JP7182400B2 - X線ct装置 - Google Patents

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Description

本発明の実施形態は、X線CT(Computed Tomography)装置に関する。
被検体の体内組織が画像化された医用画像データを生成する医用画像診断装置が存在する。医用画像診断装置としては、X線CT装置及びMRI(Magnetic Resonance Imaging)装置等が挙げられる。X線CT装置は、被検体にX線を照射することでX線検出器が検出したX線に基づく電気信号に基づいて、被検体のアキシャル断層又は3次元のCT画像データを生成する。
X線CT装置は、X線管及びX線検出器等を備える架台装置を含む。架台装置に備えられる複数の部材の中には、発熱ユニット等が含まれるため、架台装置内部の空気と熱交換により架台装置内部の排熱を行う。X線CT装置は、架台回転部に搭載された発熱ユニット等の近傍に設けられるファン(以下、「回転部ユニットファン」という)により発熱ユニット等を強制冷却し、架台装置に搭載されるファン(以下、「架台ファン」という)により、架台装置内部のエアの排熱を行う。
特開2002-65659号公報
本発明が解決しようとする課題は、回転部に設けられる冷却対象ユニットの冷却効率の向上、又は、装置の静音化を実現することである。
実施形態に係るX線CT装置は、回転部と、フィンとを備える。回転部は、冷却対象ユニットを回転可能に保持する。フィンは、回転部に設けられ、冷却対象ユニットの近傍の流速が冷却対象ユニットの近傍以外の空間における流速と比して速くなるように設けられる。
図1は、実施形態に係るX線CT装置の構成を示す概略図。 図2は、実施形態に係るX線CT装置に設けられる架台装置を示す断面図。 図3は、実施形態に係るX線CT装置に設けられる架台装置の回転フレームを示す斜視図。 図4は、実施形態に係るX線CT装置に設けられる架台装置の回転フレームを示すX-Y断面図であり、回転フレーム回転時のフィンの機能を示す図。 図5は、実施形態に係るX線CT装置に設けられる架台装置を示す断面図。 図6は、実施形態に係るX線CT装置に設けられる架台装置の回転フレームを示すX-Y断面図であり、回転フレーム回転時のフィンの機能を示す図。 図7は、実施形態に係るX線CT装置に設けられる架台装置を示す断面図。 図8は、実施形態に係るX線CT装置に設けられる架台装置の回転フレームを示すX-Y断面図であり、回転フレーム回転時のフィンの機能を示す図。 図9は、実施形態に係るX線CT装置に設けられる架台装置を示す断面図。
以下、図面を参照しながら、X線CT装置の実施形態について詳細に説明する。
なお、X線CT装置によるデータ収集方式には、X線源とX線検出器とが1体として被検体の周囲を回転する回転/回転(R-R:Rotate/Rotate)方式や、リング状に多数の検出素子がアレイされ、X線管のみが被検体の周囲を回転する固定/回転(S-R:Stationary/Rotate)方式等の様々な方式がある。いずれの方式でも本発明を適用可能である。以下、実施形態に係るX線CT装置では、現在、主流を占めている第3世代の回転/回転方式を採用する場合を例にとって説明する。
図1は、実施形態に係るX線CT装置の構成を示す概略図である。
図1は、実施形態に係るX線CT装置1を示す。X線CT装置1は、架台装置10、寝台装置30、及びコンソール装置40を備える。架台装置10及び寝台装置30は、検査室に設置される。架台装置10は、寝台装置30に載置された被検体(例えば、患者)Pに関するX線の検出データ(「純生データ」とも呼ばれる)を収集する。図1において、説明の便宜上、架台装置10を左側の上下に複数描画しているが、実際の構成としては、架台装置10は1つである。
コンソール装置40は、複数ビュー分の検出データに対して前処理を施すことで生データを生成し、生データに対して再構成処理を施すことでCT画像を再構成して表示する。
架台装置10は、X線源(例えば、X線管)11、X線検出器12、回転部(例えば、回転フレーム)13、X線高電圧装置14、制御装置15、ウェッジ16、コリメータ17、データ収集回路(DAS:Data Acquisition System)18を備える。なお、架台装置10は、架台部の一例である。
X線管11は、回転フレーム13に備えられる。X線管11は、X線高電圧装置14からの高電圧の印加により、陰極(フィラメント)から陽極(ターゲット)に向けて熱電子を照射することでX線を発生する真空管である。例えば、X線管11には、回転する陽極に熱電子を照射することでX線を発生させる回転陽極型のX線管がある。
なお、実施形態においては、一管球型のX線CT装置にも、X線管とX線検出器との複数のペアを回転リングに搭載したいわゆる多管球型のX線CT装置にも適用可能である。なお、X線管11は、X線照射部の一例である。
X線検出器12は、X線管11に対向するように回転フレーム13に備えられる。X線検出器12は、X線管11から照射されたX線を検出し、当該X線量に対応した検出データを電気信号としてDAS18に出力する。X線検出器12は、例えば、X線管の焦点を中心として1つの円弧に沿ってチャネル方向に複数のX線検出素子が配列された複数のX線検出素子列を有する。X線検出器12は、例えば、チャネル方向に複数のX線検出素子が配列されたX線検出素子列がスライス方向(列方向、row方向)に複数配列された構造を有する。
また、X線検出器12は、例えば、グリッドと、シンチレータアレイと、光センサアレイとを有する間接変換型の検出器である。シンチレータアレイは、複数のシンチレータを有し、シンチレータは入射X線量に応じた光子量の光を出力するシンチレータ結晶を有する。グリッドは、シンチレータアレイのX線入射側の面に配置され、散乱X線を吸収する機能を有するX線遮蔽板を有する。なお、グリッドはコリメータ(1次元コリメータ又は2次元コリメータ)と呼ばれる場合もある。光センサアレイは、シンチレータからの光量に応じた電気信号に変換する機能を有し、例えば、光電子増倍管(フォトマルチプライヤー:PMT)等の光センサを有する。
なお、X線検出器12は、入射したX線を電気信号に変換する半導体素子を有する直接変換型の検出器であっても構わない。また、X線検出器12は、X線検出部の一例である。
回転フレーム13は、X線管11及びX線検出器12を対向支持する。回転フレーム13は、後述する制御装置15による制御の下、X線管11及びX線検出器12を一体として回転させる円環状のフレームである。なお、回転フレーム13は、X線管11及びX線検出器12に加えて、X線高電圧装置14やDAS18を更に備えて支持する場合もある。また、回転フレーム13は、回転部の一例である。
このように、X線CT装置1は、X線管11とX線検出器12とを対向させて支持する回転フレーム13を患者Pの周りに回転させることで、複数ビュー、即ち、患者Pの360°分の検出データを収集する。なお、CT画像の再構成方式は、360°分の検出データを用いるフルスキャン再構成方式には限定されない。例えば、X線CT装置1は、半周(180°)+ファン角度分の検出データに基づいてCT画像を再構成するハーフ再構成方式を採ってもよい。
さらに、回転フレーム13は、冷却対象ユニットの近傍の空気の流速が冷却対象ユニットの近傍以外の空間における流速と比して速くなるようにフィンを設ける。冷却対象ユニットとは、回転フレーム13に設けられるX線管11、X線検出器12、及びDAS18等の発熱ユニットや、発熱ユニットの熱を放熱する放熱ユニット(例えば、ヒートシンク)等を含む。なお、フィンは、図2~図4において符号「T」、「T1」及び「T2」として示され、図5~図6において符号「U」として示され、図7~図8において符号「V」として示され、図9において符号「W」として示される。フィンの構成及び機能については、図2~図9を用いて後述する。
X線高電圧装置14は、回転フレーム13、又は、回転フレーム13を回転可能に支持する非回転部分(例えば図示しない固定フレーム)に備えられる。X線高電圧装置14は、変圧器(トランス)及び整流器等の電気回路を有する。X線高電圧装置14は、後述する制御装置15による制御の下、X線管11に印加する高電圧を発生する機能を有する高電圧発生装置(図示省略)と、後述する制御装置15による制御の下、X線管11が照射するX線に応じた出力電圧の制御を行うX線制御装置(図示省略)を有する。高電圧発生装置は、変圧器方式であってもよいし、インバータ方式であっても構わない。なお、図1において、説明の便宜上、X線高電圧装置14が、X線管11に対してx軸の正方向の位置に配置されているが、X線管11に対してx軸の負方向の位置に配置されてもよい。
制御装置15は、処理回路及びメモリと、モータ及びアクチュエータ等の駆動機構とを有する。処理回路及びメモリの構成については、後述するコンソール装置40の処理回路44及びメモリ41と同等であるので説明を省略する。
制御装置15は、コンソール装置40又は架台装置10に取り付けられた、後述する入力インターフェース(図示省略)からの入力信号を受けて、架台装置10及び寝台装置30の動作制御を行う機能を有する。例えば、制御装置15は、入力信号を受けて回転フレーム13を回転させる制御や、架台装置10をチルトさせる制御や、寝台装置30及び天板33を動作させる制御を行う。なお、架台装置10をチルトさせる制御は、架台装置10に取り付けられた入力インターフェースによって入力される傾斜角度(チルト角度)情報により、制御装置15がX軸方向に平行な軸を中心に回転フレーム13を回転させることによって実現される。なお、制御装置15は架台装置10に設けられてもよいし、コンソール装置40に設けられてもよい。なお、制御装置15は、制御部の一例である。
また、制御装置15は、コンソール装置40や架台装置10に取り付けられた、後述する入力インターフェースから入力された撮像条件に基づいて、X線管11の回転角度や、後述するウェッジ16及びコリメータ17の動作を制御する。
ウェッジ16は、X線管11のX線出射側に配置されるように回転フレーム13に備えられる。ウェッジ16は、制御装置15による制御の下、X線管11から照射されたX線量を調節するためのフィルタである。具体的には、ウェッジ16は、X線管11から患者Pに照射されるX線が予め定められた分布になるように、X線管11から照射されたX線を透過して減衰させるフィルタである。例えば、ウェッジ16(ウェッジフィルタ(Wedge Filter)、ボウタイフィルタ(bow-tie filter)は、所定のターゲット角度や所定の厚みとなるようにアルミニウムを加工したフィルタである。
コリメータ17は、X線絞り又はスリットとも呼ばれ、X線管11のX線出射側に配置されるように回転フレーム13に備えられる。コリメータ17は、制御装置15による制御の下、ウェッジ16を透過したX線の照射範囲を絞り込むための鉛板等であり、複数の鉛板等の組合せによってX線の照射開口を形成する。
DAS18は、回転フレーム13に備えられる。DAS18は、制御装置15による制御の下、X線検出器12の各X線検出素子から出力される電気信号に対して増幅処理を行う増幅器と、制御装置15による制御の下、電気信号をデジタル信号に変換するA/D(Analog to Digital)変換器とを有し、増幅及びデジタル変換後の検出データを生成する。DAS18によって生成された、複数ビュー分の検出データは、コンソール装置40に転送される。
ここで、DAS18によって生成された検出データは、回転フレーム13に設けられた発光ダイオード(LED)を有する送信機から光通信によって架台装置10の固定フレームに設けられたフォトダイオードを有する受信機に送信され、コンソール装置40に転送される。なお、回転フレーム13から架台装置10の固定フレームへの検出データの送信方法は、前述の光通信に限らず、非接触型のデータ伝送であれば如何なる方式を採用しても構わない。また、回転フレーム13は、回転部の一例である。
寝台装置30は、基台31、寝台駆動装置32、天板33及び支持フレーム34を備える。寝台装置30は、スキャン対象の患者Pを載置し、制御装置15による制御の下、患者Pを移動させる装置である。
基台31は、支持フレーム34を鉛直方向(y軸方向)に移動可能に支持する筐体である。寝台駆動装置32は、患者Pが載置された天板33を天板33の長軸方向(z軸方向)に移動するモータ又はアクチュエータである。支持フレーム34の上面に設けられた天板33は、患者Pを載置可能な形状を有する板である。
なお、寝台駆動装置32は、天板33に加え、支持フレーム34を天板33の長軸方向(z軸方向)に移動させてもよい。また、寝台駆動装置32は、寝台装置30の基台31ごと移動させてもよい。本発明を立位CTに応用する場合、天板33に相当する患者移動機構を移動する方式であってもよい。また、ヘリカルスキャンや位置決め等のためのスキャノ撮影等、架台装置10の撮像系と天板33の位置関係の相対的な変更を伴う撮影を実行する場合は、当該位置関係の相対的な変更は天板33の駆動によって行われてもよいし、架台装置10の固定部の走行によって行われてもよく、またそれらの複合によって行われてもよい。
なお、実施形態では、非チルト状態での回転フレーム13の回転軸又は寝台装置30の天板33の長手方向をz軸方向、z軸方向に直交し、床面に対し水平である軸方向をx軸方向、z軸方向に直交し、床面に対し垂直である軸方向をy軸方向とそれぞれ定義するものとする。
コンソール装置40は、メモリ41、ディスプレイ42、入力インターフェース43、及び処理回路44を備える。なお、コンソール装置40は架台装置10とは別体として説明するが、架台装置10にコンソール装置40又はコンソール装置40の各構成要素の一部が含まれてもよい。また、以下の説明では、コンソール装置40が単一のコンソールで全ての機能を実行するものとするが、これらの機能は、複数のコンソールが実行してもよい。なお、コンソール装置40は、医用画像処理装置の一例である。
メモリ41は、例えば、RAM(Random Access Memory)、フラッシュメモリ(Flash Memory)等の半導体メモリ素子、ハードディスク、光ディスク等によって構成される。メモリ41は、USB(Universal Serial Bus)メモリ及びDVD(Digital Versatile Disk)等の可搬型メディアによって構成されてもよい。メモリ41は、処理回路44において用いられる各種処理プログラム(アプリケーションプログラムの他、OS(Operating System)等も含まれる)や、プログラムの実行に必要なデータを記憶する。また、OSに、操作者に対するディスプレイ42への情報の表示にグラフィックを多用し、基礎的な操作を入力インターフェース43によって行うことができるGUI(Graphical User Interface)を含めることもできる。
メモリ41は、例えば、前処理前の検出データや、前処理後かつ再構成前の生データや、再構成後のCT画像を記憶する。前処理は、検出データに対する、対数変換処理、オフセット補正処理、チャンネル間の感度補正処理、ビームハードニング処理等のうち少なくとも1つを意味する。また、インターネット等の通信ネットワークを介してX線CT装置1と接続可能なクラウドサーバがX線CT装置1からの保存要求を受けて検出データや、生データや、CT画像を記憶するように構成されてもよい。なお、メモリ41は、記憶部の一例である。
ディスプレイ42は、各種の情報を表示する。例えば、ディスプレイ42は、処理回路44によって生成されたCT画像や、ユーザからの各種操作を受け付けるためのGUI(Graphical User Interface)等を出力する。例えば、ディスプレイ42は、液晶ディスプレイやCRT(Cathode Ray Tube)ディスプレイ、OLED(Organic Light Emitting Diode)ディスプレイ等である。また、ディスプレイ42は、架台装置10に設けられてもよい。また、ディスプレイ42は、デスクトップ型でもよいし、コンソール装置40本体と無線通信可能なタブレット端末等で構成されることにしてもよい。なお、ディスプレイ42は、表示部の一例である。
入力インターフェース43は、技師等の操作者によって操作が可能な入力デバイスと、入力デバイスからの信号を入力する入力回路とを含む。入力デバイスは、マウス、キーボード、トラックボール、スイッチ、ボタン、ジョイスティック、操作面に触れることで入力操作を行うタッチパッド、表示画面とタッチパッドとが一化されたタッチスクリーン、光学センサを用いた非接触入力回路、音声入力回路等によって実現される。入力デバイスが操作者から入力操作を受け付けると、入力回路は当該入力操作に応じた電気信号を生成して処理回路44に出力する。また、入力インターフェース43は、架台装置10に設けられてもよい。また、入力インターフェース43は、コンソール装置40本体と無線通信可能なタブレット端末等で構成されてもよい。なお、入力インターフェース43は、入力部の一例である。
処理回路44は、X線CT装置1の全体の動作を制御する。処理回路44は、専用又は汎用のCPU(Central Processing Unit)、MPU(Micro Processor Unit)、又はGPU(Graphics Processing Unit)の他、ASIC、及び、プログラマブル論理デバイス等を意味する。プログラマブル論理デバイスとしては、例えば、単純プログラマブル論理デバイス(SPLD:Simple Programmable Logic Device)、複合プログラマブル論理デバイス(CPLD:Complex Programmable Logic Device)、及び、フィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA:Field Programmable Gate Array)等が挙げられる。
また、処理回路44は、単一の回路によって構成されてもよいし、複数の独立した処理回路要素の組み合わせによって構成されてもよい。後者の場合、メモリは処理回路要素ごとに個別に設けられてもよいし、単一のメモリが複数の処理回路要素の機能に対応するプログラムを記憶するものであってもよい。
処理回路44は、メモリ41に記憶されたプログラムを実行することで、システム制御機能441、前処理機能442、及び再構成処理機能443を実現する。なお、機能441~443の全部又は一部は、コンソール装置40のプログラムの実行により実現される場合に限定されるものではなく、コンソール装置40にASIC等の回路として備えられる場合であってもよい。また、機能441~443の全部又は一部は、コンソール装置40のみならず、制御装置15に備えられる場合もある。
システム制御機能441は、予め設定されたスキャン条件に従って制御装置15を介してX線管11、X線検出器12、及び回転フレーム13等の動作を制御することでCTスキャンを実行させ、制御装置15から複数ビュー分の検出データを収集する機能を含む。例えば、スキャン条件は、照射X線に関する、管電流mA、管電圧kV、X線強度制御条件(モジュレーション条件)、X線管11(又は、回転フレーム13)の回転速度等を含む。なお、システム制御機能441は、スキャン制御部の一例である。
前処理機能442は、システム制御機能441によって収集された複数ビュー分の検出データに対して前処理を施すことで複数ビュー分の生データを生成する機能を含む。なお、前処理機能442は、前処理部の一例である。
再構成処理機能443は、前処理機能442によって前処理後の複数ビュー分の生データに基づいて、画像再構成処理によりCT画像データを生成する機能を含む。また、再構成処理機能443は、CT画像データをメモリ41に記憶させる機能や、CT画像データをCT画像としてディスプレイ42に表示させる機能や、CT画像データをネットワークインターフェース(図示省略)を介して外部装置に送信する機能を含む場合もある。なお、再構成処理機能443は、再構成処理部の一例である。
続いて、図2~図9を用いて、架台装置10に設けられるフィンの構成及び機能について説明する。
1.第1例に係るフィン
図2~図4は、第1例に係るフィンの構成を示す図である。図2は、架台装置10を示す断面図である。図3は、架台装置10の回転フレーム13を示す斜視図である。図4は、架台装置10の回転フレーム13を示すX-Y断面図であり、回転フレーム13回転時のフィンの機能を示す図である。
図2の左側は、架台装置10を示すX-Y断面図である。図2の右側は、架台装置10を示すII-II断面図、即ち、Y-Z断面図である。図2に示すように、架台装置10は、その内部に回転フレーム13を収容するための収容空間Gを有する固定フレームFと、収容空間G内で回転し回転空間G´を形成する回転フレーム13とを備える。回転フレーム13は、背面壁13a及び側面壁13bを有する。なお、回転フレーム13は、背面壁13aのみを備え、側面壁13bを備えない場合もある。
回転フレーム13の背面壁13aは、冷却対象ユニットを固定する。冷却対象ユニットは、例えば、DAS18等の発熱ユニットや、発熱ユニットの熱を放熱する放熱ユニット(例えば、ヒートシンク)等を含む。以下、冷却対象ユニットが、放熱ユニットとしてのヒートシンクHである場合について説明する。
また、回転フレーム13の背面壁13aは、フィンTを固定する。なお、図2において、DAS18、ヒートシンクH、及びフィンT以外のユニット(X線管等)については、図示を省略する。
固定フレームFによって形成される収容空間Gは、ヒートシンクH等の冷却対象ユニットに対して相当に広い。そのため、収容空間G内のエアの吸排気用に大型の架台ファン(DCファン)を架台装置に搭載する必要があるが、CTスキャン中に大型の架台ファンを作動させると、CTスキャン中の騒音が大きくなってしまう。また、大型の架台ファンを作動させても、回転に伴う回転空間G´内のエアフローはその一部しかヒートシンクH等の冷却対象ユニットの冷却に寄与しない。一方で、ヒートシンクHの近傍に回転部ユニットファンを設け、CTスキャン中に回転部ユニットファンを作動させると、CTスキャン中の騒音が大きくなってしまう。
そこで、回転フレーム13は、ヒートシンクHを効率的に冷却可能なフィンTを設ける。フィンTは、回転フレーム13の回転に従ってヒートシンクH及びその周辺に流れるエアをヒートシンクHに向かって絞り込み、ヒートシンクHに近づくにつれてエアの流速が高まる形状を備える。これにより、ヒートシンクHを直接的に冷却する構造、つまり、ヒートシンクHに、より大きな風量をあてることでヒートシンクHを冷却する構造がとれる。なお、フィンTは、冷却に寄与しない部分のエアフローをヒートシンクHから遠ざけるような構造とし、ヒートシンクHの近傍を陰圧にする形状を備えてもよい。
また、図3(A)は、図2に示すフィンTとしてのフィンT1を示す。フィンT1は、2枚の湾曲板によって構成される。フィンT1の各湾曲板は、回転フレーム13の背面壁13aに固定されて設けられる。
一方で、図3(B)は、図2に示すフィンTとしてのフィンT2を示す。フィンT2は、2枚の湾曲板と、X-Y平面の平板とによって構成される。フィンT2の各湾曲板は、フィンT1と同様に、回転フレーム13の背面壁13aに固定されて設けられる。
図4に示すように回転フレーム13が回転すると、回転空間G´内のエアがフィンT(図3に示すフィンT1又はT2)の大開口部側からフィンTに流入する。そして、大開口部側からフィンTに流入したエアは、フィンTの内壁側を高速で進み、小開口部側から排出されてヒートシンクHに当たりヒートシンクHを冷却する。なお、回転空間G´内の僅かなエアは、回転に伴い回転空間G´外の空間に漏れる。
なお、フィンTは、回転フレーム13に固定される場合について説明したが、その場合に限定されるものではない。例えば、フィンTは、ヒートシンクHに固定されてもよい。また、フィンTの各湾曲板の内表面に突起等が設けられてもよい。この構成により、回転フレーム13が回転すると、各湾曲板の内表面付近に乱流が発生するので、ヒートシンクHに対するより大きな冷却効率を見込める。
X線CT装置1の第1例に係るフィンT(図3に示すフィンT1又はT2)によれば、回転中のヒートシンクH等の冷却対象ユニットに当たるエアの流速を局所的に高めることでヒートシンクHの冷却効率を向上できる。それにより、冷却対象ユニット用の回転部ユニットファンを搭載する必要がなくなるので、装置の静音化を実現することができる。なお、X線CT装置1が第1例に係るフィンTを備える場合において、冷却対象ユニット用の回転部ユニットファンを搭載することを排除するものではなく、搭載された回転部ユニットファンの回転速度を落としたり、ゼロとすることで、X線CT装置1は、静音化を実現することもできる。
2.第2例に係るフィン
図5~図6は、第2例に係るフィンの構成を示す図である。図5は、架台装置10を示す断面図である。図6は、架台装置10の回転フレーム13を示すX-Y断面図であり、回転フレーム13回転時のフィンの機能を示す図である。
図5は、架台装置10を示すX-Y断面図である。なお、架台装置10のY-Z断面図については、図2の右側と同等であるので説明を省略する。図5に示すように、架台装置10は、収容空間Gを有する固定フレームFと、回転空間G´を有する回転フレーム13とを備える。
回転フレーム13(図2に右側の背面壁13a)は、フィンT(図2に図示)と同様に、フィンUを固定する。なお、図5において、DAS18、ヒートシンクH、及びフィンU以外のユニット(X線管等)については、図示を省略する。
前述したように、回転フレーム13の回転中、即ちCTスキャン中に吸排気用の大型の架台ファンを作動させても、回転に伴う回転空間G´内のエアフローはその一部しかヒートシンクHの冷却に寄与しないし、ヒートシンクHの近傍の回転部ユニットファンをCTスキャン中に作動させると、CTスキャン中の騒音が大きくなってしまう。
そこで、回転フレーム13は、ヒートシンクHを効率的に冷却可能なフィンUを設ける。フィンUは、回転フレーム13の回転中心を中心とする円周上に、複数のフィン要素を設ける。各フィン要素は、回転フレーム13(図2に右側の背面壁13a)に固定される。また、各フィン要素は、各フィン要素が固定された回転フレーム13の回転に従って、回転フレーム13の径方向にエアの流速の勾配を設け、径方向の内側より外側の方がエアの流速が高まるように湾曲している。そして、各フィン要素の径方向外側にヒートシンクHが設けられる。
回転フレーム13が回転すると、外部から吸気口Rを介して収容空間G内に吸気する。その結果、図6に示すように、回転空間G´内には、回転フレーム13の回転の径方向に流速の勾配が発生する(3列の破線矢印)。流速が大きい径方向外側にヒートシンクHが配置されているので、ヒートシンクHの近傍に回転部ユニットファンを搭載することなく、ヒートシンクHの冷却効率の向上に寄与できる。
なお、回転フレーム13は、フィンUに加え、前述のフィンTを設けることもできる。
X線CT装置1の第2例に係るフィンUによれば、回転中のヒートシンクH等の冷却対象ユニットに当たるエアの流速を高めることでヒートシンクHの冷却効率を向上できる。それにより、冷却対象ユニット用の回転部ユニットファンを搭載する必要がなくなるので、装置の静音化を実現することができる。なお、X線CT装置1が第2例に係るフィンUを備える場合において、冷却対象ユニット用の回転部ユニットファンを搭載することを排除するものではなく、搭載された回転部ユニットファンの回転速度を落としたり、ゼロとすることで、X線CT装置1は、静音化を実現することもできる。
3.第3例に係るフィン
図7~図8は、第3例に係るフィンの構成を示す図である。図7は、架台装置10を示す断面図である。図8は、架台装置10の回転フレーム13を示すX-Y断面図であり、回転フレーム13回転時のフィンの機能を示す図である。
図7は、架台装置10を示すX-Y断面図である。なお、架台装置10のY-Z断面図については、図2の右側と同等であるので説明を省略する。図7に示すように、架台装置10は、収容空間Gを有する固定フレームFと、回転空間G´を有する回転フレーム13とを備える。
回転フレーム13(図2に右側の背面壁13a)は、フィンT(図2に図示)と同様に、フィンVを固定する。なお、図7において、DAS18、ヒートシンクH、及びフィンV以外のユニット(X線管等)については、図示を省略する。
前述したように、回転フレーム13の回転中、即ちCTスキャン中に吸排気用の大型の架台ファンを作動させても、回転に伴う回転空間G´内のエアフローはその一部しかヒートシンクHの冷却に寄与しないし、ヒートシンクHの近傍の回転部ユニットファンをCTスキャン中に作動させると、CTスキャン中の騒音が大きくなってしまう。
そこで、回転フレーム13は、ヒートシンクHを効率的に冷却可能なフィンVを設ける。フィンVは、回転フレーム13の回転中心を中心とする円周上に、複数のフィン要素を設ける。各フィン要素は、回転フレーム13(図2に右側の背面壁13a)に固定される。また、各フィン要素は、各フィン要素が固定された回転フレーム13の回転に従って、回転フレーム13の径方向にエアの流速の勾配を設け、径方向の外側より内側の方がエアの流速が高まるように湾曲している。そして、各フィン要素の径方向内側にヒートシンクHが設けられる。
回転フレーム13が回転すると、外部から開口部Rを介して収容空間G内に吸気する。その結果、図8に示すように、回転空間G´内には、回転フレーム13の回転の径方向に流速の勾配が発生する(3列の破線矢印)。流速が大きい径方向内側にヒートシンクHが配置されているので、ヒートシンクHの近傍に回転部ユニットファンを搭載することなく、ヒートシンクHの冷却効率の向上に寄与できる。
なお、回転フレーム13は、フィンVに加え、前述のフィンTを設けることもできる。
X線CT装置1の第3例に係るフィンVによれば、回転中のヒートシンクH等の冷却対象ユニットに当たるエアの流速を高めることでヒートシンクHの冷却効率を向上できる。それにより、冷却対象ユニット用の回転部ユニットファンを搭載する必要がなくなるので、装置の静音化を実現することができる。なお、X線CT装置1が第3例に係るフィンVを備える場合において、冷却対象ユニット用の回転部ユニットファンを搭載することを排除するものではなく、搭載された回転部ユニットファンの回転速度を落としたり、ゼロとすることで、X線CT装置1は、静音化を実現することもできる。
4.第4例に係るフィン
前述のフィンT~Vは、回転フレーム13の回転によりヒートシンクH等の冷却対象ユニットに当たるエアの流速を制御することで、冷却対象ユニットの冷却効率を向上させることを目的とする。一方で、第4例に係るフィンは、回転フレーム13の静止状態において、冷却対象ユニットの冷却効率を向上させることを目的とする。固定フレームFと回転フレーム13との相対速度が0、即ち、回転フレーム13の静止時には収容空間G内のエアは流れないので、固定フレームFは、回転フレーム13の静止時のみに作動する冷却機構(ファンB1,B2)を搭載する。
図9は、第4例に係るフィンの構成を示す図である。図9は、架台装置10を示す断面図である。
図9は、架台装置10を示すX-Y断面図である。なお、架台装置10のY-Z断面図については、図2の右側と同等であるので説明を省略する。図9に示すように、架台装置10は、収容空間Gを有する固定フレームFと、回転空間G´を有する回転フレーム13とを備える。
回転フレーム13(図2に右側の背面壁13a)は、フィンT(図2に図示)と同様に、フィンWを固定する。固定部Fは、下部側に吸気用の架台ファンB1と、上部側に排気用の架台ファンB2とを設ける。なお、図9において、DAS18、ヒートシンクH、フィンW、ファンB1,B2以外のユニット(X線管等)については、図示を省略する。
フィンWは、吸気用の架台ファンB1から吸気されたエアをヒートシンクHに向かって絞り込み、ヒートシンクHに近づくにつれてエアの流速が高まる形状を備える。フィンWは、フィンT1(図3(A)に図示)と同様に、2枚の湾曲板によって構成される。フィンWの各湾曲板は、回転フレーム13の背面壁13aに固定されて設けられる。
回転フレーム13の静止中にヒートシンクHの近傍の回転部ユニットファンを作動させると、騒音が大きくなってしまう。しかし、回転フレーム13の静止中に限定した効果ではあるが、ヒートシンクHの静止位置の近傍に吸気用の架台ファンB1を設け、かつ、架台ファンB1から吸気されたエアをヒートシンクHに向けて絞り込むフィンWを設けることで、回転空間内のエアを両湾曲板に挟まれる空間に効果的に絞り込むことができ、効果的にヒートシンクHの冷却を行うことができる。
又は、フィンWは、吸気用の架台ファンB1から吸気されたエアをヒートシンクHに向かって絞り込み、ヒートシンクHに近づくにつれてエアの流速が高まる形状を備える。フィンWは、フィンT2(図3(B)に図示)と同様に、2枚の湾曲板と、X-Y平面の平板とによって構成される。
回転フレーム13の静止状態で架台ファンB1,B2が作動すると、吸気用の架台ファンB1から吸気されたエアがフィンWの大開口部側からフィンWに流入する。そして、大開口部側からフィンWに流入したエアは、フィンWの内壁側を高速で進み、小開口部側から排出されてヒートシンクHに当たりヒートシンクHを冷却する。ヒートシンクHを冷却したエアは、排気用の架台ファンB2から外部に排気される。
なお、回転フレーム13は、フィンWに加え、前述のフィンTを設けることもできるし、フィンWの機能と、前述のフィンTの機能とを兼ね備えたフィンを設けることもできる。
また、フィンWは、回転フレーム13に固定される場合について説明したが、その場合に限定されるものではない。例えば、フィンWは、ヒートシンクHに固定されてもよい。また、フィンWの各湾曲板の内表面に突起等が設けられてもよい。この構成により、架台ファンB1を作動させると、各湾曲板の内表面付近に乱流が発生するので、ヒートシンクHに対するより大きな冷却効率を見込める。
X線CT装置1の第4例に係るフィンWによれば、静止中のヒートシンクH等の冷却対象ユニットに当たるエアの流速を局所的に高めることでヒートシンクHの冷却効率を向上できる。それにより、冷却対象ユニット用の回転部ユニットファンを搭載する必要がなくなるので、装置の静音化を実現することができる。なお、X線CT装置1が第4例に係るフィンWを備える場合において、冷却対象ユニット用の回転部ユニットファンを搭載することを排除するものではなく、搭載された回転部ユニットファンの回転速度を落としたり、ゼロとすることで、X線CT装置1は、静音化を実現することもできる。
また、X線CT装置1の第4例に係るフィンWによれば、回転フレーム13のヒートシンクHの冷却に対して耐G性能を考慮しなくてもよくなり、回転部ユニットファンとして、耐G性能を有する安型ファンや、流体軸受けファンや、大型ファン等の静音性に優れたファン導入も可能となる。さらに、X線CT装置1の第4例に係るフィンWによれば、回転フレーム13の静止時のみに回転空間G´内に作られるエアフローについても、フィンT(図2に図示)を有効に利用できるような位置に架台ファンを搭載することにより、より効率的にヒートシンクHの冷却を行うことができる。
以上説明した少なくとも1つの実施形態によれば、回転部に設けられる冷却対象ユニットの冷却効率の向上、又は、装置の静音化を実現することができる。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
1 X線CT装置
11 X線源(X線管)
12 X線検出器
13 回転フレーム
18 DAS(発熱ユニット)
H ヒートシンク(放熱ユニット)
T,T1,T2,U,V,W フィン

Claims (4)

  1. 冷却対象ユニットを回転可能に保持する回転部と、
    前記回転部に設けられるフィンであって、2枚の湾曲板によって大開口部と小開口部とを有するように形成され、前記冷却対象ユニットの周辺に流れるエアを前記大開口部から吸い込み、吸い込んだ前記エアの経路を前記2枚の湾曲板によって前記冷却対象ユニットに向かって絞り込み、前記冷却対象ユニットに近づくにつれて前記エアの流速が高まるように形成されたフィンと、
    を備えるX線CT装置。
  2. 前記冷却対象ユニットは、前記回転部に設けられる発熱ユニット、又は、前記発熱ユニットの熱を放熱する放熱ユニットである、
    請求項1に記載のX線CT装置。
  3. 前記回転部を回転可能に支持する固定部と、
    前記固定部に設けられ、前記回転部の静止時に作動する吸気用のファンと、
    前記固定部に設けられ、前記回転部の静止時に作動する排気用のファンと、をさらに設け、
    前記フィンは、前記吸気用のファンによって吸気されたエアを前記冷却対象ユニットに向かって絞り込み、前記冷却対象ユニットに近づくにつれてエアの流速が高まる形状を備える、
    請求項1または2に記載のX線CT装置。
  4. 前記冷却対象ユニットは、前記回転部の背面壁に固定され、
    前記フィンは、前記背面壁に固定される、
    請求項1乃至3のうちいずれか一項に記載のX線CT装置。
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