムに組み付けられた基板自動搬送装置の構成図である。
本発明の一実施形態に係る基板自動搬送装置について説明する。なお、基板自動搬送装置は、真空ウエーハ搬送システムに組み付けられて使用されるものであるため、図1では、真空ウエーハ搬送システムに組み付けられた基板自動搬送装置が図示されている。真空ウエーハ搬送システムは、クラスターツールとも称する。
図1に示すように、基板自動搬送装置34は、真空ウエーハ搬送システム10に組み付けられる。先ず、真空ウエーハ搬送システム10の構成について説明する。
[真空ウエーハ搬送システム]
真空ウエーハ搬送システム10は、ウエーハ(図示省略)に対して所定の物理的処理又は化学的処理を実行するプロセスチャンバ12と、少なくとも真空環境下においてウエーハを収容可能なバッファーチャンバ14と、ウエーハをプロセスチャンバ12に送り出し又はプロセスチャンバ12からウエーハを受け取る第1ウエーハ搬送装置18を有するトランスファーチャンバ16と、を有している。
なお、トランスファーチャンバ16は、トランスファーモジュールともいう。
プロセスチャンバ12は、密閉状態を実現でき、真空環境下においてウエーハに対して所定の物理的処理又は化学的処理を実行する部屋である。プロセスチャンバ12は、ウエーハのプロセス処理に必要となるプロセス処理装置20を備えている。
プロセスチャンバ12は、例えば立方体形状又は直方体形状の筐体である。プロセスチャンバ12の少なくとも1つの側面には、ゲートバルブ22が設けられている。このため、ゲートバルブ22の開閉駆動によりプロセスチャンバ12の内部を大気に開放し、又は気密状態として大気を遮断することができる。
プロセスチャンバ12は、例えばエッチング装置やアッシング装置などである。本実施形態では、10個のプロセスチャンバ12が配置されている。
各プロセスチャンバ12は、部屋内部を真空状態にするための環境制御装置(真空ポンプ等)24を備えている。
ここで、複数のプロセスチャンバ12が、第一の直線方向(図1中矢印X方向)に沿って配置されている。このように1つのプロセスチャンバ12の隣に次のプロセスチャンバ12が増設され、さらに次のプロセスチャンバ12が増設可能となる。直線上に位置する各プロセスチャンバ12のゲートバルブ22同士は、同じ方向を向くように配置されていることが好ましい。プロセスチャンバ12の個数は、ウエーハのプラズマ処理の効率の要求に応じて適宜調節することができる。なお、各プロセスチャンバ12の構成は、同じである。
バッファーチャンバ14は、真空環境下においてウエーハを収容する。バッファーチャンバ14は、例えば立方体形状又は直方体形状の筐体である。
トランスファーチャンバ16は、ウエーハを把持して、プロセスチャンバ12の内部に送り出し又はプロセスチャンバ12の内部からウエーハを取り出す第1ウエーハ搬送装置18を備えている。第1ウエーハ搬送装置18として、例えば、ロボットアームが好ましい。
トランスファーチャンバ16は、例えば立方体形状又は直方体形状の筐体である。また、トランスファーチャンバ16の各側面には、ゲートバルブ26が設けられている。このため、ゲートバルブ26の開閉駆動により、トランスファーチャンバ16の内部を大気に開放し、又は気密状態として大気を遮断することができる。
バッファーチャンバ14とトランスファーチャンバ16は、相互に連通可能となるように一体的に配置された駆動モジュール28を構成する。バッファーチャンバ14とトランスファーチャンバ16との間には、開放することで相互に連通状態とし又は閉鎖することで両者を区画して気密状態にするためのゲートバルブ26が配置されている。しかしながら、当該ゲートバルブ26が設けられておらず、バッファーチャンバ14とトランスファーチャンバ16との間が常時、連通状態としてもよい。
バッファーチャンバ14とトランスファーチャンバ16の内部は、真空状態(真空環境下)に維持することができる。具体的には、トランスファーチャンバ16がプロセスチャンバ12と接続(ドッキング)した後、トランスファーチャンバ16のゲートバルブ26とプロセスチャンバ12のゲートバルブ22の間に挟まれた大気圧状態の微小空間(図示省略)に対してプロセスチャンバ12の環境制御装置24により真空引きを行い、真空状態にする。そして微小空間の圧力がトランスファーチャンバ16の内部の圧力と同じ圧力になったタイミングでトランスファーチャンバ16のゲートバルブ26を開く。その後、トランスファーチャンバ16の内部の圧力(微空間の圧力も同じ)がプロセスチャンバ12の内部の圧力と同じ圧力になったタイミングでプロセスチャンバ12のゲートバルブ22を開く。これにより、トランスファーチャンバ16とプロセスチャンバ12とが連通状態になり、両者の間でウエーハの受け渡しが可能になる。
なお、後述するようにロードロックチャンバ40のゲートバルブ42とトランスファーチャンバ16のゲートバルブ26との間でも微小空間が形成され得るが、これらの微小空間の体積は小さい方が好ましい。微小空間の体積を小さくすることにより、各チャンバの内部の圧力と同じ圧力になるまでの時間が短くなり、処理効率が向上する。
複数のプロセスチャンバ12が第一の直線方向Xに沿って配置されたプロセスチャンバ群12A、12Bが、例えば2個配置されている。各プロセスチャンバ群12A、12Bの間には、所定の離間領域30が設けられている。バッファーチャンバ14とトランスファーチャンバ16が一体的に配置された駆動モジュール28は、離間領域30に配置されている。離間領域30を最小限の面積にすることが好ましい。
離間領域30には、バッファーチャンバ14とトランスファーチャンバ16が一体的に配置された駆動モジュール28を第一の直線方向X及び第一の直線方向Xに対して直交する第二の直線方向Yに沿って移動させるための駆動部32が配置されている。例えば、駆動部32として、リニアモータ駆動機構が好ましい。このように、離間領域30を最小限の面積にしつつ、駆動モジュール28が駆動部32により駆動されて、トランスファーチャンバ16がプロセスチャンバ12及びロードロックチャンバ40と接続し、ウエーハの受け渡しが可能になる。
なお、駆動部32は、プロセスチャンバ群12A、12Bの第一の直線方向Xに沿った長さに応じて、適宜延長することができる。これにより、多くのプロセスチャンバ12が第一の直線方向Xに沿って配置される構成において、駆動モジュール28の駆動領域が確保でき、トランスファーチャンバ16とプロセスチャンバ12を接続させることができる。
図1では、2個のプロセスチャンバ群12A、12Bを配置した構成を示したが、2個に限定されるものではない。例えば、3個以上のプロセスチャンバ群を配置して、各プロセスチャンバ群の間に設けられた離間領域に、バッファーチャンバ14とトランスファーチャンバ16が一体的に配置された駆動モジュール28を配置することができる。
次に、基板自動搬送装置34の構成について説明する。
[基板自動搬送装置]
2個のプロセスチャンバ群12A、12Bの近傍には、基板自動搬送装置(EFEM)34が配置されている。基板自動搬送装置34は、ウエーハを把持するとともに、所定の方向に移動可能な第2ウエーハ搬送装置46を備えている。
第2ウエーハ搬送装置46は、いわゆるチャンバ構造に構成されており、例えば搬送チャンバ48と、搬送チャンバ48の内部に収容されたウエーハ把持部36と、を備えている。搬送チャンバ48は、例えば立方体形状又は直方体形状の筐体である。搬送チャンバ48の対向する側面には、ゲートバルブ50がそれぞれ設けられている。このため、ゲートバルブ50の開閉駆動により搬送チャンバ48の内部を大気に開放し、又は気密状態として大気を遮断することができる。これにより、搬送チャンバ48の内部では大気と隔離された環境を形成することができ、搬送チャンバ48の内部に収容されたウエーハは大気から遮断される。
なお、ウエーハ把持部36は、例えばロボットハンドであるが、この構成に限定されるものではない。
搬送チャンバ48には、搬送チャンバ48の内部に不活性ガスを供給するガス供給部52が設けられている。ガス供給部52は、窒素ガス又は窒素ガス等を含む不活性ガスを搬送チャンバ48の室内に吹き付け、搬送チャンバ48の室内を不活性ガスでパージする。ガス供給部52は、搬送チャンバ48の側面に限られず、上面又は下面に設けられていてもよい。
なお、ガス供給部52は、搬送チャンバ48ではなく、基板自動搬送装置34の所定の部位に設けられており、チューブや管路等により搬送チャンバ48の内部に不活性ガスを供給できる構成でもよい。
基板自動搬送装置34には、第2ウエーハ搬送装置46を所定の直線方向に沿って移動させるための走行部54が配置されている。例えば、走行部54として、リニアモータ駆動機構が好ましい。第2ウエーハ搬送装置46の移動方向は、ロードポート38の配列方向が好ましい。これにより、第2ウエーハ搬送装置46の移動距離を最短にしつつ、第2ウエーハ搬送装置46が各ロードポート38の対面に停止してウエーハの円滑な受け渡しが可能になる。
走行部54として、リニアモータ駆動機構に限定されるものではなく、第2ウエーハ搬送装置46を油圧又は空気圧で直線駆動させる油圧シリンダ又は空気圧シリンダでもよく、また車輪駆動方式のものでもよい。
基板自動搬送装置34は、複数、例えば4個のロードポート38を備えている。各ロードポート38には、ウエーハ移載ロボット56が配置されている。ウエーハ移載ロボット56は、ウエーハを収容して保管するフープ58を開閉するための装置である。フープ58は各ロードポート38上に搭載される。
基板自動搬送装置34の近傍には、ロードロックチャンバ40が配置されている。ロードロックチャンバ40は、ゲートバルブ42を備えている。ロードロックチャンバ40は、ゲートバルブ42の開閉動作により部屋の内部を大気に開放したり、また大気から遮断することができる。なお、ロードロックチャンバ40は、基板自動搬送装置34に設けられていてもよい。
ロードロックチャンバ40は、部屋の内部を大気圧の気圧下(大気圧環境下)に維持したり、又は部屋の内部を真空引きにして真空状態(真空環境下)に維持することができる環境制御装置(真空ポンプ等)44を備えている。
トランスファーチャンバ16がロードロックチャンバ40と接続(ドッキング)した後、トランスファーチャンバ16のゲートバルブ26とロードロックチャンバ40のゲートバルブ42の間に挟まれた大気圧状態の微小空間(図示省略)に対してロードロックチャンバ40の環境制御装置44により真空引きを行い、真空状態にする。そして微小空間の圧力がトランスファーチャンバ16の内部の圧力と同じ圧力になったタイミングでトランスファーチャンバ16のゲートバルブ26を開く。その後、トランスファーチャンバ16の内部の圧力(微空間の圧力)がロードロックチャンバ40の内部の圧力と同じ圧力になったタイミングでロードロックチャンバ40のゲートバルブ42を開く。これにより、トランスファーチャンバ16とロードロックチャンバ40とが連通状態になり、両者の間でウエーハの受け渡しが可能になる。
以上のように、各ロードポート38に搭載されたフープ58から未処理のウエーハがウエーハ把持部36により取り出され、搬送チャンバ48の内部に移管される。搬送チャンバ48のゲートバルブが閉じられており、搬送チャンバ48の内部にはガス供給部52から不活性ガスが供給されて不活性ガスでパージされている。このため、未処理のウエーハの表面に大気に曝されることがなく、不純物が表面に付着しない。
なお、未処理(プラズマ処理前)のウエーハを搬送チャンバ48の内部に収容している状態では、搬送チャンバ48の内部を不活性ガスでパージせず、大気に開放した状態でもよい。未処理(プラズマ処理前)のウエーハの表面状態が安定しているため、ウエーハの表面に異物が付着しないからである。また、後工程のプロセスチャンバ12によりプラズマ処理等が実行されて表面改質が実現されるからである。
次に、搬送チャンバ48のゲートバルブ50及びロードロックチャンバ40のゲートバルブ42が開き、搬送チャンバ48の内部のウエーハがウエーハ把持部36により、ロードロックチャンバ40の内部に移管される。以後、ウエーハの移管時のゲートバルブの開閉動作に関する説明は、省略する。
次に、ロードロックチャンバ40の内部に移管されたウエーハは、トランスファーチャンバ16の第1ウエーハ搬送装置18により取り出され、トランスファーチャンバ16の内部に移管される。
次に、ウエーハは、トランスファーチャンバ16の第1ウエーハ搬送装置18によりプロセスチャンバ12の内部に移管される。
プロセスチャンバ12の内部で所定の物理的処理又は化学的処理(プロセス処理)が施されたウエーハは、トランスファーチャンバ16の第1ウエーハ搬送装置18により取り出され、トランスファーチャンバ16を介してバッファーチャンバ14に移管される。
次に、トランスファーチャンバ16がロードロックチャンバ40と接続し、バッファーチャンバ14に移管されたウエーハがトランスファーチャンバ16の第1ウエーハ搬送装置18により取り出されて、ロードロックチャンバ40の内部に移管される。
次に、第2ウエーハ搬送装置46の搬送チャンバ48とロードロックチャンバ40と接続し、ロードロックチャンバ40に移管されたウエーハが第2ウエーハ搬送装置46のウエーハ把持部36により取り出されて、搬送チャンバ48の内部に移管される。このとき、搬送チャンバ48の内部は、ガス供給部52により不活性ガスでパージされており、プロセス後のウエーハは大気に暴露されない状態になっている。その後、第2ウエーハ搬送装置46が走行部54により駆動されて、所定のロードポート38の対面に移動する。そして、プロセス後のウエーハがウエーハ把持部36により取り出され、ロードポート38に配置されたフープ58の内部に収容される。
本実施形態の真空ウエーハ搬送システム10及び基板自動搬送装置34によれば、各プロセスチャンバ12を第一の直線方向Xに沿って後付け配置でき、かつ隣接するプロセスチャンバ群12A、12Bの間に形成された離間領域30にバッファーチャンバ14とトランスファーチャンバ16が一体的に配置された駆動モジュール28を配置したことにより、システムの要求に応じて、複数のプロセスチャンバ12の後付け配置が自由になるとともに、デッドスペースを削減して小型化ができる。
隣接するプロセスチャンバ群12A、12Bの間に形成された離間領域30の面積を最小限とすることにより、駆動モジュール28の移動距離を短縮してウエーハの受け渡しに要する時間を削減でき、またシステムのさらなる小型化が可能になる。
駆動モジュール28の駆動部32がリニアモータ駆動方式で駆動されるため、駆動モジュール28の位置制御を正確に行うことができ、また駆動に伴い粉塵等が発生しない。また、駆動モジュール28の駆動領域を容易に延長することができる。
第2ウエーハ搬送装置46の搬送チャンバ48をいわゆるチャンバ構造として、不活性ガスでパージした状態で、ロードロックチャンバ40とロードポート38との間のウエーハ搬送を行うため、ウエーハの表面が大気に曝されない。このため、特にプロセス(例えば、プラズマプロセスや熱プロセス等)の完了後、ウエーハの表面が活性化された状態になるが、空気と接触しないため、残留ガスによる腐食やコロージョン(再結合)等の発生を防止できる。この結果、ウエーハの表面に変質層が形成されることを抑制でき、ウエーハの劣化を防止できる。
特にフープ58とロードロックチャンバ40間のウエーハの移管装置である第2ウエーハ搬送装置46の搬送チャンバ48の内部を窒素環境下に保つことにより、プロセス後のウエーハ表面の劣化を抑制できる。基板自動搬送装置34にケミカルフィルタを設けて対策していた従来の環境と比較して、ウエーハが酸素に触れることを大幅に防止できる。
第2ウエーハ搬送装置46を駆動する走行部54がリニアモータ駆動方式で駆動するため、第2ウエーハ搬送装置46の正確な位置制御が可能になる。これにより、第2ウエーハ搬送装置46の搬送チャンバ48とロードポート38との接続が確実になり、搬送チャンバ48とフープ58との間のウエーハの移管が円滑になる。
本発明は、構造特徴について極めて詳細に説明してきたが、特許請求の範囲にて定義される本発明は、開示された特定の特徴に対して必ずしも限定される必要はない、ということを理解すべきである。むしろ、本実施形態では、特許請求の範囲に記載された発明を実現化するための好ましい一例として説明されているにすぎない。
したがって、本実施形態では、発明の例示的な実施例が記述されている一方で、当業者においては、多数のバリエーションや他の具体化も起こり得る。発明の精神及び範囲から逸脱しない範囲で、このようなバリエーションや他の実施例の実現が可能である。本実施形態において使用されている文言遣いと用語は、要約と同様に、説明の目的のためであり、限定的な意味に解釈されるべきではない。
なお、本実施形態は、本発明の一態様を示したものであり、本発明がこれに限られるものではない。本実施形態例に対する設計変更程度の差異は、当然に、本発明の技術的思想の範囲内に含まれる。
10 真空ウエーハ搬送システム
12 プロセスチャンバ
12A プロセスチャンバ群
12B プロセスチャンバ群
14 バッファーチャンバ
16 トランスファーチャンバ
18 第1ウエーハ搬送装置
20 プロセス処理装置
22 ゲートバルブ
24 環境制御装置
26 ゲートバルブ
28 駆動モジュール
30 離間領域
32 駆動部
34 基板自動搬送装置
36 ウエーハ把持部
38 ロードポート
40 ロードロックチャンバ
42 ゲートバルブ
44 環境制御装置
46 第2ウエーハ搬送装置
48 搬送チャンバ
50 ゲートバルブ
52 ガス供給部
54 走行部
56 ウエーハ移載ロボット
58 フープ

Claims (3)

  1. 真空環境下においてウエーハに対して所定の物理的処理又は化学的処理を実行するプロセスチャンバと、真空環境下において前記ウエーハを収容可能なバッファーチャンバと、前記ウエーハを前記プロセスチャンバに送り出し又は前記プロセスチャンバから前記ウエーハを取り出すウエーハ搬送装置と前記ウエーハが通過するゲートバルブとを有するトランスファーチャンバと、を含む真空ウエーハ搬送システムに組付けられる基板自動搬送装置であって、
    前記真空ウエーハ搬送システムは、
    前記バッファーチャンバと前記トランスファーチャンバとが第一の直線方向に沿って連通可能となるように配置され、前記バッファーチャンバと前記トランスファーチャンバが一体的に駆動する駆動モジュールを構成し、
    複数の前記プロセスチャンバが前記第一の直線方向に沿って増設可能であり、
    複数の前記プロセスチャンバが前記第一の直線方向に沿って配置されてなるプロセスチャンバ群を複数群設け、
    前記各プロセスチャンバ群同士の間には、所定の離間領域が設けられ、
    前記駆動モジュールが前記離間領域に配置され、
    前記基板自動搬送装置は、
    フープが載置されるロードポートと、
    ロードロックチャンバから前記ウエーハを取り出し前記フープに収容し、内部が不活性ガスでパージされ得る第2ウエーハ搬送装置と、
    を備え、
    前記第2ウエーハ搬送装置は、
    搬送チャンバと、
    前記搬送チャンバの内部に収容されたウエーハ把持部と、
    前記搬送チャンバの内部に前記不活性ガスを供給して当該不活性ガスでパージするガス供給部と、
    を有し、
    さらに、前記第2ウエーハ搬送装置を前記ロードポート近傍に移動させるための走行部を有する、基板自動搬送装置。
  2. 前記ロードロックチャンバは、内部を大気圧環境下又は真空環境下に維持することができる環境制御装置と、前記ウエーハが通過するゲートバルブと、を有し、
    前記トランスファーチャンバが前記ロードロックチャンバと接続した後、前記トランスファーチャンバの前記ゲートバルブと前記ロードロックチャンバの前記ゲートバルブの間に挟まれた大気圧状態の微小空間に対して前記環境制御装置により真空引きを行い、前記微小空間の圧力が前記トランスファーチャンバの内部圧力と同じ圧力になったタイミングで前記トランスファーチャンバの前記ゲートバルブを開き、その後、前記微小空間の圧力が前記ロードロックチャンバの内部圧力と同じ圧力になったタイミングで前記ロードロックチャンバの前記ゲートバルブを開く、請求項1に記載の基板自動搬送装置。
  3. 前記走行部は、リニアモータ駆動方式で駆動する、請求項1又は2に記載の基板自動搬送装置。
JP2022106722A 2022-06-30 2022-06-30 基板自動搬送装置 Active JP7307241B1 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022106722A JP7307241B1 (ja) 2022-06-30 2022-06-30 基板自動搬送装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022106722A JP7307241B1 (ja) 2022-06-30 2022-06-30 基板自動搬送装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP7307241B1 true JP7307241B1 (ja) 2023-07-11
JP2024006122A JP2024006122A (ja) 2024-01-17

Family

ID=87072470

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022106722A Active JP7307241B1 (ja) 2022-06-30 2022-06-30 基板自動搬送装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7307241B1 (ja)

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002217263A (ja) 2001-01-12 2002-08-02 Tokyo Electron Ltd 被処理体の搬送システム及び被処理体の搬送方法
JP2002313870A (ja) 2001-04-11 2002-10-25 Canon Inc ガラス基板移動台車
JP2002313876A (ja) 2001-04-19 2002-10-25 Murata Mach Ltd 無人搬送車
JP2002343847A (ja) 2001-05-18 2002-11-29 Nec Yamaguchi Ltd ウェハ搬送装置
WO2003073497A1 (fr) 2002-02-28 2003-09-04 Tokyo Electron Limited Corps de cuve recevant un milieu a traiter et systeme de traitement
JP2004363207A (ja) 2003-06-03 2004-12-24 Advanced Display Inc 搬送システム及びこれに用いる搬送車とステーション
KR101310079B1 (ko) 2012-08-13 2013-09-23 주식회사 디스닉스 도킹구조를 가지는 오토 로더
JP2015115517A (ja) 2013-12-13 2015-06-22 シンフォニアテクノロジー株式会社 基板搬送装置及びefem

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH081923B2 (ja) * 1991-06-24 1996-01-10 ティーディーケイ株式会社 クリーン搬送方法及び装置
JPH07122616A (ja) * 1993-10-21 1995-05-12 Ebara Corp 半導体製造装置
WO1996025760A1 (fr) * 1995-02-15 1996-08-22 Hitachi, Ltd. Procede et machine de fabrication de semiconducteurs
JP4029968B2 (ja) * 2002-07-01 2008-01-09 株式会社アドバンスト・ディスプレイ 搬送車、製造装置及び搬送システム
JP2010080469A (ja) * 2008-09-24 2010-04-08 Tokyo Electron Ltd 真空処理装置及び真空搬送装置
US7897525B2 (en) * 2008-12-31 2011-03-01 Archers Inc. Methods and systems of transferring, docking and processing substrates
JP5159743B2 (ja) * 2009-10-15 2013-03-13 株式会社カネカ Cvd装置
JP5938194B2 (ja) * 2011-11-11 2016-06-22 株式会社ダイヘン 基板搬送装置
KR20210127226A (ko) * 2019-02-14 2021-10-21 퍼시몬 테크놀로지스 코포레이션 모듈 자재 취급 로봇 플랫폼
KR20220075636A (ko) * 2020-11-30 2022-06-08 세메스 주식회사 기판 처리 장치

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002217263A (ja) 2001-01-12 2002-08-02 Tokyo Electron Ltd 被処理体の搬送システム及び被処理体の搬送方法
JP2002313870A (ja) 2001-04-11 2002-10-25 Canon Inc ガラス基板移動台車
JP2002313876A (ja) 2001-04-19 2002-10-25 Murata Mach Ltd 無人搬送車
JP2002343847A (ja) 2001-05-18 2002-11-29 Nec Yamaguchi Ltd ウェハ搬送装置
WO2003073497A1 (fr) 2002-02-28 2003-09-04 Tokyo Electron Limited Corps de cuve recevant un milieu a traiter et systeme de traitement
JP2004363207A (ja) 2003-06-03 2004-12-24 Advanced Display Inc 搬送システム及びこれに用いる搬送車とステーション
KR101310079B1 (ko) 2012-08-13 2013-09-23 주식회사 디스닉스 도킹구조를 가지는 오토 로더
JP2015115517A (ja) 2013-12-13 2015-06-22 シンフォニアテクノロジー株式会社 基板搬送装置及びefem

Also Published As

Publication number Publication date
JP2024006122A (ja) 2024-01-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7021881B2 (en) Semiconductor processing apparatus comprising chamber partitioned into reaction and transfer sections
JP4493955B2 (ja) 基板処理装置及び搬送ケース
JP4531557B2 (ja) 半導体処理ツール内チャンバ間の相互汚染の減少
KR101155534B1 (ko) 진공처리장치
JP4123249B2 (ja) 真空処理装置およびその運転方法
JP2012501549A (ja) 大面積基板処理システム用ロードロックチャンバ
KR101238768B1 (ko) 진공처리장치
TWI408766B (zh) Vacuum processing device
KR20010049306A (ko) 청정실, 청정 이송 방법 및 청정 이송 장치
JP2011504288A5 (ja)
US9748124B2 (en) Vacuum processing apparatus and operating method thereof
JP2011124565A (ja) 半導体被処理基板の真空処理システム及び半導体被処理基板の真空処理方法
JP7307240B1 (ja) 真空ウエーハ搬送システム
JP2000150613A (ja) 被処理体の搬送装置
JP7307241B1 (ja) 基板自動搬送装置
JPH0697258A (ja) 連続真空処理装置
KR20060026851A (ko) 처리 장치
WO2005001925A1 (ja) 真空処理装置の操作方法
JP5892828B2 (ja) 真空処理装置
JP3983133B2 (ja) クリーンボックスおよび当該ボックスに対する基板のローディング方法
US11527426B2 (en) Substrate processing device
JP3605692B2 (ja) 搬送処理方法及び搬送処理装置
US20230097418A1 (en) Loadlock apparatus and substrate processing apparatus including the same
JPH06132379A (ja) 真空処理装置及び真空処理方法
WO2014041656A1 (ja) 真空処理装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20220701

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20220701

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220722

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20220723

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220818

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20221022

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20221226

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230111

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20221227

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230408

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20230628

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20230629

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7307241

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150