JP7234099B2 - 電子放出素子 - Google Patents

電子放出素子 Download PDF

Info

Publication number
JP7234099B2
JP7234099B2 JP2019204811A JP2019204811A JP7234099B2 JP 7234099 B2 JP7234099 B2 JP 7234099B2 JP 2019204811 A JP2019204811 A JP 2019204811A JP 2019204811 A JP2019204811 A JP 2019204811A JP 7234099 B2 JP7234099 B2 JP 7234099B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electron
emitting device
group
diamond
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2019204811A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2021077560A (ja
Inventor
重哉 木村
学史 吉田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2019204811A priority Critical patent/JP7234099B2/ja
Priority to US17/015,561 priority patent/US11657997B2/en
Publication of JP2021077560A publication Critical patent/JP2021077560A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7234099B2 publication Critical patent/JP7234099B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J1/00Details of electrodes, of magnetic control means, of screens, or of the mounting or spacing thereof, common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
    • H01J1/02Main electrodes
    • H01J1/34Photo-emissive cathodes
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B32/00Carbon; Compounds thereof
    • C01B32/25Diamond
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2002/00Crystal-structural characteristics
    • C01P2002/50Solid solutions
    • C01P2002/52Solid solutions containing elements as dopants
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2006/00Physical properties of inorganic compounds
    • C01P2006/40Electric properties
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2201/00Electrodes common to discharge tubes
    • H01J2201/34Photoemissive electrodes
    • H01J2201/342Cathodes
    • H01J2201/3421Composition of the emitting surface
    • H01J2201/3423Semiconductors, e.g. GaAs, NEA emitters

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Geology (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Common Detailed Techniques For Electron Tubes Or Discharge Tubes (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Description

本発明の実施形態は、電子放出素子に関する。
例えば、入射した光に基づいて電子を放出する電子放出素子がある。電子放出素子において、効率の向上が望まれる。
特開2007-80697号公報
本発明の実施形態は、効率を向上できる電子放出素子を提供する。
本発明の実施形態によれば、電子放出素子は、第1部材及び第2部材を含む。前記第1部材は、n形の半導体部材を含む。前記第2部材は、p形のダイヤモンド部材を含む。前記ダイヤモンド部材は、ダイヤモンド及びグラファイトよりなる群から選択された少なくとも1つを含む。前記半導体部材は、第1材料、第2材料及び第3材料よりなる群から選択された少なくとも1つを含む。前記第1材料は、B、Al、In及びGaからなる群から選択された少なくとも1つと、窒素と、を含む。前記第2材料は、ZnO及びZnMgOからなる群から選択された少なくとも1つを含む。前記第3材料は、BaTiO、PbTiO、Pb(Zr,Ti1-x)O、KNbO、LiNbO、LiTaO、NaWO、Zn、BaNaNb、PbKNb15及びLiからなる群から選択された少なくとも1つを含む。
図1は、第1実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。 図2は、第1実施形態に係る電子放出素子を例示する模式図である。 図3は、第1実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。 図4は、第1実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。 図5は、第1実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。 図6は、第1実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。 図7は、第1実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。 図8は、第1実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。 図9は、第1実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。 図10は、第2実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。 図11は、第2実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。 図12は、第2実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。 図13は、第3実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。
以下に、本発明の各実施の形態について図面を参照しつつ説明する。
図面は模式的または概念的なものであり、各部分の厚さと幅との関係、部分間の大きさの比率などは、必ずしも現実のものと同一とは限らない。同じ部分を表す場合であっても、図面により互いの寸法や比率が異なって表される場合もある。
本願明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には同一の符号を付して詳細な説明は適宜省略する。
(第1実施形態)
図1は、第1実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。
図1に示すように、実施形態に係る電子放出素子110は、第1部材10及び第2部材20を含む。第1部材10及び第2部材20は、例えば、容器17の中に設けられる。容器17の中の空間は、例えば、減圧状態に維持可能である。容器17の中の空間は、例えば、ヘリウム、ネオン、アルゴン、クリプトン、キセノン及びラドンよりなる群から選択された少なくとも1つを含むガスを含んでも良い。電子放出素子110は、容器17を含んでも良い。
第1部材10は、n形の半導体部材15を含む。第2部材20は、p形のダイヤモンド部材25を含む。ダイヤモンド部材25は、ダイヤモンド及びグラファイトよりなる群から選択された少なくとも1つのを含む。例えば、第2部材20に含まれるダイヤモンド部材25は、B及びAlよりなる群から選択された少なくとも1つの第1元素を含む。
半導体部材15は、第1材料、第2材料及び第3材料よりなる群から選択された少なくとも1つを含む。第1材料は、B、Al、In及びGaからなる群から選択された少なくとも1つと、窒素と、を含む。例えば、第1材料は、AlGaNを含む。第2材料は、ZnO及びZnMgOからなる群から選択された少なくとも1つを含む。第3材料は、BaTiO、PbTiO、Pb(Zr,Ti1-x)O、KNbO、LiNbO、LiTaO、NaWO、Zn、BaNaNb、PbKNb15及びLiからなる群から選択された少なくとも1つを含む。例えば、半導体部材15は、分極を有する。
例えば、電子放出素子110に、光61が入射する。電子放出素子110は、入射した光61に応じて、電子62を放出する。例えば、光61のピーク波長は、300nm以下である。例えば、光61のピーク波長は、210nm以下でも良い。
例えば、電子62は、第1部材10の表面から放出される。例えば、第1部材10は、第1面11及び第2面12を含む。第2面12は、第2部材20と第1面11との間にある。例えば、電子62は、第1面11から放出される。
例えば、第2部材20は、第3面23及び第4面24を含む。第3面23は、第4面24と第1部材10との間にある。図1の例では、光61は、第4面24から第2部材20に入射する。その光61に応じた電子62が第1面11から放出される。
実施形態においては、例えば、ワイドバンドギャップのp形のダイヤモンド部材25が用いられる。入射した光61により生じた移動可能な電子が、第1部材10の表面から、外部領域18に効率よく放出できる。外部領域18は、第1部材10の外部であり、容器17の中の領域である。実施形態によれば、効率を向上できる電子放出素子が提供できる。電子放出素子110は、例えば、フォトカソードである。
例えば、第1参考例のフォトカソードにおいて、ダイヤモンドの表面が水素で終端される。この表面からから電子が放出される。第1参考例においては、表面の水素が離脱する可能性がある。このため、電子を安定して放出することが困難である。第1参考例の寿命は短い。
例えば、第2参考例のフォトカソードにおいて、例えば、Csを含むGaN層などが用いられる。第2参考例においては、Csが離脱する可能性がある。このため、電子を安定して放出することが困難である。
例えば、第3参考例のフォトカソードにおいて、例えば、p形のAlGaN層と、n形のGaN層と、が組み合わされる。Al組成比が高いAlGaNにおいて、p形の不純物(例えばMgなど)を高濃度で導入することは、実用的に困難である。第3参考例の構造は、製造が困難である。
これに対して、実施形態においては、例えば、n形のAlGaNなどの半導体部材15と、p形のダイヤモンド部材25と、が用いられる。水素終端またはCsなどを含まないため、安定した特性が得られる。実施形態に係る電子放出素子においては、寿命が長い。p形のAlGaN層などを用いないため、製造が容易である。ダイヤモンド部材25は、p形不純物の第1元素を高い濃度で含むことができる。
実施形態においては、例えば、半導体部材15と、ダイヤモンド部材25と、の間のバンドエネルギーの差を大きくすることができる。例えば、半導体部材15のエネルギーを外部領域18のエネルギーに近づける、または、半導体部材15のエネルギーを外部領域18のエネルギーよりも高くすることができる。これにより、半導体部材15から外部領域18へ、高い効率で電子を放出できる。
図1に示すように、第2部材20から第1部材10への方向を第1方向(Z軸方向)とする。第1方向に沿う第1部材10の厚さt1は、例えば、10nm以下である。このような厚さにより、高い効率で、電子62が放出される。後述するように、第1部材10は島状でも良い。
第1方向(Z軸方向)に沿う第2部材20の厚さt2は、例えば、10nm以上1mm以下である。後述するように、基体により第2部材20が支持される場合は、第2部材20の厚さt2は、30nm以下でも良い。
図2は、第1実施形態に係る電子放出素子を例示する模式図である。
図2は、電子放出素子110のエネルギーバンドのプロファイルを例示している。図2の横軸は、Z軸方向である。縦軸は、エネルギーEgである。図2には、価電子帯のエネルギーEvと、伝導帯のエネルギーEcと、が示されている。図2に示すように、第2部材20における、エネルギーEv及びエネルギーEcは、第1部材10と第2部材20との間の界面の近傍で大きく曲がる。光61が入射したときに、電子62は、第2部材20から第1部材10への向きに効率良く移動できる。例えば、電子62は、外部領域18のエネルギーレベルVacを越えて、第1部材10から外部領域18に放出される。ホール63は、第1部材10から第2部材20への向きに移動する。実施形態においては、高い効率で電子を放出できる。
実施形態において、第1部材10は、多結晶を含んでも良い。例えば、半導体部材15は、第1材料、第2材料及び第3材料よりなる群から選択された少なくとも1つの多結晶を含んでも良い。例えば、半導体部材15の製造が容易である。半導体部材15及び第1部材10は、例えば、MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)、MBE(Molecular Beam Eepitaxy)、スパッタ、CVD(Chemical Vapor Deposition)、PLD(Physical Vapor Deposition)、または、ALD(Atomic layer deposition)などの方法により形成されても良い。
実施形態において、第2部材20は、ダイヤモンドの多結晶を含んでも良い。第2部材20は、グラファイトを含んでも良い。これにより、第2部材20の製造が容易になる。
電子放出素子110においては、第2部材20は、第1部材10と接する。後述するように、第2部材20と第1部材10との間に、別の部材が設けられても良い。
実施形態において、半導体部材15が上記の第1材料(AlGaNなど)を含む場合、半導体部材15におけるn形の不純物の濃度は、例えば、1×1016/cm以上5×1019/cm以下である。このような濃度において、特に高い効率での電子の放出が得られる。
実施形態において、半導体部材15は、上記の第1材料(AlGaN)を含むことが好ましい。これにより、例えば、大きな分極が得られる。半導体部材15が上記の第1材料を含むことで、例えば、高いn形キャリア濃度が得られる。高い効率が得やすい。
実施形態において、半導体部材15は、上記の第2材料(ZnO及びZnMgOからなる群から選択された少なくとも1つ)を含むことが好ましい。これにより、例えば、大きな分極が得られる。半導体部材15が上記の第2材料を含むことで、例えば、高いn形キャリア濃度が得られる。高い効率が得やすい。
図3は、第1実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。
図3に示すように、電子放出素子110において、光61が第1面11から第2部材20に入射しても良い。この場合も、光61に応じた電子62が第1面11から放出される。図3においては、容器17が省略されている。
図4は、第1実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。
図4に示すように、実施形態に係る電子放出素子111において、半導体部材15は、Al及びGaからなる群から選択された少なくとも1つと、窒素と、を含む。半導体部材15は、例えば、AlGaNまたはAlNを含む。
半導体部材15は、第1領域15a及び第2領域15bを含む。第2領域15bは、第2部材20と第1領域15aとの間にある。第2領域15bにおけるAlの組成比は、第1領域15aにおけるAlの組成比よりも高い。例えば、第1領域15aは、n形のAlGaNである。例えば、第2領域15bは、n形のAlNである。第1領域15aと第2領域15bとの間の境界は、明確でも良く、不明確でも良い。
図5は、第1実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。
図5に示すように、実施形態に係る電子放出素子112において、半導体部材15は、Al及びGaからなる群から選択された少なくとも1つと、窒素と、を含む。半導体部材15は、第1領域15a及び第2領域15bを含む。半導体部材15におけるAl組成比が、段階的または連続的に、第2面12から第1面11への向きに低下しても良い。
電子放出素子111及び112において、例えば、半導体部材15とダイヤモンド部材25との間に形成される空乏領域を低減することができる。
図6は、第1実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。
図6に示すように、実施形態に係る電子放出素子113は、第1部材10及び第2部材20に加えて、基体50を含む。第2部材20は、基体50と第1部材10との間に設けられる。基体50は、例えば、基板である。
基体50の厚さ(Z軸方向に沿う長さ)は、例えば、5nm以上1000μm以下である。基体50は、第2部材20及び第1部材10を支持可能である。基体50が設けられる場合、第2部材20の厚さは、例えば、30nm以下でも良い。基体50により第2部材20が支持されるため、安定した第2部材20が得やすくなる。第2部材20を低コストで得ることができる。
基体50は、光透過性を有しても良い。例えば、光61は、基体50を介して、第2部材20に入射できる。基体50は、例えば、Al、AlN、GaN及びMgOよりなる群から選択された少なくとも1つなどを含む。
図7は、第1実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。
図7に示すように、実施形態に係る電子放出素子114において、第1部材10は、島状である。例えば、複数の島状の第1部材10の間において、第2部材20の表面が露出しも良い。電子放出素子114においては、安定した第1部材10を容易に得ることができる。例えば、第1部材10を低いコストで得ることができる。
図8は、第1実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。
図8に示すように、実施形態に係る電子放出素子115は、第1部材10及び第2部材20に加えて、第3部材30を含む。第3部材30は、第2部材20と第1部材10との間に設けられる。第3部材30は、例えば、SiCを含む。このSiCは、p形である。電子放出素子115においては、例えば、400nm程度までの長波長の光の吸収が得られ、電子放出を得ることができる。
第3部材30(SiC)のZ軸方向の厚さは、例えば、5nm以上100nm以下である。厚さが5nm以上のときに、例えば、400nm程度までの長波長光を吸収することが容易になる。厚さが100nm以下のときに、例えば、第2部材20から第1部材10への電子の輸送が容易になる。
図9は、第1実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。
図9に示すように、実施形態に係る電子放出素子116は、第1部材10及び第2部材20に加えて、第3部材30を含む。第3部材30は、第2部材20と第1部材10との間に設けられる。
電子放出素子116において、第1部材10に含まれる半導体部材15は、Al及びGaからなる群から選択された少なくとも1つと、窒素と、を含む。半導体部材15は、例えば、n形のAlGaNを含む。
第3部材30は、例えば、In及びGaと、窒素と、を含む。第3部材30は、例えば、InGaNを含む。このInGaNは、例えば、p形である。電子放出素子116においては、例えば、可視光も吸収し、電子放出を得ることができる。
電子放出素子116において、第3部材30(例えば、p形のInGaN)のZ軸方向の厚さは、例えば、5nm以上100nm以下である。厚さが5nm以上のときに、例えば、可視光を吸収することが容易になる。厚さが100nm以下のときに、例えば、第3部材30の結晶性を維持することが容易になる。
(第2実施形態)
図10は、第2実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。
図10に示すように、実施形態に係る電子放出素子120は、第1部材10及び第2部材20に加えて、発光部70をさらに含む。第2部材20は、発光部70と第1部材10との間に設けられる。
発光部70から光61が放出される。光61は、第2部材20に入射する。第1部材10から光61に応じた電子62が放出される。例えば、発光部70は、所望のタイミングで所望の強度の光61を出射可能である。例えば、所望のタイミングで所望の量の電子を第1部材10から放出されることができる。
発光部70は、例えば、LED(light emitting diode)、または、LD(Laser Diode)を含む。
図11は、第2実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。
図11に示すように、実施形態に係る電子放出素子121は、第1部材10、第2部材20及び発光部70に加えて、第4部材40をさらに含む。第4部材40は、発光部70と第2部材20との間にある。第4部材40は、例えば、基体として機能しても良い。例えば、第4部材40は、第2部材20及び第1部材10を支持しても良い。
第4部材40は、例えば、光透過性を有する。発光部70から放出された光61は、第4部材40を通過して第2部材20に入射する。光61に応じた電子62が第1部材10から放出される。電子放出素子121において、第4部材40は、例えば、Al、AlN、GaN及びMgOよりなる群から選択された少なくとも1つなどを含む。
図12は、第2実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。
図12に示すように、実施形態に係る電子放出素子122は、第1部材10、第2部材20及び発光部70に加えて、第4部材40をさらに含む。第4部材40は、発光部70と第2部材20との間にある。
電子放出素子122において、第4部材40は、ダイヤモンド及びグラファイトよりなる群から選択された少なくとも1つ(例えばダイヤモンド部材45)を含む。第4部材40のダイヤモンド部材45における不純物の濃度は、第2部材20のダイヤモンド部材25に含まれる不純物の濃度よりも低い。
例えば、第2部材20に含まれるダイヤモンド部材25は、B及びAlよりなる群から選択された少なくとも1つの第1元素を含む。1つの例において、第4部材40に含まれるダイヤモンド部材45は第1元素を含まない。別の例において、第4部材40に含まれるダイヤモンド部材45における第1元素の濃度は、第2部材20に含まれるダイヤモンド部材25における第1元素の濃度よりも低い。電子放出素子122においては、例えば、高品質なダイヤモンド部材25及び45が得られる。
電子放出素子122において、第4部材40のZ軸方向の厚さは、例えば、5nm以上1mm以下である。厚さが5nm以上のときに、例えば、発光部70とダイヤモンド部材25とを電気的に絶縁することが容易になる。厚さが1mm以下のときに、例えば、ダイシング(分断)などの加工が容易になる。
(第3実施形態)
図13は、第3実施形態に係る電子放出素子を例示する模式的断面図である。
図13に示すように、実施形態に係る電子放出素子130は、第1部材10及び第2部材20に加えて、電極75をさらに含む。例えば、電極75の電位を制御することで、第1部材10から放出された電子62を取り出し易くすることができる。電極75の電位を制御することで、電子62を加速することができる。電極75は、第1実施形態または第2実施形態に係る任意の構成に設けることができる。
図4~図13においては、容器17が省略されている。電子放出素子111~116、120~122及び130は、容器17を含んでも良い。
実施形態は、以下の構成(例えば、技術案)を含んでも良い。
(構成1)
n形の半導体部材を含む第1部材と、
p形のダイヤモンド部材を含む第2部材であって、前記ダイヤモンド部材は、ダイヤモンド及びグラファイトよりなる群から選択された少なくとも1つを含む、前記第2部材と、
を備え、
前記半導体部材は、第1材料、第2材料及び第3材料よりなる群から選択された少なくとも1つを含み、
前記第1材料は、B、Al、In及びGaからなる群から選択された少なくとも1つと、窒素と、を含み、
前記第2材料は、ZnO及びZnMgOからなる群から選択された少なくとも1つを含み、
前記第3材料は、BaTiO、PbTiO、Pb(Zr,Ti1-x)O、KNbO、LiNbO、LiTaO、NaWO、Zn、BaNaNb、PbKNb15及びLiからなる群から選択された少なくとも1つを含む、電子放出素子。
(構成2)
入射した光に応じて電子を放出する、構成1記載の電子放出素子。
(構成3)
前記光のピーク波長は、300nm以下である、構成2記載の電子放出素子。
(構成4)
前記光のピーク波長は、210nm以下である、構成2記載の電子放出素子。
(構成5)
前記第1部材は、第1面及び第2面を含み、
前記第2面は、前記第2部材と前記第1面との間にあり、
前記電子は、前記第1面から放出される、構成2~4のいずれか1つに記載の電子放出素子。
(構成6)
前記半導体部材は、前記第1材料、前記第2材料及び前記第3材料よりなる群から選択された前記少なくとも1つの多結晶を含む、構成1~5のいずれか1つに記載の電子放出素子。
(構成7)
前記第2部材は、ダイヤモンドの多結晶を含む、構成1~6のいずれか1つに記載の電子放出素子。
(構成8)
前記第2部材から前記第1部材への第1方向に沿う前記第1部材の厚さは、10nm以下である、構成1~7のいずれか1つに記載の電子放出素子。
(構成9)
前記第2部材から前記第1部材への第1方向に沿う前記第2部材の厚さは、30nm以下である、構成1~7のいずれか1つに記載の電子放出素子。
(構成10)
前記半導体部材は、分極を有する、構成1~9のいずれか1つに記載の電子放出素子。
(構成11)
基体をさらに備え、
前記第2部材は、前記基体と前記第1部材との間に設けられた、構成1~10のいずれか1つに記載の電子放出素子。
(構成12)
前記半導体部材は、前記第1材料を含み、
前記第1材料は、Mg、Zn及びCの少なくともいずれかを含む、構成1~11のいずれか1つに記載の電子放出素子。
(構成13)
前記半導体部材は、Al及びGaよりなる群から選択された少なくとも1つと、窒素と、を含み、
前記半導体部材は、
第1領域及び第2領域を含み、
前記第2領域は、前記第2部材と前記第1領域との間にあり、
前記第2領域におけるAlの組成比は、前記第1領域におけるAlの組成比よりも高い、構成1~11のいずれか1つに記載の電子放出素子。
(構成14)
前記第2部材は、前記第1部材と接する、構成1~12のいずれか1つに記載の電子放出素子。
(構成15)
第3部材をさらに備え、
前記第3部材は、前記第2部材と前記第1部材との間に設けられ、
前記第3部材は、SiCを含む、構成1~12のいずれか1つに記載の電子放出素子。
(構成16)
第3部材をさらに備え、
前記第3部材は、前記第2部材と前記第1部材との間に設けられ、
前記半導体部材は、Al及びGaからなる群から選択された少なくとも1つと、窒素と、を含み、
前記第3部材は、In及びGaと、窒素と、を含む、構成1~12のいずれか1つに記載の電子放出素子。
(構成17)
前記第1部材は、島状である、構成1~16のいずれか1つに記載の電子放出素子。
(構成18)
発光部をさらに備え、
前記第2部材は、前記発光部と前記第1部材との間に設けられた、構成1~17のいずれか1つに記載の電子放出素子。
(構成19)
光透過性の第4部材をさらに備え、
前記第4部材は、前記発光部と前記第2部材との間にある、構成18記載の電子放出素子。
(構成20)
前記第4部材はダイヤモンド及びグラファイトよりなる群から選択された少なくとも1つを含み、
前記第2部材に含まれる前記ダイヤモンド部材は、B及びAlよりなる群から選択された少なくとも1つの第1元素を含み、
前記第4部材に含まれる前記ダイヤモンド部材は前記第1元素を含まない、または、前記第4部材に含まれる前記ダイヤモンド部材における前記第1元素の濃度は、前記第2部材に含まれる前記ダイヤモンド部材における前記第1元素の濃度よりも低い、構成19記載の電子放出素子。
(構成21)
前記第1部材は、第1面及び第2面を含み、
前記第2面は、前記第2部材と前記第1面との間にあり、
光が前記第1面から前記第2部材に入射し、
前記光に応じた電子が前記第1面から放出される、構成1記載の電子放出素子。
(構成22)
前記第1部材は、第1面及び第2面を含み、
前記第2面は、前記第2部材と前記第1面との間にあり、
前記第2部材は、第3面及び第4面を含み、
前記第3面は、前記第4面と前記第1部材との間にあり、
光が前記第4面から前記第2部材に入射し、
前記光に応じた電子が前記第1面から放出される、構成1記載の電子放出素子。
実施形態によれば、効率を向上できる電子放出素子が提供できる。
以上、具体例を参照しつつ、本発明の実施の形態について説明した。しかし、本発明は、これらの具体例に限定されるものではない。例えば、電子放出素子に含まれる第1部材、第2部材、第3部材、第4部材、基体及び電極などの各要素の具体的な構成に関しては、当業者が公知の範囲から適宜選択することにより本発明を同様に実施し、同様の効果を得ることができる限り、本発明の範囲に包含される。
また、各具体例のいずれか2つ以上の要素を技術的に可能な範囲で組み合わせたものも、本発明の要旨を包含する限り本発明の範囲に含まれる。
その他、本発明の実施の形態として上述した電子放出素子を基にして、当業者が適宜設計変更して実施し得る全ての電子放出素子も、本発明の要旨を包含する限り、本発明の範囲に属する。
その他、本発明の思想の範疇において、当業者であれば、各種の変更例及び修正例に想到し得るものであり、それら変更例及び修正例についても本発明の範囲に属するものと了解される。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
10…第1部材、 11、12…第1、第2面、 15…半導体部材、 15a、15b…第1、第2領域、 17…容器、 18…外部領域、 20…第2部材、 23、24…第3、第4面、 25…ダイヤモンド部材、 30…第3部材、 40…第4部材、 45…ダイヤモンド部材、 50…基体、 61…光、 62…電子、 63…ホール、 70…発光部、 75…電極、 110~116、120~122、130…電子放出素子、 Ec、Eg、Ev…エネルギー、 Vac…エネルギーレベル、 t1、t2…厚さ

Claims (19)

  1. n形の半導体部材を含む第1部材と、
    p形のダイヤモンド部材を含む第2部材であって、前記ダイヤモンド部材は、ダイヤモンド及びグラファイトよりなる群から選択された少なくとも1つを含む、前記第2部材と、
    を備え、
    前記半導体部材は、第1材料、第2材料及び第3材料よりなる群から選択された少なくとも1つを含み、
    前記第1材料は、B、Al、In及びGaからなる群から選択された少なくとも1つと、窒素と、を含み、
    前記第2材料は、ZnO及びZnMgOからなる群から選択された少なくとも1つを含み、
    前記第3材料は、BaTiO、PbTiO、Pb(Zr,Ti1-x)O、KNbO、LiNbO、LiTaO、NaWO、Zn、BaNaNb、PbKNb15及びLiからなる群から選択された少なくとも1つを含
    前記半導体部材は、Al及びGaよりなる群から選択された少なくとも1つと、窒素と、を含み、
    前記半導体部材は、
    第1領域及び第2領域を含み、
    前記第2領域は、前記第2部材と前記第1領域との間にあり、
    前記第2領域におけるAlの組成比は、前記第1領域におけるAlの組成比よりも高い、電子放出素子。
  2. n形の半導体部材を含む第1部材と、
    p形のダイヤモンド部材を含む第2部材であって、前記ダイヤモンド部材は、ダイヤモンド及びグラファイトよりなる群から選択された少なくとも1つを含む、前記第2部材と、
    第3部材と、
    を備え、
    前記半導体部材は、第1材料、第2材料及び第3材料よりなる群から選択された少なくとも1つを含み、
    前記第1材料は、B、Al、In及びGaからなる群から選択された少なくとも1つと、窒素と、を含み、
    前記第2材料は、ZnO及びZnMgOからなる群から選択された少なくとも1つを含み、
    前記第3材料は、BaTiO、PbTiO、Pb(Zr,Ti1-x)O、KNbO、LiNbO、LiTaO、NaWO、Zn、BaNaNb、PbKNb15及びLiからなる群から選択された少なくとも1つを含
    前記第3部材は、前記第2部材と前記第1部材との間に設けられ、
    前記第3部材は、SiCを含む、電子放出素子。
  3. n形の半導体部材を含む第1部材と、
    p形のダイヤモンド部材を含む第2部材であって、前記ダイヤモンド部材は、ダイヤモンド及びグラファイトよりなる群から選択された少なくとも1つを含む、前記第2部材と、
    第3部材と、
    を備え、
    前記半導体部材は、第1材料、第2材料及び第3材料よりなる群から選択された少なくとも1つを含み、
    前記第1材料は、B、Al、In及びGaからなる群から選択された少なくとも1つと、窒素と、を含み、
    前記第2材料は、ZnO及びZnMgOからなる群から選択された少なくとも1つを含み、
    前記第3材料は、BaTiO、PbTiO、Pb(Zr,Ti1-x)O、KNbO、LiNbO、LiTaO、NaWO、Zn、BaNaNb、PbKNb15及びLiからなる群から選択された少なくとも1つを含
    前記第3部材は、前記第2部材と前記第1部材との間に設けられ、
    前記半導体部材は、Al及びGaからなる群から選択された少なくとも1つと、窒素と、を含み、
    前記第3部材は、In及びGaと、窒素と、を含む、電子放出素子。
  4. n形の半導体部材を含む第1部材と、
    p形のダイヤモンド部材を含む第2部材であって、前記ダイヤモンド部材は、ダイヤモンド及びグラファイトよりなる群から選択された少なくとも1つを含む、前記第2部材と、
    発光部と、
    光透過性の第4部材と、
    を備え、
    前記半導体部材は、第1材料、第2材料及び第3材料よりなる群から選択された少なくとも1つを含み、
    前記第1材料は、B、Al、In及びGaからなる群から選択された少なくとも1つと、窒素と、を含み、
    前記第2材料は、ZnO及びZnMgOからなる群から選択された少なくとも1つを含み、
    前記第3材料は、BaTiO、PbTiO、Pb(Zr,Ti1-x)O、KNbO、LiNbO、LiTaO、NaWO、Zn、BaNaNb、PbKNb15及びLiからなる群から選択された少なくとも1つを含
    前記第2部材は、前記発光部と前記第1部材との間に設けられ、
    前記第4部材は、前記発光部と前記第2部材との間にある、電子放出素子。
  5. 前記第4部材はダイヤモンド及びグラファイトよりなる群から選択された少なくとも1つを含み、
    前記第2部材に含まれる前記ダイヤモンド部材は、B及びAlよりなる群から選択された少なくとも1つの第1元素を含み、
    前記第4部材に含まれる前記ダイヤモンド部材は前記第1元素を含まない、または、前記第4部材に含まれる前記ダイヤモンド部材における前記第1元素の濃度は、前記第2部材に含まれる前記ダイヤモンド部材における前記第1元素の濃度よりも低い、請求項記載の電子放出素子。
  6. 入射した光に応じて電子を放出する、請求項1~5のいずれか1つに記載の電子放出素子。
  7. 前記光のピーク波長は、300nm以下である、請求項記載の電子放出素子。
  8. 前記光のピーク波長は、210nm以下である、請求項記載の電子放出素子。
  9. 前記第1部材は、第1面及び第2面を含み、
    前記第2面は、前記第2部材と前記第1面との間にあり、
    前記電子は、前記第1面から放出される、請求項のいずれか1つに記載の電子放出素子。
  10. 前記半導体部材は、多結晶を含み、
    前記多結晶は、前記第1材料、前記第2材料及び前記第3材料よりなる群から選択された前記少なくとも1つを含む、請求項1~のいずれか1つに記載の電子放出素子。
  11. 前記第2部材は、ダイヤモンドの多結晶を含む、請求項1~10のいずれか1つに記載の電子放出素子。
  12. 前記第2部材から前記第1部材への第1方向に沿う前記第1部材の厚さは、10nm以下である、請求項1~11のいずれか1つに記載の電子放出素子。
  13. 前記第2部材から前記第1部材への第1方向に沿う前記第2部材の厚さは、30nm以下である、請求項1~11のいずれか1つに記載の電子放出素子。
  14. 前記半導体部材は、分極を有する、請求項1~13のいずれか1つに記載の電子放出素子。
  15. 基体をさらに備え、
    前記第2部材は、前記基体と前記第1部材との間に設けられた、請求項1~1のいずれか1つに記載の電子放出素子。
  16. 前記半導体部材は、前記第1材料を含み、
    前記第1材料は、Mg、Zn及びCの少なくともいずれかを含む、請求項1~1のいずれか1つに記載の電子放出素子。
  17. 前記第1部材は、島状である、請求項1~16のいずれか1つに記載の電子放出素子。
  18. 前記第1部材は、第1面及び第2面を含み、
    前記第2面は、前記第2部材と前記第1面との間にあり、
    光が前記第1面から前記第2部材に入射し、
    前記光に応じた電子が前記第1面から放出される、請求項1~4のいずれか1つに記載の電子放出素子。
  19. 前記第1部材は、第1面及び第2面を含み、
    前記第2面は、前記第2部材と前記第1面との間にあり、
    前記第2部材は、第3面及び第4面を含み、
    前記第3面は、前記第4面と前記第1部材との間にあり、
    光が前記第4面から前記第2部材に入射し、
    前記光に応じた電子が前記第1面から放出される、請求項1~4のいずれか1つに記載の電子放出素子。
JP2019204811A 2019-11-12 2019-11-12 電子放出素子 Active JP7234099B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019204811A JP7234099B2 (ja) 2019-11-12 2019-11-12 電子放出素子
US17/015,561 US11657997B2 (en) 2019-11-12 2020-09-09 Electron-emitting element

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019204811A JP7234099B2 (ja) 2019-11-12 2019-11-12 電子放出素子

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2021077560A JP2021077560A (ja) 2021-05-20
JP7234099B2 true JP7234099B2 (ja) 2023-03-07

Family

ID=75846813

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019204811A Active JP7234099B2 (ja) 2019-11-12 2019-11-12 電子放出素子

Country Status (2)

Country Link
US (1) US11657997B2 (ja)
JP (1) JP7234099B2 (ja)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000123716A (ja) 1998-10-09 2000-04-28 Fujitsu Ltd 微小電子源
JP2000149767A (ja) 1998-11-09 2000-05-30 Kobe Steel Ltd 反射型光電陰極及び透過型光電陰極
US20030048075A1 (en) 2001-09-11 2003-03-13 Korea Advanced Institute Of Science And Technology Photocathode having ultra-thin protective layer
JP2003249164A (ja) 2002-02-22 2003-09-05 Hamamatsu Photonics Kk 透過型光電陰極及び電子管
JP2006040725A (ja) 2004-07-27 2006-02-09 Matsushita Electric Works Ltd 電子線露光用電子源
JP2010067452A (ja) 2008-09-10 2010-03-25 Sumitomo Electric Ind Ltd 電子放射陰極、電子顕微鏡および電子ビーム露光機
JP2017195178A (ja) 2016-04-15 2017-10-26 大学共同利用機関法人 高エネルギー加速器研究機構 スピン偏極高輝度電子発生フォトカソード及びその製造方法

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5898269A (en) 1995-07-10 1999-04-27 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Jr. University Electron sources having shielded cathodes
US5684360A (en) * 1995-07-10 1997-11-04 Intevac, Inc. Electron sources utilizing negative electron affinity photocathodes with ultra-small emission areas
CN1119829C (zh) 1996-09-17 2003-08-27 浜松光子学株式会社 光电阴极及装备有它的电子管
JP3642664B2 (ja) * 1996-09-17 2005-04-27 浜松ホトニクス株式会社 光電陰極及びそれを備えた電子管
JP3580973B2 (ja) 1997-02-10 2004-10-27 浜松ホトニクス株式会社 光電面
JPH1167063A (ja) * 1997-08-08 1999-03-09 Pioneer Electron Corp 電子放出素子及びこれを用いた表示装置
JP3768658B2 (ja) 1997-10-16 2006-04-19 浜松ホトニクス株式会社 二次電子放出装置、製造方法及びそれを用いた電子管
JP3762535B2 (ja) * 1998-02-16 2006-04-05 浜松ホトニクス株式会社 光電陰極及び電子管
JP2000357449A (ja) 1999-06-15 2000-12-26 Hamamatsu Photonics Kk 光電面、二次電子面及び電子管
US6759800B1 (en) 1999-07-29 2004-07-06 Applied Materials, Inc. Diamond supported photocathodes for electron sources
US6396049B1 (en) 2000-01-31 2002-05-28 Northrop Grumman Corporation Microchannel plate having an enhanced coating
JP5007034B2 (ja) 2005-09-14 2012-08-22 公益財団法人高輝度光科学研究センター 光電変換素子及びそれを用いた電子線発生装置
JP2010500779A (ja) * 2006-08-11 2010-01-07 イー・アイ・デュポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニー デバイスチップキャリア、モジュールおよびその製造方法
JP2009252413A (ja) 2008-04-02 2009-10-29 Kobe Steel Ltd 電子線源
JP2017084505A (ja) * 2015-10-23 2017-05-18 株式会社豊田中央研究所 真空スイッチ
US10403718B2 (en) * 2017-12-28 2019-09-03 Nxp Usa, Inc. Semiconductor devices with regrown contacts and methods of fabrication

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000123716A (ja) 1998-10-09 2000-04-28 Fujitsu Ltd 微小電子源
JP2000149767A (ja) 1998-11-09 2000-05-30 Kobe Steel Ltd 反射型光電陰極及び透過型光電陰極
US20030048075A1 (en) 2001-09-11 2003-03-13 Korea Advanced Institute Of Science And Technology Photocathode having ultra-thin protective layer
JP2003249164A (ja) 2002-02-22 2003-09-05 Hamamatsu Photonics Kk 透過型光電陰極及び電子管
JP2006040725A (ja) 2004-07-27 2006-02-09 Matsushita Electric Works Ltd 電子線露光用電子源
JP2010067452A (ja) 2008-09-10 2010-03-25 Sumitomo Electric Ind Ltd 電子放射陰極、電子顕微鏡および電子ビーム露光機
JP2017195178A (ja) 2016-04-15 2017-10-26 大学共同利用機関法人 高エネルギー加速器研究機構 スピン偏極高輝度電子発生フォトカソード及びその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2021077560A (ja) 2021-05-20
US11657997B2 (en) 2023-05-23
US20210142973A1 (en) 2021-05-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101622309B1 (ko) 나노구조의 발광소자
KR101342664B1 (ko) 자외선 발광소자
JP4881491B2 (ja) 半導体発光素子
US20110050080A1 (en) Electron emission element
JP2013089974A (ja) 窒化物半導体発光素子
US20140319454A1 (en) Nitride semiconductor light emitting device
US8080818B2 (en) Light emitting device
JP2017098328A (ja) 垂直共振器型発光素子
JP4519423B2 (ja) 半導体を用いた光デバイス
JP2010141331A (ja) 半導体発光素子及びその製造方法
JP7234099B2 (ja) 電子放出素子
JP2006261358A (ja) 半導体発光素子
KR100558455B1 (ko) 질화물 반도체 소자
KR101886437B1 (ko) 질화물 반도체 발광소자 및 그 제조방법
EP1024513B1 (en) Semiconductor photoelectric surface
KR101747732B1 (ko) 발광소자
JP7129630B2 (ja) 発光素子および発光素子の製造方法
JP5135465B2 (ja) 半導体発光素子及びその製造方法
JP2013069795A (ja) 半導体発光素子
JP2021061272A (ja) 半導体発光素子および半導体発光素子の製造方法
JP5426315B2 (ja) ZnO系化合物半導体素子
JP4699764B2 (ja) 半導体発光素子
JP6670401B2 (ja) 半導体積層体
JP2017195213A (ja) 半導体発光素子
JP2004228212A (ja) 酸化物半導体発光素子

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20220225

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20221116

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20221122

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230105

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20230124

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20230222

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 7234099

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151