JP7221037B2 - 質量分析システムにおけるインサイチュ調整 - Google Patents
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Description
ここで開示されている主題により提供される例示的な実施形態は、以下を含むが、これらに限定されない。
なお、出願当初の特許請求の範囲の記載は以下の通りである。
請求項1:
質量分析(MS)システムを動作させる方法であって、該方法は、
サンプルを前記MSシステムのイオン源に導入することなく、第1の調整ガスを該イオン源に流し込むことと、
前記第1の調整ガスをイオン化することであって、前記イオン源は前記第1の調整ガスによって調整されることと、
前記第1の調整ガスを流し込んだ後に、サンプルを前記イオン源に導入することなく、第2の調整ガスを前記イオン源に流し込むことと、
前記第2の調整ガスをイオン化することであって、前記イオン源は前記第2の調整ガスによって調整されることと、
前記第2の調整ガスを流し込んだ後に、サンプルを前記調整済みのイオン源に導入し、該サンプルから分析データを収集することによって該サンプルを分析することと、
を含み、
前記第1の調整ガスは体積比で少なくとも90%の水素ガスを含む組成を有し、
前記第2の調整ガスは体積比で0%から90%未満までの水素ガスを含む組成を有する、方法。
請求項2:
前記第2の調整ガスは、以下の事項、すなわち、
前記第2の調整ガスは、炭化水素、アンモニア、メチルアミン、ケトン、アルコール、アセトニトリル、シラン、シラン誘導体、及び前述のものの2つ以上の組み合わせからなる群から選択された化合物を含む、
前記第2の調整ガスは、メタン、ブタン、イソブタン、ペンタン、ヘキサン、トルエン、ベンゼン、キシレン及び前述のものの2つ以上の組み合わせからなる群から選択された化合物を含む、
第2の調整ガスは、アセトン、メタノール、エタノール及び前述のものの2つ以上の組み合わせからなる群から選択された化合物を含む、
のうちの1つである、請求項1に記載の方法。
請求項3:
前記第1の調整ガス及び前記第2の調整ガスは、以下、
前記第1の調整ガスは2つ以上の異なるガスの混合物である、
前記第2の調整ガスは2つ以上の異なるガスの混合物である、
上記の事項の両方である、
からなる群から選択された組成を有する、請求項1又は2に記載の方法。
請求項4:
前記第2の調整ガスを流し込んだ後に、前記第1の調整ガスを前記イオン源に流し込むステップを繰り返すか、又は前記第1の調整ガス及び前記第2の調整ガスを前記イオン源に流し込むステップを繰り返すことを含む、請求項1~3のいずれか一項に記載の方法。
請求項5:
前記第2の調整ガスを流し込んだ後に、サンプルを前記イオン源に導入することなく、第3の調整ガスを前記イオン源に流し込むことと、該第3の調整ガスをイオン化することとを含み、前記イオン源は前記第3の調整ガスによって調整され、前記第3の調整ガスは、体積比で0%から90%未満までの水素ガスを含む組成を有し、前記第3の調整ガスは前記第2の調整ガスとは異なる、請求項1~4のいずれか一項に記載の方法。
請求項6:
以下の事項、すなわち、
前記サンプルを導入することは、前記サンプルをキャリアガスとともに前記調整済みのイオン源に流し込むことを含む、
前記サンプルを導入することは、前記サンプルをキャリアガスとともに前記調整済みのイオン源に流し込むことを含み、前記キャリアガスは前記第1の調整ガス及び前記第2の調整ガスとは異なる、
のうちの一方を含む、請求項1~5のいずれか一項に記載の方法。
請求項7:
前記第2の調整ガスを流し込んだ後に導入される前記サンプルは第2のサンプルであり、以下の事項、すなわち、
前記第1の調整ガスを前記イオン源に流し込む前に、第1のサンプルを前記イオン源に導入し、該第1のサンプルから分析データを収集することによって該第1のサンプルを分析すること、
前記第1の調整ガスを前記イオン源に流し込む前に、第1のサンプルを前記イオン源に導入し、該第1のサンプルから分析データを収集することによって該第1のサンプルを分析することであって、前記第1のサンプルを導入することは、前記第1のサンプルをキャリアガスとともに前記イオン源に流し込むことを含むこと、
のうちの1つを更に含む、請求項1~6のいずれか一項に記載の方法。
請求項8:
前記第1の調整ガス又は前記第2の調整ガスの少なくとも一方を前記イオン源に流し込みながら、前記第1の調整ガス又は前記第2の調整ガスの前記少なくとも一方を加熱することを含む、請求項1~7のいずれか一項に記載の方法。
請求項9:
前記第1の調整ガス及び前記第2の調整ガスをイオン化することは、前記第1の調整ガス及び前記第2の調整ガスに電子又は光子を照射することを含む、請求項1~8のいずれか一項に記載の方法。
請求項10:
請求項1~9のいずれか一項に記載の方法を実行するように構成される質量分析(MS)システム。
104 質量分析計
108 調整ガスシステム
112 サンプル(又はサンプル/キャリアガス)注入口又はインターフェース
116 MSハウジング
120 イオン源(又はイオン化装置)
124 質量分析器
128 イオン検出器
132 真空システム
136 イオン化チャンバ
140 イオン化デバイス
156 流量コントローラ
168 システムコントローラ(又は、システム制御モジュール)
176 電子プロセッサ
180 データベース
204、212 調整ガス源
208、216 調整ガス管
220 ガス流量コントローラ(又は流量制御モジュール)
230 ガスクロマトグラフ(GC、又はGCシステム)
234 GCハウジング
238 サンプル導入デバイス
242 キャリアガス源
246 GCカラム
250 加熱デバイス
252 カラム注入口
254 カラム排出口
256 コイル状の部分
260 サンプル容器
264 キャリアガス管
268 ガス流量コントローラ
Claims (10)
- 質量分析(MS)システムを動作させる方法であって、
サンプルを前記MSシステムのイオン源に導入することなく、第1の調整ガスを該イオン源に流し込むことと、
前記第1の調整ガスをイオン化することであって、前記イオン源は前記第1の調整ガスによって調整されることと、
前記第1の調整ガスを流し込んだ後に、サンプルを前記イオン源に導入することなく、第2の調整ガスを前記イオン源に流し込むことと、
前記第2の調整ガスをイオン化することであって、前記イオン源は前記第2の調整ガスによって調整されることと、
前記第2の調整ガスを流し込んだ後に、サンプルを前記調整済みのイオン源に導入し、該サンプルから分析データを収集することによって該サンプルを分析することと
を含み、
前記第1の調整ガスは体積比で少なくとも90%の水素ガスを含む組成を有し、
前記第2の調整ガスは体積比で0%から90%未満までの水素ガスを含む組成を有する、方法。 - 前記第2の調整ガスは、以下の事項、すなわち、
前記第2の調整ガスは、炭化水素、アンモニア、メチルアミン、ケトン、アルコール、アセトニトリル、シラン、シラン誘導体、及び前述のものの2つ以上の組み合わせからなる群から選択された化合物を含む、
前記第2の調整ガスは、メタン、ブタン、イソブタン、ペンタン、ヘキサン、トルエン、ベンゼン、キシレン及び前述のものの2つ以上の組み合わせからなる群から選択された化合物を含む、
第2の調整ガスは、アセトン、メタノール、エタノール及び前述のものの2つ以上の組み合わせからなる群から選択された化合物を含む、
のうちの1つである、請求項1に記載の方法。 - 前記第1の調整ガス及び前記第2の調整ガスは、以下、
前記第1の調整ガスは2つ以上の異なるガスの混合物である、
前記第2の調整ガスは2つ以上の異なるガスの混合物である、
上記の事項の両方である、
からなる群から選択された組成を有する、請求項1又は2に記載の方法。 - 前記第2の調整ガスを流し込んだ後に、前記第1の調整ガスを前記イオン源に流し込むステップを繰り返すか、又は前記第1の調整ガス及び前記第2の調整ガスを前記イオン源に流し込むステップを繰り返すことを含む、請求項1~3のいずれか一項に記載の方法。
- 前記第2の調整ガスを流し込んだ後に、サンプルを前記イオン源に導入することなく、第3の調整ガスを前記イオン源に流し込むことと、該第3の調整ガスをイオン化することとを含み、前記イオン源は前記第3の調整ガスによって調整され、前記第3の調整ガスは、体積比で0%から90%未満までの水素ガスを含む組成を有し、前記第3の調整ガスは前記第2の調整ガスとは異なる、請求項1~4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記サンプルを導入することは、前記サンプルをキャリアガスとともに前記調整済みのイオン源に流し込むことを含むものであることと、
前記サンプルを導入することは、前記サンプルを、前記第1の調整ガス及び前記第2の調整ガスとは異なるキャリアガスとともに前記調整済みのイオン源に流し込むことを含むものであることと
のうちのいずれか一方を含む、請求項1~5のいずれか一項に記載の方法。 - 前記第2の調整ガスを流し込んだ後に導入される前記サンプルは第2のサンプルであり、更に、
前記第1の調整ガスを前記イオン源に流し込む前に、第1のサンプルを前記イオン源に導入し、該第1のサンプルから分析データを収集することによって該第1のサンプルを分析することと、
前記第1の調整ガスを前記イオン源に流し込む前に、第1のサンプルをキャリアガスとともに前記イオン源に流し込むことを含むように該第1のサンプルを前記イオン源に導入し、該第1のサンプルから分析データを収集することによって該第1のサンプルを分析することと
のうちのいずれか1つを含む、請求項1~6のいずれか一項に記載の方法。 - 前記第1の調整ガス又は前記第2の調整ガスの少なくとも一方を前記イオン源に流し込みながら、前記第1の調整ガス又は前記第2の調整ガスの前記少なくとも一方を加熱することを含む、請求項1~7のいずれか一項に記載の方法。
- 前記第1の調整ガス及び前記第2の調整ガスをイオン化することは、前記第1の調整ガス及び前記第2の調整ガスに電子又は光子を照射することを含む、請求項1~8のいずれか一項に記載の方法。
- 請求項1~9のいずれか一項に記載の方法を実行するように構成される質量分析(MS)システム。
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002298776A (ja) | 2001-03-29 | 2002-10-11 | Anelva Corp | イオン化装置 |
JP2007170985A (ja) | 2005-12-22 | 2007-07-05 | Hitachi Ltd | 化学物質モニタ装置および化学物質モニタ装置のクリーニング方法 |
JP2013061324A (ja) | 2011-09-09 | 2013-04-04 | Agilent Technologies Inc | 質量分析計システムにおける現場調整 |
JP2013175321A (ja) | 2012-02-24 | 2013-09-05 | Nippon Api Corp | 質量分析装置及びその使用方法、並びにガス透過特性測定方法 |
JP2015115202A (ja) | 2013-12-12 | 2015-06-22 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析方法 |
Family Cites Families (34)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
USRE33344E (en) | 1977-04-22 | 1990-09-18 | Finnigan Corporation | Apparatus and method for detecting negative ions |
US4833319A (en) | 1987-02-27 | 1989-05-23 | Hughes Aircraft Company | Carrier gas cluster source for thermally conditioned clusters |
US4994096A (en) | 1989-05-09 | 1991-02-19 | Hewlett-Packard Co. | Gas chromatograph having integrated pressure programmer |
GB2291200A (en) | 1994-07-15 | 1996-01-17 | Ion Track Instr | Ion mobility spectrometer and method of operation for enhanced detection of narotics |
DE19538031C2 (de) | 1995-01-17 | 2002-11-28 | Agilent Technologies Inc | Chromatograph mit gesteuertem Ofen |
US5942752A (en) | 1996-05-17 | 1999-08-24 | Hewlett-Packard Company | Higher pressure ion source for two dimensional radio-frequency quadrupole electric field for mass spectrometer |
GB9612070D0 (en) | 1996-06-10 | 1996-08-14 | Micromass Ltd | Plasma mass spectrometer |
US6537461B1 (en) | 2000-04-24 | 2003-03-25 | Hitachi, Ltd. | Process for treating solid surface and substrate surface |
US7399958B2 (en) | 1999-07-21 | 2008-07-15 | Sionex Corporation | Method and apparatus for enhanced ion mobility based sample analysis using various analyzer configurations |
US7838842B2 (en) * | 1999-12-13 | 2010-11-23 | Semequip, Inc. | Dual mode ion source for ion implantation |
US6808933B1 (en) | 2000-10-19 | 2004-10-26 | Agilent Technologies, Inc. | Methods of enhancing confidence in assays for analytes |
US6765215B2 (en) | 2001-06-28 | 2004-07-20 | Agilent Technologies, Inc. | Super alloy ionization chamber for reactive samples |
US7836450B2 (en) | 2003-08-28 | 2010-11-16 | Mips Technologies, Inc. | Symmetric multiprocessor operating system for execution on non-independent lightweight thread contexts |
DE10346768A1 (de) | 2003-10-06 | 2005-04-21 | Zimmer Ag | Verfahren zur automatischen Analyse von polymerhaltigem Abfall und Analyseautomat hierzu |
US8003934B2 (en) | 2004-02-23 | 2011-08-23 | Andreas Hieke | Methods and apparatus for ion sources, ion control and ion measurement for macromolecules |
CA2604820A1 (en) | 2004-02-23 | 2005-09-09 | Gemio Technologies, Inc. | Ion source with controlled superposition of electrostatic and gas flow fields |
DE102004014582B4 (de) | 2004-03-25 | 2009-08-20 | Bruker Daltonik Gmbh | Ionenoptische Phasenvolumenkomprimierung |
KR100915716B1 (ko) | 2005-08-31 | 2009-09-04 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 클리닝 방법 |
DE102005054605B4 (de) | 2005-11-16 | 2010-09-30 | Bruker Daltonik Gmbh | Automatische Reinigung von Ionenquellen |
US7812307B2 (en) | 2006-01-20 | 2010-10-12 | Agilent Technologies, Inc. | Microplasma-based sample ionizing device and methods of use thereof |
US20070224693A1 (en) | 2006-03-22 | 2007-09-27 | Prest Harry F | Interlocked hydrogen source for gas chromatography |
CN101473073B (zh) | 2006-04-26 | 2012-08-08 | 高级技术材料公司 | 半导体加工系统的清洁 |
US7642510B2 (en) | 2006-08-22 | 2010-01-05 | E.I. Du Pont De Nemours And Company | Ion source for a mass spectrometer |
US20080083874A1 (en) | 2006-10-10 | 2008-04-10 | Prest Harry F | Vacuum interface for mass spectrometer |
EP1925935A1 (en) | 2006-11-23 | 2008-05-28 | Varian B.V. | Gas detection system and method |
US20090014644A1 (en) | 2007-07-13 | 2009-01-15 | Inficon, Inc. | In-situ ion source cleaning for partial pressure analyzers used in process monitoring |
US20090194679A1 (en) | 2008-01-31 | 2009-08-06 | Agilent Technologies, Inc. | Methods and apparatus for reducing noise in mass spectrometry |
IL193003A (en) | 2008-07-23 | 2011-12-29 | Aviv Amirav | Open probe method and device for sample introduction for mass spectrometry analysis |
US8210026B2 (en) | 2008-12-10 | 2012-07-03 | Agilent Technologies, Inc. | System for integrated backflush in a gas chromatograph |
US8003959B2 (en) * | 2009-06-26 | 2011-08-23 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Ion source cleaning end point detection |
US20110108058A1 (en) * | 2009-11-11 | 2011-05-12 | Axcelis Technologies, Inc. | Method and apparatus for cleaning residue from an ion source component |
TWI689467B (zh) * | 2010-02-26 | 2020-04-01 | 美商恩特葛瑞斯股份有限公司 | 用以增進離子植入系統中之離子源的壽命及性能之方法與設備 |
JP2014137901A (ja) * | 2013-01-16 | 2014-07-28 | Nissin Ion Equipment Co Ltd | イオン注入装置およびイオン注入装置の運転方法 |
CN104966660B (zh) * | 2015-07-27 | 2018-04-24 | 北京凯尔科技发展有限公司 | 一种质子转移质谱仪及其使用方法 |
-
2017
- 2017-12-18 US US15/846,158 patent/US10580632B2/en active Active
-
2018
- 2018-12-07 JP JP2018229549A patent/JP7221037B2/ja active Active
- 2018-12-11 EP EP18211505.5A patent/EP3499547A1/en active Pending
- 2018-12-18 CN CN201811548024.5A patent/CN109950122A/zh active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002298776A (ja) | 2001-03-29 | 2002-10-11 | Anelva Corp | イオン化装置 |
JP2007170985A (ja) | 2005-12-22 | 2007-07-05 | Hitachi Ltd | 化学物質モニタ装置および化学物質モニタ装置のクリーニング方法 |
JP2013061324A (ja) | 2011-09-09 | 2013-04-04 | Agilent Technologies Inc | 質量分析計システムにおける現場調整 |
JP2013175321A (ja) | 2012-02-24 | 2013-09-05 | Nippon Api Corp | 質量分析装置及びその使用方法、並びにガス透過特性測定方法 |
JP2015115202A (ja) | 2013-12-12 | 2015-06-22 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3499547A1 (en) | 2019-06-19 |
CN109950122A (zh) | 2019-06-28 |
US10580632B2 (en) | 2020-03-03 |
US20190189413A1 (en) | 2019-06-20 |
JP2019109233A (ja) | 2019-07-04 |
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