JP7182804B2 - 反射防止フィルム - Google Patents
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Description
図1は、本発明の一実施形態の反射防止フィルム1を示す模式的な断面である。本実施形態の反射防止フィルム1は、透明基材2と、核付金属3と、反射防止層4とを備える。反射防止層4は、第1の屈折層41と、第1の屈折層41よりも屈折率の低い第2の屈折層42とが交互に積層された層である。核付金属3は、核付金属が点在された層である。核付金属は、酸化チタンを含む。以下、それぞれについて説明する。
透明基材2は特に限定されない。一例を挙げると、透明基材2は、透明性を有する樹脂フィルムであればよく、セルロース系樹脂(たとえば、トリアセチルセルロース、ジアセチルセルロース、プロピオニルセルロース、ブチリルセルロース、アセチルプロピオニルセルロース、ニトロセルロース)、ポリアミド系樹脂(たとえば、ナイロン-6、ナイロン-66)、ポリイミド系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、ポリエステル系樹脂(たとえば、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリ-1,4-シクロヘキサンジメチレンテレフタレート、ポリエチレン-1,2-ジフェノキシエタン-4,4’-ジカルボキシレート、ポリブチレンテレフタレート)、ポリオレフィン系樹脂(例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリメチルペンテン)、ポリスルホン系樹脂、ポリエーテルスルホン系樹脂、ポリアリレート系樹脂、ポリエーテルイミド系樹脂、ポリメチルメタクリレート系樹脂、ポリエーテルケトン系樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリビニルアルコール樹脂、エチレンビニルアルコール樹脂、(メタ)アクリル樹脂、(メタ)アクリロニトリル樹脂等である。透明基材2は、単層であってもよく、複数の樹脂フィルムの積層体であってもよい。また、透明基材2は、後述するハードコート層が設けられてもよい。さらに、透明基材2は、任意の添加剤を含有し得る。添加剤は、たとえば、帯電防止剤、紫外線吸収剤、可塑剤、滑剤、着色剤、酸化防止剤、難燃剤等である。
核付金属3は、透明基材2と反射防止層4との密着性を向上させるために設けられている。核付金属3は、透明基材2と反射防止層4との間に点在している。また、核付金属3は、金属が連続した膜として存在しているのではなく、金属が点在している。
反射防止層4は、第1の屈折層41と、第1の屈折層41よりも屈折率の低い第2の屈折層42とが交互に積層された層である。なお、本実施形態において、屈折率の測定は、たとえば、エリプソメーターで測定し得る。
第1の屈折層41を構成する材料(高屈折材料)は特に限定されない。一例を挙げると、高屈折材料は、酸化チタン(TiO2、屈折率:2.5)、酸化ニオブ(NbOy(1≦y≦2.5))、酸化セレン(Ce2O2、屈折率:2.4)、酸化タンタル(Ta2O5、屈折率:2.3)、酸化ジルコニウム(ZrO2、屈折率:2.1)等である。これらの中でも、高屈折材料は、スパッタリング率、信頼性から、酸化ニオブ(NbOy(1≦y≦2.5))であることが好ましく、五酸化二ニオブ(Nb2O5、屈折率:2.3)であることがより好ましい。
第2の屈折層42は、第1の屈折層41よりも屈折率が小さい。第2の屈折層42を構成する材料(低屈折材料)は特に限定されない。一例を挙げると、低屈折材料は、酸化ケイ素(SiOx(1≦x≦2)、屈折率:1.46)、フッ化マグネシウム(MgF2、屈折率:1.38)等である。これらの中でも、低屈折材料は、スパッタリング率、信頼性から、酸化ケイ素(SiOx(1≦x≦2))であることが好ましく、二酸化ケイ素(SiO2、屈折率:1.46)であることがより好ましい。
本実施形態の反射防止フィルム1は、上記した透明基材2、核付金属3および反射防止層4に加え、他の層が設けられてもよい。他の層は、たとえば、ハードコート層、防汚層等である。
ハードコート層は、透明基材の少なくとも何れか一方の面に好適に設けられる。図1では、透明基材の両面にハードコート層(ハードコート層2aおよびハードコート層2b)が設けられている場合が例示されている。ハードコート層が設けられることにより、反射防止フィルム1は、より優れた耐久性、耐薬品性等を示し得る。
防汚層5は、反射防止フィルム1の最表面を覆うことにより、指紋等の汚れの付着を抑制したり、付着した汚れを容易に除去し得るよう設けられる。また、表面がすべりやすくなることで、耐擦傷性が設けられる。具体的には、防汚層5は、上記した反射防止層4のうち、最表層を構成する層(第2の屈折層42)を覆うように設けられる。
PETからなる透明基材(厚み100μm)を準備した。透明基材に対して、ウェットコーティング法(2本リバース法)により、厚み1.5μmのハードコート層(アクリル酸エステル組成物)を形成した。次いで、Tiスパッタリングターゲットを、マグネトロンスパッタリング装置にセットし、スパッタリングを行い、上記ハードコート層上にTiOxからなる核付金属(厚み1.3nm)を形成した。次いで、NbOxとSiターゲットをマグネトロンスパッタリング装置にセットし、Ar、O2雰囲気下でスパッタリングを行い、第1屈折層(Nb2O5層、厚み15nm)、第2屈折層(SiO2層、厚み28nm)、第1屈折層(Nb2O5層、厚み120nm)、第2屈折層(SiO2層、厚み90nm)を順に形成した。これにより、透明基材(樹脂フィルム/ハードコート層)/核付金属(TiOx)/第1屈折層(Nb2O5層)/第2屈折層(SiO2層)/第1屈折層(Nb2O5層)/第2屈折層(SiO2層)からなる層構成の反射防止フィルムを作製した。
表1に示される原材料および寸法に変更した以外は、実施例1と同様の方法により、反射防止フィルムを作製した。なお、比較例2のみ、核付金属に代えて、SiOxからなる密着層を設けた。
全光線透過率は、紫外可視分光光度計(UV3600、(株)島津製作所製)を用いて、反射防止層を表面とする場合において、380~780nmの波長における視感透過率(条件:全透過率測定からの視感反射率計算)を測定することにより算出した。
正反射率は、紫外可視分光光度計(UV3600、(株)島津製作所製)を用いて、反射防止層を表面とする場合において、380~780nmの波長における5°正反射の条件にて測定した。測定に際し、透明基材側の表面には、黒ビニルテープを貼り、裏面反射の影響を排除した。
成膜後と、耐湿熱試験(温度85℃、湿度85%、1000時間)後の反射防止フィルムに対し、透明基材まで到達する切込みを等間隔(1.5mm)で11本入れ、90°向きを変えてさらに切込みを等間隔(1.5mm)で11本入れ、反射防止フィルムを縦横10×10個に切り分けた。この上に、セロハン粘着テープを貼付け、消しゴムで擦って 塗膜にテープを付着させた。1~2分後に、テープの端を持って塗膜面に直角に保ち瞬間的にテープを引き剥がし、残存した反射防止層の状態を評価した。
4質量%に調整した水酸化カリウム溶液が入った容器をウォーターバスに入れ、溶液温度を45℃に調整した。その溶液に、反射防止フィルムを3分間浸漬し、塗膜の有無を確認した。
表2に示される原材料および寸法に変更した以外は、実施例1と同様の方法により、反射防止フィルムを作製した。PET(ポリエチレンテレフタレート)からなる透明基材は厚み188μm、TAC(トリアセチルセルロース)からなる透明基材は厚み80μmのものを使用した。なお、実施例3~5では、核付金属としてTiOxを用い、比較例5~6では、核付金属としてSiOxを用いた。比較例3~4は、核付金属を用いなかった。また、実施例5は、反射防止層が2層の構成である。
上記のとおりである。
上記のとおりである。
2質量%に調整した水酸化カリウム溶液が入った容器をウォーターバスに入れ、溶液温度を45℃に調整した。その溶液に、反射防止フィルムを2分間浸漬し、水洗して水分を拭き取った後、浸漬部分に対して以下評価を行った。
・表層SiO2残存率
表層の第2屈折層の残存率を確認した。残存率は、反射分光膜厚計(FE-3000、大塚電子(株)製)により、スペクトルフィッティング解析を行い測定した。
2 透明基材
2a、2b ハードコート層
3 核付金属
4 反射防止層
41 第1屈折層
42 第2屈折層
5 防汚層
Claims (4)
- 透明基材と、核付金属と、反射防止層とを備え、
前記反射防止層は、第1の屈折層と、前記第1の屈折層よりも屈折率の低い第2の屈折層とが交互に積層された層であり、
前記核付金属は、前記透明基材と前記反射防止層との間に点在しており、
前記核付金属は、酸化チタンであり、
前記反射防止層は、
前記反射防止層の最表層がSiO2を含む第2の屈折層であり、
前記第1の屈折層が、酸化ニオブからなり、前記核付金属を覆うよう形成されている、反射防止フィルム。 - 波長450nm~700nmの範囲における反射率の最大値が、2.0%以下である、請求項1記載の反射防止フィルム。
- 前記透明基材は、少なくともいずれか一方にハードコート層を備える、請求項1または2記載の反射防止フィルム。
- 全光線透過率のY値は、91.0%以上である、請求項1~3のいずれか1項に記載の反射防止フィルム。
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Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000338302A (ja) | 1999-05-26 | 2000-12-08 | Sony Corp | 反射防止膜及び画像表示装置 |
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Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2000338302A (ja) | 1999-05-26 | 2000-12-08 | Sony Corp | 反射防止膜及び画像表示装置 |
| CN101441282A (zh) | 2007-11-22 | 2009-05-27 | 东丽世韩株式会社 | 用于光学应用的叠层膜 |
| US20090148696A1 (en) | 2007-12-07 | 2009-06-11 | Toppan Printing Co., Ltd. | Hard coat film and display using the same |
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